Поиск

Предназначен для исследований непрозрачных объектов в отраженном свете, обыкновенном и поляризованном, а также прозрачных объектов в проходящем свете при малых увеличениях. Технические характеристики: Видимое увеличение микроскопа, крат 35 – 1140 Визуальная насадка тринокулярная Увеличение насадки, крат 1 Угол наклона окулярных тубусов, град 20 Регулируемое межзрачковое расстояние, мм 55-75 Окуляры, видимое увеличение, крат/поле, мм 6,3x/20; 10x/15; 6,3x/20 со сменной шкалой и сеткой Тип коррекции объективов ахроматы поляризационные Объективы: увеличение крат/ числовая апертура 4,7x/0,11; 9x/0,20; 11x/0,25*; 21x/0,40; 30x/0,65 МИ*; 40x/0,65; 95x/1,25 МИ Крепление объектива посредством щипцов Предметный столик высокоточный, вращение на 360°, фиксация углов поворота через 45° Конденсор проходящего света числовая апертура А=0,3 Источник света светодиоды в проходящем и отраженном свете Источник питания сеть переменного тока, 220 В 50 Гц, блок питания настольного типа с плавной регулировкой яркости Габаритные размеры, мм 360х550х180 Масса, не более, кг 8

Предназначен для исследований прозрачных объектов в проходящем свете – обыкновенном и поляризованном. Технические характеристики: Видимое увеличение микроскопа, крат 19 – 1920 Визуальная насадка тринокулярная (светоделение, %: бинокуляр/адаптер 100/0 или 0/100); Увеличение насадки, крат 1 Угол наклона бинокулярных тубусов, град 20 Регулируемое межзрачковое расстояние,мм 55 -75 Окуляры, видимое увеличение крат/поле, мм широкоугольные 10х/18; 10х/18 с перекрестием; 10х/18 со сменными шкалой и сеткой; 10х/18 с кадровой рамкой; 16х/11; 16x/11 с перекрестием Револьверное устройство крепления объективов пятигнездное с центрируемыми гнездами, вращение в любом направлении Освещение классическое по Келлеру Тип коррекции объективов планахроматическая, ахроматическая Объективы, увеличение крат/ числовая апертура планахроматы: 2,5x/0,05П; 10x/0,20П (ирис); 25x/0,50П (ирис); 40x/0,65П; ахроматы: 60x/0,85 П; 100x/ 1,25 МИ П фазовый – 40x/ 0,65Ф Предметный столик высокоточный, вращение на 360°, фиксация углов поворота через 45° Поляризатор Анализатор вращение на 360° вращение на 180° Набор компенсаторов, обеспечивающих определение ряда оптических характеристик объекта кварцевая пластина I порядка, слюдяные пластины, кварцевый клин на 3,5 порядка Конденсоры числовая апертура 0,85/0,3; 1,25МИ Система линз Бертрана, увеличение крат для коноскопических исследований 1 Источник света светодиод Источник питания сеть переменного тока, 220 В 50 Гц, блок питания настольного типа с плавной регулировкой яркости Габаритные размеры, мм 220х550х610 Масса, не более, кг 10

● Диапазон увеличений: 50 - 800х ● Объективы сменные планахромат 5х/0,12, 10х/0,25, 20х/0,40, 40х/0,60 (по запросу), 50х/0,70, 80х/0,80 с увеличенным рабочим отрезком ● Окуляр 10х/18 мм ● Осветитель: Светодиодный осветитель со стабилизированным источником и встроенным аккумулятором. Регулировка освещения с линейным изменением интенсивности. Зарядное устройство в комплекте. ● Штатив микроскопа с регулировкой по высоте с ходом 35 мм. Возможность наклона штатива под углом ±20 градусов вперед и назад для съемки криволинейной поверхности без перемещения микроскопа с места крепления ● Перемещение объектива 30х30 мм по осям X-Y ● Рукоятки грубой и точной фокусировки ● Прочное магнитное крепление на 3-х точках с помощью шарнирных опор для крепления на стальных криволинейных выпуклых и вогнутых поверхностях, в том числе на гибах труб диаметром от 60 мм ● Противоскользящие насадки ● Крепление металлическое для немагнитных поверхностей с храповым механизмом ● Основание для закрепления микроскопа при стационарной работе ● Байонетное крепление для фотоаппарата ● Крепление c-mount для видеокамеры ● Заглушка транспортировочная для видеовыхода ● Кейс для переноски микроскопа с фотокамерой.

Просмотр и измерение зерен и дефектов структуры материалов, разрешение до атомов (Нобелевская премия 1986г), замена метало-графических и электронных микроскопов: Увеличение: от х2 тысяч до х10 млн. Диапазон измерения: от 0.2 нм до 30 мкм Все базовые (СТМ, контактный и вибро-АСМ) режимы, и более 25 доп.режимов

Это лабораторное оборудование научно-исследовательского назначения позволяет в автоматическом сканирующем режиме получать флуоресцентные изображения микропрепаратов на предметных стеклах или в 96 луночном планшете. Обладает высокой производительностью и позволяет автоматизировать микроскопные исследования для экономии времени исследователей при рутинном получении большого количества флуоресцентных изображений.

Сканирующая Зондовая Микроскопия/методики На воздухе и в жидкости: АСМ (контактная + полуконтактная + бесконтактная) / Латерально-Силовая Микроскопия/ Отображение Фазы/ Модуляция Силы/ Отображение Адгезионных Сил/ Литографии: АСМ (Силовая) Только на воздухе: СТМ/ МСМ/ ЭСМ/ СЕМ/ Метод Зонда Кельвина/ Отображение Сопротивления Растекания/ AFAM (по требованию)/Литографии: АСМ (Токовая), СТМ/.

Подключаемый к ИК фурье-спектрометрам «ФТ-801» и «Инфралюм ФТ-801» широкодиапазонный ИК микроскоп серии “МИКРАН” предназначен для исследования образцов размером от 10 микрон, в том числе, неоднородных по составу. При работе на ИК микроскопе у оператора есть возможность наблюдать исследуемый объект с увеличением свыше 200Х как с помощью бинокуляра, так и на мониторе с использованием цифровой видеокамеры, при фотометрировании выделять с помощью диафрагм интересующий локальный участок произвольной формы, а также “сканировать” поверхность образца, наблюдая в режиме реального времени получаемый спектр.

Прибор более высокого уровня с предельной чувствительностью и дополнительным набором функций, позволяющих расширить возможности при проведении спектральных исследований: · револьверный механизм с 4 сменными объективами – зеркальный ИК 15Х, НПВО, линзовый 4Х, линзовый 10Х; · регистрация спектров в режимах зеркального и диффузного отражения, пропускания и НПВО; · повышенная чувствительность, позволяющая регистрировать спектры микрообъектов с размерами от 5 мкм; · встроенная панель управления с расширенными функциями; · система автоматизированного картирования; · прямоугольная щелевая диафрагма выполнена из специального стекла – после выделения фрагмента пользователю доступно для просмотра и остальное поле зрения, что значительно упрощает фотометрирование протяженных поверхностей с локальными неоднородностями; · специализированное программное обеспечение для управления микроскопом и обработки результатов. Для работы с ИК микроскопом требуется жидкий азот.

ИК микроскоп «МИКРАН» предназначен для работы с ИК фурье-спектрометрами «Инфралюм ФТ-801». Спектральный диапазон 6000 – 600 см-1 (с микроскопом и детектором МСТ, охлаждаемым жидким азотом). Разрешение 0.5, 1, 2, 4, 8 см-1 (определяется разрешением фурье-спектрометра)