فیلتر آزمایشگاهی 57 فوت

برای دوز دقیق واکنش دهنده های مایع طراحی شده است. ویژگی های فنی فیدر معرف ظرفیت فیدر بسته به مقطع بار و سرعت غوطه وری آن ، mm3 / min 200-5000 قدرت درایو ، W 25 ابعاد کلی ، میلی متر طول 330 عرض 300 ارتفاع 665 وزن ، کیلوگرم 11

مشخصات فنی: طرح نوری: اصلی با تفریق واریانس محدوده طول موج عملیاتی (راندمان گریتینگ > 40٪): 190-560 نانومتر باز شدن نسبی (در ورودی): 1/3. 6 فاصله کانونی (خروجی): 160 میلیمتر نور پراکنده (20 نانومتر از لیزر): 10-7 وضوح طیفی (عرض شکاف ورودی و متوسط 0.22 میلی متر) : 1.3 نانومتر

کراکر شیار دار برای تقسیم (کاهش) نمونه های مواد فله به دو قسمت با وزن برابر و معادل در محتوای اجزای تشکیل دهنده طراحی شده است. ویژگی های فنی CJ 5-32 عرض شیارها ، میلی متر 5 تعداد شیارها ، رایانه های شخصی 32 حجم تقسیم ، l 0.6 ابعاد کلی ، میلی متر ، حداکثر: طول / عرض / ارتفاع 225/126/150 وزن ، کیلوگرم 4,8

مشخصات فنی: فاصله کانونی: 520 میلی متر باز شدن نسبی: 1/5. 4 یک ویژگی متمایز: نسبت دیافراگم / وضوح طیف.

Nt-Mdt Spectrum Instruments یک میکروسکوپ نوری نزدیک میدان (r‑SBOM) است که برای محدوده طیف مادون قرمز طراحی شده است. پروب AFM در فوکوس یک سیستم نوری قرار دارد که تابش لیزر IR را به نمونه هدایت می کند و پاسخ نوری را جمع آوری می کند. تابش جمع آوری شده برای تجزیه و تحلیل نوری به تداخل سنج میشلسون ارسال می شود. جزء دور میدان سیگنال جمع آوری شده با تشخیص همزمان سرکوب می شود. سیستم INTEGRA Nano IR امکان تشخیص دامنه و فاز سیگنال نزدیک میدان را فراهم می کند. وضوح فضایی کنتراست های انعکاس و جذب حاصل تقریبا 10 نانومتر است و فقط با اندازه نوک کاوشگر تعیین می شود.

روتاتور R1 یک میکسر چرخشی است که به شما امکان می دهد تعلیق ها را نه تنها در دمای اتاق ، بلکه در دمای انجماد (به عنوان مثال -20 درجه سانتیگراد) مخلوط کنید. برای افزایش قابلیت اطمینان و سهولت استفاده ، یک کلاچ کشویی در داخل روتور ادغام شده است.

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم کلاس تحقیق. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; حرکت مکانیکی Z برای لنز; حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

مشخصات فنی: فاصله کانونی: 200 میلیمتر باز شدن نسبی: 1/3. 6 وضوح طیف: 0.11 نانومتر (FEU) ، 0.12 نانومتر (دوربین دیجیتال (12 میکرومتر پیکسل)) پراکندگی خطی معکوس: 4.12 nm / mm یکی از ویژگی های متمایز طیف سنج تک رنگ MS200 بهترین دیافراگم است.

کیفیت نمایشگر نهایی با استفاده از جداسازی صوتی و ارتعاش داخلی ، تثبیت حرارتی ، بهترین حساسیت صنعت در سیستم ثبت نوری و طراحی منحصر به فرد سیستم اسکن پروب تضمین می شود که امکان دستیابی به وضوح اتمی در اندازه گیری های معمول را فراهم می کند. در پیکربندی اساسی ، 50+ تکنیک AFM در دسترس است ، از جمله روش هیبریدی ، که اجازه می دهد تا تمام مطالعات نانومکانیکی ، الکتریکی و مغناطیسی پیشرفته را انجام دهد. الگوریتم هوشمند Scantronictm برای بهینه سازی پارامترهای اسکن با یک کلیک ماوس ، اجازه می دهد تا اندازه گیری ارتفاع کامل با استفاده از روش مدولاسیون دامنه ، صرف نظر از تجربه اپراتور. بررسی خودکار چند نمونه با استفاده از یک رابط کاربری ساده برای ایجاد یک سناریوی اسکن نقطه به نقطه و یک پایگاه داده برای تصاویر ذخیره شده به دست آمده. کنترل نمونه ها با ابعاد تا 200×200 میلیمتر و ضخامت تا 40 میلیمتر در هر نقطه از سطح با دقت موقعیت 1 میکرون. گزینه های سفارشی سازی گسترده: نصب تجهیزات نوری اضافی ، توسعه دارندگان نمونه تخصصی ، ترکیب با سیستم حمل و نقل ، اتوماسیون اندازه گیری ها و تجزیه و تحلیل داده ها مطابق با نیازهای مشتری.

NanoEducator II ، علیرغم فشرده سازی و سهولت کار ، از تمام تکنیک های اساسی نیروی اتمی و میکروسکوپ تونل اسکن پشتیبانی می کند ، بنابراین می توان از آن برای هر اندازه گیری و آزمایش معمول AFM و STM در تحقیقات علمی استفاده کرد. به عنوان مثال ، نتایج برخی از آزمایشات در کاربردهای مختلف علمی نشان داده شده است: تحقیق سازه های اتمی بررسی نانوساختارهای فلزی بررسی ساختارهای مغناطیسی تحقیق در مورد اجسام پلیمری تحقیق در مورد اجسام بیولوژیکی تحقیق در مورد نانومواد کربن

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) مجهز به نگهدارنده های سنج تخصصی و تجهیزات نوری لازم برای انجام تحقیقات با استفاده از اثر نزدیک میدان. میکروسکوپ نوری نزدیک میدان بر اساس استفاده از خواص میدان نزدیک (evanescent) است که امکان غلبه بر حد پراش میکروسکوپ نوری کلاسیک را فراهم می کند. تمام میکروسکوپ های نزدیک میدان شامل چندین عنصر طراحی اساسی هستند: یک کاوشگر; سیستم حرکت سنج نسبت به سطح نمونه در امتداد مختصات 2 (X-Y) یا 3 (X-Y-Z) (سیستم اسکن); سامانه ثبت نام; سیستم نوری

Nt-MDT S. I. NTEGRA II را معرفی می کند ، نسل دوم محبوب ترین AFM جهان. با ویژگی های اضافی و توابع پیشرفته ، سطح بی سابقه ای از مدولاریت و انعطاف پذیری را فراهم می کند و به یک شریک واقعی محقق تبدیل می شود. هوشمند ، سریع ، قابل اعتماد ، دقیق و بدون شک آسان برای استفاده. برای از بین بردن تأثیر یک محیط پر سر و صدا ، NTEGRA II در یک کابینت استاندارد عرضه می شود که کنترل دما ، جداسازی صوتی و ارتعاش را فراهم می کند. این ترکیب ماهیت واقعی NTEGRA II را به عنوان پایدارترین AFM در جهان نشان می دهد و باعث کاهش دمای کمتر از 0.2 نانومتر در دقیقه می شود.

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم و معکوس کلاس تحقیقاتی. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; میکروسکوپ نوری معکوس (Olympus IX 71 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; حرکت مکانیکی Z برای لنز; حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

این ضخیم کننده برای ضخیم کردن سیستم تعلیق با تراکم تا 5 گرم در سانتی متر مکعب در شرایط آزمایشگاهی طراحی شده است. ویژگی های فنی 55SG بهره وری ، کیلوگرم در ساعت 0.5..5 قطر مالیات بر ارزش افزوده ، میلی متر 700 ارتفاع مالیات بر ارزش افزوده ، میلی متر 430 قدرت درایو ، kW 0.12 سرعت سکته مغزی ، rpm 0.28-1 ابعاد کلی ، میلی متر طول 780 عرض 710 ارتفاع 1500 وزن ، کیلوگرم 110