Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500

Технические характеристики:

спектральный диапазон регистрации – 175-800 нм;
светосильная безабберационная система с фокусным расстоянием 500мм;
дисперсия от 0,5 нм/мм (для решетки 3600 шт/мм) до 1,0 нм/мм (для решетки 1800 шт/мм);
возможность работы в атмосфере буферных газов (для работы в диапазоне 175 – 193 нм).

Предел обнаружения 0,01 ppm и высокую воспроизводимость обеспечивают:
двухимпульсный наносекундный лазерный источник с частотой следования сдвоенных импульсов 20 Гц и высокой энергетической и пространственной стабильностью;
автоматическое управление энергетическими и пространственными параметрами лазера в широком диапазоне;
уникальная система регистрации кратковременных световых импульсов.