Diffractomètre à rayons x de bureau difray-405

Le spectromètre est conçu pour effectuer une analyse spectrale quantitative et qualitative de diverses substances et matériaux (poudres, métaux, solutions) dans les usines et les laboratoires de recherche. Le spectromètre est compact en raison de la disposition verticale du système optique Paschen-Runge. Il se compose de deux analyseurs MAES avec 10 rangées de photodiodes installées dans un cercle d'un rayon de 520 mm, d'un réseau de diffraction concave non classique, d'une table spéciale avec un ordinateur intégré et d'une source d'excitation spectrale.

Caractéristiques techniques: Gamme de concentrations mesurées 0,005% - dizaines % Gamme spectrale 178-410 nm Récepteurs d'émission de 4 détecteurs multiéléments Erreur relative (en fonction de la concentration) 1%...20% Temps d'analyse 10...40 s Exigences d'argon 99,998% Alimentation Secteur 2208 50 Hz, batterie Consommation électrique en mode analyse dot kW Poids de la console TG Poids du module optique 2.5 kg

Le diffractomètre à rayons X multifonctionnel DRON-8 (8N) avec un goniomètre thêta-thêta vertical et une position d'échantillon horizontale permet l'analyse par diffraction des rayons X de la composition de phase, de l'état structurel et de l'orientation d'une large gamme d'objets de formes diverses et tailles.

Le spectromètre a été créé selon le schéma Cherny-Turner basé sur un réseau de diffraction plat et un analyseur MAES avec une ligne de photodétecteurs. Il a une précision photométrique accrue grâce au refroidissement et à la stabilisation de la température de la ligne photodétecteur, ainsi qu'à sa conception non emballée, dans laquelle il n'y a pas de réflexion du rayonnement sur le verre de protection et le niveau de fond dans le spectre enregistré est réduit. La conception optique et la conception du spectromètre sont optimisées pour obtenir un spectre de haute qualité avec un faible niveau de rayonnement de fond dans l'une des régions situées dans la plage spectrale de 190 à 1 100 nm.La sélection de la zone de travail s'effectue en changeant et en tournant les réseaux de diffraction. Le boîtier scellé du spectromètre est rempli d'un gaz inerte. Le rayonnement est introduit dans le spectromètre à l'aide d'un condenseur à quartz ou d'un câble à fibre optique avec un connecteur SMA-905. La conception optique et la conception du spectromètre sont protégées par des brevets.

Conçu pour les études complexes des propriétés physiques de la surface par la microscopie optique classique, la microscopie laser confocale, la spectroscopie confocale et la microscopie à sonde à balayage (microsocopie à force atomique). Il permet d'obtenir des spectres Raman complets (Raman ou CR) de diffusion et/ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM (AFM). La conception du complexe Centaur I permet d'utiliser à la fois des techniques distinctes (par exemple, microscopie confocale/spectroscopie) et de combiner des techniques (y compris la combinaison des champs de balayage, des études AFM/Raman, etc.).

Spectromètre Raman confocal à balayage avec option SPM Dimensions compactes Automatisation complète du système Conception originale du spectromètre Ouverture élevée de l'appareil avec une perte optique minimale. Le circuit confocal est réalisé selon le schéma original, fournit des dimensions compactes et des dérivations minimales des éléments optiques. Le microscope optique intégré fournit une recherche pratique de l'emplacement pour les mesures. La conception utilise des composants mécaniques de précision et de l'optique. Peut être utilisé à la fois dans les laboratoires industriels et dans les universités de recherche.

Le spectromètre est conçu pour déterminer les teneurs en éléments allant de Na à U dans des matières solides, pulvérulentes, dissoutes, appliquées sur des surfaces ou déposées sur des filtres. Le principe de fonctionnement du spectromètre à rayons x est basé sur l'irradiation de l'échantillon par le rayonnement primaire du tube à rayons x, la mesure de l'intensité du rayonnement fluorescent secondaire de l'échantillon à des longueurs d'onde correspondant aux éléments à déterminer, puis le calcul de la fraction massique de ces éléments à partir d'une caractéristique de graduation Le rayonnement fluorescent secondaire est décomposé dans le spectre à l'aide d'un analyseur de cristal. Grâce à cela, le spectromètre à fluorescence x a une haute résolution, et donc la capacité d'analyser avec précision des substances complexes à plusieurs composants.

Pendant le fonctionnement, le générateur de vapeur d'échantillons métalliques» Aspect " fournit: gestion de tous les instruments du complexe d'analyse spectrale des émissions atomiques - analyseur MAES, générateur "boule de Foudre", inclusion de dispositifs externes; une décharge unipolaire d'étincelle est excitée entre la contre-électrode de tungstène et la surface des échantillons étudiés-des lingots de métaux précieux ou d'autres échantillons métalliques; l'intensité de l'érosion de la surface de l'échantillon est régulée en modifiant la fréquence et la puissance des impulsions d'étincelles générées par un générateur d'étincelles semi-conducteur contrôlé par ordinateur; la stabilité et la qualité de la recherche sont contrôlées par un spectromètre intégré via une fibre optique; le flux réglable d'argon de haute pureté traverse la zone de décharge des étincelles dans la chambre de décharge scellée, capte les particules de l'échantillon obtenues par l'érosion des étincelles de la surface et les transporte sous forme d'aérosol dans la zone du mélangeur / pulvérisateur du brûleur du plasma à couplage inductif du spectromètre à émission optique; le débit d'argon de haute pureté est alimenté, contrôlé et ajusté par un régulateur de débit massique contrôlé par microprocesseur dans la plage de 0,5 à 3 l/min stabilité de l'alimentation 0,01 l/min.

Conçu pour effectuer des études complètes des propriétés de surface par microscopie optique, spectroscopie et microscopie à sonde à balayage. Il permet d'obtenir des spectres complets de diffusion Raman et / ou de fluorescence, des images spectrales confocales au laser et confocales (cartographie de surface), des images SPM. La conception du complexe Centaur I HR permet de travailler à la fois avec des méthodes séparées (par exemple, avec la microscopie à force atomique) et de combiner des méthodes (ASM-Raman, laser confocal et ASM).

Le spectromètre à fluorescence x spectroscan MAX-GF1 (2) E combine deux méthodes d'isolement du signal analytique: la diffraction sur puce (dispersion d'onde - WDX) et la méthode à dispersion d'énergie (EDX). Le spectromètre est conçu pour déterminer les teneurs en éléments allant de Ca à U dans des matières solides, pulvérulentes, dissoutes, appliquées sur des surfaces ou déposées sur des filtres.À l'aide de canaux de dispersion d'énergie fixes,il est possible de déterminer n'importe quel élément supplémentaire, un ou deux, allant du magnésium (Mg) au calcium (Ca). Le principe de fonctionnement du spectromètre est basé sur l'irradiation de l'échantillon par le rayonnement primaire du tube à rayons x, la mesure de l'intensité du rayonnement fluorescent secondaire de l'échantillon à des longueurs d'onde correspondant aux éléments à déterminer, puis le calcul de la fraction massique de ces éléments à partir d'une caractéristique de graduation pré-construite, qui est la dépendance du contenu de l'élément à déterminer sur l'intensité mesurée.

Machine pour la préparation des électrodes en graphite cratère-2. Dans la machine, deux types de coupeurs peuvent être installés simultanément, par exemple sur un cratère et un cône.

Microscope à sonde à balayage (SPM) d'entrée de gamme La numérisation parallèle à Plat sur les axes x, Y et Z permet d'obtenir une image de surface et d'effectuer une modification ultérieure de l'image avec un minimum de distorsion et de perte d'informations; la conception ouverte de la tête de balayage permet d'observer la surface de l'échantillon sous un angle de 0 à 90°, d'installer des appareils et des équipements supplémentaires; la configuration modulaire permet d'installer le microscope à sonde à balayage Certus Light sur des microscopes optiques traditionnels (directs ou inversés), de les combiner avec des instruments optiques et de les mettre à niveau vers des modifications