Thixomet Blast

Описание 1. Автоматическая съемка панорамных изображений образцов. Для автоматической съемки панорам пользователю необходимо задать шаблон определяющий координаты фрагментов для съемки. Если образцы имеют неровную поверхность, выполняется подстройка фокуса с использованием интеллектуального алгоритма, с заданной частотой. Если образцы имеют ровную поверхность, но расположены под углом, выполняется подстройка фокуса по трем точкам. Для этого перед съемкой пользователь задает положение острого фокуса в трех точках образца или нескольких образцов. В особо сложных случаях можно использовать ручную фокусировку. При этом столик будет останавливаться с заданной частотой для ручной подстройки фокуса. Можно использовать склейку панорам по координатам или с использованием уникального алгоритма(SmartPano). 2. Автоматический расширенный фокус. Пользователю необходимо только задать начальное положение и направление фокусировки. 3. Режим навигации. Указывая нужное место на панораме можно перемещать предметный столик, для более детального изучения структуры. 4. Автоматический попольный анализ. Для выполнения попольного анализа в автоматическом режиме пользователю необходимо задать шаблон определяющий координаты фрагментов для исследования. Предметный столик автоматически перемещается от поля к полю, производятся необходимые измерения и формируется отчет.

Основные возможности: Оценка макроструктуры, в том числе параметров дендритной структуры; Оценка глубины обезуглероживания; Оценка геометрии образцов (отклонений форм, размеров, экцентриситетов); Размеры исследуемых образцов ограничены только ходом столика и габаритами штатива; Оценка пористости; Построение панорамы в реальном времени; Использование шкал из разнообразных государственных и отраслевых стандартов для оценки макродефектов металлопродукции; Расширенный фокус.

Панорамные исследования лежат в основе работы многих методик Thixomet. Построение панорамных изображений дает возможность наблюдения сколь угодно большой площади изучаемой поверхности образца с высоким разрешением. Панорама формируется склеиванием смежных полей зрения «на лету»: пока предметный столик микроскопа перемещается на очередное смежное поле зрения, предыдущее поле «пиксель в пиксель» стыкуется к полю, захваченному накануне. Функция выравнивания фона позволяет избавиться от неравномерности освещенности как в пределах одного поля зрения, так и на панораме в целом. Для редактирования панорамы имеются основные инструменты графического редактора.

Программное обеспечение SIAMS 800 - зарегистрировано в Федеральной службе по интеллектуальной собственности; - зарегистрировано в Едином реестре российских программ для электронных вычислительных машин и баз данных; - имеет русскоязычный интерфейс; - уровень защиты ПО соответствует уровню "высокий" по Р 50.2.077-2014. Программное обеспечение SIAMS 800 состоит из модулей для калибровки системы ввода и измерений; управления функциями сканирования образцов для расширения поля зрения и компенсации оптических искажений; автоматических измерений и построения отчетов. Программное обеспечение SIAMS 800 комплектуется специализированными решениями для автоматизированного количественного анализа объектов или структур различных материалов. В методиках анализа выполняется методологическая преемственность по отношению к российским и зарубежным стандартам. Результат анализа микроструктуры в виде таблиц, графиков и изображений соответствует требованиям нормативного документа либо ТЗ заказчика. Специализированные решения являются серверными приложениями, запускаются через веб-браузер с любого компьютера, подключенного к сети.