شیار انقباضی SJ 3-14 (میکرو)

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur I اجازه می دهد تا از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال ، میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و تکنیک های ترکیبی (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) استفاده شود.).

ویژگی های فنی: میکروسکوپ: یک میکروسکوپ مستقیم با برج برای 6 لنز میکرو ، با یک روشن کننده دیود برای کار در حالت نور/میدان تاریک در نور منعکس شده و یک دوربین ویدئویی رنگی. مجموعه لنز بر اساس نوع نمونه های اندازه گیری شده به صورت جداگانه انتخاب می شود. طیف سنج: یک طیف سنج با کارایی بالا با موقعیت شبکه ثابت. بر اساس نوع نمونه های اندازه گیری شده ، دو نوع از شبکه دیفرانکشن برای اطمینان از محدوده مطلوب ثبت شده و وضوح طیف پیشنهاد شده است. آشکارساز: یک آشکارساز خطی بسیار حساس است. محدوده حساسیت طیف از 200 تا 1100 نانومتر است. تعداد پیکسل: 4096 ، اندازه پیکسل: 7x200 میکرون. لیزر: لیزر DPSS با طول موج 532±0.1 نانومتر ، قدرت 50 مگاوات. اختیاری: لیزر دیود با طول موج 785±0.1 نانومتر ، قدرت 130 مگاوات با عایق نوری. حساسیت: تشخیص قله سیلیکونی درجه سوم. وضوح فضایی: جانبی (XY) < 1 μm ؛ محوری (Z) < 2 μm. دوربین فیلمبرداری: رنگی (حداقل 5 مگاپیکسل) با قابلیت ذخیره تصاویر در کامپیوتر. اسکن نمونه: اختیاری. جدول دقیق خودکار HU با طیف وسیعی از حرکات 100x75 میلی متر و حداقل ارتفاع 100 نانومتر.

ویژگی های فنی: طرح نوری: طرح تپه ای اصلاح شده با آینه های پارابولیک جبران آستیگماتیسم: بله کانال های طیف مستقل: 2 باز شدن نسبی (در ورودی): 1/4. 2 فاصله کانونی: 270 میلیمتر نور پراکنده (20 نانومتر از لیزر): 2.5 x 10-5 بزرگنمایی افقی: 1.09 نانومتر ویژگی: تنظیم خودکار طول موج

یک پیزوستولیک اسکن موازی هواپیما. این دستگاه یک بدنه فلزی یکپارچه (ساخته شده از آلیاژ با کیفیت بالا ، معمولا آلومینیوم) است که در آن کانال هایی برای محرک های پیزو سرامیکی ، عناصر میز متحرک و غیره وجود دارد. با الکتروروژن و سایر روش های ماشینکاری دقیق تشکیل می شوند. این طراحی خطی و صاف بودن حرکت عالی را فراهم می کند ، برخلاف اسکنرهای کلاسیک مبتنی بر لوله پیزو ، که سطح اسکن آن یک کره است. علاوه بر این ، اسکنرهای موازی هواپیما در مقایسه با لوله های پیزو شکننده دارای مقاومت مکانیکی بالایی هستند.

این ضخیم کننده برای ضخیم کردن سیستم تعلیق با تراکم تا 5 گرم در سانتی متر مکعب در شرایط آزمایشگاهی طراحی شده است. ویژگی های فنی 55SG بهره وری ، کیلوگرم در ساعت 0.5..5 قطر مالیات بر ارزش افزوده ، میلی متر 700 ارتفاع مالیات بر ارزش افزوده ، میلی متر 430 قدرت درایو ، kW 0.12 سرعت سکته مغزی ، rpm 0.28-1 ابعاد کلی ، میلی متر طول 780 عرض 710 ارتفاع 1500 وزن ، کیلوگرم 110

مشخصات فنی: فاصله کانونی (خروجی): 350 میلیمتر دیافراگم نسبی (ورودی): 1/3. 8 پراکندگی خطی معکوس: 2.37 nm / mm

این طراحی شده است برای انجام مطالعات جامع از خواص سطح با استفاده از میکروسکوپ نوری ، طیف سنجی و اسکن میکروسکوپ پروب. این اجازه می دهد تا به دست آوردن پراکندگی کامل رامان و/یا طیف های فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM. طراحی مجموعه منابع انسانی Centaur I به شما امکان می دهد با هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ نیروی اتمی) و ترکیب تکنیک ها (Afm-Raman ، لیزر کنفوکال و AFM) کار کنید.

برای دوز دقیق واکنش دهنده های مایع طراحی شده است. ویژگی های فنی فیدر معرف ظرفیت فیدر بسته به مقطع بار و سرعت غوطه وری آن ، mm3 / min 200-5000 قدرت درایو ، W 25 ابعاد کلی ، میلی متر طول 330 عرض 300 ارتفاع 665 وزن ، کیلوگرم 11

اسکن طیف سنج رامان کانفوکال با گزینه SPM ابعاد جمع و جور اتوماسیون کامل سیستم طرح اصلی طیف سنج دیافراگم بالا دستگاه با حداقل تلفات نوری. مدار کانفوکال با توجه به طرح اصلی ساخته شده است ، ابعاد جمع و جور و حداقل رانش عناصر نوری را فراهم می کند. میکروسکوپ نوری داخلی جستجوی مکان مناسب برای اندازه گیری را فراهم می کند. اجزای مکانیکی دقیق و اپتیک در طراحی استفاده می شود. هم در آزمایشگاه های صنعتی و هم در دانشگاه های تحقیقاتی قابل استفاده است.

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم و معکوس کلاس تحقیقاتی. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; میکروسکوپ نوری معکوس (Olympus IX 71 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; حرکت مکانیکی Z برای لنز; حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

طیف سنج MS - 1104e با عملکرد بالا و دقت اندازه گیری های مسباور که از طریق استفاده از هندسه "فشرده" به دست آمده است ، و همچنین استفاده از واحدهای تشخیص درخشش رزونانس بسیار کارآمد و انتخابی ، که وضوح انرژی خطوط جذب رزونانس را تا 30 ٪ بهبود می بخشد ، مشخص می شود. تکنیک تثبیت نرم افزار و سخت افزار مسیر طیف سنجی توسعه یافته و مورد استفاده در طیف سنج اجازه می دهد تا اندازه گیری های طولانی مدت مسباور بدون تنظیم دستی انجام شود. روش مدولاسیون در محدوده های سرعت مشخص شده اجازه می دهد تا حساسیت و بیان اندازه گیری ها را به طور قابل توجهی افزایش دهد و زمان تعیین شدت اثرات جذب رزونانس را ده برابر در مطالعه انتقال فاز دما با غلظت کم عناصر رزونانس کاهش دهد. اجزای الکترونیکی طیف سنج بر اساس یک پایه عنصر مدرن با استفاده از آرایه های منطقی برنامه ریزی شده و میکروپروسسورها توسعه یافته است. مسیرهای طیف سنجی قابل تنظیم و منبع تغذیه ولتاژ بالا PMU در واحدهای تشخیص یکپارچه شده اند ، ماژول های درایور مدولاتور و ذخیره سازی چند کانال در استاندارد ISA ساخته شده اند و در واحد پردازنده رایانه قرار دارند. تنظیم و نظارت بر تمام پارامترهای طیف سنج و پردازش طیف های اندازه گیری شده از پنجره های عملیاتی برنامه های کنترل و پردازش انجام می شود. از سال 2000 ، بیش از ده طیف سنج از این نوع به سازمان های علمی پیشرو در روسیه و کشورهای همسایه عرضه شده است. لازم به ذکر است که یکی از معدود کاربردهای صنعتی طیف سنجی مسباور توسعه و عرضه به Npp Volgodonsk از روش های گواهی شده MS-1104em و طیف سنج برای نظارت بر فرآیندهای خوردگی در مدارهای تبادل گرما راکتور VVER-1000 است.

"Inspectre" Mixsplitter® یک ابزار رامان بسیار کارآمد برای اسکن خودکار و تشخیص عناصر مخلوط پودر ، تعلیق و تعلیق با دقت تا 1 ٪ است. در نتیجه اسکن ، کاربر اطلاعاتی در مورد اجزای مخلوط و درصد آنها دریافت می کند. Mixsplitter" Inspector "بر اساس میکروسکوپ Olympus CX21 و تحلیلگر اکسپرس" Inspector " r532 قابل حمل رامان توسعه یافته است. این سیستم مجهز به یک اسلاید موتوری برای اسکن سه مختصات نمونه است. نرم افزار حرفه ای به شما اجازه می دهد تا به طور خودکار اندازه گیری های طیف را با اسکن گام به گام نمونه انجام دهید ، و همچنین مواد ناشناخته را شناسایی کنید و نتایج تجزیه و تحلیل داده های آماری را تولید کنید. در حالی که روش های پیچیده کروماتوگرافی/طیف سنجی جرم کروماتو اجازه تجزیه و تحلیل مخلوط ها را فقط در شرایط آزمایشگاهی می دهد و نیاز به زمان و منابع قابل توجهی دارد ، Mixsplitter "Inspectre" اسکن را در 1500 مرحله در تنها 30 دقیقه در یک مکان کاربر پسند انجام می دهد.

ویژگی های فنی: نوع ، مدل: مستقیم نیکون اکلیپس Ni-U لنزهای میکرو: 100x NA-0.95 ، 40x NA-0.75 ، 20x NA-0.50 و غیره. عینک: 10x (اختیاری 12.5 x ، 15x) میز موتور دار: برای مدل های SRMSp و srm محدوده حرکتی XY موقعیت قابلیت بازتولید موقعیت دقت حداقل مرحله X=114 میلیمتر ، Y=75 میلیمتر < 0.5 میکرون 0.06 میکرون / 1 میلیمتر 0.02 میکرون دستی z-فوکوس: Z- حرکت محور حساسیت مکانیزم تمرکز 10 میلیمتر 0.1 میلی متر/انقلاب اسکنر Z: محدوده سفر لنز حداقل مرحله قابلیت بازتولید 80 میکرون 50 نانومتر < 6 نانومتر دوربین ویدئویی دیجیتال با وضوح بالا: Peltier خنک شده (-20 درجه سانتیگراد نسبت به دمای محیط) نوع سنسور اندازه پیکسل ADC خنک کننده دوربین دیجیتال رنگی Ccd 4/3" ، 2048 x 2048 پیکسل 7.4 × 7.4 میکرون 14 بیت ، سرعت تا 16 فریم در ثانیه عنصر Peltier دوربین فیلمبرداری دیجیتال با وضوح بالا: بدون خنک کننده نوع سنسور اندازه پیکسل ADC دوربین دیجیتال رنگی Ccd 1/2" ، 2048 x 1536 پیکسل 3.2 × 3.2 میکرون 10 بیت ، 12 فریم در ثانیه سرعت ورودی لیزر: برجک اتوماتیک سه موقعیت

Nt-MDT S. I. NTEGRA II را معرفی می کند ، نسل دوم محبوب ترین AFM جهان. با ویژگی های اضافی و توابع پیشرفته ، سطح بی سابقه ای از مدولاریت و انعطاف پذیری را فراهم می کند و به یک شریک واقعی محقق تبدیل می شود. هوشمند ، سریع ، قابل اعتماد ، دقیق و بدون شک آسان برای استفاده. برای از بین بردن تأثیر یک محیط پر سر و صدا ، NTEGRA II در یک کابینت استاندارد عرضه می شود که کنترل دما ، جداسازی صوتی و ارتعاش را فراهم می کند. این ترکیب ماهیت واقعی NTEGRA II را به عنوان پایدارترین AFM در جهان نشان می دهد و باعث کاهش دمای کمتر از 0.2 نانومتر در دقیقه می شود.