扫描探针显微镜Certus Light V

设计用于通过经典光学显微镜，共焦激光显微镜，共焦光谱学和扫描探针显微镜（原子力显微镜）的方法对物质表面的特征进行复杂的研究。 它可以获得完整的拉曼（拉曼或拉曼散射）散射和/或荧光光谱，共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图），扫描探针显微镜（AFM）图像。 Centaur Duos的设计允许使用单独的技术（例如，共焦显微镜/光谱学）以及技术的组合（包括联合扫描场、AFM/拉曼研究等)

观察和测量材料结构中的晶粒和缺陷，分辨率精确到原子（1986 年诺贝尔奖），替代金相显微镜和电子显微镜： 放大倍数：从 2000 倍到 1000 万倍。 测量范围：0.2 毫微米 至 30 微米 所有基本（STM、接触和振动 AFM）模式，以及超过 25 种附加模式”

设计用于通过经典光学显微镜，共焦激光显微镜，共焦光谱学和扫描探针显微镜（原子力显微镜）的方法对物质表面的特征进行复杂的研究。 它可以获得完整的拉曼（Raman或Raman CR）散射和/或荧光光谱、共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图）和SPM（AFM）图像。 Centaur u的设计可以使用单独的技术（例如，共焦显微镜/光谱学）和技术的组合（包括联合扫描场，AFM/拉曼研究等）。

带有SPM功能的扫描共聚焦拉曼光谱仪 尺寸小 全自动化系统 光谱仪原创设计 仪器保持高亮度的同时，保证最小光学的损失 共焦电路根据原始方案制成，超小体积和光学元件的最小漂移。 内置的光学显微镜提供了易于搜索的测量点. 设计中使用了精密的机械部件和光学元件. 它既可用于工业实验室，也可用于研究型大学。

具有光学和原子力显微镜技术的复合型设备Certus Optic i，用于检查生物物体和聚合物薄膜。 三维扫描探针显微镜头Certus，用于获取AFM图像（一般为结构研究）和/或根据样品表面调整探针的位置; 定位和三维扫描装置(Ratis)根据显微镜的视野调整样品的位置和/或扫描样品; 经典的倒置光学显微镜，用于显示研究对象并将探针指向研究对象或根据显微镜的视野调整样品的位置； 样品定位装置可以在表面或体积中选择区域; EG-3000控制器来控制综合体的所有部分; NSpec软件。

设计用于通过经典光学显微镜，共焦激光显微镜，共焦光谱学和扫描探针显微镜（原子力显微镜）的方法对物质表面的特征进行复杂的研究。 它能够获得完整的拉曼（拉曼或拉曼散射）散射和/或荧光光谱、共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图）以及SPM图像。 Centaur I 的设计既允许使用单独技术（如原子力显微镜），也允许组合技术（AFM-拉曼、共焦激光和AFM）.

入门级扫描探针显微镜(SPM) 沿X、Y、Z轴进行平面平行扫描，可以获得表面的图像，并以最小的失真和信息损失进行后续的图像编辑; 扫描头的开放式设计允许以0-90°的角度观察测试样品的表面，安装额外的装置和设备; 模块化配置可以将Certus Light扫描探针显微镜安装在传统的光学显微镜上（直立式或倒置式），并与光学仪器相结合，升级为Certus标准版、Certus光学版和Centaur版本

紧凑的尺寸 全自动化系统 原创光谱仪设计 装置具有最小光学损失的高亮度 共焦电路根据原始设计图制成，提供了紧凑的尺寸和光学元件的最小漂移 内置的光学显微镜提供寻找测量点的简单方法 设计中使用了精密的机械部件和光学元件. 它既可用于工业实验室，也可用于研究型大学。

与研究级直接光学显微镜相结合的扫描探针显微镜（SPM） 专为光学和原子力显微镜研究而设计。 三维扫描探针显微镜头Certus，用于获取AFM图像（一般为结构研究）和/或根据样品表面调整探针的位置; 定位和三维扫描装置(Ratis)根据显微镜的视野调整样品的位置和/或扫描样品; 直接光学显微镜（有基本配置的Olympus BX51），用于显示研究对象并将探针指向研究对象或根据显微镜的视野调整样品的位置; 物镜进行机械Z型移动; Vectus镜头采用单轴压电运动，可实现更高的聚焦精度、自动聚焦和获得分层宽场三维图像; 样品定位装置可以在表面或体积中选择区域; EG-3000控制器来控制综合体的所有部分; NSpec软件。

NTEGRA AURA是在真空中使用扫描探针显微镜技术的高效研究装置，使其能够比同类高真空系统更快地达到运行状态，在这种真空条件下Q值在1分钟内能增长10倍！尺寸紧凑和易于维护是仪器重要的优势。

它的设计用于通过光学显微镜，光谱学和扫描探针显微镜对表面性质的复杂研究。 它能够获得完整的拉曼散射和/或荧光光谱、共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图）以及SPM图像。 Centaur I HR的设计既允许使用单独技术（如原子力显微镜），也允许组合技术（AFM-拉曼、共焦激光和AFM）。

扫描探针显微镜标配版Certus，旨在解决广泛的研究和任务分析。 沿X、Y、Z轴进行平面平行扫描，可以获得图像表面，并以最小的失真和信息损失进行后续的图像编辑; 使用探针（传统扫描仪捏的探头Certus）和三维平面扫描仪对样品进行扫描。 探针保证平行扫描到样品的平面，不需要手动移动探头到试样上。 探针向样品的平面平行供给，解决了人工向样品供给探针费力的问题。 保障由三个机动支架进行; 扫描头的开放式设计使得能够以0-90°的角度观察测试样品的表面，安装额外的装置和设备; 标准化配置允许Certus标准扫描探针显微镜安装在传统光学显微镜（直接或倒置）上，与光学设备结合并升级为Certus Optic和Centaur改装。 扫描探针显微镜的基本技术已经实现。 要改变扫描探针显微镜的操作模式（例如，从原子力显微镜模式中的操作切换到扫描隧道显微镜模式），改变探针架就足够了。

扫描探针显微镜（SPM），配备专用的探针支架和必要的光学设备，用于近场研究。 近场光学显微镜是基于利用近场（蒸发场）的特性，来克服经典光学显微镜的衍射限制。 所有近场显微镜都包含几个基本设计元素: 探针; 沿着二维(X-Y)或三维(X-Y-Z)在样品表面移动探针的系统(扫描系统); 注册系统; 光学系统。

纳米领域的跨学科研究：AFM +共聚焦拉曼+ SNOM + TERS SPM和共聚焦显微镜/拉曼散射光谱仪的集成。由于尖端增强了拉曼散射，因此可以以高达10 nm的分辨率进行光谱/显微镜

扫描探针显微镜（SPM）与直接和倒置研究级的光学显微镜相结合。 专设计用于光学和原子力显微镜研究。 Certus 是XYZ三维扫描探针显微镜头，用于获取AFM图像（一般为地形）和/或将探针可以定位在样品表面; Ratis是定位和扫描装置(XY(Z)piezostolic) 显微镜视野追踪样品定位和/或扫描样品; 正置光学显微镜（Olympus BX51为标准配置），用于显示研究对象并将探针指向研究对象或追踪样品定位在显微镜视野中; 倒置光学显微镜（Olympus IX71为标准配置），用于显示研究对象并将探针指向研究对象或追踪样品定位在显微镜视野中; 镜头机械Z字行运动; 用于Vectus镜头的单轴压电运动，可实现更高的聚焦精度、自动聚焦和获得分层宽场3d图像; 样品定位装置，用于选择表面上或在体积中的某个区域; EG-3000单个控制器，控制该系统的所有部分; NSpec软件。