Поиск

Блок детектирования служит для преобразования мощности дозы фотонного излучения в последовательность электрических импульсов напряжения. В качестве детектора используется кремниевый полупроводниковый детектор площадью 1мм2. Чувствительность к мощности дозы гамма-излучения (для источника цезий-137 ) 0,008 с-1·мкГр-1·ч Ток потребления при напряжении питания 12 В в статическом режиме 35 мА.

Предназначен для: Анализа газов; Анализа жидких образцов; Анализа твердых образцов; Анализа пленок; Анализа малых объектов; Идентификации спектров образца по библиотекам спектров; Широкий спектр приставок: «ИнфраЛЮМ ФТ-08» предлагает полный спектр оптических аксессуаров компаний «Pike Technologies» и «Specac», адаптированных для установки в кюветное отделение спектрометра, в том числе: Приставка МНПВО (многократно нарушенного полного внутреннего отражения); Приставка НПВО (нарушенного полного внутреннего отражения); Приставка диффузного отражения; Многоходовая газовая кювета; ИК-микроскоп и другие. Простота в использовании интуитивно понятное и простое в использовании ПО; максимально удобный для работы дизайн корпуса; максимально большое и удобное для установки приставок кюветное отделение; возможность самостоятельного запуска прибора. Особенности оптико-электронного тракта «ИнфраЛЮМ ФТ-08» запатентованная конструкция интерферометра, нечувствительного к разъюстировкам; герметичное оптическое отделение с автоматической системой контроля влажности и температуры оптической и электронной систем; источник излучения со сроком службы до 5 лет. Технические характеристики: Рабочий спектральный диапазон, от 400 до 7800 см-1; Спектральное разрешение, не более 0,7 см-1; Предел абсолютной погрешности шкалы волновых чисел, ±0,05 см-1; Отношение сигнал/шум (среднеквадратический) для волнового числа 2150 см-1, определяемый в интервале ±50 см-1 для разрешения 4 см-1 и времени накопления 60 с, не менее 40000; Предел отклонения линии 100 %-ного пропускания от номинального значения для волнового числа 2150 см-1, определяемый в интервале ±50 см-1, ±0,2 %; Уровень положительного и отрицательного псевдорассеянного света, вызванного нелинейностью фотоприемной системы, ±0,25 %; Время установления рабочего режима спектрометров, не более 2 ч; Время непрерывной работы спектрометров, не менее 8 ч; Среднее время одного сканирования (частота сканирования 7,14 кГц), не более: максимальное спектральное разрешение - 6 с; спектральное разрешение 16 см-1 – 0,8 с; Питание спектрометров от сети переменного тока: напряжение питания, 220 ±22 В; частота, 50 ±1 Гц; Потребляемая мощность, В×А, не более 65; Габаритные размеры, не более 580х550х340мм; Масса, не более 32 кг; Средняя наработка на отказ, не менее 2500 ч; Средний срок службы спектрометра, не менее 5 лет.

Lumas SOLID – Специализированная система, предназначенная для прямого анализа твердофазных материалов методом масс-спектрометрии. Система позволяет проводить элементный и изотопный анализ образцов, в том числе профилирование по глубине (послойный анализ). Lumas SOLID – универсальный инструмент для решения задач современного материаловедения. ОСОБЕННОСТИ: Прямой анализ твердофазных образцов без растворения; Монолитные и порошковые пробы; Определение любых химических элементов (в т.ч. F, O, N, Cl, U, Th, РЗЭ); Одновременное определение микропримесей и основных компонентов; Элементный и изотопный анализ; Профилирование по глубине; Низкие пределы обнаружения; Отсутствие перегрева пробы. Технические характеристики: Способ ионизации - Плазма импульсного тлеющего разряда; Разрядный газ - Аргон, расход менее 1 л/час; Масс-анализатор Времяпролетный с бессеточным ионным зеркалом; Разрешающая способность 4000; Количество одновременно определяемых компонентов Не ограничено; Диапазон массовых чисел 1-2000 а.е.м.; Разрешение (m/Δm на полувысоте пика) до 6000; Пределы обнаружения при твердофазном анализе 1–100 ppb; Послойное разрешение До 5 нм; Глубина анализа До 30 мкм; Время на один анализ твердого образца 30 минут; Вакуумная система - 1 Форнасос и 2 ТМН; Габаритные размеры, 1450×800×1550 мм.

Lumas GAS – специализированная система, предназначенная для прямого высокочувствительного определения летучих органических (ЛОС) и неорганических соединений в воздухе и различных газах (Ar, Ne, Xe, H2, He, N2 и др.) методом масс-спектрометрии. Технические характеристики: Способ ионизации - Плазма тлеющего разряда; Разрядный газ - Воздух; Масс-анализатор Времяпролетный с бессеточным ионным зеркалом Разрешающая способность 4000; Количество одновременно определяемых компонентов Не ограничено; Массовый диапазон 1–1000 m/z; Пределы обнаружения 10–100 ppt; Время анализа 1–3 мин; Вакуумная система - 1 Форнасос и 2 ТМН (240 л/сек); Габаритные размеры, 1450×780×1550 мм.

В спектрометре «МГА-1000» реализован современный вариант электротермической атомно-абсорбционной спектрометрии (ААС ЭТА) с высокочастотной зеемановской коррекцией неселективного поглощения. Технические характеристики: Рабочий спектральный диапазон, от 190 до 900 нм. Спектральное разрешение, не более: - в диапазоне от 190 до 600 нм включительно, 2 нм; - в диапазоне свыше 600 до 900 нм включительно, 3 нм; Предел обнаружения марганца, не более 3 пг; Предел обнаружения никеля, не более 20 пг; Предел допускаемого относительного среднего квадратического отклонения выходного сигнала спектрометров при вводе контрольного раствора, содержащего 200 пг никеля и 50 пг марганца, 5 %; Время установления рабочего режима спектрометров, не более 15 мин; Время непрерывной работы спектрометров, не менее 8 ч; Питание спектрометров от сети трехфазного переменного тока: - номинальное напряжение питания, 380 В - частота, (50 ±1) Гц Габаритные размеры спектрометра, не более 800 х 475 х 310 мм; Масса спектрометра, кг, не более 50 Мощность, потребляемая спектрометрами, не более: - в режимах ожидания и настройки аналитических параметров 0,1 кВ*А; - в режимах атомизации и очистки 6 кВ*А; Средняя наработка на отказ, не менее 4000 ч; Средний срок службы спектрометра, не менее 5 лет.

Подключаемый к ИК фурье-спектрометрам «ФТ-801» и «Инфралюм ФТ-801» широкодиапазонный ИК микроскоп серии “МИКРАН” предназначен для исследования образцов размером от 10 микрон, в том числе, неоднородных по составу. При работе на ИК микроскопе у оператора есть возможность наблюдать исследуемый объект с увеличением свыше 200Х как с помощью бинокуляра, так и на мониторе с использованием цифровой видеокамеры, при фотометрировании выделять с помощью диафрагм интересующий локальный участок произвольной формы, а также “сканировать” поверхность образца, наблюдая в режиме реального времени получаемый спектр.

Жидкостная кювета с регулируемой толщиной слоя исследуемой жидкости выполнена в виде оптико-механической приставки, устанавливаемой в кюветный отсек спектрометра ФТ-801. Содержит фокусирующую оптику, съемные держатели двух окон-подложек диаметром 10 мм и два регулировочных винта, выведенных на верхнюю панель корпуса приставки и предназначенных для выставления требуемого зазора между окнами. Жидкость любой степени вязкости предварительно наносится в виде небольшой капли на нижнее окно и затем, в процессе плавного сближения окон равномерно заполняет зазор между ними. Вращая регулировочные винты и наблюдая в режиме он-лайн за спектром пропускания, пользователь имеет возможность задать нужную толщину слоя жидкости, ориентируясь по общей выраженности всего спектра или по интенсивности конкретных полос поглощения. При наличии калибровки, которую легко создать с помощью программы ZaIR 3.5 по нескольким образцам с известной концентрацией, кювета позволяет проводить количественные измерения. Кювета незаменима при анализе смесей, содержащих примеси в малых пропорциях. Технические характеристики Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 50 Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 16 Время регистрации спектра при 16 сканах (разрешение 4 см-1), сек 20 Минимальный объем исследуемой жидкости, мм3 1 Диаметр пятна фокусировки, мм 3 Габаритные размеры, мм 200×90×160 Масса, кг 1,1 На рисунке приведены несколько спектров вязкой смазки «Буксол», иллюстрирующие процесс подбора толщины слоя образца между окнами. Процесс измерений обладает высокой экспрессностью и воспроизводимостью, используются недорогие сменные окна-подложки, систему легко настраивать и очищать, для получения качественных спектров требуется очень небольшое количество пробы.

Система подогрева образцов разработана для расширения возможностей стандартных приставок НПВО-ЗДО и НПВО-А. Состоит из нагреваемой сменной оправы с алмазной призмой НПВО и блока контроллера температуры. Для большинства твердых образцов в нагретом состоянии можно получить гораздо более выраженный НПВО спектр, чем в холодном. Это позволяет повысить чувствительность метода в несколько раз. Свойства некоторых веществ и соединений кардинально изменяются при увеличении температуры, могут возникать процессы химического взаимодействия между компонентами, их разложение, окисление в воздушной среде и т.п. Если в процессе нагрева происходят изменения в химическом составе вещества, с помощью приставки НПВО с алмазной термоячейкой и контроллером температуры можно получить набор спектров, соответствующий кинетике процесса, что существенно расширяет возможности метода при исследованиях. Технические характеристики приставки НПВО с термоячекой и контроллером Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 10 Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 25 Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек 30 Глубина проникновения излучения в образец, мкм 5 – 15 Минимальная размеры твердого образца, мм 0.5 × 0.5 Минимальный объем исследуемой жидкости, мкл 1 Минимальные размеры образца волокна: диаметр сечения/длина, мм 0.3/1 Материал кристалла-подложки АЛМАЗ Диаметр свободной зоны кристалла, мм не менее 2 х 3 Диаметр пятна фокусировки, мм 1.5 Максимальная температура Со 220о Точность регулировки, Со 1о Время достижения максимальной температуры, мин 10 Габаритные размеры, мм 130×200×90 Масса, кг 1,2

Предназначена для измерения методом нарушенного полного внутреннего отражения с одновременной визуализацией микрообъекта на встроенном и внешнем мониторе, а также методом зеркально-диффузного отражения с углом падения 45о при верхнем расположении образца. Приставка в режиме однократного НПВО используется для регистрации спектров поглощения: жидкостей любой степени вязкости (растворов, суспензий, масел и т.д.), в том числе, обладающих высокой химической активностью; цельных объектов произвольной формы, включая образцы с очень высокой твердостью (любые полимеры, фрагменты лакокрасочных покрытий и т.д.); порошкообразных веществ, включая порошки с очень высокой твердостью (наркотики, фармпрепараты, взрывчатые вещества, неорганические соединения); образцов в виде тонких пленок; образцов в виде волокон. Максимальная твердость и химическая стойкость алмаза существенно расширяют возможности метода; отсутствует необходимость в периодической замене кристалла. Приставка позволяет регистрировать спектры без трудоемкой пробоподготовки, а наличие системы визуального контроля исследуемой поверхности с качественной видеокамерой и встроенным мини-монитором высокой четкости повышает эффективность при работе с малоразмерными образцами – фрагментами тонких волокон, микрочастицами и т.п. Встроенный монитор имеет функции цифрового 10Х увеличения (ZOOM), инвертирования и пр. Изображение может быть одновременно выведено на экран компьютера (используется USB-интерфейс) с последующим сохранением в виде файла. Съемный фланец обеспечивает быструю и удобную смену образцов и очистку поверхности кристалла. Конструкция с выступающим над базовой плоскостью алмазным элементом НПВО позволяет исследовать образцы с достаточно большими габаритными размерами. Высокое качество и повторяемость результатов достигается благодаря отсутствию влияния толщины слоя вещества на форму спектра и интенсивность полос поглощения. Образец сохраняет исходные физико-химические свойства и, при необходимости, может быть в дальнейшем исследован другими методами. Универсальный прижим приставки оснащен прецизионным рычажным механизмом для быстрого опускания наконечника и микрометрическим винтом, позволяющим предварительно устанавливать оптимальную степень давления – это обеспечивает быстроту смены проб и повторяемость результатов при измерениях. Для удобства при работе с жидкими и пастообразными образцами, а также в режиме ЗДО, предусмотрена возможность поворота консоли прижима на 180о. Приставка укомплектована двумя сменными наконечниками – со сферической рабочей частью и с плоской шарнирной головкой. Высокая твердость алмаза позволяет использовать большие усилия прижима, что является определяющим фактором для получения качественных спектров. Для регистрации спектров зеркального и диффузного отражения (ЗДО) применяется сменный столик. Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз. Метод используется для определения спектральных характеристик оптических деталей, тонких пленок на поверхности, кристаллов, прочих крупных цельных объектов произвольной формы и размера.

Малогабаритный ИК фурье-спектрометр с интегрированными приставками и двумя детекторами, включая высокочувствительный охлаждаемый МСТ. Режимы работы: пропускание и отражение, НПВО, измерения с помощью оптоволоконных зондов (возможны варианты исполнения с одной или двумя парами встроенных коннекторов). Доступно подключение ИК микроскопа, телескопа для регистрации спектров внешнего излучения. Спектрометр может использоваться как переносной, и применяется, в том числе, для экспресс-мониторинга технологических процессов, контроля качества жидкостей в резервуарах и магистралях, при проведении поточных анализов биологических объектов, дистанционном газовом анализе. Установка предназначена для создания высококачественных изображений на различных материалах и обеспечивает изготовление резиновых клише печатей и штампов с разрешением не менее 1800 dpi.

Описание

Создана на базе инновационной платформы «Штрих», в основу которой заложена уникальная система управления, аппаратное и программное обеспечение которой целиком разработано специалистами нашей компании.
Установка предназначена для создания высококачественных изображений на таких материалах как резина, металл, пластик и обеспечивает изготовление клише печатей и штампов с разрешением не менее 1800 dpi.
Применяемый в установке волоконный лазер в сочетании с системой гальванометрических сканаторов обеспечивает высокое качество гравировки в статическом режиме, не требует водяного охлаждения и специального обслуживания.
При сборке системы используются только проверенные и сертифицированные детали, что гарантирует особенно длительный срок эксплуатации без дополнительных вложений.

Особенности:

Двухкоординатная высокоточная система позиционирования образцов, с помощью которой осуществляется перемещение предметного стола вдоль осей Х, Y. В результате работы системы позиционирования и последовательного гравирования фрагментов изображения, можно обрабатывать с высокой точностью заготовки с размерами до 200 × 300 мм в автоматическом режиме по заданной оператором программе обработки;
Алгоритм автоматической послойной гравировки с использованием высокоточного механизма перемещения сканирующей головы по Z-координате позволяет формировать высокодетализированные 3D-изображения глубиной до 5 мм в металлических заготовках (сталь, латунь, алюминий, титан и др.);
Длительный процесс послойной гравировки глубоких 3D-изображений (возможно десятки часов) обеспечивается без участия оператора благодаря автоматическому алгоритму;
Установка снабжена встроенной системой удаления продуктов горения из зоны воздействия лазерного излучения, в результате чего, обеспечивается отсутствие запахов и защита сканирующего объектива от продуктов выработки, что особенно важно при гравировке резины и пластиков;
Корпус установки полностью закрывает зоны обработки и распространения лазерного излучения, а гравировка производится по заданной оператором программе в автоматическом режиме при закрытых кожухах установки. Такая конструкция установки позволяет ее отнести к лазерным приборам 1 класса опасности.

Основное преимущество приставки ПРИЗ – возможность получения хорошо выраженных спектров микрообъектов после придания им формы тонкого слоя на отполированных зеркально металлических пластинах (в режиме так называемого двойного прохождения, когда излучение дважды проникает сквозь слой вещества, отражаясь от зеркала-подложки). Наличие системы визуального контроля со встроенной видеокамерой существенно повышает информативность при настройке и надежность полученных результатов. С помощью приставки можно также регистрировать спектры отражения сыпучих образцов и цельных объектов произвольной геометрии в нативном виде, в том числе, фармпрепаратов в виде таблеток, порошков и гранул, полимерных фрагментов, ЛКП, пленок, нанесенных на поверхности. Технические характеристики Пропускание в рабочем диапазоне спектра, % от входного сигнала не менее 40 Рекомендуемое количество сканов при регистрации спектров 25 Время регистрации спектра при 25 сканах (разрешение 4 см-1), сек 30 Минимальные исходные размеры твердого образца, мм 0.2 × 0.2 Максимальная рлощадь твердого образца, мм 20Х20Х10 Диапазон переменной фокусировки, мм 10 Диаметр пятна фокусировки, мм 3 Угол падения излучения (центральный луч) на образец в режиме ЗДО 45о Увеличение микрообъектива / общее увеличение визуального канала 4Х Поле зрения оптической системы, мм 2 Х 2,5 Разрешение цифровой видеокамеры 640х480 Габаритные размеры, мм 140×105×160 Масса, кг 1.16

Прибор более высокого уровня с предельной чувствительностью и дополнительным набором функций, позволяющих расширить возможности при проведении спектральных исследований: · револьверный механизм с 4 сменными объективами – зеркальный ИК 15Х, НПВО, линзовый 4Х, линзовый 10Х; · регистрация спектров в режимах зеркального и диффузного отражения, пропускания и НПВО; · повышенная чувствительность, позволяющая регистрировать спектры микрообъектов с размерами от 5 мкм; · встроенная панель управления с расширенными функциями; · система автоматизированного картирования; · прямоугольная щелевая диафрагма выполнена из специального стекла – после выделения фрагмента пользователю доступно для просмотра и остальное поле зрения, что значительно упрощает фотометрирование протяженных поверхностей с локальными неоднородностями; · специализированное программное обеспечение для управления микроскопом и обработки результатов. Для работы с ИК микроскопом требуется жидкий азот.