漫反射PDO的前缀

FT-801红外傅里叶光谱仪还可以配备一个特殊的光学机顶盒，可以有效地利用光导系统。 4种导光探头可测量固体、液体和气体介质中的透射和反射光谱 现代红外光导具有较高的固有透射率和足够的机械强度，这使得可以将测量从实验室直接转移到生产中-以控制工艺流程的流程，检查原材料和成品的 申请范围: *化学及微生物工业 *制药业 *医学及美容学 *食品工业 *石油产品、燃料和润滑油 *犯罪学

Cuvette PC50-75的支架专为安装而设计: 石英比色皿SF型支架DC10-10; 石英比色皿型KFK在支架DC KFK; 可折叠比色皿KR1, 可折叠比色皿KR20, 电影 支架，平板电脑 夹持器、固体样品夹持器。

为了在FSM光谱仪中安装CFK类型的石英比色皿，使用DC CFK支架，其具有标准的50x75mm连接杆，用该连接杆将其插入红外傅里叶光谱仪FSM的PK50-75比色皿的

前缀被设计用于测量样品在光谱的近红外区域的吸收光谱在范围内4 000 — 12 500 sm-1连同IR傅里叶光谱仪FSM1211。 利用近红外区域，能够对医药、化工、高分子、纺织、食品、农业等行业进行鉴定和定量分析。 BIC分析法允许您研究粉末，粉碎和纤维材料等。

为了在测量过程中达到最大的灵敏度，FT-801傅立叶光谱仪使用了一个特殊的前缀，FT-801傅立叶光谱仪是一个内置高灵敏度MST探测器的光学单元，用液氮冷却。 机顶盒安装在光谱仪的比色皿仓内并与相应的外部电端口连接，探测器以编程方式开启。 法的灵敏度增加很多倍–高达20）-取决于光谱仪中标准非制冷探测器的类型）。 记录光谱的速度也在增加。 用液氮填充低温恒温器（200毫升容量）后的操作时间至少为6小时。 在许多应用中，使用带有MST检测器的前缀来增加光谱仪的灵敏度可能是必需的：在光纤光谱学中，当记录低功率发射器的发射光谱时，在具有高光谱分辨率的痕量气体分析中，当确定超低浓度样品中存在杂质时，当使用多通气体比色皿等。 在图片中：在比色皿隔间的左侧有一个带有来自德国柏林Art photonics GmbH的光纤的开普勒，右侧有一个带有MST探测器的前缀。 技术规格 配准光谱时推荐的扫描次数为16 50次扫描时的频谱配准时间（分辨率4cm-1），sec20 低温恒温器容量，200毫升 填充低温恒温器后的工作时间，6小时 外形尺寸,mm225×175×75 重量,kg1.45

它旨在对各种类型的固体不透明样品进行快速分析，包括聚合物薄膜和碎片，油漆涂层，片剂形式的成品剂型，光学部件和半导体材料。 •样品位于被调查表面的被调查平面上向下，中心光束在样品上的入射角为45° *焦点的直径为3毫米 *允许您探索任何形状和大小的对象 •使用微型压力机时，它允许您在合金钢制成的镜板上以薄层的形式检查样品（辐射穿过物质层两次，从镜面反射） *不使用：用于研究散装和液体物质

该机顶盒与NPVO和ZDO的通用机顶盒的主要区别在于棱镜用作MNPVO的工作元件，它允许从与所研究样品接触的区域获得多次反射，这导致光谱质量的改善和 此机顶盒上未提供镜面和漫反射光谱(ZDO)的配准。 MNPVO前缀在记录尺寸（数量）足以确保与棱镜工作面的整个区域接触的样品的吸收光谱方面是有效的: *任何粘度的液体（溶液、悬浮液、油等）); *固体弹性样品（足够大尺寸的聚合物碎片，橡胶，塑料等。); *粉末状样品的数量足以应用于整个表面和薄膜形式的样品; 通用夹具配有一个精密杠杆机构，用于快速降低尖端和一个千分尺螺钉，允许您预先设置最佳的压力程度–这确保快速更换样品和测量结果的重复性。 为了方便处理液体和糊状样品，可以将夹紧控制台旋转180o。 注意：MNPVO前缀不排除记录尺寸小于棱镜工作面积的样品光谱的可能性（所研究表面的视觉检查系统的存在增加了处理小尺寸物体时的便利性），但该方法的总体有效性明显低于使用通用NPVO和ZDO前缀时。 在频谱的工作范围内传输，输入信号的%至少为25 *配准光谱时建议扫描次数为25次 *25次扫描（分辨率4cm-1）时的频谱配准时间，30秒 *辐射穿透样品的深度，微米5–15 *固体样品的最小面积，mm21 ·测试液体的最小体积，ml0.3 *分析对象的允许pH范围为5至9 *晶体衬底材料ZnSe CVD,Ge *焦点直径，mm3 *反射次数3 *棱镜工作面的尺寸，mm21X6 ·4x微型镜头的放大倍数 *视觉通道总放大率75X *光学系统的视场，mm2X2.5 *数码摄像机分辨率640x480 *外形尺寸，mm145×125×240 *重量，公斤2

它旨在测量固体样品的反射率，并通过入射角接近法线的反射来分析涂层。 借助该前缀，可以确定光学元件、抗反射涂层等的反射率。

它设计用于通过在集成和外部监视器上同时可视化微物体的干扰全内反射方法以及在样品上部位置入射角为45o的镜面漫反射方法进行测量。 单个NIP模式中的前缀用于登记吸收光谱: 任何粘度的液体(溶液、悬浮液、油等).)，包括具有高化学活性的那些; 任意形状的固体物体，包括具有非常高硬度的样品（任何聚合物，油漆涂层的碎片等。); 粉状物质，包括具有非常高硬度的粉末（药物，药品，爆炸物，无机化合物）; 薄膜形式的样品; 纤维形式的样品。 金刚石的最大硬度和耐化学性显着扩展了该方法的可能性;不需要定期更换晶体。 机顶盒允许您注册光谱，而无需耗时的样品制备，并且具有高品质摄像机和内置高清微型监视器的研究表面视觉检测系统的存在提高了处理小样品时的效率-细纤维碎片，微粒等。 内置监视器具有数字10倍变焦，反相等功能。 图像可以同时显示在计算机屏幕上（使用USB接口），然后保存为文件。 可拆卸法兰提供了一个快速和方便的样品更换和清洁晶体表面。 在NPVO的基础平面上方突出金刚石元件的设计允许您研究具有足够大的整体尺寸的样品。 由于没有物质层厚度对光谱形状和吸收带强度的影响，结果的高质量和可重复性得以实现。 样品保留了其原始的物理化学性质，如果需要，可以通过其他方法进一步研究。 通用附件夹配有一个精密杠杆机构，用于快速降低尖端和一个千分尺螺钉，允许您预先设置最佳的压力程度–这确保快速更换样品和测量结果的重复性。 为了方便处理液体和糊状样品，以及在ZDO模式下，可以将夹紧控制台旋转180o。该控制台配有两个可更换的尖端-一个球形工作部件和一个平铰头。 金刚石的高硬度允许使用大的夹紧力，这是获得高质量光谱的决定因素。 替换表用于登记镜面和漫反射光谱。 样品向下位于被调查表面的被调查平面上。 该方法用于测定光学零件、表面薄膜、晶体和其他任意形状和大小的大型固体物体的光谱特性。

它用于测量厚度在纳米范围内的非常薄的涂层，并研究单分子层。

它允许记录尺寸为500微米的物体（宝石，光学部件，半导体材料）的透射光谱。 它也用于研究用KBr压缩成小直径片剂的样品（该方法便于粉状物质的光谱分析-前缀允许您使用手动压力机使用少量样品来制造片剂）。 *聚焦光斑直径小于3毫米 *设计采用抛物面镜光学 •机顶盒配有一组可更换的膜片支架，用于不同尺寸的样品 *窗户-由红外透明材料制成的衬底可以在粘贴、液体物质或提取物后放入支架中，然后干燥各层 *滑台具有垂直和水平方向平滑移动的可能性，以达到最大信号电平

该支架允许在FSM光谱仪中使用Specord型比色皿，并具有适当的连接尺寸。

它用于研究用KBr压缩成小直径片剂的样品（该方法便于粉状物质的光谱分析-前缀允许您使用手动压力机使用少量样品来制造片剂）。 *聚焦光斑直径小于3毫米 *设计中使用抛物面镜光学 *窗口-基板可以放置在前缀后，糊状，液体物质或提取物施加到他们，然后干燥的层 *使用有限–用于研究尺寸小于5毫米的整个样品（最好使用垂直型微聚焦附件）

它用于快速分析各种类型的固体和液体样品，包括聚合物颗粒、薄膜和纤维、粉状物质、油漆涂层碎片、燃料和润滑剂。 用于对所研究表面进行视觉检查的光学系统的存在增加了75x，确保了在处理小样品时的高效率-薄纤维的碎片，微粒等。 通用夹具配有一个精密杠杆机构，用于快速降低尖端和一个千分尺螺钉，允许您预先设置最佳的压力程度–这确保快速更换样品和测量结果的重复性。 为了方便处理液体和糊状样品，以及在ZDO模式下，可以将夹紧控制台旋转180o。该控制台配有两个可互换的尖端-一个球形工作部件和一个平铰头。 替换表用于登记镜面和漫反射光谱。 样品位于被调查表面的被调查平面上向下，中心光束在样品上的入射角为45°。 该方法用于测定表面光学零件、晶体、薄膜的光谱特性，以及对大型固体物体的吸收光谱进行配准。 在频谱的工作范围内传输，输入信号的%至少为30 配准光谱时推荐的扫描次数为25 25次扫描时的频谱配准时间（分辨率4cm-1），sec30 辐射穿透样品的深度，微米5–15 固体样品的最小面积，mm0.2×0.2 所研究液体的最小体积，ml1 纤维样品的最小尺寸：截面直径/长度，mm0.1/1 衬底晶体材料ZnSe CVD,Ge 聚焦光斑直径，mm1 Zdo模式下辐射（中心光束）在样品上的入射角45o 微透镜的放大倍数/视觉通道的总放大倍数4X/75X 光学系统的视场，mm2X2.5 数码摄像机分辨率640x480 外形尺寸,mm150×150×260 重量,kg2.15 *允许您研究小尺寸的物体（从200微米-取决于材料的几何形状，表面质量和物理化学性质） *附件允许您在没有样品准备的情况下工作，使用配备颜色指示器的夹具固定调整样品上的压力 •由于带有NPVO元件的可拆卸法兰，提供了快速方便的样品更换和晶体表面清洁 •在给定的最佳接触力下，由于物质层的厚度不影响光谱的形状和吸收带的强度，该方法提供了高质量和可重复性的结果 *样品保留其原始物理和化学性质，如有必要，可以通过其他方法进一步研究

设计用于研究各种类型的固体样品，包括光学和半导体材料、宝石和其他任意形状的物体 •样品位于被调查表面的被调查平面上向下，中心光束在样品上的入射角为15° *允许您检查小尺寸的样品（测试区域的直径为1mm） •机顶盒配有一组可更换的膜片支架，用于不同尺寸的样品 •当使用微型压力机时，它允许您检查在由合金钢制成的镜板上滚出的薄层形式的样品（辐射穿过物质层两次，从镜面反射） *不使用：用于研究散装和液体物质

设计用于研究液体介质、精细非研磨性粉末和聚合物薄膜的化学成分。 多次扰动全内反射的方法使得可以显着简化样品的制备，并可用于实施产品质量控制的快速方法。