Тестер микросхем FORMULA HF3

Тестер FORMULA® 2K — это автоматизированная универсальная контрольно-измерительная система для функционального и параметрического контроля цифровых, аналоговых и цифро-аналоговых микросхем малой и средней степени интеграции, а также микросхем памяти. Тестер предназначен для выполнения измерений в процессе проведения приемо-сдаточных, периодических, сертификационных и иных видов испытаний ИМС, а также для входного контроля FORMULA® 2K обеспечивает требования метрологического законодательства РФ и нормативной документации в области измерений и испытаний в микроэлектронике. Тестер является функционально полным автоматизированным средством измерений БИС и ИМС и обеспечивает Потребителям следующие преимущества: Высокий уровень готовности оборудования к измерениям и испытаниям Автоматизацию всех стадий измерительного процесса и управления данными Быстросъемная измерительная оснастка — как на кабеле, так и на разъемах Тестера Режимы работы с зондовыми автоматами, автозагрузчиками, испытательным оборудованием и приборами Дружественное программное обеспечение Автоматическая диагностика и калибровка Надежность в круглосуточном режиме работы ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ Наименование параметраДиапазоны и значения Число двунаправленных измерительных каналов64...256 Диапазон уровней входного/выходного сигнала/амплитуда-10...+10 В/± 20 В Частота функционального контролядо 20 МГц Частота канала тактового сигнала40 МГц Длительность фронта и среза импульса, не более4 нс/ 6 В; 15 нс/ 10 В Измерение интервалов времени одним каналомот 5 до 10000 нс Объем памяти тестовых векторов/ошибок1 М/1 М Ток активной нагрузки0,5...24 мА Выходное сопротивление50 Ом ± 5 Ом Источники Число источников (включая 2 прецизионных)5...14 Напряжение источников-20...+20 В Погрешность задания напряженияот ±(0,35% + 10) мВ Погрешность задания напряжения прецизионным источникомот ±(0,02% + 1) мВ Ток источниковдо 2 А Погрешность ограничения токаот ±(2% + 1) мА Измерители Число измерителей (включая 1 прецизионный)до 2 Напряжение измерителей-20...+20 В Погрешность измерения напряженияот ±(0,5% + 2) мВ Погрешность измерения напряжения прецизионным измерителемот ±(0,02% + 1) мВ Ток измерителейдо 200 мА Погрешность измерения силы токаот ±(2% + 12) нА Количество диапазонов по току6 Контроль микросхем памятиСтатические ОЗУ Алгоритмическое формирование последовательности адресовЕсть Динамическое резервирование матрицы ОЗУЕсть Средства управления внешними приборами Интеграция с зондовыми автоматами испытательным оборудованием и внешними приборамипо интерфейсу GPIB Тестер является функционально полным автоматизированным средством измерений БИС и ИМС и обеспечивает Потребителям следующие преимущества: Высокий уровень готовности оборудования к измерениям и испытаниям Автоматизацию всех стадий измерительного процесса и управления данными Быстросъемная измерительная оснастка — как на кабеле, так и на разъемах Тестера Режимы работы с зондовыми автоматами, автозагрузчиками, испытательным оборудованием и приборами Дружественное программное обеспечение Автоматическая диагностика и калибровка Надежность в круглосуточном режиме работы

FORMULA® HF Ultra — универсальная контрольно-измерительная система для функционального и параметрического контроля ультравысокочастотных СБИС. Область применения Тестера — испытания и контроль качества на всех стадиях жизненного цикла СБИС, включая: Испытания и исследования вновь разработанных типов СБИС Производственные и приемочные испытания серийной продукции: квалификационные, периодические, отбраковочные, приемо-сдаточные Сертификационные испытания Входной контроль Тестеры FORMULA® HF Ultra являются типовыми средствами измерений с подтвержденными метрологическими характеристиками в соответствии с описанием типа. ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ Тестеры FORMULA® HF Ultra созданы для выполнения достоверных измерений СБИС широкой номенклатуры, включая Системы на кристалле (СнК) и микросхемы смешанного сигнала, а также все виды современных ЗУ. Цифровые СБИСASIC, ПЛИС, стандартная жесткая логика Микропроцессоры и микроконтроллерыУниверсальные и сигнальные Одноядерные и многоядерные Отдельные и в составе СвК Микросхемы смешанного сигналаАЦП и ЦАП Микросхемы памятиFLASH, DRAM, DDR, DDR2, DDR3, SRAM, ROM, PROM Системы на кристалле, Системы в корпусеСБИС, включающие процессорные ядра, блоки памяти, программируемой логики, периферийных устройств, аналоговые компоненты, АЦП и ЦАП. Ключевые технические характеристики Тестера определяются следующими величинами: Количество универсальных двунаправленных каналов — до 1024 Частота функционального контроля до 550 МГц Опорная частота прецизионного генератора — 1200 МГц Память векторов/ошибок — до 128 М/128 М векторов Блок аналоговых измерений — 1200 МПс/24 бит Уровень и состав функциональных, параметрических и метрологических характеристик Тестера, установленный при его разработке, был определен исходя из номенклатуры и характеристик современных микросхем, а также с учетом обеспечения конкурентоспособности с современным зарубежным оборудованием того же назначения.