镜面反射前缀PZO30和PZO45

FT-801红外傅里叶光谱仪还可以配备一个特殊的光学机顶盒，可以有效地利用光导系统。 4种导光探头可测量固体、液体和气体介质中的透射和反射光谱 现代红外光导具有较高的固有透射率和足够的机械强度，这使得可以将测量从实验室直接转移到生产中-以控制工艺流程的流程，检查原材料和成品的 申请范围: *化学及微生物工业 *制药业 *医学及美容学 *食品工业 *石油产品、燃料和润滑油 *犯罪学

Cuvette PC50-75的支架专为安装而设计: 石英比色皿SF型支架DC10-10; 石英比色皿型KFK在支架DC KFK; 可折叠比色皿KR1, 可折叠比色皿KR20, 电影 支架，平板电脑 夹持器、固体样品夹持器。

该设备在光谱的中红外区域工作，具有用于输入来自外部源的辐射的光学端口，并配备惰性气体吹扫系统。 技术规格: 光谱范围，cm-1 370-7800 光谱分辨率，cm-10.1 信噪比（在2100-2200cm-1范围内测量时间为1min，分辨率为4cm-1）>60,000 获得一个全谱的最小时间小于，具有1 测量通道数2 具有Ge基涂层的KBr分束器 辐射源为高温金属陶瓷或外 DLATGS探测器，冷却光敏PbSe 比色皿隔间的尺寸，200x190x170 mm 外形尺寸,540x490x250 mm 重量，36公斤。

它用于记录中等大小和任意形状的固体样品–各种厚度的聚合物薄膜、光学部件、半导体晶片、大晶体等的透射光谱。 •由于快速释放螺母，它提供了方便的紧固样品

为了在FSM光谱仪中安装CFK类型的石英比色皿，使用DC CFK支架，其具有标准的50x75mm连接杆，用该连接杆将其插入红外傅里叶光谱仪FSM的PK50-75比色皿的

前缀被设计用于测量样品在光谱的近红外区域的吸收光谱在范围内4 000 — 12 500 sm-1连同IR傅里叶光谱仪FSM1211。 利用近红外区域，能够对医药、化工、高分子、纺织、食品、农业等行业进行鉴定和定量分析。 BIC分析法允许您研究粉末，粉碎和纤维材料等。

DT13支架设计为通过直径为13mm的片剂的机械夹具固定，从粉末状固体样品和KBr晶体的混合物中压缩。

为了在测量过程中达到最大的灵敏度，FT-801傅立叶光谱仪使用了一个特殊的前缀，FT-801傅立叶光谱仪是一个内置高灵敏度MST探测器的光学单元，用液氮冷却。 机顶盒安装在光谱仪的比色皿仓内并与相应的外部电端口连接，探测器以编程方式开启。 法的灵敏度增加很多倍–高达20）-取决于光谱仪中标准非制冷探测器的类型）。 记录光谱的速度也在增加。 用液氮填充低温恒温器（200毫升容量）后的操作时间至少为6小时。 在许多应用中，使用带有MST检测器的前缀来增加光谱仪的灵敏度可能是必需的：在光纤光谱学中，当记录低功率发射器的发射光谱时，在具有高光谱分辨率的痕量气体分析中，当确定超低浓度样品中存在杂质时，当使用多通气体比色皿等。 在图片中：在比色皿隔间的左侧有一个带有来自德国柏林Art photonics GmbH的光纤的开普勒，右侧有一个带有MST探测器的前缀。 技术规格 配准光谱时推荐的扫描次数为16 50次扫描时的频谱配准时间（分辨率4cm-1），sec20 低温恒温器容量，200毫升 填充低温恒温器后的工作时间，6小时 外形尺寸,mm225×175×75 重量,kg1.45

以安装在FT-801光谱仪的比色皿隔室中的光学-机械附件的形式制成具有所研究液体的可调层厚度的液体比色皿。 它包含聚焦光学器件，两个直径为10mm的窗口基板的可拆卸支架和放置在控制台外壳的上面板上的两个调节螺钉，旨在设置窗口之间所需的间隙。 任何粘度程度的液体以小滴的形式预先施加到下部窗口，然后，在窗口平滑收敛的过程中，均匀地填充它们之间的间隙。 通过旋转调节螺钉并在线观察透射光谱，用户有机会设置所需的液体层厚度，由整个光谱的整体强度或由特定吸收带的强度引导。 在存在校准（使用ZaIR3.5程序对已知浓度的多个样品易于创建）的情况下，比色皿可进行定量测量。 比色皿在分析含有小比例杂质的混合物时是必不可少的。 技术规格 在频谱的工作范围内传输，输入信号的%至少为50 配准光谱时推荐的扫描次数为16 16次扫描时的频谱配准时间（分辨率4cm-1），sec20 研究液体的最小体积，mm31 焦点的直径，mm3 外形尺寸,mm200×90×160 重量,公斤1,1 该图显示了粘性润滑剂"Buxol"的几个光谱，说明了在窗口之间选择样品层厚度的过程。 测量过程具有较高的表达性和再现性，采用廉价的可更换衬底窗，系统易于配置和清洁，需要极少量的样品以获得高质量的光谱。

Prefix旨在与IR傅里叶光谱仪FSM一起测量光谱中近红外区域的散射表面和分散样品的漫反射光谱。

它旨在对各种类型的固体不透明样品进行快速分析，包括聚合物薄膜和碎片，油漆涂层，片剂形式的成品剂型，光学部件和半导体材料。 •样品位于被调查表面的被调查平面上向下，中心光束在样品上的入射角为45° *焦点的直径为3毫米 *允许您探索任何形状和大小的对象 •使用微型压力机时，它允许您在合金钢制成的镜板上以薄层的形式检查样品（辐射穿过物质层两次，从镜面反射） *不使用：用于研究散装和液体物质

该机顶盒与NPVO和ZDO的通用机顶盒的主要区别在于棱镜用作MNPVO的工作元件，它允许从与所研究样品接触的区域获得多次反射，这导致光谱质量的改善和 此机顶盒上未提供镜面和漫反射光谱(ZDO)的配准。 MNPVO前缀在记录尺寸（数量）足以确保与棱镜工作面的整个区域接触的样品的吸收光谱方面是有效的: *任何粘度的液体（溶液、悬浮液、油等）); *固体弹性样品（足够大尺寸的聚合物碎片，橡胶，塑料等。); *粉末状样品的数量足以应用于整个表面和薄膜形式的样品; 通用夹具配有一个精密杠杆机构，用于快速降低尖端和一个千分尺螺钉，允许您预先设置最佳的压力程度–这确保快速更换样品和测量结果的重复性。 为了方便处理液体和糊状样品，可以将夹紧控制台旋转180o。 注意：MNPVO前缀不排除记录尺寸小于棱镜工作面积的样品光谱的可能性（所研究表面的视觉检查系统的存在增加了处理小尺寸物体时的便利性），但该方法的总体有效性明显低于使用通用NPVO和ZDO前缀时。 在频谱的工作范围内传输，输入信号的%至少为25 *配准光谱时建议扫描次数为25次 *25次扫描（分辨率4cm-1）时的频谱配准时间，30秒 *辐射穿透样品的深度，微米5–15 *固体样品的最小面积，mm21 ·测试液体的最小体积，ml0.3 *分析对象的允许pH范围为5至9 *晶体衬底材料ZnSe CVD,Ge *焦点直径，mm3 *反射次数3 *棱镜工作面的尺寸，mm21X6 ·4x微型镜头的放大倍数 *视觉通道总放大率75X *光学系统的视场，mm2X2.5 *数码摄像机分辨率640x480 *外形尺寸，mm145×125×240 *重量，公斤2

通用实验室IR傅里叶光谱仪FSM2201和FSM2202设计用于光谱中红外区域的科学研究和分析测量。 定性和定量分析气态，液态和固态的有机和无机物质样品，包括薄膜和粉末。 傅立叶光谱仪FSM2201/2202基于迈克尔逊干涉仪，具有自补偿功能，不需要动态调整。 光谱仪配有干燥空气或氮气吹扫系统，以最大限度地减少水蒸气和二氧化碳的光谱干扰，并具有光学窗口和分束器的防潮涂层。 仪器控制、自我测试、配准、分析和光谱处理的操作是自动化的，并使用个人计算机和由公司专家为Windowsxp/Vista环境开发的已安装的FSpec基本软件进行/7/8/10 ... 该程序具有直观的用户界面，允许您创建自己的fsm光谱仪上获得的光谱库，以及使用标准库并使用格式*的光谱。spe，*。spc，*。dx，*。asc。 频谱处理包括基本的数学运算和变换，搜索谱线和确定其参数。 根据标准方法工作：GOST、ASTM、EN、SEMI或在分析仪模式下进行测量，附加的软件模块与"按钮"控制的设备，附加的设备，内置的测量算法和校准被加载到FSpec平台。 该装置的通用性是通过在其比色皿室中安装各种气体和液体比色皿、光学附件和装置的可能性来确保的,从而可以研究液体、固体和气体样品。 FSM2201/2202型号的红外傅里叶光谱仪与之前生产的型号（FSM1201/1202）不同之处在于，其信噪比更高，比色皿更大。

小型红外傅里叶光谱仪，具有集成机顶盒和两个探测器，包括高度敏感的冷却MST。 工作模式：传输和反射，NIP，测量使用光纤探针（可能的版本与一个或两对内置连接器）。 可以连接红外显微镜，望远镜来记录外部辐射的光谱。 该光谱仪可用作便携式光谱仪，除其他外，还可用于技术过程的快速监测、储罐和管道中液体的质量控制、生物对象在线分析、远程气体分析等。 该装置旨在在各种材料上创建高质量图像，并提供橡胶陈词滥调密封件和邮票的生产，分辨率至少为1800dpi。

资料描述

它是在创新的Shtrik平台的基础上创建的，该平台基于独特的控制系统，其硬件和软件完全由我们公司的专家开发。
该装置旨在在橡胶，金属，塑料等材料上创建高质量图像，并提供至少1800dpi分辨率的陈词滥调印章和邮票的制作。
在安装中使用的光纤激光器与镀锌扫描仪系统相结合，可确保在静态模式下进行高质量的雕刻，不需要水冷却和特殊维护。
在组装系统时，只使用经过测试和认证的部件，这保证了特别长的使用寿命，而无需额外的投资。

特征:

一种用于样品的双坐标高精度定位系统，借助该系统可沿X、Y轴移动物体工作台。 由于定位系统和图像片段的顺序雕刻，可以根据操作员设定的加工程序在自动模式下以高精度加工尺寸高达200×300mm的工件;
使用用于沿Z坐标移动扫描头的高精度机构的自动逐层雕刻的算法允许您在金属工件（钢，黄铜，铝，钛等）中形成深达5mm的高度详细的3D图像。);
由于采用了自动算法，无需操作员参与，即可对深度3d图像进行长时间的逐层雕刻（可能需要数十小时）;
该装置配备了一个内置系统，用于从激光辐射暴露区去除gorenje产品，因此确保了扫描镜头不受生产产品的气味和保护，这在雕刻橡胶和塑料时尤为重要;
安装体完全复盖激光辐射的加工和传播区域，在安装外壳关闭的情况下，根据操作员设定的程序进行雕刻。 这种安装设计允许它归因于危险等级1的激光设备。

它旨在测量固体样品的反射率，并通过入射角接近法线的反射来分析涂层。 借助该前缀，可以确定光学元件、抗反射涂层等的反射率。

它设计用于通过在集成和外部监视器上同时可视化微物体的干扰全内反射方法以及在样品上部位置入射角为45o的镜面漫反射方法进行测量。 单个NIP模式中的前缀用于登记吸收光谱: 任何粘度的液体(溶液、悬浮液、油等).)，包括具有高化学活性的那些; 任意形状的固体物体，包括具有非常高硬度的样品（任何聚合物，油漆涂层的碎片等。); 粉状物质，包括具有非常高硬度的粉末（药物，药品，爆炸物，无机化合物）; 薄膜形式的样品; 纤维形式的样品。 金刚石的最大硬度和耐化学性显着扩展了该方法的可能性;不需要定期更换晶体。 机顶盒允许您注册光谱，而无需耗时的样品制备，并且具有高品质摄像机和内置高清微型监视器的研究表面视觉检测系统的存在提高了处理小样品时的效率-细纤维碎片，微粒等。 内置监视器具有数字10倍变焦，反相等功能。 图像可以同时显示在计算机屏幕上（使用USB接口），然后保存为文件。 可拆卸法兰提供了一个快速和方便的样品更换和清洁晶体表面。 在NPVO的基础平面上方突出金刚石元件的设计允许您研究具有足够大的整体尺寸的样品。 由于没有物质层厚度对光谱形状和吸收带强度的影响，结果的高质量和可重复性得以实现。 样品保留了其原始的物理化学性质，如果需要，可以通过其他方法进一步研究。 通用附件夹配有一个精密杠杆机构，用于快速降低尖端和一个千分尺螺钉，允许您预先设置最佳的压力程度–这确保快速更换样品和测量结果的重复性。 为了方便处理液体和糊状样品，以及在ZDO模式下，可以将夹紧控制台旋转180o。该控制台配有两个可更换的尖端-一个球形工作部件和一个平铰头。 金刚石的高硬度允许使用大的夹紧力，这是获得高质量光谱的决定因素。 替换表用于登记镜面和漫反射光谱。 样品向下位于被调查表面的被调查平面上。 该方法用于测定光学零件、表面薄膜、晶体和其他任意形状和大小的大型固体物体的光谱特性。

它用于测量厚度在纳米范围内的非常薄的涂层，并研究单分子层。