Поиск

ФСМ 2211В основе спектрометра ФСМ 2211 — интерферометр типа Майкельсона, с самокомпенсацией, не требующий динамической юстировки. Технические характеристики: Спектральный диапазон, см-1 3700-12500 Спектральное разрешение, см-1 2 Отношение сигнал/шум (время измерения 1 мин в интервале 2100-2200 см-1 и разрешении 4 см-1) >60 000 Минимальное время получения одного полного спектра менее, с 1 Светоделитель CaF2 с многослойным покрытием на основе Ge Источник излучения Галогеновая лампа Детектор Фотодиод InGaAs фотодиод Si Размеры кюветного отделения, мм 150х190х170 Габаритные размеры, мм 520х370х250 Масса, кг. 28

Малогабаритный ИК фурье-спектрометр с интегрированными приставками и двумя детекторами, включая высокочувствительный охлаждаемый МСТ. Режимы работы: пропускание и отражение, НПВО, измерения с помощью оптоволоконных зондов (возможны варианты исполнения с одной или двумя парами встроенных коннекторов). Доступно подключение ИК микроскопа, телескопа для регистрации спектров внешнего излучения. Спектрометр может использоваться как переносной, и применяется, в том числе, для экспресс-мониторинга технологических процессов, контроля качества жидкостей в резервуарах и магистралях, при проведении поточных анализов биологических объектов, дистанционном газовом анализе. Установка предназначена для создания высококачественных изображений на различных материалах и обеспечивает изготовление резиновых клише печатей и штампов с разрешением не менее 1800 dpi.

Описание

Создана на базе инновационной платформы «Штрих», в основу которой заложена уникальная система управления, аппаратное и программное обеспечение которой целиком разработано специалистами нашей компании.
Установка предназначена для создания высококачественных изображений на таких материалах как резина, металл, пластик и обеспечивает изготовление клише печатей и штампов с разрешением не менее 1800 dpi.
Применяемый в установке волоконный лазер в сочетании с системой гальванометрических сканаторов обеспечивает высокое качество гравировки в статическом режиме, не требует водяного охлаждения и специального обслуживания.
При сборке системы используются только проверенные и сертифицированные детали, что гарантирует особенно длительный срок эксплуатации без дополнительных вложений.

Особенности:

Двухкоординатная высокоточная система позиционирования образцов, с помощью которой осуществляется перемещение предметного стола вдоль осей Х, Y. В результате работы системы позиционирования и последовательного гравирования фрагментов изображения, можно обрабатывать с высокой точностью заготовки с размерами до 200 × 300 мм в автоматическом режиме по заданной оператором программе обработки;
Алгоритм автоматической послойной гравировки с использованием высокоточного механизма перемещения сканирующей головы по Z-координате позволяет формировать высокодетализированные 3D-изображения глубиной до 5 мм в металлических заготовках (сталь, латунь, алюминий, титан и др.);
Длительный процесс послойной гравировки глубоких 3D-изображений (возможно десятки часов) обеспечивается без участия оператора благодаря автоматическому алгоритму;
Установка снабжена встроенной системой удаления продуктов горения из зоны воздействия лазерного излучения, в результате чего, обеспечивается отсутствие запахов и защита сканирующего объектива от продуктов выработки, что особенно важно при гравировке резины и пластиков;
Корпус установки полностью закрывает зоны обработки и распространения лазерного излучения, а гравировка производится по заданной оператором программе в автоматическом режиме при закрытых кожухах установки. Такая конструкция установки позволяет ее отнести к лазерным приборам 1 класса опасности.

Предназначена для контроля процессов в реакторах, вакуумных камерах, газовых магистралях и т.п.

Для установки кварцевой кюветы типа СФ в спектрометр ФСМ используется держатель ДК 10-10, имеющий стандартную присоединительную планку размером 50х75 мм, с помощью которой он вставляется в подставку для кювет ПК50-75 инфракрасного фурье-спектрометра ФСМ.

Применяется для измерения очень тонких покрытий, имеющих толщину в нанометровом диапазоне, и для исследования мономолекулярных слоёв.

Приставки предназначены для контроля параметров полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм в режиме пропускания или отражения. Параметры пластин контролируются высокочувствительным бесконтактным методом в заданных оператором точках.

Держатель пленок ДП предназначен для фиксации образцов полимерных пленок.

Система подогрева образцов разработана для расширения возможностей стандартных приставок НПВО-ЗДО и НПВО-А. Состоит из нагреваемой сменной оправы с алмазной призмой НПВО и блока контроллера температуры. Для большинства твердых образцов в нагретом состоянии можно получить гораздо более выраженный НПВО спектр, чем в холодном. Это позволяет повысить чувствительность метода в несколько раз. Свойства некоторых веществ и соединений кардинально изменяются при увеличении температуры, могут возникать процессы химического взаимодействия между компонентами, их разложение, окисление в воздушной среде и т.п. Если в процессе нагрева происходят изменения в химическом составе вещества, с помощью приставки НПВО с алмазной термоячейкой и контроллером температуры можно получить набор спектров, соответствующий кинетике процесса, что существенно расширяет возможности метода при исследованиях. Технические характеристики приставки НПВО с термоячекой и контроллером Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 10 Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 25 Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек 30 Глубина проникновения излучения в образец, мкм 5 – 15 Минимальная размеры твердого образца, мм 0.5 × 0.5 Минимальный объем исследуемой жидкости, мкл 1 Минимальные размеры образца волокна: диаметр сечения/длина, мм 0.3/1 Материал кристалла-подложки АЛМАЗ Диаметр свободной зоны кристалла, мм не менее 2 х 3 Диаметр пятна фокусировки, мм 1.5 Максимальная температура Со 220о Точность регулировки, Со 1о Время достижения максимальной температуры, мин 10 Габаритные размеры, мм 130×200×90 Масса, кг 1,2

Основное преимущество приставки ПРИЗ – возможность получения хорошо выраженных спектров микрообъектов после придания им формы тонкого слоя на отполированных зеркально металлических пластинах (в режиме так называемого двойного прохождения, когда излучение дважды проникает сквозь слой вещества, отражаясь от зеркала-подложки). Наличие системы визуального контроля со встроенной видеокамерой существенно повышает информативность при настройке и надежность полученных результатов. С помощью приставки можно также регистрировать спектры отражения сыпучих образцов и цельных объектов произвольной геометрии в нативном виде, в том числе, фармпрепаратов в виде таблеток, порошков и гранул, полимерных фрагментов, ЛКП, пленок, нанесенных на поверхности. Технические характеристики Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 40 Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 25 Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек 30 Минимальные исходные размеры твердого образца, мм 0.2 × 0.2 Максимальная рлощадь твердого образца, мм 20Х20Х10 Диапазон переменной фокусировки, мм 10 Диаметр пятна фокусировки, мм 3 Угол падения излучения (центральный луч) на образец в режиме ЗДО 45о Увеличение микрообъектива / общее увеличение визуального канала 4Х Поле зрения оптической системы, мм 2 Х 2,5 Разрешение цифровой видеокамеры 640х480 Габаритные размеры, мм 140×105×160 Масса, кг 1.16

Предназначена для экспресс-анализа различных типов твердых и жидких образцов, в том числе полимерных частиц, пленок и волокон, порошкообразных веществ, фрагментов лакокрасочных покрытий, горюче-смазочных материалов. Наличие оптической системы визуального контроля исследуемой поверхности с увеличением 75Х обеспечивает высокую эффективность при работе с малоразмерными образцами – фрагментами тонких волокон, микрочастицами и т.п. Универсальный прижим оснащен прецизионным рычажным механизмом для быстрого опускания наконечника и микрометрическим винтом, позволяющим предварительно устанавливать оптимальную степень давления – это обеспечивает быстроту смены проб и повторяемость результатов при измерениях. Для удобства при работе с жидкими и пастообразными образцами, а также в режиме ЗДО, предусмотрена возможность поворота консоли прижима на 180о. Приставка укомплектована двумя сменными наконечниками – со сферической рабочей частью и с плоской шарнирной головкой. Для регистрации спектров зеркального и диффузного отражения (ЗДО) используется сменный столик. Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз, угол падения центрального луча на образец – 45°. Метод используется для определения спектральных характеристик оптических деталей, кристаллов, тонких пленок на поверхности, а также при регистрации спектров поглощения крупных цельных объектов. Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 30 Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 25 Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек 30 Глубина проникновения излучения в образец, мкм 5 – 15 Минимальная площадь твердого образца, мм 0.2 × 0.2 Минимальный объем исследуемой жидкости, мкл 1 Минимальные размеры образца волокна: диаметр сечения/длина, мм 0.1/1 Материал кристалла-подложки ZnSe CVD, Ge Диаметр пятна фокусировки, мм 1 Угол падения излучения (центральный луч) на образец в режиме ЗДО 45о Увеличение микрообъектива /общее увеличение визуального канала 4Х/75Х Поле зрения оптической системы, мм 2 Х 2,5 Разрешение цифровой видеокамеры 640 Х 480 Габаритные размеры, мм 150×150×260 Масса, кг 2,15 • Позволяет исследовать объекты малых размеров (от 200 мкм - в зависимости от геометрии, качества поверхности и физико-химических свойств материала) • Приставка позволяет работать без пробоподготовки, имеет фиксируемую регулировку давления на образец с помощью прижима, снабженного цветовыми индикаторами • Благодаря съемному фланцу с элементом НПВО обеспечивается быстрая и удобная смена образцов и очистка поверхности кристалла • При заданном оптимальном усилии контакта метод обеспечивает высокое качество и повторяемость результатов благодаря отсутствию влияния толщины слоя вещества на форму спектра и интенсивность полос поглощения • Образец сохраняет исходные физико-химические свойства и, при необходимости, может быть в дальнейшем исследован другими методами

Предназначен для регистрации спектров поглощения твердых, жидких и газообразных веществ в ближней и средней ИК области (в том числе наркотиков, лаков и красок, нефтепродуктов, взрывчатых веществ, фармакологических препаратов, полимерных пленок и волокон) с их последующей идентификацией, а также для качественного и количественного анализа смесей, содержащих несколько компонентов.

Универсальные лабораторные ИК фурье-спектрометры ФСМ 2201 и ФСМ 2202 предназначены для проведения научных исследований и аналитических измерений в средней инфракрасной области спектра. Качественный и количественный анализ образцов органических и неорганических веществ в газообразном, жидком и твердом состоянии, в том числе, пленок и порошков. В основе фурье-спектрометров ФСМ 2201/2202 – интерферометр Майкельсона с самокомпенсацией, не требующий динамической юстировки. Спектрометры оснащены системой продувки сухим воздухом или азотом для минимизации спектральных помех от паров воды и углекислого газа и имеют влагозащитное покрытие оптических окон и светоделителя. Операции управления прибором, самотестирования, регистрации, анализа и обработки спектров автоматизированы и осуществляются с помощью персонального компьютера и установленного базового программного обеспечения FSpec, разработанного специалистами компании для среды Windows XP/Vista/7/8/10. Программа имеет интуитивно понятный пользовательский интерфейс, позволяет создавать собственные библиотеки спектров, полученных на спектрометрах ФСМ, а также пользоваться стандартными библиотеками и работает со спектрами в форматах *.spe, *.spc, *.dx, *.asc. Обработка спектров включает основные математические операции и преобразования, поиск спектральных линий и определение их параметров. Для работы по стандартным методикам: ГОСТ, ASTM, EN, SEMI или проведения измерений в режиме анализатора к платформе FSpec подгружаются дополнительные программные модули с «кнопочным» управлением прибора, дополнительного оборудования, встроенными алгоритмами измерений и градуировками. Универсальность прибора обеспечивается возможностью установки в его кюветное отделение различных газовых и жидкостных кювет, оптических приставок и приспособлений, позволяющих проводить исследование жидких, твердых и газообразных образцов. ИК фурье-спектрометры моделей ФСМ 2201/2202 отличаются от выпускавшихся ранее моделей (ФСМ 1201/1202) повышенным отношением сигнал/шум и большеразмерным кюветным отделением.