Поиск

NT-MDT S.I. представляет NTEGRA II, второе поколение самого популярного в мире АСМ. Благодаря дополнительным возможностям и расширенным функциям он обеспечивает беспрецедентный уровень модульности и гибкости, становясь настоящим партнером исследователя. Интеллектуальным, быстрым, надежным, точным и, несомненно, простым в использовании. Чтобы исключить влияние шумной среды, NTEGRA II поставляется в стандартном шкафу, обеспечивающем контроль температуры, акустическую и виброизоляцию. Такое сочетание раскрывает истинную природу NTEGRA II как самого стабильного АСМ в мире, обеспечивающего температурный дрейф на уровне менее 0,2 нм/мин.

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur I позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

Профилометр позволяет проводить диагностику пластин различного диаметра вплоть до 300 мм включительно. Система позиционирования пьезосканера работает с точностью до 25 нм в латеральной плоскости образца. Преимущества и особенности uSTEP 300: - Возможность анализировать образцы с разным перепадом по высоте от моноатомных ступеней до развитого микрометрового рельефа - Новое поколение электроники с низким уровнем шумов обеспечивает исследование шероховатости с точностью до 2.7 А - Моторизованный позиционер большого размера позволяет исследовать образцы с диаметром до 300 мм - Точность позиционирования в латеральной плоскости 25 нм - Монолитная конструкция основания профилометра снижает влияние паразитных шумов в полосе частот выше 200 Гц на 30 дБ - Удобное и простое в использовании программное обеспечение, открывающее возможности к быстрым потоковым измерениям при межоперационном контроле - Низкая нагрузка на образец весом 0.03 – 10 мг, что позволяет деликатно работать с исследуемыми материалами без повреждения поверхности - Встроенная вспомогательная оптика включает в себя моторизированную систему управления фокусом, увеличением и перемещением в латеральной плоскости - Для сокращения влияния дрейфа и теплового шума система может быть дополнена термостабилизирующим шкафом

Сканирующая Зондовая Микроскопия/методики На воздухе и в жидкости: АСМ (контактная + полуконтактная + бесконтактная) / Латерально-Силовая Микроскопия/ Отображение Фазы/ Модуляция Силы/ Отображение Адгезионных Сил/ Литографии: АСМ (Силовая) Только на воздухе: СТМ/ МСМ/ ЭСМ/ СЕМ/ Метод Зонда Кельвина/ Отображение Сопротивления Растекания/ AFAM (по требованию)/Литографии: АСМ (Токовая), СТМ/

Сканирующий Зондовый Микроскоп в основе каждой модели NTEGRA предназначен для изучения свойств поверхности в нанометровом масштабе. Он позволяет визуализировать и выполнять количественные измерения механических (твердость, эластичность, вязкость), электрических (проводимость, емкость, распределение поверхностного заряда) и магнитных свойств образца на областях от сотен микрон до ангстрем. На базе NTEGRA доступно более 40 СЗМ методов исследований, которые могут проводиться как на воздухе, так и в контролируемой атмосфере, вакууме, жидкостях, электрохимических ячейках. Особенностью прибора NTEGRA MFM является то, что большая часть деталей измерительной МСМ–головки и сменного основания выполнены из немагнитных материалов, что позволяет избежать изменения положения зонда при изменении магнитного поля. Для получения магнитного поля в NTEGRA MFM используется постоянный магнит. Изменение величины магнитного поля осуществляется за счет поворота магнита. Такая конструкция с вращающимся постоянным магнитом выгодно отличается от электромагнита и соленоида отсутствием выделения тепла, термодрейфа образца и механической вибрации вследствие прохождения охлаждающей жидкости. Кроме того, такая конструкция имеет малые габариты и вес. В качестве магнита, генерирующего магнитное поле используется сплав NdFeB, а магнитопроводы выполнены из перемендюра. Конструкция генератора магнитного поля разработана таким образом, что в пределах одного держателя образца существуют области с продольным и поперечным магнитным полем. Таким образом, в зависимости от расположения образца на подложке можно проводить измерения либо в продольном, либо в поперечном магнитном поле. Датчик Холла расположен непосредственно под образцом, между магнитопроводами.

Зондовая нанолаборатория NTEGRA Vita – это специализированный прибор, ориентированный на задачи молекулярной и клеточной биологии. NTEGRA Vita представляет собой сочетание мощного прямого/ инвертированного оптического микроскопа и сканирующего зондового микроскопа с большим набором измерительных методик, возможностью работать c жидкостными или электрохимическими ячейками различных типов. NTEGRA Vita позволяет осуществлять картирование флюоресценции для анализа внутренней структуры образца и одновременно задействовать АСМ для изучения структуры поверхности образца, с высоким разрешением, картировать различные физические параметры (адгезия, упругость и пр.). При этом можно объединять оптические изображения, карты флюоресценции и изображения АСМ. Кроме того, в зависимости от задачи, функциональные возможности прибора могут быть существенно расширены функцией колокализованного анализа образца методами спектроскопии комбинационного рассеяния.

NTEGRA Aura реализует более 40 измерительных методик сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ), включая спектроскопию и литографию, и является идеальным инструментом для всестороннего исследования физических свойств поверхности. Установка оснащена встроенными емкостными датчиками обратной связи по всем трём осям X, Y, Z. Такая схема работы позволяет контролировать фактическое перемещение сканера и компенсирует нелинейность пьезокерамики, гистерезис и крип, при этом обеспечивая очень низкий уровень шума. NTEGRA разработана по принципу открытой архитектуры аппаратного и программного обеспечения. Различные совместимые компоненты можно использовать методом «plug&play». Приборы линейки NTEGRA могут быть оснащены функциональными блоками для проведения измерений в жидкости, для ближнепольной оптической микроскопии, спектроскопии комбинационного рассеяния и др.

NTEGRA Spectra поддерживает большинство существующих режимов АСМ (более 40), и СТМ, предоставляя исчерпывающую информацию о физических свойствах образца с нанометровым разрешением: локальной топографии, жесткости, упругости, проводимости, емкости, намагниченности, поверхностном потенциале, трении, пьезоотклике и т.д. В измерительную головку могут быть установлены различные типы зондовых датчиков. Проведенные одновременно с СЗМ на одном и том же участке образца конфокальные фотолюминесцентные и рамановские измерения позволяют получить информацию о химическом составе образца, кристаллической структуре, ее ориентации и деформации, наличии примесей и дефектов, конформации макромолекул и т.д. Реализованные в NTEGRA Spectra три канала системы ввода/вывода излучения позволяют заводить на образец инициирующее лазерное излучение и собирать сигнал эмиссии сверху, сбоку, а также снизу. Все три оптических канала системы могут быть установлены как по отдельности, так и одновременно.

Встроенная оптическая видеосистема с разрешением до 1 мкм позволяет упростить процедуру наведения луча лазера на зонд и выбрать участок поверхности для исследования, а также контролировать процесс сканирования в режиме реального времени. Система NTEGRA Prima поддерживает все типы сканирования, необходимые для различных образцов. Доступно сканирование образцом, зондом или одновременное сканирование образцом и зондом. При этом диапазон сканирования увеличивается до 200 мкм в плоскости XY и до 20 мкм вдоль оси Z.