شیار انقباضی SJ 3-14 (میکرو)

میکروسکوپ سنج اسکن Certus Light V یک نسخه جمع و جور از SPM با حداقل عملکرد و هزینه است. تفاوت اصلی با نسخه اصلی Certus Light اسکن نمونه و سیستم تأمین دقیق تر است. این دستگاه شامل یک سر خواندن وضعیت کانتی لیور ، یک اسکنر مسطح چند منظوره ، یک سیستم تامین و نصب سر است. این دستگاه با حداقل پیکربندی یک واحد کنترل الکترونیکی که مستقیما در بدنه اصلی ساخته شده است کار می کند ، یعنی دستگاه یک بلوک است. امکان کنترل از راه دور دستگاه از طریق رایانه لوحی با استفاده از نرم افزار تخصصی برای سیستم عامل Android وجود دارد.

NanoEducator II ، علیرغم فشرده سازی و سهولت کار ، از تمام تکنیک های اساسی نیروی اتمی و میکروسکوپ تونل اسکن پشتیبانی می کند ، بنابراین می توان از آن برای هر اندازه گیری و آزمایش معمول AFM و STM در تحقیقات علمی استفاده کرد. به عنوان مثال ، نتایج برخی از آزمایشات در کاربردهای مختلف علمی نشان داده شده است: تحقیق سازه های اتمی بررسی نانوساختارهای فلزی بررسی ساختارهای مغناطیسی تحقیق در مورد اجسام پلیمری تحقیق در مورد اجسام بیولوژیکی تحقیق در مورد نانومواد کربن

ویژگی های فنی: میکروسکوپ: میکروسکوپ مستقیم نیکون ni با برج برای 6 لنز میکرو ، با یک روشن کننده دیود برای کار در حالت میدان نور در نور منعکس شده و یک دوربین نظارت تصویری رنگی*. مجموعه لنز بر اساس نوع نمونه های اندازه گیری شده به صورت جداگانه انتخاب می شود. گره فیلترهای برش (برش) ، محدوده اندازه گیری طیف های رامان: فیلترهای لبه قابل تعویض خودکار*** که عملکرد را در محدوده های زیر فراهم می کنند: 532 نانومتر: از 60 سانتی متر - 1 تا 4500 سانتی متر-1 633 نانومتر: از 60 سانتی متر - 1 تا 4500 سانتی متر-1 785 نانومتر: از 50 سانتی متر - 1 تا 2900 سانتی متر-1 طیف سنج: طیف سنج اسکن بسیار کارآمد با اپتیک طراحی شده برای محدوده: 400-1100 نانومتر.** شبکه های دیفرانکشن: تا 4 شبکه نصب شده در یک برج دقیق خودکار: 2400 shtr/mm ، 1800 shtr/mm ، 1200 shtr/mm ، 600 shtr/mm. امکان استفاده از شبکه Echelle. آشکارساز: آشکارساز Ccd بسیار حساس با خنک کننده ترمو الکتریکی. محدوده حساسیت طیف: 200-1100 نانومتر. تعداد پیکسل: 2048x122 ، اندازه پیکسل: 12 میکرون ، خنک کننده: تا -40 °C یا fi آشکارساز CCD 1600x200 با خنک کننده تا -60 °C. وضوح طیف: 1.4 cm-1 (0.7 cm-1/pixel) با شبکه 2400 str/mm یا تا 0.3 cm-1 با شبکه Echelle (برای لیزر 532 نانومتر). سوراخ سوزن کانفوکال: مجموعه ای خودکار از دیافراگم های کانفوکال قابل تعویض (سوراخ سوزن): 10 میکرون ، 30 میکرون ، 40 میکرون ، 50 میکرون ، 100 میکرون ، 1000 میکرون. لیزر: تا سه لیزر با طول موج 405 ، 488 ، 532 ، 633 و 785 نانومتر را می توان با سوئیچینگ کاملا خودکار نصب کرد. اسکن نمونه: جدول دقیق خودکار XY (XYZ) با طیف وسیعی از حرکات 100x75 میلی متر و حداقل ارتفاع 100 نانومتر (XY) و 20 نانومتر (Z) یا XY (XYZ) جدول خودکار با طیف وسیعی از حرکات 115x75 میلی متر با رمزگذار. کالیبراسیون و اعتبارسنجی خودکار: لامپ Ne داخلی برای کالیبراسیون خودکار دستگاه. گارانتی استاندارد: مدت گارانتی 24 ماه می باشد. عمر لیزر تضمین شده: 10000 ساعت دستاوردهای اپتو الکترونیک و 25 سال تجربه شرکت در زمینه ابزار طیف و لیزر. ویژگی های فنی: میکروسکوپ: میکروسکوپ مستقیم نیکون ni با برج برای 6 لنز میکرو ، با یک روشن کننده دیود برای کار در حالت میدان نور در نور منعکس شده و یک دوربین نظارت تصویری رنگی*. مجموعه لنز بر اساس نوع نمونه های اندازه گیری شده به صورت جداگانه انتخاب می شود. گره فیلترهای برش (برش) ، محدوده اندازه گیری طیف های رامان: فیلترهای لبه قابل تعویض خودکار*** که عملکرد را در محدوده های زیر فراهم می کنند: 532 نانومتر: از 60 سانتی متر - 1 تا 4500 سانتی متر-1 633 نانومتر: از 60 سانتی متر - 1 تا 4500 سانتی متر-1 785 نانومتر: از 50 سانتی متر - 1 تا 2900 سانتی متر-1 طیف سنج: طیف سنج اسکن بسیار کارآمد با اپتیک طراحی شده برای محدوده: 400-1100 نانومتر.** شبکه های دیفرانکشن: تا 4 شبکه نصب شده در یک برج دقیق خودکار: 2400 shtr/mm ، 1800 shtr/mm ، 1200 shtr/mm ، 600 shtr/mm. امکان استفاده از شبکه Echelle. آشکارساز: آشکارساز Ccd بسیار حساس با خنک کننده ترمو الکتریکی. محدوده حساسیت طیف: 200-1100 نانومتر. تعداد پیکسل: 2048x122 ، اندازه پیکسل: 12 میکرون ، خنک کننده: تا -40 °C یا fi آشکارساز CCD 1600x200 با خنک کننده تا -60 °C. وضوح طیف: 1.4 cm-1 (0.7 cm-1/pixel) با شبکه 2400 str/mm یا تا 0.3 cm-1 با شبکه Echelle (برای لیزر 532 نانومتر). سوراخ سوزن کانفوکال: مجموعه ای خودکار از دیافراگم های کانفوکال قابل تعویض (سوراخ سوزن): 10 میکرون ، 30 میکرون ، 40 میکرون ، 50 میکرون ، 100 میکرون ، 1000 میکرون. لیزر: تا سه لیزر با طول موج 405 ، 488 ، 532 ، 633 و 785 نانومتر را می توان با سوئیچینگ کاملا خودکار نصب کرد. اسکن نمونه: جدول دقیق خودکار XY (XYZ) با طیف وسیعی از حرکات 100x75 میلی متر و حداقل ارتفاع 100 نانومتر (XY) و 20 نانومتر (Z) یا XY (XYZ) جدول خودکار با طیف وسیعی از حرکات 115x75 میلی متر با رمزگذار. کالیبراسیون و اعتبارسنجی خودکار: لامپ Ne داخلی برای کالیبراسیون خودکار دستگاه. گارانتی استاندارد: مدت گارانتی 24 ماه می باشد. عمر لیزر تضمین شده: 10000 ساعت

"Inspectre" Mixsplitter® یک ابزار رامان بسیار کارآمد برای اسکن خودکار و تشخیص عناصر مخلوط پودر ، تعلیق و تعلیق با دقت تا 1 ٪ است. در نتیجه اسکن ، کاربر اطلاعاتی در مورد اجزای مخلوط و درصد آنها دریافت می کند. Mixsplitter" Inspector "بر اساس میکروسکوپ Olympus CX21 و تحلیلگر اکسپرس" Inspector " r532 قابل حمل رامان توسعه یافته است. این سیستم مجهز به یک اسلاید موتوری برای اسکن سه مختصات نمونه است. نرم افزار حرفه ای به شما اجازه می دهد تا به طور خودکار اندازه گیری های طیف را با اسکن گام به گام نمونه انجام دهید ، و همچنین مواد ناشناخته را شناسایی کنید و نتایج تجزیه و تحلیل داده های آماری را تولید کنید. در حالی که روش های پیچیده کروماتوگرافی/طیف سنجی جرم کروماتو اجازه تجزیه و تحلیل مخلوط ها را فقط در شرایط آزمایشگاهی می دهد و نیاز به زمان و منابع قابل توجهی دارد ، Mixsplitter "Inspectre" اسکن را در 1500 مرحله در تنها 30 دقیقه در یک مکان کاربر پسند انجام می دهد.

ویژگی های فنی: میکروسکوپ: یک میکروسکوپ مستقیم با برج برای 6 لنز میکرو ، با یک روشن کننده دیود برای کار در حالت نور/میدان تاریک در نور منعکس شده و یک دوربین ویدئویی رنگی. مجموعه لنز بر اساس نوع نمونه های اندازه گیری شده به صورت جداگانه انتخاب می شود. طیف سنج: یک طیف سنج با کارایی بالا با موقعیت شبکه ثابت. بر اساس نوع نمونه های اندازه گیری شده ، دو نوع از شبکه دیفرانکشن برای اطمینان از محدوده مطلوب ثبت شده و وضوح طیف پیشنهاد شده است. آشکارساز: یک آشکارساز خطی بسیار حساس است. محدوده حساسیت طیف از 200 تا 1100 نانومتر است. تعداد پیکسل: 4096 ، اندازه پیکسل: 7x200 میکرون. لیزر: لیزر DPSS با طول موج 532±0.1 نانومتر ، قدرت 50 مگاوات. اختیاری: لیزر دیود با طول موج 785±0.1 نانومتر ، قدرت 130 مگاوات با عایق نوری. حساسیت: تشخیص قله سیلیکونی درجه سوم. وضوح فضایی: جانبی (XY) < 1 μm ؛ محوری (Z) < 2 μm. دوربین فیلمبرداری: رنگی (حداقل 5 مگاپیکسل) با قابلیت ذخیره تصاویر در کامپیوتر. اسکن نمونه: اختیاری. جدول دقیق خودکار HU با طیف وسیعی از حرکات 100x75 میلی متر و حداقل ارتفاع 100 نانومتر.

میکروسکوپ M1064® Raman ترکیبی از قابلیت های R1064® اکسپرس آنالیزور رامان پرتابل و میکروسکوپ Olympus BX43 است که برای اندازه گیری انتقال و بازتاب سازگار است. عملکرد گسترده میکروسکوپ رامان M1064® امکان تشخیص ذرات 2-3 میکرون در اندازه و تشخیص آنها از ذرات با سایر خواص شیمیایی و فیزیکی را فراهم می کند که چشم انداز زیادی برای تحقیق در چارچوب یک سیستم رامان واحد را باز می کند. وضوح فضایی عالی 1 μm و وضوح طیفی 10-12 سانتی متر-1 کیفیت اندازه گیری دقیق و تکرار پذیری را تضمین می کند. با تشکر از طراحی جمع و جور و تحرک ، میکروسکوپ M1064® رامان نتایج با کیفیت بالا را در محل با حداقل هزینه ارائه می دهد و یک ابزار واقعا ضروری برای کاربردهای مختلف است. میکروسکوپ M1064® رامان ، مجهز به یک نمونه گیری موتورزده در 0.36 μm افزایش (اختیاری) ، به مقرون به صرفه ترین سیستم پراکندگی میکرو رامان در جهان برای نقشه برداری خودکار 2D تبدیل می شود. میکروسکوپ رامان M1064® ابزاری منحصر به فرد است که به شما امکان می دهد اشیایی را مشاهده کنید که سیگنال پراکندگی رامان آنها به طور قابل توجهی از فلورسنت فراتر می رود. میکروسکوپ رامان M1064® امکان استفاده از میکروسکوپ مادون قرمز (IR) و رامان را در زمینه های متنوعی مانند پزشکی قانونی ، زیست پزشکی ، کاتالیز و پلیمرها و همچنین مشاهده اشیایی که سیگنال رامان آنها به طور قابل توجهی از فلورسنت برتر است ، فراهم می کند. با میکروسکوپ m1064® ، می توانید به راحتی پلیمرهای رنگی ، روغن ها ، رنگ ها ، زیست توده گیاهی ، بافت های بیولوژیکی ، روغن های خوراکی ، فرآورده های نفتی و غیره را تجزیه و تحلیل کنید. تحریک در 1064 نانومتر عملا پس زمینه را برای بافت های غنی از رنگدانه و سایر مواد بسیار خود فلورسنت از بین می برد. اگرچه سیگنال رامان بسیار ضعیف تر است ، اما حذف پس زمینه تشخیص قله ها را آسان تر می کند. بیشتر رنگ ها و جوهر ها و حتی برخی از کاغذ سفید در نور لیزر قابل مشاهده بسیار فلورسنت هستند. باز هم ، سیستم رامان با طول موج 1064 نانومتر طیف های رامان با کیفیت بالا و غنی از امضا را برای این نمونه ها تولید می کند. در ترکیب با میکروسکوپ ، سیستم به ابزاری قدرتمند برای نقشه برداری مستقیم شیمیایی نمونه ها در سطح میکرو تبدیل می شود. میکروسکوپ رامان برای مطالعه تغییرات در ترکیب سلولی در مقیاس ارگانل های زیر سلولی ایده آل است ، زیرا وضوح فضایی آن به اندازه میکروسکوپ فلورسنت خوب است. هر دو روش حساسیت طیف سنجی ارتعاش را به ترکیب بیوشیمیایی نشان می دهند و می توانند برای ردیابی فرآیندهای مختلف سلولی استفاده شوند. با میکروسکوپ M1064® رامان ، می توانید به راحتی پلیمرهای رنگی ، روغن ها ، رنگ ها ، زیست توده گیاهی ، بافت های بیولوژیکی ، روغن های خوراکی ، فرآورده های نفتی و غیره را تجزیه و تحلیل کنید. تحریک در 1064 نانومتر عملا پس زمینه را برای بافت های غنی از رنگدانه و سایر مواد بسیار خود فلورسنت از بین می برد. اگرچه سیگنال رامان بسیار ضعیف تر است ، اما حذف پس زمینه تشخیص قله ها را آسان تر می کند. میکروسکوپ رامان M1064® در حال حاضر تنها دستگاه قابل حمل در بازار است که می تواند خط رامان آب را با استفاده از لیزر با طول موج 1064 نانومتر به دلیل رکورد شکستن طیف گسترده ای مشاهده کند. این امر آن را به ابزاری جامع برای تجزیه و تحلیل مایعات از طریق بسته بندی شفاف و شفاف تبدیل می کند. میکروسکوپ M1064® رامان ترکیبی از مزیت یک سیستم اندازه گیری قابل حمل و عملکرد یک ابزار آزمایشگاهی بسیار تخصصی است. شناسایی دقیق یک ماده ناشناخته در زمان واقعی با مقایسه طیف منحصر به فرد رامان لرزش مولکولی (اثر انگشت مولکولی) با طیف رامان مواد مرجع ذخیره شده در پایگاه داده طیف به دست می آید. میکروسکوپ رامان M1064® شناسایی را از طریق بسته های مهر و موم شده ، بطری های شفاف ، بطری ها و آمپول ها انجام می دهد. سهولت استفاده ، عملکرد یک دست ، اندازه کوچک و وزن RamMics M1064® اجازه تجزیه و تحلیل مواد شیمیایی در نقطه دریافت ، استفاده یا تحویل را می دهد. نتایج در عرض ده ثانیه نمایش داده می شوند و می توانند از طریق یک رابط کاربری بصری دسترسی پیدا کنند. داده ها از راه دور از طریق پورت USB بازیابی می شوند. بیشتر رنگ ها و جوهر ها و حتی برخی از کاغذ سفید در نور لیزر قابل مشاهده بسیار فلورسنت هستند. باز هم ، سیستم رامان با طول موج 1064 نانومتر طیف های رامان با کیفیت بالا و غنی از امضا را برای این نمونه ها تولید می کند. در ترکیب با میکروسکوپ ، سیستم به ابزاری قدرتمند برای نقشه برداری مستقیم شیمیایی نمونه ها در سطح میکرو تبدیل می شود. به عنوان مثال ، به ویژه برای یافتن و شناسایی آثار شواهد برای تجزیه و تحلیل پزشکی قانونی مفید است. ویژگی ها یک سیستم خنک کننده ویژه te طیف های کم سر و صدا را فراهم می کند شناسایی بدون تماس در زمان واقعی

دستگاه های نسل جدید ، ایستگاه های خودکار نظارت مداوم بر تشعشعات Zastava-1 برای سازماندهی نظارت مداوم و موثر بر وضعیت تشعشعات و اطلاع رسانی از خطرات تشعشعات طراحی شده اند. این ایستگاه ها دارای سه کانال اندازه گیری مستقل هستند که امکان نظارت همزمان در چندین منطقه را فراهم می کند. ایستگاه ها از نظارت از راه دور پشتیبانی می کنند-آنها به یک شبکه کامپیوتری محلی ، دسترسی به اینترنت متصل هستند.

ویژگی های فنی: نوع ، مدل: مستقیم نیکون اکلیپس Ni-U لنزهای میکرو: 100x NA-0.95 ، 40x NA-0.75 ، 20x NA-0.50 و غیره. عینک: 10x (اختیاری 12.5 x ، 15x) میز موتور دار: برای مدل های SRMSp و srm محدوده حرکتی XY موقعیت قابلیت بازتولید موقعیت دقت حداقل مرحله X=114 میلیمتر ، Y=75 میلیمتر < 0.5 میکرون 0.06 میکرون / 1 میلیمتر 0.02 میکرون دستی z-فوکوس: Z- حرکت محور حساسیت مکانیزم تمرکز 10 میلیمتر 0.1 میلی متر/انقلاب اسکنر Z: محدوده سفر لنز حداقل مرحله قابلیت بازتولید 80 میکرون 50 نانومتر < 6 نانومتر دوربین ویدئویی دیجیتال با وضوح بالا: Peltier خنک شده (-20 درجه سانتیگراد نسبت به دمای محیط) نوع سنسور اندازه پیکسل ADC خنک کننده دوربین دیجیتال رنگی Ccd 4/3" ، 2048 x 2048 پیکسل 7.4 × 7.4 میکرون 14 بیت ، سرعت تا 16 فریم در ثانیه عنصر Peltier دوربین فیلمبرداری دیجیتال با وضوح بالا: بدون خنک کننده نوع سنسور اندازه پیکسل ADC دوربین دیجیتال رنگی Ccd 1/2" ، 2048 x 1536 پیکسل 3.2 × 3.2 میکرون 10 بیت ، 12 فریم در ثانیه سرعت ورودی لیزر: برجک اتوماتیک سه موقعیت

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. . این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur Duos امکان استفاده از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و ترکیب تکنیک ها (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) را فراهم می کند.). میکروسکوپ ها). . این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur Duos امکان استفاده از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و ترکیب تکنیک ها (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) را فراهم می کند.).

کراکر شیار دار برای تقسیم (کاهش) نمونه های مواد فله به دو قسمت با وزن برابر و معادل در محتوای اجزای تشکیل دهنده طراحی شده است. ویژگی های فنی CJ 5-32 عرض شیارها ، میلی متر 5 تعداد شیارها ، رایانه های شخصی 32 حجم تقسیم ، l 0.6 ابعاد کلی ، میلی متر ، حداکثر: طول / عرض / ارتفاع 225/126/150 وزن ، کیلوگرم 4,8

طراحی شده برای کاهش سنگ های زمین شناسی و سنگ معدن در آماده سازی آنها برای مطالعات تحلیلی ویژگی های فنی DPTS-100A اندازه خوراک اولیه ، میلی متر ، بیش از 20 حجم کل تمام نمونه گیرها ، dm3 100 درجه کاهش 1/2 است..1/12 قدرت درایو ، kW 0.18 ابعاد کلی ، میلی متر طول 590 عرض 590 ارتفاع 910 وزن ، کیلوگرم 60

ویژگی های فنی: طرح نوری: طرح تپه ای اصلاح شده با آینه های پارابولیک جبران آستیگماتیسم: بله کانال های طیف مستقل: 2 باز شدن نسبی (در ورودی): 1/4. 2 فاصله کانونی: 270 میلیمتر نور پراکنده (20 نانومتر از لیزر): 2.5 x 10-5 بزرگنمایی افقی: 1.09 نانومتر ویژگی: تنظیم خودکار طول موج

ویژگی ها وضوح فضایی 1 μm اندازه گیری انتقال / بازتاب لیزر 532 نانومتر و 785 نانومتر در یک میکروسکوپ نرم افزار حرفه ای تشخیص خودکار مواد محدوده طیف گسترده اجازه تجزیه و تحلیل همزمان تابش رامان و نوردهی را می دهد که اطلاعات مهم تری در مورد شی مورد مطالعه ارائه می دهد

مشخصات فنی: طرح نوری: اصلی با تفریق واریانس محدوده طول موج عملیاتی (راندمان گریتینگ > 40٪): 190-560 نانومتر باز شدن نسبی (در ورودی): 1/3. 6 فاصله کانونی (خروجی): 160 میلیمتر نور پراکنده (20 نانومتر از لیزر): 10-7 وضوح طیفی (عرض شکاف ورودی و متوسط 0.22 میلی متر) : 1.3 نانومتر

MD-10 یک طیف‌سنج اشعه ایکس است که روش غیر مخرب تجزیه و تحلیل دیفرانکشن اشعه ایکس مواد پلی کریستالی را فراهم می کند. این روش بر اساس پدیده پراش اشعه ایکس بر روی یک شبکه کریستالی است. با اندازه گیری زاویه ها و شدت قله های پراش ، می توان پارامترهای شبکه کریستالی را تعیین کرد ، ترکیب فاز کیفی و کمی یک ماده را انجام داد ، برای روشن کردن اصلاح (فاز) یک ترکیب خاص ، به عنوان مثال ، با استفاده از پایگاه داده JCPDS-ICDD.

مشخصات فنی: فاصله کانونی (خروجی): 750 میلیمتر باز شدن نسبی (در ورودی): 1/8, 9 وضوح طیف: 0.015 و 0.0008 (echelle) nm از محدوده خطی صفحه نمایش: 1.02 و 0.055 (echelle) nm / mm تفاوت: وضوح طیفی بالا ، کانتور کامل خطوط طیفی.