کاتالوگ
بازگشت به نتایج جستجو
Confotec® CARS 3d اسکن میکروسکوپ لیزر طیف سنج
بازگشت به نتایج جستجو
Confotec® CARS 3d اسکن میکروسکوپ لیزر طیف سنج
مشخصات فنی:
به دست آوردن تصاویر confocal 2d و 3d: اسکن ، ذخیره و ذخیره داده ها.
نمایش اتومبیل ها ، طیف های رامان یا لومینسنت.
روش های مختلف کالیبراسیون طیف ، از جمله استفاده از یک لامپ کالیبراسیون یکپارچه به عنوان منبع خط مرجع.
2/3 نمایش ابعاد داده ها.
پردازش تصویر:
تصحیح تصویر.
پردازش تصویر متریک و آماری ، مقاطع متقاطع دلخواه.
فیلتر دیجیتال ، تغییر اندازه و چرخش تصویر.
پردازش طیف:
تفریق پس زمینه پهن باند (تصحیح پس زمینه).
عملیات ریاضی: جمع ، تفریق ، تقسیم ، محصول و غیره
. صاف کردن به چند روش
جستجو و تعیین ماکسیما (قله ها) خطوط طیف.
حالت های اسکن: نقطه ، XY ، XZ ، YZ و XYZ.
روش های اسکن:
Galvanoscanner: تصاویر با سرعت بالا 2D;
Galvanoscanner + اسکنر Piezo-Z: تصاویر با سرعت بالا 3D;
جدول خودکار: تصاویر 2 بعدی;
جدول خودکار + اسکنر Piezo-Z: تصاویر سه بعدی;
galvanoscanner + جدول خودکار: تصاویر پانوراما 2D;
Galvanoscanner + جدول خودکار + اسکنر پیزو-Z: تصاویر پانوراما 3D.
به دست آوردن تصاویر confocal 2d و 3d: اسکن ، ذخیره و ذخیره داده ها.
نمایش اتومبیل ها ، طیف های رامان یا لومینسنت.
روش های مختلف کالیبراسیون طیف ، از جمله استفاده از یک لامپ کالیبراسیون یکپارچه به عنوان منبع خط مرجع.
2/3 نمایش ابعاد داده ها.
پردازش تصویر:
تصحیح تصویر.
پردازش تصویر متریک و آماری ، مقاطع متقاطع دلخواه.
فیلتر دیجیتال ، تغییر اندازه و چرخش تصویر.
پردازش طیف:
تفریق پس زمینه پهن باند (تصحیح پس زمینه).
عملیات ریاضی: جمع ، تفریق ، تقسیم ، محصول و غیره
. صاف کردن به چند روش
جستجو و تعیین ماکسیما (قله ها) خطوط طیف.
حالت های اسکن: نقطه ، XY ، XZ ، YZ و XYZ.
روش های اسکن:
Galvanoscanner: تصاویر با سرعت بالا 2D;
Galvanoscanner + اسکنر Piezo-Z: تصاویر با سرعت بالا 3D;
جدول خودکار: تصاویر 2 بعدی;
جدول خودکار + اسکنر Piezo-Z: تصاویر سه بعدی;
galvanoscanner + جدول خودکار: تصاویر پانوراما 2D;
Galvanoscanner + جدول خودکار + اسکنر پیزو-Z: تصاویر پانوراما 3D.
این محصول از تامین کنندگان موجود است:
میکروسکوپ تک لیزری کنفوکال کامپکت Confotec® Uno
1 تولید شده است.
ویژگی های فنی:
میکروسکوپ: یک میکروسکوپ مستقیم با برج برای 6 لنز میکرو ، با یک روشن کننده دیود برای کار در حالت نور/میدان تاریک در نور منعکس شده و یک دوربین ویدئویی رنگی. مجموعه لنز بر اساس نوع نمونه های اندازه گیری شده به صورت جداگانه انتخاب می شود.
طیف سنج: یک طیف سنج با کارایی بالا با موقعیت شبکه ثابت. بر اساس نوع نمونه های اندازه گیری شده ، دو نوع از شبکه دیفرانکشن برای اطمینان از محدوده مطلوب ثبت شده و وضوح طیف پیشنهاد شده است.
آشکارساز: یک آشکارساز خطی بسیار حساس است. محدوده حساسیت طیف از 200 تا 1100 نانومتر است. تعداد پیکسل: 4096 ، اندازه پیکسل: 7x200 میکرون.
لیزر: لیزر DPSS با طول موج 532±0.1 نانومتر ، قدرت 50 مگاوات. اختیاری: لیزر دیود با طول موج 785±0.1 نانومتر ، قدرت 130 مگاوات با عایق نوری.
حساسیت: تشخیص قله سیلیکونی درجه سوم.
وضوح فضایی: جانبی (XY) < 1 μm ؛ محوری (Z) < 2 μm.
دوربین فیلمبرداری: رنگی (حداقل 5 مگاپیکسل) با قابلیت ذخیره تصاویر در کامپیوتر.
اسکن نمونه: اختیاری. جدول دقیق خودکار HU با طیف وسیعی از حرکات 100x75 میلی متر و حداقل ارتفاع 100 نانومتر.
ابزار SOL
Minsk
تولید شده در: بلاروس, مینسک
میکروسکوپ کانفوکال جمع و جور با دو لیزر Confotec® Duo
1 تولید شده است.
مشخصات فنی:
حساسیت: تشخیص قله سیلیکون درجه سوم
وضوح فضایی: جانبی (XY) < 1 μm
محوری (Z) < 2 μm
حداقل مرحله اسکن جدول نقشه برداری 2 بعدی: 100 نانومتر
دوربین مداربسته تصویری: رنگی (حداقل 5 مگاپیکسل) با قابلیت ذخیره تصاویر در کامپیوتر
ابزار SOL
Minsk
تولید شده در: بلاروس, مینسک
فیدر معرف 159 PT
برای دوز دقیق واکنش دهنده های مایع طراحی شده است.
ویژگی های فنی فیدر معرف
ظرفیت فیدر بسته به مقطع بار و سرعت غوطه وری آن ، mm3 / min 200-5000
قدرت درایو ، W 25
ابعاد کلی ، میلی متر
طول 330
عرض 300
ارتفاع 665
وزن ، کیلوگرم 11
تجهیزات مکانیکی
Санкт-Петербург
تولید شده در: سن پترزبورگ
میکروسکوپ های جمع و جور-طیف سنج Confotec® mr350 ، MR520 و MR750
1 تولید شده است.
ویژگی های فنی:
نوع ، مدل: مستقیم نیکون اکلیپس Ni-U
لنزهای میکرو: 100x NA-0.95 ، 40x NA-0.75 ، 20x NA-0.50 و غیره.
عینک: 10x (اختیاری 12.5 x ، 15x)
میز موتور دار: برای مدل های SRMSp و srm
محدوده حرکتی XY
موقعیت قابلیت بازتولید موقعیت
دقت
حداقل مرحله
X=114 میلیمتر ، Y=75 میلیمتر
< 0.5 میکرون
0.06 میکرون / 1 میلیمتر
0.02 میکرون
دستی z-فوکوس: Z-
حرکت محور
حساسیت مکانیزم تمرکز
10 میلیمتر
0.1 میلی متر/انقلاب
اسکنر Z:
محدوده سفر لنز
حداقل مرحله
قابلیت بازتولید
80 میکرون
50 نانومتر
< 6 نانومتر
دوربین ویدئویی دیجیتال با وضوح بالا: Peltier خنک شده (-20 درجه سانتیگراد نسبت به دمای محیط)
نوع سنسور
اندازه پیکسل
ADC
خنک کننده
دوربین دیجیتال رنگی Ccd
4/3" ، 2048 x 2048 پیکسل
7.4 × 7.4 میکرون
14 بیت ، سرعت تا 16 فریم در ثانیه
عنصر Peltier
دوربین فیلمبرداری دیجیتال با وضوح بالا: بدون خنک کننده
نوع سنسور
اندازه پیکسل
ADC
دوربین دیجیتال رنگی Ccd
1/2" ، 2048 x 1536 پیکسل
3.2 × 3.2 میکرون
10 بیت ، 12 فریم در ثانیه سرعت
ورودی لیزر: برجک اتوماتیک سه موقعیت
ابزار SOL
Minsk
تولید شده در: بلاروس, مینسک
سنج اسکن ترکیبی Certus Optical duos (SPM) ، میکروسکوپ های نوری مستقیم و معکوس
میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم و معکوس کلاس تحقیقاتی. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است.
سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه;
یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه;
میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ;
میکروسکوپ نوری معکوس (Olympus IX 71 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ;
حرکت مکانیکی Z برای لنز;
حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده;
یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم;
یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه;
نرم افزار NSpec.
فناوری اسکن نانو
Dolgoprudny
تولید شده در: دالگورودنی, استان مسکو
ایستگاه نظارت بر تشعشعات Zastava-1
دستگاه های نسل جدید ، ایستگاه های خودکار نظارت مداوم بر تشعشعات Zastava-1 برای سازماندهی نظارت مداوم و موثر بر وضعیت تشعشعات و اطلاع رسانی از خطرات تشعشعات طراحی شده اند. این ایستگاه ها دارای سه کانال اندازه گیری مستقل هستند که امکان نظارت همزمان در چندین منطقه را فراهم می کند. ایستگاه ها از نظارت از راه دور پشتیبانی می کنند-آنها به یک شبکه کامپیوتری محلی ، دسترسی به اینترنت متصل هستند.
دستگاه های الکترونیکی NPP
Naberezhnye Chelny
تولید شده در: تاتارستان, نابرژنیه چلنی
میکروسکوپ تک لیزری کنفوکال کامپکت Confotec® Uno
1 تولید شده است.
ویژگی های فنی:
میکروسکوپ: یک میکروسکوپ مستقیم با برج برای 6 لنز میکرو ، با یک روشن کننده دیود برای کار در حالت نور/میدان تاریک در نور منعکس شده و یک دوربین ویدئویی رنگی. مجموعه لنز بر اساس نوع نمونه های اندازه گیری شده به صورت جداگانه انتخاب می شود.
طیف سنج: یک طیف سنج با کارایی بالا با موقعیت شبکه ثابت. بر اساس نوع نمونه های اندازه گیری شده ، دو نوع از شبکه دیفرانکشن برای اطمینان از محدوده مطلوب ثبت شده و وضوح طیف پیشنهاد شده است.
آشکارساز: یک آشکارساز خطی بسیار حساس است. محدوده حساسیت طیف از 200 تا 1100 نانومتر است. تعداد پیکسل: 4096 ، اندازه پیکسل: 7x200 میکرون.
لیزر: لیزر DPSS با طول موج 532±0.1 نانومتر ، قدرت 50 مگاوات. اختیاری: لیزر دیود با طول موج 785±0.1 نانومتر ، قدرت 130 مگاوات با عایق نوری.
حساسیت: تشخیص قله سیلیکونی درجه سوم.
وضوح فضایی: جانبی (XY) < 1 μm ؛ محوری (Z) < 2 μm.
دوربین فیلمبرداری: رنگی (حداقل 5 مگاپیکسل) با قابلیت ذخیره تصاویر در کامپیوتر.
اسکن نمونه: اختیاری. جدول دقیق خودکار HU با طیف وسیعی از حرکات 100x75 میلی متر و حداقل ارتفاع 100 نانومتر.
ابزار SOL
Minsk
تولید شده در: بلاروس, مینسک
شیار انقباضی SJ 5-32
از جانب
69 000 ₽
کراکر شیار دار برای تقسیم (کاهش) نمونه های مواد فله به دو قسمت با وزن برابر و معادل در محتوای اجزای تشکیل دهنده طراحی شده است.
ویژگی های فنی CJ 5-32
عرض شیارها ، میلی متر 5
تعداد شیارها ، رایانه های شخصی 32
حجم تقسیم ، l 0.6
ابعاد کلی ، میلی متر ، حداکثر:
طول / عرض / ارتفاع 225/126/150
وزن ، کیلوگرم 4,8
تجهیزات مکانیکی
Санкт-Петербург
تولید شده در: سن پترزبورگ
NTEGRA Spectra II
Ntegra Spectra II در حال حاضر نسل دوم یک سیستم اندازه گیری است که با موفقیت اتحاد دو جهان را نشان می دهد: طیف سنجی AFM و رامان.
از نقشه برداری امداد گرفته تا تجزیه و تحلیل طیفی 2 بعدی ، از مطالعات خواص الکتریکی و مکانیکی گرفته تا اندازه گیری های نوری با وضوح زیر حد پراش.
اکنون دانشمندان می توانند تجزیه و تحلیل فیزیکی و شیمیایی کامل خواص سطحی نمونه را در یک زمان انجام دهند.
در نتیجه ، محققان فرصت های نامحدود برای توسعه تکنیک های آزمایشگاهی خود دارند.
ابزارهای طیف NT-MDT
Zelenograd
تولید شده در: مسکو, زلنوگراد
سنج اسکن ترکیبی U نوری Certus (SPM) و میکروسکوپ های نوری مستقیم
میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم کلاس تحقیق.
این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است.
سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه;
یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه;
میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ;
حرکت مکانیکی Z برای لنز;
حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده;
یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم;
یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه;
نرم افزار NSpec.
فناوری اسکن نانو
Dolgoprudny
تولید شده در: دالگورودنی, استان مسکو
پیمانکار شیار دار sj 5-16 (مینی)
کراکر شیار دار برای تقسیم (کاهش) نمونه های مواد فله به دو قسمت با وزن برابر و معادل در محتوای اجزای تشکیل دهنده طراحی شده است.
ویژگی های فنی CJ 5-16 (مینی)
عرض شیارها ، میلی متر 5
تعداد شیارها ، رایانه های شخصی 16
حجم تقسیم ، l 0.3
ابعاد کلی ، میلی متر ، حداکثر:
طول / عرض / ارتفاع 130/126/150
وزن ، کیلوگرم 2.7
تجهیزات مکانیکی
Санкт-Петербург
تولید شده در: سن پترزبورگ
فیلتر آزمایشگاهی 57 فوت
فیلتر آزمایشگاهی برای فیلتراسیون سیستم تعلیق با تراکم تا 5 گرم در سانتی متر مکعب در شرایط آزمایشگاهی در حالت دوره ای طراحی شده است.
ویژگی های فنی 57 فوت
حداکثر فشار هوای فشرده مورد استفاده ، kg / cm2 6
تعداد لیوان فیلتر قابل تعویض 1
حجم عینک ، l 4
ابعاد کلی ، میلی متر
طول 695
عرض 395
ارتفاع 765
وزن ، کیلوگرم 42
تجهیزات مکانیکی
Санкт-Петербург
تولید شده در: سن پترزبورگ
طیف‌سنج کوچک Md-10 با توجه به طرح Debye-Scherer با یک آشکارساز حساس به موقعیت
MD-10 یک طیف‌سنج اشعه ایکس است که روش غیر مخرب تجزیه و تحلیل دیفرانکشن اشعه ایکس مواد پلی کریستالی را فراهم می کند. این روش بر اساس پدیده پراش اشعه ایکس بر روی یک شبکه کریستالی است. با اندازه گیری زاویه ها و شدت قله های پراش ، می توان پارامترهای شبکه کریستالی را تعیین کرد ، ترکیب فاز کیفی و کمی یک ماده را انجام داد ، برای روشن کردن اصلاح (فاز) یک ترکیب خاص ، به عنوان مثال ، با استفاده از پایگاه داده JCPDS-ICDD.
رادیکن
Saint Petersburg
تولید شده در: سن پترزبورگ
Ratis یک پیزوستولیک اسکن موازی است
یک پیزوستولیک اسکن موازی هواپیما.
این دستگاه یک بدنه فلزی یکپارچه (ساخته شده از آلیاژ با کیفیت بالا ، معمولا آلومینیوم) است که در آن کانال هایی برای محرک های پیزو سرامیکی ، عناصر میز متحرک و غیره وجود دارد. با الکتروروژن و سایر روش های ماشینکاری دقیق تشکیل می شوند. این طراحی خطی و صاف بودن حرکت عالی را فراهم می کند ، برخلاف اسکنرهای کلاسیک مبتنی بر لوله پیزو ، که سطح اسکن آن یک کره است. علاوه بر این ، اسکنرهای موازی هواپیما در مقایسه با لوله های پیزو شکننده دارای مقاومت مکانیکی بالایی هستند.
فناوری اسکن نانو
Dolgoprudny
تولید شده در: دالگورودنی, استان مسکو
میکروسکوپ رامان M532 / 785
1 تولید شده است.
ویژگی ها
وضوح فضایی 1 μm
اندازه گیری انتقال / بازتاب
لیزر 532 نانومتر و 785 نانومتر در یک میکروسکوپ
نرم افزار حرفه ای تشخیص خودکار مواد
محدوده طیف گسترده اجازه تجزیه و تحلیل همزمان تابش رامان و نوردهی را می دهد که اطلاعات مهم تری در مورد شی مورد مطالعه ارائه می دهد
Spectr-M
Chernogolovka
تولید شده در: چرنوگولوفکا, استان مسکو
Certus Light یک میکروسکوپ سنج اسکن سطح ابتدایی (SPM)است
میکروسکوپ سنج اسکن سطح ابتدایی (SPM)
اسکن موازی هواپیما در امتداد محورهای X ، Y و Z به شما اجازه می دهد تا یک تصویر از سطح را بدست آورید و ویرایش تصویر بعدی را با حداقل تحریف و از دست دادن اطلاعات انجام دهید;
طراحی باز سر اسکن امکان مشاهده سطح نمونه آزمایش را در زاویه 0-90 درجه ، نصب دستگاه ها و تجهیزات اضافی فراهم می کند;
پیکربندی مدولار به شما امکان می دهد میکروسکوپ پروب اسکن نور Certus را بر روی میکروسکوپ های نوری سنتی (مستقیم یا معکوس) نصب کنید ، با دستگاه های نوری ترکیب کنید و این دستگاه را به تغییرات ارتقا دهید
فناوری اسکن نانو
Dolgoprudny
تولید شده در: دالگورودنی, استان مسکو
NANOEDUCATOR II
NanoEducator II ، علیرغم فشرده سازی و سهولت کار ، از تمام تکنیک های اساسی نیروی اتمی و میکروسکوپ تونل اسکن پشتیبانی می کند ، بنابراین می توان از آن برای هر اندازه گیری و آزمایش معمول AFM و STM در تحقیقات علمی استفاده کرد. به عنوان مثال ، نتایج برخی از آزمایشات در کاربردهای مختلف علمی نشان داده شده است:
تحقیق سازه های اتمی
بررسی نانوساختارهای فلزی
بررسی ساختارهای مغناطیسی
تحقیق در مورد اجسام پلیمری
تحقیق در مورد اجسام بیولوژیکی
تحقیق در مورد نانومواد کربن
ابزارهای طیف NT-MDT
Zelenograd
تولید شده در: مسکو, زلنوگراد
طیف سنج جمع و جور دو کاناله Sl40 Duo
1 تولید شده است.
مشخصات فنی:
طرح نوری: لنز آینه اصلی
باز شدن نسبی: 1/4. 9
فاصله کانونی: 40 میلیمتر
پراکندگی خطی معکوس (متوسط): 34.9 nm / mm (شبکه دیفرانکشن 600 str/mm) ، 17.8 nm / mm (شبکه دیفرانکشن 1200 str / mm)
وضوح طیفی: < 0.8 نانومتر (گریتینگ دیفرانکشن 600 str / mm) ، < 0.45 نانومتر (گریتینگ دیفرانکشن 1200 str/mm)
ابزار SOL
Minsk
تولید شده در: بلاروس, مینسک
Centaur Duos (Afm / Raman)
این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است.
. این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur Duos امکان استفاده از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و ترکیب تکنیک ها (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) را فراهم می کند.).
میکروسکوپ ها).
. این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur Duos امکان استفاده از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و ترکیب تکنیک ها (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) را فراهم می کند.).
فناوری اسکن نانو
Dolgoprudny
تولید شده در: دالگورودنی, استان مسکو