搜索

前缀被设计用于测量样品在光谱的近红外区域的吸收光谱在范围内4 000 — 12 500 sm-1连同IR傅里叶光谱仪FSM1211。 利用近红外区域，能够对医药、化工、高分子、纺织、食品、农业等行业进行鉴定和定量分析。 BIC分析法允许您研究粉末，粉碎和纤维材料等。

为了在FSM光谱仪中安装SF型石英比色皿，使用DC10-10支架，其具有标准的50x75mm连接杆，用它插入fsm红外傅里叶光谱仪的PK50-75比色皿的支架中。

该支架允许在FSM光谱仪中使用Specord型比色皿，并具有适当的连接尺寸。

Prefix旨在与IR傅里叶光谱仪FSM一起测量光谱中近红外区域的散射表面和分散样品的漫反射光谱。

设计用于研究各种类型的固体样品，包括光学和半导体材料、宝石和其他任意形状的物体 •样品位于被调查表面的被调查平面上向下，中心光束在样品上的入射角为15° *允许您检查小尺寸的样品（测试区域的直径为1mm） •机顶盒配有一组可更换的膜片支架，用于不同尺寸的样品 •当使用微型压力机时，它允许您检查在由合金钢制成的镜板上滚出的薄层形式的样品（辐射穿过物质层两次，从镜面反射） *不使用：用于研究散装和液体物质

设计用于安装在通用IR傅里叶光谱仪FSM中，用于分析汽油，包括

它旨在对各种类型的固体不透明样品进行快速分析，包括聚合物薄膜和碎片，油漆涂层，片剂形式的成品剂型，光学部件和半导体材料。 •样品位于被调查表面的被调查平面上向下，中心光束在样品上的入射角为45° *焦点的直径为3毫米 *允许您探索任何形状和大小的对象 •使用微型压力机时，它允许您在合金钢制成的镜板上以薄层的形式检查样品（辐射穿过物质层两次，从镜面反射） *不使用：用于研究散装和液体物质

PRIZ前缀的主要优点是在镜面抛光金属板上赋予微物体薄层形状后，可以获得明确定义的微物体光谱（在所谓的双通道模式下，当辐射两次穿透物质层时，从镜面基板反射）。 具有内置视频摄像机的视觉控制系统的存在显着增加了设置时的信息内容以及获得的结果的可靠性。 在前缀的帮助下，还可以以原生形式注册散装样品和任意几何形状的固体物体的反射光谱，包括片剂，粉末和颗粒形式的药物，聚合物碎片，LCP，沉积在表面 技术规格 在频谱的工作范围内传输，输入信号的%至少为40 配准光谱时推荐的扫描次数为25 25次扫描时的频谱配准时间（分辨率4cm-1），sec30 固体样品的最小初始尺寸，mm0.2×0.2 固体样品的最大面积，mm20X20X10 可变对焦范围，mm10 焦点的直径，mm3 Zdo45o模式下辐射（中心光束）在样品上的入射角 4x视觉通道的微镜头放大/总放大 光学系统的视场，mm2X2.5 数字摄像机的分辨率为640x480 外形尺寸,mm140×105×160 重量,kg1.16

该机顶盒与NPVO和ZDO的通用机顶盒的主要区别在于棱镜用作MNPVO的工作元件，它允许从与所研究样品接触的区域获得多次反射，这导致光谱质量的改善和 此机顶盒上未提供镜面和漫反射光谱(ZDO)的配准。 MNPVO前缀在记录尺寸（数量）足以确保与棱镜工作面的整个区域接触的样品的吸收光谱方面是有效的: *任何粘度的液体（溶液、悬浮液、油等）); *固体弹性样品（足够大尺寸的聚合物碎片，橡胶，塑料等。); *粉末状样品的数量足以应用于整个表面和薄膜形式的样品; 通用夹具配有一个精密杠杆机构，用于快速降低尖端和一个千分尺螺钉，允许您预先设置最佳的压力程度–这确保快速更换样品和测量结果的重复性。 为了方便处理液体和糊状样品，可以将夹紧控制台旋转180o。 注意：MNPVO前缀不排除记录尺寸小于棱镜工作面积的样品光谱的可能性（所研究表面的视觉检查系统的存在增加了处理小尺寸物体时的便利性），但该方法的总体有效性明显低于使用通用NPVO和ZDO前缀时。 在频谱的工作范围内传输，输入信号的%至少为25 *配准光谱时建议扫描次数为25次 *25次扫描（分辨率4cm-1）时的频谱配准时间，30秒 *辐射穿透样品的深度，微米5–15 *固体样品的最小面积，mm21 ·测试液体的最小体积，ml0.3 *分析对象的允许pH范围为5至9 *晶体衬底材料ZnSe CVD,Ge *焦点直径，mm3 *反射次数3 *棱镜工作面的尺寸，mm21X6 ·4x微型镜头的放大倍数 *视觉通道总放大率75X *光学系统的视场，mm2X2.5 *数码摄像机分辨率640x480 *外形尺寸，mm145×125×240 *重量，公斤2

它用于测量厚度在纳米范围内的非常薄的涂层，并研究单分子层。

为了在FSM光谱仪中安装CFK类型的石英比色皿，使用DC CFK支架，其具有标准的50x75mm连接杆，用该连接杆将其插入红外傅里叶光谱仪FSM的PK50-75比色皿的

它旨在测量固体样品的反射率，并通过入射角接近法线的反射来分析涂层。 借助该前缀，可以确定光学元件、抗反射涂层等的反射率。