شیار انقباضی SJ 5-32

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. . این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur Duos امکان استفاده از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و ترکیب تکنیک ها (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) را فراهم می کند.). میکروسکوپ ها). . این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur Duos امکان استفاده از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و ترکیب تکنیک ها (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) را فراهم می کند.).

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم کلاس تحقیق. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; حرکت مکانیکی Z برای لنز; حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

Nt-Mdt Spectrum Instruments یک میکروسکوپ نوری نزدیک میدان (r‑SBOM) است که برای محدوده طیف مادون قرمز طراحی شده است. پروب AFM در فوکوس یک سیستم نوری قرار دارد که تابش لیزر IR را به نمونه هدایت می کند و پاسخ نوری را جمع آوری می کند. تابش جمع آوری شده برای تجزیه و تحلیل نوری به تداخل سنج میشلسون ارسال می شود. جزء دور میدان سیگنال جمع آوری شده با تشخیص همزمان سرکوب می شود. سیستم INTEGRA Nano IR امکان تشخیص دامنه و فاز سیگنال نزدیک میدان را فراهم می کند. وضوح فضایی کنتراست های انعکاس و جذب حاصل تقریبا 10 نانومتر است و فقط با اندازه نوک کاوشگر تعیین می شود.

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم و معکوس کلاس تحقیقاتی. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; میکروسکوپ نوری معکوس (Olympus IX 71 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; حرکت مکانیکی Z برای لنز; حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

میکروسکوپ رامان M532® ترکیبی از قابلیت های اکسپرس آنالیزور رامان پرتابل Inspectre R532® و میکروسکوپ U300M است که آن را برای هر دو اندازه گیری انتقال و بازتاب سازگار می کند. عملکرد گسترده میکروسکوپ M532 امکان یافتن و تجزیه و تحلیل ذرات فردی با اندازه 2-3 μm را در میان بسیاری از ذرات مشابه با خواص فیزیکی و شیمیایی مشابه فراهم می کند که فرصت های تحقیقاتی جدیدی را در چارچوب یک سیستم رامان واحد باز می کند. وضوح فضایی 1 μm و وضوح طیفی 4-6 سانتی متر-1 دقت اندازه گیری عالی و قابلیت تکرار نتایج را تضمین می کند. طراحی جمع و جور و قابلیت حمل این ابزار امکان تجزیه و تحلیل با کیفیت بالا و فوری مواد بدون آماده سازی نمونه را فراهم می کند که میکروسکوپ M532 را به ابزاری ضروری برای طیف گسترده ای از مطالعات تبدیل می کند. مجهز به اسلاید موتوری (اختیاری) در افزایش 0.36 μm ، میکروسکوپ M532 سطح نمونه را اسکن می کند ، مواد موجود در مخلوط های ناهمگن چند جزء را تشخیص می دهد و تصویری گرافیکی از شدت خطوط مشخصه رامان در نقاط مختلف سطح ایجاد می کند (نقشه برداری 2D) ، که میکروسکوپ M532 را به سودآورترین میکروسکوپ اسکن با کیفیت قیمت رامان در بازار جهانی تبدیل می کند.

MD-10 یک طیف‌سنج اشعه ایکس است که روش غیر مخرب تجزیه و تحلیل دیفرانکشن اشعه ایکس مواد پلی کریستالی را فراهم می کند. این روش بر اساس پدیده پراش اشعه ایکس بر روی یک شبکه کریستالی است. با اندازه گیری زاویه ها و شدت قله های پراش ، می توان پارامترهای شبکه کریستالی را تعیین کرد ، ترکیب فاز کیفی و کمی یک ماده را انجام داد ، برای روشن کردن اصلاح (فاز) یک ترکیب خاص ، به عنوان مثال ، با استفاده از پایگاه داده JCPDS-ICDD.

میکروسکوپ سنج اسکن Certus Light V یک نسخه جمع و جور از SPM با حداقل عملکرد و هزینه است. تفاوت اصلی با نسخه اصلی Certus Light اسکن نمونه و سیستم تأمین دقیق تر است. این دستگاه شامل یک سر خواندن وضعیت کانتی لیور ، یک اسکنر مسطح چند منظوره ، یک سیستم تامین و نصب سر است. این دستگاه با حداقل پیکربندی یک واحد کنترل الکترونیکی که مستقیما در بدنه اصلی ساخته شده است کار می کند ، یعنی دستگاه یک بلوک است. امکان کنترل از راه دور دستگاه از طریق رایانه لوحی با استفاده از نرم افزار تخصصی برای سیستم عامل Android وجود دارد.

طراحی شده برای کاهش سنگ های زمین شناسی و سنگ معدن در آماده سازی آنها برای مطالعات تحلیلی ویژگی های فنی DPTS-100A اندازه خوراک اولیه ، میلی متر ، بیش از 20 حجم کل تمام نمونه گیرها ، dm3 100 درجه کاهش 1/2 است..1/12 قدرت درایو ، kW 0.18 ابعاد کلی ، میلی متر طول 590 عرض 590 ارتفاع 910 وزن ، کیلوگرم 60

ویژگی ها وضوح فضایی 1 μm اندازه گیری انتقال / بازتاب لیزر 532 نانومتر و 785 نانومتر در یک میکروسکوپ نرم افزار حرفه ای تشخیص خودکار مواد محدوده طیف گسترده اجازه تجزیه و تحلیل همزمان تابش رامان و نوردهی را می دهد که اطلاعات مهم تری در مورد شی مورد مطالعه ارائه می دهد

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur U اجازه می دهد تا از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال ، میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و تکنیک های ترکیبی (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) استفاده شود.).

این ضخیم کننده برای ضخیم کردن سیستم تعلیق با تراکم تا 5 گرم در سانتی متر مکعب در شرایط آزمایشگاهی طراحی شده است. ویژگی های فنی 55SG بهره وری ، کیلوگرم در ساعت 0.5..5 قطر مالیات بر ارزش افزوده ، میلی متر 700 ارتفاع مالیات بر ارزش افزوده ، میلی متر 430 قدرت درایو ، kW 0.12 سرعت سکته مغزی ، rpm 0.28-1 ابعاد کلی ، میلی متر طول 780 عرض 710 ارتفاع 1500 وزن ، کیلوگرم 110

دستگاه های نسل جدید ، ایستگاه های خودکار نظارت مداوم بر تشعشعات Zastava-1 برای سازماندهی نظارت مداوم و موثر بر وضعیت تشعشعات و اطلاع رسانی از خطرات تشعشعات طراحی شده اند. این ایستگاه ها دارای سه کانال اندازه گیری مستقل هستند که امکان نظارت همزمان در چندین منطقه را فراهم می کند. ایستگاه ها از نظارت از راه دور پشتیبانی می کنند-آنها به یک شبکه کامپیوتری محلی ، دسترسی به اینترنت متصل هستند.

مشخصات فنی: فاصله کانونی: 1000 (2*500)میلی متر دیافراگم نسبی: 1/5. 9 وضوح طیف: 0.013 نانومتر (FEU) ، 0.017 نانومتر (دوربین دیجیتال (12 میکرومتر پیکسل)) پراکندگی خطی معکوس: 0.78 nm / mm تفاوت: وضوح طیف بالا و سطح نور محیط پایین.

مشخصات فنی: طرح نوری: دو کانال عمودی متقارن باز شدن نسبی: 1/9. 3 ، 1/5 (با خازن های خارجی) فاصله کانونی: 158 میلی متر

طیف سنج برای اندازه گیری شدت خطوط تحلیلی عناصر شیمیایی طراحی شده است و با محاسبه مجدد آنها ، غلظت جرم عناصر از P(15) تا U(92) موجود در نمونه تجزیه و تحلیل شده (نمونه) را تعیین می کند. فرآیند تجزیه و تحلیل از مجموعه ای از داده ها و پردازش آنها تا به دست آوردن نتایج به شکل جدول غلظت عناصر قابل تشخیص خودکار و با استفاده از یک کامپیوتر شخصی انجام می شود. این طیف سنج می تواند در زمینه های مختلف علم و فناوری (اکولوژی ، زیست شناسی ، پزشکی ، کشاورزی ، صنایع غذایی ، زمین شناسی ، معدن ، ژئوفیزیک ، کنترل بهداشتی و اپیدمیولوژیک و غیره) مورد استفاده قرار گیرد.).

اسکن طیف سنج رامان کانفوکال با گزینه SPM ابعاد جمع و جور اتوماسیون کامل سیستم طرح اصلی طیف سنج دیافراگم بالا دستگاه با حداقل تلفات نوری. مدار کانفوکال با توجه به طرح اصلی ساخته شده است ، ابعاد جمع و جور و حداقل رانش عناصر نوری را فراهم می کند. میکروسکوپ نوری داخلی جستجوی مکان مناسب برای اندازه گیری را فراهم می کند. اجزای مکانیکی دقیق و اپتیک در طراحی استفاده می شود. هم در آزمایشگاه های صنعتی و هم در دانشگاه های تحقیقاتی قابل استفاده است.

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) مجهز به نگهدارنده های سنج تخصصی و تجهیزات نوری لازم برای انجام تحقیقات با استفاده از اثر نزدیک میدان. میکروسکوپ نوری نزدیک میدان بر اساس استفاده از خواص میدان نزدیک (evanescent) است که امکان غلبه بر حد پراش میکروسکوپ نوری کلاسیک را فراهم می کند. تمام میکروسکوپ های نزدیک میدان شامل چندین عنصر طراحی اساسی هستند: یک کاوشگر; سیستم حرکت سنج نسبت به سطح نمونه در امتداد مختصات 2 (X-Y) یا 3 (X-Y-Z) (سیستم اسکن); سامانه ثبت نام; سیستم نوری