Diffractomètre à rayons x multifonction DRON-8T

Le diffractomètre à rayons X multifonctionnel DRON-8 (8N) avec un goniomètre thêta-thêta vertical et une position d'échantillon horizontale permet l'analyse par diffraction des rayons X de la composition de phase, de l'état structurel et de l'orientation d'une large gamme d'objets de formes diverses et tailles.

La configuration de base du microscope à sonde à balayage Certus est conçue pour répondre à une large gamme de tâches de recherche et d'analyse. la numérisation parallèle à Plat sur les axes x, Y et Z permet d'obtenir une image de surface et d'effectuer une modification ultérieure de l'image avec un minimum de distorsion et de perte d'informations; Balayage à la fois par une sonde (un scanner ordinaire à l'intérieur de la tête de balayage Certus) et par un scanner d'échantillon XYZ ultra-rapide. l'introduction parallèle de la sonde à l'échantillon résout le problème de l'introduction manuelle laborieuse de la sonde à l'échantillon. L'alimentation est assurée par trois supports motorisés; la conception ouverte de la tête de balayage permet d'observer la surface de l'échantillon sous un angle de 0 à 90°, d'installer des appareils et des équipements supplémentaires; la configuration modulaire permet d'installer le microscope à sonde à balayage Certus Standard sur des microscopes optiques traditionnels (droits ou inversés), de les combiner avec des instruments optiques et de les mettre à niveau vers les versions Certus Optic et Centaur; mise en œuvre des principales techniques SPM. Pour changer le mode de fonctionnement du microscope à sonde à balayage (par exemple, passer d'un mode de microscope à force atomique à un mode de microscope à tunnel à balayage), il suffit de changer le support de sonde.

Machine pour la préparation des électrodes en graphite cratère-2. Dans la machine, deux types de coupeurs peuvent être installés simultanément, par exemple sur un cratère et un cône.

Microscope à sonde à balayage (SPM) combiné avec un microscope optique direct de classe de recherche. Conçu pour la recherche par microscopie optique et à force atomique. tête de balayage XYZ de Certus pour obtenir des images AFM (topographie en général) et / ou positionner la sonde par rapport à la surface de l'échantillon; dispositif de positionnement et de balayage (XY(Z) piezostolic) Ratis pour le positionnement de l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope et / ou le balayage de l'échantillon; microscope optique direct (Olympus BX 51 de base) pour afficher un objet de recherche et pointer la sonde sur un objet de recherche ou positionner l'échantillon par rapport au champ de vision du microscope; mouvement Z mécanique pour objectif; mouvement piézo-électrique à un seul axe pour l'objectif Vectus pour une précision de mise au point accrue, une mise au point automatique et des images 3D superposées à grand champ; dispositif de positionnement de l'échantillon pour la sélection d'une zone sur une surface ou dans un volume; contrôleur unique EG-3000 pour contrôler toutes les parties du complexe; logiciel NSpec.

Spectromètre Raman confocal à balayage avec option SPM Dimensions compactes Automatisation complète du système Conception originale du spectromètre Ouverture élevée de l'appareil avec une perte optique minimale. Le circuit confocal est réalisé selon le schéma original, fournit des dimensions compactes et des dérivations minimales des éléments optiques. Le microscope optique intégré fournit une recherche pratique de l'emplacement pour les mesures. La conception utilise des composants mécaniques de précision et de l'optique. Peut être utilisé à la fois dans les laboratoires industriels et dans les universités de recherche.

Le spectromètre a été créé selon le schéma Cherny-Turner basé sur un réseau de diffraction plat et un analyseur MAES avec une ligne de photodétecteurs. Il a une précision photométrique accrue grâce au refroidissement et à la stabilisation de la température de la ligne photodétecteur, ainsi qu'à sa conception non emballée, dans laquelle il n'y a pas de réflexion du rayonnement sur le verre de protection et le niveau de fond dans le spectre enregistré est réduit. La conception optique et la conception du spectromètre sont optimisées pour obtenir un spectre de haute qualité avec un faible niveau de rayonnement de fond dans l'une des régions situées dans la plage spectrale de 190 à 1 100 nm.La sélection de la zone de travail s'effectue en changeant et en tournant les réseaux de diffraction. Le boîtier scellé du spectromètre est rempli d'un gaz inerte. Le rayonnement est introduit dans le spectromètre à l'aide d'un condenseur à quartz ou d'un câble à fibre optique avec un connecteur SMA-905. La conception optique et la conception du spectromètre sont protégées par des brevets.

Le principal avantage d'un spectromètre mobile est la possibilité de mesurer la composition des alliages non seulement en laboratoire sur des échantillons spécialement préparés, mais également directement dans un atelier ou un entrepôt sans couper le produit ou la pièce.

Caractéristiques techniques: Gamme de concentrations mesurées 0,005% - dizaines % Gamme spectrale 178-410 nm Récepteurs d'émission de 4 détecteurs multiéléments Erreur relative (en fonction de la concentration) 1%...20% Temps d'analyse 10...40 s Exigences d'argon 99,998% Alimentation Secteur 2208 50 Hz, batterie Consommation électrique en mode analyse dot kW Poids de la console TG Poids du module optique 2.5 kg

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur I permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).

Le spectromètre à fluorescence x spectroscan MAX-GF1 (2) E-C combine deux méthodes d'isolement du signal analytique: la diffraction sur puce (dispersion d'onde - WDX) et la dispersion d'énergie (EDX), ainsi que l'échantillonnage adapté à l'analyse d'images de grande taille. La collimation du rayonnement primaire du tube à rayons x et la conception spéciale de l'alimentation en échantillons permettent d'analyser l'échantillon sur une surface de 1 cm2 par incréments de 1 mm et d'étudier ainsi la distribution des éléments sur la surface. Le spectromètre est conçu pour déterminer les teneurs en éléments allant de Ca à U dans des matières solides, pulvérulentes, dissoutes, appliquées sur des surfaces ou déposées sur des filtres. À l'aide de canaux de dispersion d'énergie fixes, il est possible de déterminer n'importe quel élément supplémentaire, un ou deux, allant du magnésium (Mg) au calcium (Ca). Avec l'aide de cette modification du spectromètre, des examens médico-légaux et douaniers, des examens médico-légaux et médico-légaux, ainsi que des examens artistiques sont effectués.

Le spectromètre est conçu pour déterminer les teneurs en éléments allant de Na à U dans des matières solides, pulvérulentes, dissoutes, appliquées sur des surfaces ou déposées sur des filtres. Le principe de fonctionnement du spectromètre à rayons x est basé sur l'irradiation de l'échantillon par le rayonnement primaire du tube à rayons x, la mesure de l'intensité du rayonnement fluorescent secondaire de l'échantillon à des longueurs d'onde correspondant aux éléments à déterminer, puis le calcul de la fraction massique de ces éléments à partir d'une caractéristique de graduation Le rayonnement fluorescent secondaire est décomposé dans le spectre à l'aide d'un analyseur de cristal. Grâce à cela, le spectromètre à fluorescence x a une haute résolution, et donc la capacité d'analyser avec précision des substances complexes à plusieurs composants.

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). . Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur Duos permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.). microsocopies). . Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur Duos permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).