Форм

Форм

7 тов.
Вид:
Телефон:
Сайт: form.ru
Адрес:
Россия, Москва, Очаковское шоссе, 34
Сайт: form.ru
Адрес:
Россия, Москва, Очаковское шоссе, 34
  • Выбрано: 0
    Применение
  • Выбрано: 0
    Название
  • Выбрано: 0
    Компания
  • Выбрано: 0
    Производство
  • Выбрано: 0
    Дополнительно
    Все фильтры
    • 7
      Применение
    • 5
      Название
    • 1
      Компания
    • 1
      Производство
    • 0
      Дополнительно
      Вид:
      7 тов.
      ТЕСТЕР ПОЛУПРОВОДНИКОВ FORMULA TT2
      ТЕСТЕР ПОЛУПРОВОДНИКОВ FORMULA TT2
      Тестер FORMULA® TT2 — это универсальная контрольно-измерительная система, предназначенная для комплексной автоматизированной проверки статических параметров полупроводниковых приборов: полевых и биполярных транзисторов, диодов, тиристоров, стабилитронов, оптронов, а также микросборок. Область применения Тестера — испытания и контроль качества на всех стадиях жизненного цикла полупроводниковых приборов, включая: Испытания и исследования вновь разработанных типов полупроводниковых приборов Производственные и приемочные испытания серийной полупроводниковой продукции: типовые, квалификационные, периодические, отбраковочные, приемо-сдаточные Сертификационные испытания ЭКБ иностранного производства Входной контроль Высокий уровень комплексной автоматизации всех этапов процесса измерений, который обеспечивает Тестер FORMULA® TT2, позволяет инженеру сосредоточиться на самом главном — особенностях работы и анализе отклонений проверяемых полупроводниковых приборов. ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ Ключевые технические характеристики Описание / значение Количество постов оператора1 или 2 Число каналов Тестера2 сигнальных, каждый на задание и измерение параметров. Число каналов Тестера4-х проводная схема подключения Программное обеспечениеFTT Источники и измерители напряжения Диапазон задаваемого и измеряемого напряжения±2000 В Ряд независимых источников и измерителей напряжения10; 20; 200; 500; 2000 В Погрешность задания и измерения напряженияот ±(0,5% + 10) мВ Источники и измерители тока Диапазон задаваемого и измеряемого тока±100 А Ряд независимых источников и измерителей тока5 мА; 200 мА; 10 А; 100 А Погрешность задания и измерения токаот ±(1% ± 50) нА Режим малых токов±2 нА...±20 мА с погрешностью от ±(0,4% + 400) фА Коммутатор для термоиспытанийИспытания до 20 различных приборов одновременно
      Форм
      Москва
      Произведено в: Москва
      ТЕСТЕР РЕЛЕ FORMULA R
      ТЕСТЕР РЕЛЕ FORMULA R
      Тестер FORMULA® R — это автоматизированная контрольно-измерительная система для комплексной проверки параметров слаботочных одно-и двустабильных электромагнитных реле постоянного тока, имеющих до 8 обмоток и до 12 контактных групп. Область применения Тестера FORMULA® R — испытания и контроль качества на всех стадиях жизненного цикла реле, включая: испытания и исследования вновь разработанных типов реле в диагностических режимах и режимах, приближенных к реальным условиям функционирования реле в изделиях производственные и приемочные испытания серийной продукции: квалификационные, периодические, отбраковочные, приемо-сдаточные, а также межоперационный контроль сертификационные испытания анализ брака/отклонений и прогнозирование отказов входной контроль В Тестере реализованы принципиальные новшества, которые обеспечивают Потребителю преимущества технического и метрологического уровня, позволяя: 1.Радикально повысить точность измерений: временных параметров реле контактного сопротивления (сопротивления цепи контактов при их замыкании) напряжений/токов срабатывания-отпускания с применением произвольных циклограмм 2. Обеспечить выполнение новых требований к контролю реле в соответствии с ГОСТ РВ 5945–002–2008: измерять электрическую прочность реле при напряжении до 800 В (1000 В) измерять времена стабилизации контактов и измерения ЭДС самоиндукции обмоток реле 3. Расширить область применения средства измерений Выявлять скрытый брак реле с применением встроенного осциллографа высокого разрешения и программного обеспечения для исследования и контроля реле Выполнять анализ отказов и прогнозирование надежности реле с применением произвольных циклограмм 4. Расширить назначение средств измерений Контролировать электрические параметры резисторных сборок типа Б19–1, Б19–2, Б19–3 Измерять герконовые реле, имеющие низкое сопротивление контактов, малое время срабатывания-отпускания и высокое сопротивление изоляции — до 10 ГОм Контролировать оптореле, в том числе выполненные в виде микросборок. ШИРОТА ПРИМЕНЕНИЯ И ПРЕЕМСТВЕННОСТЬ Концепция, реализованная в Тестере реле FORMULA® R, обеспечивает его эффективное применение сразу в трех областях: - как средство измерений при испытаниях реле в полном соответствии с ГОСТ 16121–86, ГОСТ РВ 5945–002–2008 и ТУ - как инструмент для анализа причин и механизмов отказов реле при производстве - как средство прогнозирования надежности реле на испытаниях и входном контроле реле
      Форм
      Москва
      Произведено в: Москва
      ТЕСТЕР МИКРОСХЕМ FORMULA HF Ultra
      ТЕСТЕР МИКРОСХЕМ FORMULA HF Ultra
      FORMULA® HF Ultra — универсальная контрольно-измерительная система для функционального и параметрического контроля ультравысокочастотных СБИС. Область применения Тестера — испытания и контроль качества на всех стадиях жизненного цикла СБИС, включая: Испытания и исследования вновь разработанных типов СБИС Производственные и приемочные испытания серийной продукции: квалификационные, периодические, отбраковочные, приемо-сдаточные Сертификационные испытания Входной контроль Тестеры FORMULA® HF Ultra являются типовыми средствами измерений с подтвержденными метрологическими характеристиками в соответствии с описанием типа. ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ Тестеры FORMULA® HF Ultra созданы для выполнения достоверных измерений СБИС широкой номенклатуры, включая Системы на кристалле (СнК) и микросхемы смешанного сигнала, а также все виды современных ЗУ. Цифровые СБИСASIC, ПЛИС, стандартная жесткая логика Микропроцессоры и микроконтроллерыУниверсальные и сигнальные Одноядерные и многоядерные Отдельные и в составе СвК Микросхемы смешанного сигналаАЦП и ЦАП Микросхемы памятиFLASH, DRAM, DDR, DDR2, DDR3, SRAM, ROM, PROM Системы на кристалле, Системы в корпусеСБИС, включающие процессорные ядра, блоки памяти, программируемой логики, периферийных устройств, аналоговые компоненты, АЦП и ЦАП. Ключевые технические характеристики Тестера определяются следующими величинами: Количество универсальных двунаправленных каналов — до 1024 Частота функционального контроля до 550 МГц Опорная частота прецизионного генератора — 1200 МГц Память векторов/ошибок — до 128 М/128 М векторов Блок аналоговых измерений — 1200 МПс/24 бит Уровень и состав функциональных, параметрических и метрологических характеристик Тестера, установленный при его разработке, был определен исходя из номенклатуры и характеристик современных микросхем, а также с учетом обеспечения конкурентоспособности с современным зарубежным оборудованием того же назначения.
      Форм
      Москва
      Произведено в: Москва
      ТЕСТЕР МИКРОСХЕМ FORMULA 2К
      ТЕСТЕР МИКРОСХЕМ FORMULA 2К
      Тестер FORMULA® 2K — это автоматизированная универсальная контрольно-измерительная система для функционального и параметрического контроля цифровых, аналоговых и цифро-аналоговых микросхем малой и средней степени интеграции, а также микросхем памяти. Тестер предназначен для выполнения измерений в процессе проведения приемо-сдаточных, периодических, сертификационных и иных видов испытаний ИМС, а также для входного контроля FORMULA® 2K обеспечивает требования метрологического законодательства РФ и нормативной документации в области измерений и испытаний в микроэлектронике. Тестер является функционально полным автоматизированным средством измерений БИС и ИМС и обеспечивает Потребителям следующие преимущества: Высокий уровень готовности оборудования к измерениям и испытаниям Автоматизацию всех стадий измерительного процесса и управления данными Быстросъемная измерительная оснастка — как на кабеле, так и на разъемах Тестера Режимы работы с зондовыми автоматами, автозагрузчиками, испытательным оборудованием и приборами Дружественное программное обеспечение Автоматическая диагностика и калибровка Надежность в круглосуточном режиме работы ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ Наименование параметраДиапазоны и значения Число двунаправленных измерительных каналов64...256 Диапазон уровней входного/выходного сигнала/амплитуда-10...+10 В/± 20 В Частота функционального контролядо 20 МГц Частота канала тактового сигнала40 МГц Длительность фронта и среза импульса, не более4 нс/ 6 В; 15 нс/ 10 В Измерение интервалов времени одним каналомот 5 до 10000 нс Объем памяти тестовых векторов/ошибок1 М/1 М Ток активной нагрузки0,5...24 мА Выходное сопротивление50 Ом ± 5 Ом Источники Число источников (включая 2 прецизионных)5...14 Напряжение источников-20...+20 В Погрешность задания напряженияот ±(0,35% + 10) мВ Погрешность задания напряжения прецизионным источникомот ±(0,02% + 1) мВ Ток источниковдо 2 А Погрешность ограничения токаот ±(2% + 1) мА Измерители Число измерителей (включая 1 прецизионный)до 2 Напряжение измерителей-20...+20 В Погрешность измерения напряженияот ±(0,5% + 2) мВ Погрешность измерения напряжения прецизионным измерителемот ±(0,02% + 1) мВ Ток измерителейдо 200 мА Погрешность измерения силы токаот ±(2% + 12) нА Количество диапазонов по току6 Контроль микросхем памятиСтатические ОЗУ Алгоритмическое формирование последовательности адресовЕсть Динамическое резервирование матрицы ОЗУЕсть Средства управления внешними приборами Интеграция с зондовыми автоматами испытательным оборудованием и внешними приборамипо интерфейсу GPIB Тестер является функционально полным автоматизированным средством измерений БИС и ИМС и обеспечивает Потребителям следующие преимущества: Высокий уровень готовности оборудования к измерениям и испытаниям Автоматизацию всех стадий измерительного процесса и управления данными Быстросъемная измерительная оснастка — как на кабеле, так и на разъемах Тестера Режимы работы с зондовыми автоматами, автозагрузчиками, испытательным оборудованием и приборами Дружественное программное обеспечение Автоматическая диагностика и калибровка Надежность в круглосуточном режиме работы
      Форм
      Москва
      Произведено в: Москва
      ТЕСТЕР ПОЛУПРОВОДНИКОВ FORMULA TT3
      ТЕСТЕР ПОЛУПРОВОДНИКОВ FORMULA TT3
      Тестер стал развитием модели Formula® TT2, существенно расширив возможности её применения в область новых видов испытаний и анализа брака — улучшены функциональные и метрологические характеристики, оптимизирована эргономика рабочего места оператора, снижены требования к измерительной оснастке. Тестер FORMULA® TT3 обеспечивает: - воспроизведение электрического напряжения постоянного тока и силы постоянного электрического тока по четырехпроводной схеме; - измерение электрического напряжения постоянного тока и силы постоянного электрического тока по четырехпроводной схеме; - измерение емкостных характеристик полевых транзисторов и варикапов; - построение вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик двух- и трехполюсников с отображением результатов в графическом виде; - определение зарядовых характеристик полевых транзисторов; - испытания полевых транзисторов на устойчивость к воздействию энергии лавинного пробоя (ЭЛП) одиночного импульса; - измерение статических электрических характеристик полупроводниковых приборов: полевых транзисторов, оптопар, тиристоров, биполярных транзисторов, диодов и стабилитронов, а также приборов других типов. Наименование параметров / характеристик Значение / описание Функциональные характеристики Измерение статических параметров ±2000 В / ±100 А Измерение емкостных параметров от 30 пФ до 40 нФ Определение зарядовых характеристик от 1 нКл до 400 нКл Испытания на устойчивость к ЭЛП от 1 мДж до 400 мДж Технические характеристики Схема подключения к объекту контроля 4-х проводная схема подключения Операционная система Windows 10 Программное обеспечение FORMULA® TT3 с графическим интерфейсом пользователя Источники и измерители напряжения Диапазон воспроизведения/измерения напряжения постоянного тока ±100 мВ…±2000 В Ряд независимых источников и измерителей напряжения 20 В (10А); 40 В (100А); 200 В (200 мА); 500 В (200 мА); 2000 В (5 мА) Погрешность воспроизведения и измерения напряжения постоянного тока от ±(0,5% + 10) мВ Источники и измерители тока Диапазон воспроизведения силы постоянного тока ±100 нА…±100 А Диапазон измерения силы постоянного тока ±100 пА…±100 А Ряд независимых источников и измерителей силы постоянного тока 5 мА (2000 В); 200 мА (200 В); 10 А (20В); 100 А (40В), 100 пА — 200 нА (встроенный пикоамперметр) Погрешность задания тока от ±(1% + 50) нА Длительность измерительного импульса 300 мкс…100 с Общие технические характеристики Напряжение питающей сети частотой 50 Гц, В 230 ± 10% Потребляемая мощность, В·А, не более 600 Масса, кг, не более 76 Исполнение настольное Интерфейсы управления LAN, GPIB, RS 232
      Форм
      Москва
      Произведено в: Москва
      ТЕСТЕР ЭЛЕКТРОННЫХ УЗЛОВ FORMULA CK
      ТЕСТЕР ЭЛЕКТРОННЫХ УЗЛОВ FORMULA CK
      Тестер FORMULA® CK — автоматизированная универсальная контрольно-измерительная система для функционального и параметрического контроля электронных узлов и блоков, а также их диагностики и локализации неисправностей. Тестер предназначен для выполнения измерений в процессе проведения приёмо-сдаточных, периодических, сертификационных и иных видов испытаний, а также для целей ремонта и контроля ТЭЗ в составе стационарных и передвижных ремонтных станций. ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ ТЕСТЕРОВ Наименование параметра Тестера Диапазоны / Значения Канальная электроника Количество универсальных двунаправленных каналов 192 Канал тактовой частоты 40 МГц1 Канал внутрисхемного параметрического и сигнатурного анализа 1 Параметры канальной электроники Уровни выходного сигнала (основной/дополнительный наборы)0...6 В / 0....30 В Уровни входного сигнала0...27,5 В Частота функционального контроля20 МГц Частота канала внутрисхемного параметрического и сигнатурного анализатора20 МГц Длительность фронта и среза импульса, не более4 нс/ 6 В Объем памяти тестовых векторов/ошибок1 М Входное/выходное сопротивление универсальных каналов 50 Ом Ток активной нагрузки (по каждому каналу)0,5...24 мА Программируемые источники Количество источников6 Напряжение источников-30...+30 В Погрешность задания напряженияот ±(1% + 15) мВ Ток источниковдо 2 А Погрешность задания токаот ±(2% + 1) мА Программируемые измерители статических параметров Количество измерителей статических параметров2 Напряжение измерителей-20...+20 В Погрешность измерения напряженияот ±(0,7% + 2) мВ Ток измерителейдо 200 мА Погрешность измерения токаот ±(2% + 12) нА Количество диапазонов по току6 Средства управления внешними приборами Каналы синхронизации внешнего осциллографа2 Встроенный коммутатор для подключения до 4-х внешних приборов к любому из 192-х каналов192х4 Интеграция с испытательным оборудованием и внешними приборами отечественного и иностранного производствапо интерфейсам LXI и GPIB Тестер является функционально полным автоматизированным средством измерений БИС и ИМС и обеспечивает Потребителям следующие преимущества: Высокий уровень готовности оборудования к измерениям и испытаниям Автоматизацию всех стадий измерительного процесса и управления данными Быстросъемная измерительная оснастка — как на кабеле, так и на разъемах Тестера Режимы работы с зондовыми автоматами, автозагрузчиками, испытательным оборудованием и приборами Дружественное программное обеспечение Автоматическая диагностика и калибровка Надежность в круглосуточном режиме работы
      Форм
      Москва
      Произведено в: Москва
      Тестер микросхем FORMULA HF3
      Тестер микросхем FORMULA HF3
      Тестеры на платформе FORMULA® HF3 представлены двумя базовыми моделями — FORMULA® HF3 и FORMULA® HF3–512 и предназначены для функционального и параметрического контроля быстродействующих СБИС широкой номенклатуры: микроконтроллеров, статической и динамической памяти (ЗУ), СБИС на БМК, ASICs, ПЛИС и др. с числом сигнальных выводов до 256/512 и частотой функционирования до 200 МГц. В комплекте с адаптером PRIMA Тестеры позволяют измерять статические параметры микросхем АЦП и ЦАП до 14 разрядов. НАЗНАЧЕНИЕ И ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ Область применения Тестеров — испытания и контроль качества на всех стадиях жизненного цикла СБИС, включая: Испытания и исследования вновь разработанных типов микросхем Производственные и приемочные испытания серийной продукции: квалификационные, периодические, отбраковочные, приемо-сдаточные Сертификационные испытания Входной контроль ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ Наименование параметраДиапазоны и значения Частота функционального контроля на канал12,5 кГц ... 200 МГц Количество двунаправленных каналов64...256/512 Объем памяти векторов64 М Объем памяти ошибок64 M Диапазон напряжений задаваемых уровней−2...+7,5 В Диапазон напряжений контролируемых уровней−2...+7,5 В Основные измерительные источники питания - до 8/16 шт.0...6 В; ±250 мкА... ±4 А Доп. измерительные источники питания – до 8/16 шт.−2...15 В; ±200 нА...±400 мА Многоканальные измерители стат. параметров - до 8/16 шт.−2...8,5 В; ±200 нА...±150 мА Поканальные измерительные источники – до 256/512 шт.−2...8,0 В; ±2 мкА... ±32 мА Длительность фронта и среза импульса(0,7 ±0,15) нс Минимальная длительность импульса(1,65 ±0,15) нс Основная погрешность формирования входного перепада±200 / ±250 пс Основная погрешность формирования выходного перепада±150/±250 пс Основная погрешность формирования моментов времени от воздействия до контроля±200 пс Общая временная погрешность (OTA)±350 пс Разрешение по времени33 пс Погрешность задания/измерения напряжения основными измерительными источниками0,05%±2,5 мВ Погрешность задания/измерения тока основными измерительными источниками0,3%±0,5 мА Погрешность задания/измерения напряжения дополнительными измерительными источниками0,1%±3 мВ Погрешность задания/измерения тока дополнительными измерительными источниками0,3%±4 нА Погрешность задания/измерения напряжения многоканальным измерителем статических параметров0,1%±500 мкВ Погрешность задания/измерения тока многоканальным измерителем статических параметров0,3%±4 нА Выходное сопротивление(50 ±5) Ом Программируемая активная динамическая нагрузка35 мА на канал Режим «мультисайт» для параллельных измерений ИМСЕсть Алгоритмический генератор тестов (AГТ)8X, 8Y, 8DL, 8DH/ 32 канала Операционная системаWindows 7 Интерактивная среда разработки и отладки программ контроля, выполнения измерений, документирования и анализа данных, метрологического и диагностического сервисаFormHF Языки программированияC++, Pascal Габариты измерительного блока (Ш×В×Г)/ масса1033×558×768 мм /130 кг Потребляемая мощность, не более3 кВт/6 кВт Система охлажденияВоздушное охлаждение
      Форм
      Москва
      Произведено в: Москва