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测试液层厚度可调的液体比色皿
以安装在FT-801光谱仪的比色皿隔室中的光学-机械附件的形式制成具有所研究液体的可调层厚度的液体比色皿。 它包含聚焦光学器件，两个直径为10mm的窗口基板的可拆卸支架和放置在控制台外壳的上面板上的两个调节螺钉，旨在设置窗口之间所需的间隙。
任何粘度程度的液体以小滴的形式预先施加到下部窗口，然后，在窗口平滑收敛的过程中，均匀地填充它们之间的间隙。 通过旋转调节螺钉并在线观察透射光谱，用户有机会设置所需的液体层厚度，由整个光谱的整体强度或由特定吸收带的强度引导。 在存在校准（使用ZaIR3.5程序对已知浓度的多个样品易于创建）的情况下，比色皿可进行定量测量。 比色皿在分析含有小比例杂质的混合物时是必不可少的。
技术规格
在频谱的工作范围内传输，输入信号的%至少为50
配准光谱时推荐的扫描次数为16
16次扫描时的频谱配准时间（分辨率4cm-1），sec20
研究液体的最小体积，mm31
焦点的直径，mm3
外形尺寸,mm200×90×160
重量,公斤1,1
该图显示了粘性润滑剂"Buxol"的几个光谱，说明了在窗口之间选择样品层厚度的过程。
测量过程具有较高的表达性和再现性，采用廉价的可更换衬底窗，系统易于配置和清洁，需要极少量的样品以获得高质量的光谱。
任何粘度程度的液体以小滴的形式预先施加到下部窗口，然后，在窗口平滑收敛的过程中，均匀地填充它们之间的间隙。 通过旋转调节螺钉并在线观察透射光谱，用户有机会设置所需的液体层厚度，由整个光谱的整体强度或由特定吸收带的强度引导。 在存在校准（使用ZaIR3.5程序对已知浓度的多个样品易于创建）的情况下，比色皿可进行定量测量。 比色皿在分析含有小比例杂质的混合物时是必不可少的。
技术规格
在频谱的工作范围内传输，输入信号的%至少为50
配准光谱时推荐的扫描次数为16
16次扫描时的频谱配准时间（分辨率4cm-1），sec20
研究液体的最小体积，mm31
焦点的直径，mm3
外形尺寸,mm200×90×160
重量,公斤1,1
该图显示了粘性润滑剂"Buxol"的几个光谱，说明了在窗口之间选择样品层厚度的过程。
测量过程具有较高的表达性和再现性，采用廉价的可更换衬底窗，系统易于配置和清洁，需要极少量的样品以获得高质量的光谱。
代表cuvette PC50-75
Cuvette PC50-75的支架专为安装而设计:
石英比色皿SF型支架DC10-10;
石英比色皿型KFK在支架DC KFK;
可折叠比色皿KR1,
可折叠比色皿KR20,
电影
支架，平板电脑
夹持器、固体样品夹持器。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
比色皿支架DC KFK
为了在FSM光谱仪中安装CFK类型的石英比色皿，使用DC CFK支架，其具有标准的50x75mm连接杆，用该连接杆将其插入红外傅里叶光谱仪FSM的PK50-75比色皿的
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
单通和多通气体比色皿
单通和多通比色皿用于气体混合物的定性和定量分析。 多通比色皿的使用使得可以自信地检测所研究气体中极小浓度的组分（小于ppm单位）。
•提供三种比色皿:
1. 单通道，行程长度为100毫米，玻璃体和窗户由ZnSe、KBr、NaCl制成
2. 多通，光束行程长度可达几十米
3. 多通，光束行程长度可达几十米，配有工作腔的加热系统，最高可达200°C和热控制器
多通比色皿具有由石英玻璃制成的透明工作腔；具有金(99.999)涂层的反射镜在IR区域提供至少98%的反射系数；此外，比色皿可配备压力和温度传感器、用于控
SIMEKS
Novosibirsk
生产于: 新西伯利亚
DC10-10比色皿支架
1 个卖家有售
为了在FSM光谱仪中安装SF型石英比色皿，使用DC10-10支架，其具有标准的50x75mm连接杆，用它插入fsm红外傅里叶光谱仪的PK50-75比色皿的支架中。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
Vectus是单轴滑台。
Vectus单轴滑台的设计是为了沿单轴移动和定位各种设备
特别是沿光轴移动透镜，来改变样品表面或样品体积内物体的焦点位置。 此外，这种移位是三维共聚焦显微镜的基本要素。 结合在XY平面中操作的双轴运动，这种系统能够获得各种物体的完整的三维共焦图像。
NANO SKAN TEKHNOLOGIYA
Dolgoprudnyj
生产于: 多尔戈普鲁德内, 莫斯科地区
柱温控器 TSC-003
大功率加热元件可在最短时间内实现加热，精确的可编程 PID 控制器可确保最佳的加热曲线，并对外界条件的变化做出快速反应。大功率加热元件可在最短时间内实现加热，精确的可编程 PID 控制器可确保最佳的加热曲线，并对外界条件的变化做出快速反应。大功率风扇提供快速强制冷却，不仅可以控制柱温的上升，还可以控制柱温的下降，并加快向不同恒温器温度的过渡。所有外部空腔的吹风都是受控的，包括恒温器盖内的吹风回路，这使得恒温器外壳即使在色谱柱达到最高温度时也能保持正常温度，确保人员和周围设备的舒适操作。
Akvilon
Podolsk
生产于: 莫斯科地区, 波多利斯克
折射仪检测器 102M
技术规格： 光源 LED 光源波长 650 nm
650 纳米
分析比色皿容量 8 µl
动态范围 Δn（Δn 为工作比色皿和比较比色皿折射率之差）
1*10-7 - 5*10-2 r.e.m.
工作折射率范围 (n) 1.00-1.81 O.E.R. 检测极限 (葡萄糖) < 1*10-5 g 蒸馏水无流动噪音（2 秒时间常数） 1*10-8 O.E.R. 蒸馏水流动零信号波动噪音水平（2 秒时间常数） 4*10-6 O.E.R. 蒸馏水流动零信号漂移
5*10-4 O.E.R./h 液路材料 PTFE、SS316、石英玻璃 进出口接头 内螺纹 10-32 下卡套 达到工作模式的时间 10 分钟 电源、电压/频率 220V/50Hz 或 110V/60Hz 消耗功率
不超过 16 VA
外形尺寸（高、宽、深） 120x330x290 毫米 重量 10 千克
Akvilon
Podolsk
生产于: 莫斯科地区, 波多利斯克
代表cuvette PC50-75
Cuvette PC50-75的支架专为安装而设计:
石英比色皿SF型支架DC10-10;
石英比色皿型KFK在支架DC KFK;
可折叠比色皿KR1,
可折叠比色皿KR20,
电影
支架，平板电脑
夹持器、固体样品夹持器。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
各种厚度和薄膜的固体样品的通用支架
它用于记录中等大小和任意形状的固体样品–各种厚度的聚合物薄膜、光学部件、半导体晶片、大晶体等的透射光谱。
•由于快速释放螺母，它提供了方便的紧固样品
SIMEKS
Novosibirsk
生产于: 新西伯利亚
比色皿支架DC KFK
为了在FSM光谱仪中安装CFK类型的石英比色皿，使用DC CFK支架，其具有标准的50x75mm连接杆，用该连接杆将其插入红外傅里叶光谱仪FSM的PK50-75比色皿的
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
多通气体比色皿KG48
多通道气体比色皿KG48专为测定阈值<1ppm的气体中的杂质而设计。
光路长度为0.8-4.8m，变化步长为0.8m。
波纹管阀门。
窗户Ø22毫米，材料：kbr与防潮涂层或CaF2。
比色皿的体积为2.4升。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡
流动注射装置"BPI-03"
流动注射装置BPI-03设计用于液体流动和自动重新组合液体管道。
BPI-03可用于液体的定量、混合和顺序供应的各种系统，例如，在进行光谱（元素）分析时，在液体样品的动态浓缩、稀释和化学修饰系统中。
流动注射单元BPI-03与 "KVANT "型原子吸收光谱仪可广泛用于环境监测、食品、饮用水认证和质量控制的分析实验室、农业化学实验室以及其他进行重金属分析的实验室。
流动注射装置由于对复杂样品的基质成分进行了重新设置，提高了分析结果的可靠性，并且对一些重金属（Au, Cd,Co, Cu, Mn, Ni, Pb, Pd, Pt, Zn）的灵敏度每分钟提高10-20倍。与AAS "KVANT "软件一起在自动模式下工作。从传统的火焰原子吸收法过渡到流动注射法不需要额外的设置程序，而且只需几秒钟。
KORTEK
Moscow
生产于: 莫斯科
Specord型比色皿
带有密封连接窗口的比色皿具有恒定的光程长度和可折叠的外壳。
比色皿专为定性和定量分析挥发性液体和低粘度液体而设计。
Infraspek
Saint Petersburg
生产于: 圣彼得堡