Поиск

Модельный ряд микровизоров для металлографии и материаловедения включает инвертированные модели с верхним расположением предметного столика - µVizo® -MET-221 и 222, различающиеся комплектацией и методами контрастирования. Технические характеристики: µVizo®-МЕТ-221 µVizo®-МЕТ-222 Линейное увеличение при цифровом масштабе – "х1" "х2" "х4" 50, 100, 200, 500, 1000 80, 150, 300, 800, 1500 150, 300, 600, 1500, 3000 Эпиобъективы планахроматы (увеличение/числовая апертура/ рабочее расстояние, мм) 5х/0,12/7,2; 10х/0,20/9,1; 20х/0,35/6,1; 50х/0,60/2,4; 100х/0,75/1,3 Наибольшее поле зрения в плоскости объекта, мм 2,6х1,9; диагональ 3,3 Методы исследования Светлое поле Темное поле Поляризованный свет Метод ДИК Светлое поле Темное поле Поляризованный свет Револьвер Четырехгнездный Диапазон перемещения предметного столика, мм 50х70 (в поперечном и продольном направлениях) Видеосистема Матрица 3,2 Мпкс; Монитор 6,5" (диагональ 166 мм); 1024х768 пкс Регулируемые параметры качества изображения Функциональные режимы Яркость, контрастность, резкость, насыщенность, множитель, фон, фильтр, оттенок; Стоп-кадр, масштаб, черно-белое изображение, “Указка” Программное обеспечение Определение площадей, периметров, линейных и угловых размеров; Вывод на экран изображений масштабного отрезка, перекрестия, шкал и др.; Встроенный "Альбом балльных шкал"; Создание собственных "Альбомов" изображений. Автоматические настройки Баланс белого, яркость изображения на экране Сохранение данных Карта памяти стандарта SD, 2Гб; Встроенная карта памяти - "внутренний диск", 4Гб Внешний выход USB - компьютер, принтер; VGA - монитор, видеопроектор Источник света Светодиод белого свечения, мощность 5 Вт Источник питания Сеть переменного тока напряжением (220±22) В, частотой 50 Гц Габаритные размеры микроскопа, не более, мм 235х295х515 Масса, не более, кг 10

Предназначен: для фотометрических исследований в проходящем, отраженном свете и в свете люминесценции, а также для исследований в поляризованном свете микрообъектов и микроучастков макрообъектов. Технические характеристики: Увеличение микроскопа, крат 50 – 1000 Спектральный диапазон регистрации, нм Зеркального отражения Диффузного отражения Пропускания (оптической плотности) Люминесценции 350 – 900 380 – 760 350 – 900 400 – 700 Минимальный размер фотометрируемого участка, мкм 1 Количество фотометрических диафрагм, шт. 6 Визуальная насадка бинокулярная Угол наклона окулярных тубусов, град 20 Увеличение насадки, крат 1 Регулируемое межзрачковое расстояние 55-75 Окуляры, крат 10 Освещение - проходящий свет - классическое по Келлеру, - сверху - свет, падающий через объектив, - от наклонного осветителя Тип коррекции объективов Микрофлюары, стигмахроматы Объективы (увеличение) 5/0,1 ∞/- 10/0,25Л∞/ - 20/0,45Л ∞/0,17 40/0,65Л ∞/0,17 100/1,30Л МИ ∞/0,17 (ирис) Револьверное устройство крепления объективов Четырехгнездное, вращение в любом направлении Предметный столик рукоятки коаксиальные, управление справа Диапазон перемещения предметного столика, мм 76х26 Конденсор числовая апертура 0,9 Источник света лампа галогенная 9 В 70 Вт, лампа ртутная HBO 100 Вт Источник питания сеть переменного тока, 220 В 50 Гц, блоки питания настольного типа, для галогенной лампы - регулировка яркости Габаритные размеры: микроскопа, мм 260х550х730 БУСМ-10 320х350х160 Блоков питания ртутной и галогенной лампы 242х125х71 Масса прибора, кг 30

Просмотр и измерение зерен и дефектов структуры материалов, разрешение до атомов (Нобелевская премия 1986г), замена метало-графических и электронных микроскопов: Увеличение: от х2 тысяч до х10 млн. Диапазон измерения: от 0.2 нм до 30 мкм Все базовые (СТМ, контактный и вибро-АСМ) режимы, и более 25 доп.режимов

Предназначен для оценки микротвердости структуры непрозрачных объектов методом вдавливания в испытуемый материал алмазных наконечников (Виккерса, Кнуппа, Берковича). Технические характеристики: Увеличение микроскопа, крат 130, 500, 800 Диапазон нагрузки, Н (КГС) от 0,0196 до 4,9 (от 0,002 до 0,500) Управление нагрузками ручное Визуальная насадка монокулярная Угол наклона окулярного тубуса, град 45 Увеличение насадки, крат 1 Винтовой окулярный микрометр (МОВ-1-16) увеличение, крат 16 Освещение падающим светом по методам светлого и темного поля Тип коррекции объективов планапохромат Объективы планапохромат F= 4мм А 0,85 эпипланапохромат F = 25мм А 0,17 эпипланапохромат F=6,3мм А 0,60 Предметный столик, габаритные размеры, мм 113 х 113 Диапазон перемещения предметного столика, мм 0 - 10 в двух взаимно перпендикулярных направлениях Цена деления шкал барабанчиков микрометрических винтов столика, мм 0,01 Источник света Светодиод белого свечения Источник питания Сеть переменного тока напряжением 220 В, частотой 50Гц, блок питания встроен в основание Габаритные размеры, не более, мм 270х290х470 Масса, не более, кг 22 Предназначен для оценки микротвердости структуры непрозрачных объектов методом вдавливания в испытуемый материал алмазных наконечников (Виккерса, Кнуппа, Берковича). Технические характеристики: Увеличение микроскопа, крат 130, 500, 800 Диапазон нагрузки, Н (КГС) от 0,0196 до 4,9 (от 0,002 до 0,500) Управление нагрузками ручное Визуальная насадка монокулярная Угол наклона окулярного тубуса, град 45 Увеличение насадки, крат 1 Винтовой окулярный микрометр (МОВ-1-16) увеличение, крат 16 Освещение падающим светом по методам светлого и темного поля Тип коррекции объективов планапохромат Объективы планапохромат F= 4мм А 0,85 эпипланапохромат F = 25мм А 0,17 эпипланапохромат F=6,3мм А 0,60 Предметный столик, габаритные размеры, мм 113 х 113 Диапазон перемещения предметного столика, мм 0 - 10 в двух взаимно перпендикулярных направлениях Цена деления шкал барабанчиков микрометрических винтов столика, мм 0,01 Источник света Светодиод белого свечения Источник питания Сеть переменного тока напряжением 220 В, частотой 50Гц, блок питания встроен в основание Габаритные размеры, не более, мм 270х290х470 Масса, не более, кг 22

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) начального уровня Плоскопараллельное сканирование по осям X, Y,Z позволяет получать изображение поверхности и проводить последующее редактирование изображения с минимальными искажениями и потерями информации; открытый дизайн сканирующей головки позволяет производить наблюдение за поверхностью исследуемого образца под углом 0-90°, устанавливать дополнительные устройства и оборудование; модульная конфигурация позволяет устанавливать сканирующий зондовый микроскоп Certus Light на традиционные оптические микроскопы (прямые или инвертированные), совмещать с оптическими приборами и модернизировать этот прибор до модификаций.

Предназначен для исследований непрозрачных объектов в отраженном свете, обыкновенном и поляризованном, а также прозрачных объектов в проходящем свете при малых увеличениях. Технические характеристики: Видимое увеличение микроскопа, крат 35 – 1140 Визуальная насадка тринокулярная Увеличение насадки, крат 1 Угол наклона окулярных тубусов, град 20 Регулируемое межзрачковое расстояние, мм 55-75 Окуляры, видимое увеличение, крат/поле, мм 6,3x/20; 10x/15; 6,3x/20 со сменной шкалой и сеткой Тип коррекции объективов ахроматы поляризационные Объективы: увеличение крат/ числовая апертура 4,7x/0,11; 9x/0,20; 11x/0,25*; 21x/0,40; 30x/0,65 МИ*; 40x/0,65; 95x/1,25 МИ Крепление объектива посредством щипцов Предметный столик высокоточный, вращение на 360°, фиксация углов поворота через 45° Конденсор проходящего света числовая апертура А=0,3 Источник света светодиоды в проходящем и отраженном свете Источник питания сеть переменного тока, 220 В 50 Гц, блок питания настольного типа с плавной регулировкой яркости Габаритные размеры, мм 360х550х180 Масса, не более, кг 8

Предназначены для исследования микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, в поляризованном свете и по методу дифференциально-интерференционного контраста (ДИК). Технические характеристики: Видимое увеличение микроскопа, крат 50 – 1500 Визуальная насадка тринокулярная (светоделение, %: бинокуляр/адаптер 100/0 или 0/100); Увеличение насадки, крат 1 Угол наклона бинокулярных тубусов, град 30 Регулируемое межзрачковое расстояние, мм 50 -75 Окуляры, крат широкоугольные 10x/20 и 15x/16 Револьверное устройство крепления объективов пятигнездное, вращение в любом направлении Освещение по Келлеру Тип коррекции объективов планапохроматы, тубус бесконечность Объективы: увеличение крат/числовая апертура 5x/0,17; 10x/0,28; 20x/0,50; 50x/0,85; 100x/0,95 100x/1,32 МИ (в составе МЕТАМ ЛВ-41) Модуль ДИК для МЕТАМ ЛВ-41 с объективами 5x, 10x, 20x, 50x Предметный столик рукоятки коаксиальные, управление справа Диапазон перемещения предметного столика, мм 40х40 Источник света светодиод Источник питание сеть переменного тока, 220 В 50 Гц, встроенный блок питания с плавной регулировкой яркости Габаритные размеры, мм 300х600х430 Масса, кг 25

Предназначен для исследований прозрачных объектов в проходящем свете – обыкновенном и поляризованном. Технические характеристики: Видимое увеличение микроскопа, крат 19 – 1920 Визуальная насадка тринокулярная (светоделение, %: бинокуляр/адаптер 100/0 или 0/100); Увеличение насадки, крат 1 Угол наклона бинокулярных тубусов, град 20 Регулируемое межзрачковое расстояние,мм 55 -75 Окуляры, видимое увеличение крат/поле, мм широкоугольные 10х/18; 10х/18 с перекрестием; 10х/18 со сменными шкалой и сеткой; 10х/18 с кадровой рамкой; 16х/11; 16x/11 с перекрестием Револьверное устройство крепления объективов пятигнездное с центрируемыми гнездами, вращение в любом направлении Освещение классическое по Келлеру Тип коррекции объективов планахроматическая, ахроматическая Объективы, увеличение крат/ числовая апертура планахроматы: 2,5x/0,05П; 10x/0,20П (ирис); 25x/0,50П (ирис); 40x/0,65П; ахроматы: 60x/0,85 П; 100x/ 1,25 МИ П фазовый – 40x/ 0,65Ф Предметный столик высокоточный, вращение на 360°, фиксация углов поворота через 45° Поляризатор Анализатор вращение на 360° вращение на 180° Набор компенсаторов, обеспечивающих определение ряда оптических характеристик объекта кварцевая пластина I порядка, слюдяные пластины, кварцевый клин на 3,5 порядка Конденсоры числовая апертура 0,85/0,3; 1,25МИ Система линз Бертрана, увеличение крат для коноскопических исследований 1 Источник света светодиод Источник питания сеть переменного тока, 220 В 50 Гц, блок питания настольного типа с плавной регулировкой яркости Габаритные размеры, мм 220х550х610 Масса, не более, кг 10

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur I позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

С микроскопом ФемтоСкан X возможно получать одновременно несколько изображений с разрешением до 4096х4096 и рекордной скоростью (до 8 секунд на 1 кадр). За счет использования современного процессора FPGA достигается одновременная обработка независимых каналов обратной связи на частоте 1 МГц.