Поиск

Высокоскоростная сканирующая микроскопия ионной проводимости Бесконтактное исследование живых клеток в естественной физиологической среде Измерение механических свойств в широком диапазоне жесткостей Patch-clamp измерения с нанометровой локализацией Комбинация с оптическими методиками

Предназначен для наблюдения прозрачных препаратов в проходящем свете в светлом поле. Данный микроскоп широко применяется при изучении естественных наук в школах 11-111 ступени, специальных учебных заведениях. Также его используют больницах, поликлиниках, для различных исследований в лабораторной и врачебной практиках. Особенностью данного вида микроскопа является независимость от внешнего источника питания и возможность работы в полевых условиях. Микроскоп укомплектован панкратическим окуляром, позволяющим плавно изменять увеличение, и револьвером для быстрой смены объективов. Технические характеристики Увеличение,крат 80...800 Ахроматические объективы 8x0,20 20x0.40 40x0,60 Панкратический окуляр 1 О^О’ Масса, кг, не более 1,4 кг Габаритные размеры 350x150х 110

Предназначен для совместной работы с компьютером и обеспечивает возможность наблюдения на дисплее компьютера прозрачных и непрозрачных малоразмерных объектов. Технические характеристики: Увеличение микроскопа, крат 10х – 100х (плавное изменение) Поле зрения, мм 20 (при 10х) – 2 (при 100х) Разрешаемый размер, мкм 8 Видеоматрица 1,4 CMOS VGA 640x480 Подсветка Светодиодная (верхняя и нижняя) 11 градаций яркости Функция измерения линейных размеров + Интерфейс USB 1.1 Программное обеспечение µSOFT View™ Системные требования для подключения к компьютеру Windows 98, 2000, XP, Vista и 7 Процессор Pentium IV, Celeron, AMD Athlon или выше RAM 128 Мб и более Свободное пространство на жестком диске не менее 20 Мб Привод CD ROM USB порт Источник питания сеть переменного тока напряжением (220±22) В, частотой 50 Гц Габаритные размеры, мм 120х170х250 Масса, не более, кг 0,5

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur I позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

ИК микроскоп «МИКРАН» предназначен для работы с ИК фурье-спектрометрами «Инфралюм ФТ-801». Спектральный диапазон 6000 – 600 см-1 (с микроскопом и детектором МСТ, охлаждаемым жидким азотом). Разрешение 0.5, 1, 2, 4, 8 см-1 (определяется разрешением фурье-спектрометра)

Предназначен для исследований непрозрачных объектов в отраженном свете, обыкновенном и поляризованном, а также прозрачных объектов в проходящем свете при малых увеличениях. Технические характеристики: Видимое увеличение микроскопа, крат 35 – 1140 Визуальная насадка тринокулярная Увеличение насадки, крат 1 Угол наклона окулярных тубусов, град 20 Регулируемое межзрачковое расстояние, мм 55-75 Окуляры, видимое увеличение, крат/поле, мм 6,3x/20; 10x/15; 6,3x/20 со сменной шкалой и сеткой Тип коррекции объективов ахроматы поляризационные Объективы: увеличение крат/ числовая апертура 4,7x/0,11; 9x/0,20; 11x/0,25*; 21x/0,40; 30x/0,65 МИ*; 40x/0,65; 95x/1,25 МИ Крепление объектива посредством щипцов Предметный столик высокоточный, вращение на 360°, фиксация углов поворота через 45° Конденсор проходящего света числовая апертура А=0,3 Источник света светодиоды в проходящем и отраженном свете Источник питания сеть переменного тока, 220 В 50 Гц, блок питания настольного типа с плавной регулировкой яркости Габаритные размеры, мм 360х550х180 Масса, не более, кг 8

Предназначен для исследований прозрачных объектов в проходящем свете – обыкновенном и поляризованном. Технические характеристики: Видимое увеличение микроскопа, крат 19 – 1920 Визуальная насадка тринокулярная (светоделение, %: бинокуляр/адаптер 100/0 или 0/100); Увеличение насадки, крат 1 Угол наклона бинокулярных тубусов, град 20 Регулируемое межзрачковое расстояние,мм 55 -75 Окуляры, видимое увеличение крат/поле, мм широкоугольные 10х/18; 10х/18 с перекрестием; 10х/18 со сменными шкалой и сеткой; 10х/18 с кадровой рамкой; 16х/11; 16x/11 с перекрестием Револьверное устройство крепления объективов пятигнездное с центрируемыми гнездами, вращение в любом направлении Освещение классическое по Келлеру Тип коррекции объективов планахроматическая, ахроматическая Объективы, увеличение крат/ числовая апертура планахроматы: 2,5x/0,05П; 10x/0,20П (ирис); 25x/0,50П (ирис); 40x/0,65П; ахроматы: 60x/0,85 П; 100x/ 1,25 МИ П фазовый – 40x/ 0,65Ф Предметный столик высокоточный, вращение на 360°, фиксация углов поворота через 45° Поляризатор Анализатор вращение на 360° вращение на 180° Набор компенсаторов, обеспечивающих определение ряда оптических характеристик объекта кварцевая пластина I порядка, слюдяные пластины, кварцевый клин на 3,5 порядка Конденсоры числовая апертура 0,85/0,3; 1,25МИ Система линз Бертрана, увеличение крат для коноскопических исследований 1 Источник света светодиод Источник питания сеть переменного тока, 220 В 50 Гц, блок питания настольного типа с плавной регулировкой яркости Габаритные размеры, мм 220х550х610 Масса, не более, кг 10

● Диапазон увеличений: 50 - 800х ● Объективы сменные планахромат 5х/0,12, 10х/0,25, 20х/0,40, 40х/0,60 (по запросу), 50х/0,70, 80х/0,80 с увеличенным рабочим отрезком ● Окуляр 10х/18 мм ● Осветитель: Светодиодный осветитель со стабилизированным источником и встроенным аккумулятором. Регулировка освещения с линейным изменением интенсивности. Зарядное устройство в комплекте. ● Штатив микроскопа с регулировкой по высоте с ходом 35 мм. Возможность наклона штатива под углом ±20 градусов вперед и назад для съемки криволинейной поверхности без перемещения микроскопа с места крепления ● Перемещение объектива 30х30 мм по осям X-Y ● Рукоятки грубой и точной фокусировки ● Прочное магнитное крепление на 3-х точках с помощью шарнирных опор для крепления на стальных криволинейных выпуклых и вогнутых поверхностях, в том числе на гибах труб диаметром от 60 мм ● Противоскользящие насадки ● Крепление металлическое для немагнитных поверхностей с храповым механизмом ● Основание для закрепления микроскопа при стационарной работе ● Байонетное крепление для фотоаппарата ● Крепление c-mount для видеокамеры ● Заглушка транспортировочная для видеовыхода ● Кейс для переноски микроскопа с фотокамерой.

Просмотр и измерение зерен и дефектов структуры материалов, разрешение до атомов (Нобелевская премия 1986г), замена метало-графических и электронных микроскопов: Увеличение: от х2 тысяч до х10 млн. Диапазон измерения: от 0.2 нм до 30 мкм Все базовые (СТМ, контактный и вибро-АСМ) режимы, и более 25 доп.режимов