Регулируемые магнитные системы для оптических измерений
В основе дизайна данного типа магнитных систем также лежит принцип дипольной структуры Хальбаха, однако, благодаря специальному устройству магнитных элементов и механизма их перемещения, имеется возможность оптического доступа к исследуемому образцу, причем в нескольких направлениях и с достаточно широкой апертурой.
Оригинальная конструкция обеспечивает уникальное сочетание параметров:
Шахта для установки образцов: Ø 42 мм
Диапазон регулировки поля: от -0.7 до 0.7 Тл
Однородность поля в рабочей области: ~ 1 %
Неизменная геометрия рабочего пространства в процессе регулировки поля: Да
Возможность оптических наблюдений в направлениях вдоль и поперек магнитного поля: Да
Возможна поставка источника со встроенной системой измерения поля, связанной с ПК. Управление регулировкой поля осуществляется с ПК, либо с помощью встроенного контроллера.
Возможно изготовление источников поля данного типа по техническому заданию (размеры рабочей области, величина поля) заказчика.
Произведено в: Москва