Поиск

2123 тов.
Вид:
  • Выбрано: 1
    Применение
    Загрузка...
  • Выбрано: 0
    Название
    Загрузка...
  • Выбрано: 0
    Компания
    Загрузка...
  • Выбрано: 0
    Производство
    Загрузка...
  • Выбрано: 0
    Дополнительно
    Загрузка...
Все фильтры
  • Применение
    Загрузка...
  • 509
    Название
    Загрузка...
  • 189
    Компания
    Загрузка...
  • 85
    Производство
    Загрузка...
  • 180
    Дополнительно
    Загрузка...
Вид:
2123 тов.
Certus Optic U — совмещенные сканирующий зондовый (СЗМ) и прямой оптический микроскопы
Certus Optic U — совмещенные сканирующий зондовый (СЗМ) и прямой оптический микроскопы
Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии. cканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционировния зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; прямой оптический микроскоп (Olympus BX 51 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; механическая Z-подвижка для объектива; однокоординатная пьезо подвижка для объектива Vectus для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; единый контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.
Произведено в: Долгопрудный, Московская область
Certus Light — сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) начального уровня
Certus Light — сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) начального уровня
Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) начального уровня Плоскопараллельное сканирование по осям X, Y,Z позволяет получать изображение поверхности и проводить последующее редактирование изображения с минимальными искажениями и потерями информации; открытый дизайн сканирующей головки позволяет производить наблюдение за поверхностью исследуемого образца под углом 0-90°, устанавливать дополнительные устройства и оборудование; модульная конфигурация позволяет устанавливать сканирующий зондовый микроскоп Certus Light на традиционные оптические микроскопы (прямые или инвертированные), совмещать с оптическими приборами и модернизировать этот прибор до модификаций.
Произведено в: Долгопрудный, Московская область
Микроскоп Centaur I
Микроскоп Centaur I
Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur I позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).
Произведено в: Долгопрудный, Московская область
Certus Standard — сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), базовая конфигурация
Certus Standard — сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), базовая конфигурация
Базовая конфигурация сканирующего зондового микроскопа Certus, предназначенная для решения широкого класса исследовательских и аналитических задач. плоскопараллельное сканирование по осям X, Y,Z позволяет получать изображение поверхности и проводить последующее редактирование изображения с минимальными искажениями и потерями информации; Сканирования как зондом (обычный сканер внутри сканирующей головки Certus), так и сверхбыстрым XYZ сканером образца. плоскопараллельный подвод зонда к образцу решает проблему трудоемкого ручного подвода зонда к образцу. Подвод осуществляется тремя моторизированными опорами; открытый дизайн сканирующей головки позволяет производить наблюдение за поверхностью исследуемого образца под углом 0-90°, устанавливать дополнительные устройства и оборудование; модульная конфигурация позволяет устанавливать сканирующий зондовый микроскоп Certus Standard на традиционные оптические микроскопы (прямые или инвертированные), совмещать с оптическими приборами и модернизировать этот прибор до модификаций Certus Optic и Centaur; реализованы основные СЗМ методики. Для изменения режима работы сканирующего зондового микроскопа (например, переход от работы в режиме атомно-силового микроскопа в режим сканирующего туннельного микроскопа) достаточно сменить держатель зондов.
Произведено в: Долгопрудный, Московская область
Ratis – плоскопараллельный сканирующий пьезостолик
Ratis – плоскопараллельный сканирующий пьезостолик
Плоскопараллельный сканирующий пьезостолик. Устройство представляет собой монолитное металлическое тело (из высококачественного сплава, обычно из алюминиевого), в котором электроэрозией и другими методами прецизионной обработки сформированы каналы для пьезокерамических актюаторов, подвижные элементы столика и т.п. Такая конструкция обеспечивает отличную линейность и плоскостность перемещения, в отличие от классических сканеров на основе пьезотрубок, поверхностью сканирования в которых является сфера. Кроме того, плоскопараллельные сканеры обладают высокой механической прочностью по сравнению с хрупкими пьезотрубками.
Произведено в: Долгопрудный, Московская область
Переносной микроскоп SIAMS МАП-5
Переносной микроскоп SIAMS МАП-5
● Диапазон увеличений: 50 - 800х ● Объективы сменные планахромат 5х/0,12, 10х/0,25, 20х/0,40, 40х/0,60 (по запросу), 50х/0,70, 80х/0,80 с увеличенным рабочим отрезком ● Окуляр 10х/18 мм ● Осветитель: Светодиодный осветитель со стабилизированным источником и встроенным аккумулятором. Регулировка освещения с линейным изменением интенсивности. Зарядное устройство в комплекте. ● Штатив микроскопа с регулировкой по высоте с ходом 35 мм. Возможность наклона штатива под углом ±20 градусов вперед и назад для съемки криволинейной поверхности без перемещения микроскопа с места крепления ● Перемещение объектива 30х30 мм по осям X-Y ● Рукоятки грубой и точной фокусировки ● Прочное магнитное крепление на 3-х точках с помощью шарнирных опор для крепления на стальных криволинейных выпуклых и вогнутых поверхностях, в том числе на гибах труб диаметром от 60 мм ● Противоскользящие насадки ● Крепление металлическое для немагнитных поверхностей с храповым механизмом ● Основание для закрепления микроскопа при стационарной работе ● Байонетное крепление для фотоаппарата ● Крепление c-mount для видеокамеры ● Заглушка транспортировочная для видеовыхода ● Кейс для переноски микроскопа с фотокамерой.
СИАМС
Екатеринбург
Произведено в: Екатеринбург
УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ТОЛЩИНОМЕР ТУЗ-2
УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ТОЛЩИНОМЕР ТУЗ-2
Есть у 1 прод.
Ультразвуковой толщиномер ТУЗ-2 предназначен для измерения толщины различных изделий из металлов и неметаллов, включая изделия, доступ к которым имеется только с одной стороны. Прибор может быть использован во всех отраслях промышленности. С помощью ультразвукового толщиномера ТУЗ-2 измеряется толщина стенок трубопроводов, сосудов давления, котлов и других ответственных и особо опасных объектов, в том числе для определения степени коррозионного и эрозионного износа по остаточной толщине.
НПК Луч
Балашиха
Произведено в: Балашиха, Московская область
Меры толщины калиброванные
Меры толщины калиброванные
от 400 000 ₽
Комплекты мер толщин АКА1006 и АКА1012 включают в себя 6 и 12 мер соответственно. Комплекты могут быть использованы для градуировки магнитных толщиномеров МТ2003, МТ2007®, АКА2017®, АКА2020® в диапазоне измерений 0-500мкм м 0-1200мкм.
Произведено в: Москва
Бак закалочный водяной БЗВ – 10.12.15/0,8
Бак закалочный водяной БЗВ – 10.12.15/0,8
Мощность нагревательной камеры, кВт 40 Напряжение питающей сети, В 380 ±15% Частота, Гц 50 Число фаз 3 Максимальная рабочая температура, оС 80 Диапазон автоматического регулирования температуры, оС От 20 до 80 Стабильность автоматического поддержания температуры, оС ±6 Среда в рабочем пространстве Вода, масло, полимерная жидкость. Время разогрева до максимальной температуры, ч 1,5 Управления нагревом Цифровой регулятор Размеры рабочего пространства: ширина,мм 1000 глубина,мм 1200 высота,мм 1500 Габаритные размеры изделия: ширина (без шкафа управления),мм 1800 глубина,мм 2100 высота,мм 2750 Масса, кг 700 Режим работы, часов в сутки/дней в неделю 24/5
Произведено в: Тула
Ферритометр AKA®5103
Ферритометр AKA®5103
от 85 000 ₽
Диапазон измерения 0.5-20 % СФФ. Диапазон показаний 0.1-90 % СФФ. Комплектуется преобразователями Т2 и Т5 с износостойким наконечником. Преобразователь Т2 имеет повышенную локальность, что делает его пригодным для измерения СФФ в плакирующих покрытиях толщиной от 4 мм.
Произведено в: Москва
Акустический импедансный дефектоскоп ИД-91М™
Акустический импедансный дефектоскоп ИД-91М™
от 171 000 ₽
Параметры акустических колебаний поверхности ОК, возбужденных преобразователем, определяются акустическими свойствами зоны ОК, в которой установлен преобразователь. Приемный пьезоэлемент преобразователя фиксирует акустические колебания поверхности ОК и по параметрам электрического сигнала с приемного пьезоэлемента судят о свойствах (дефектности) ОК. Для контроля используют два типа преобразователя: совмещенный и раздельно-совмещенный. Одной из главных особенностей дефектоскопа ИД-91М v3 (ID-91M V3) является функция удаленного обновления программного обеспечения (владелец прибора самостоятельно сможет поменять версию.
Произведено в: Москва