مصنع مختبر التحليل الكهربائي ЭЛАМ-02

مسح المجهر التحقيق (СЗМ) جنبا إلى جنب مع المجهر الضوئي المباشر والمقلوب من فئة البحوث. الغرض منه هو البحث عن طريق طرق الفحص المجهري للقوة البصرية والذرية. Certus XYZ СЗМ المسح رئيس ل أفم التصوير (التضاريس بشكل عام) و/أو تحديد المواقع من التحقيق بالنسبة إلى سطح العينة; جهاز تحديد المواقع والمسح الضوئي(XY(Z) بيزوستوليك) راتيس لتحديد المواقع العينة بالنسبة إلى مجال الرؤية من المجهر و/أو مسح العينة; مجهر بصري مباشر (Olympus BX 51 كمعيار) لعرض موضوع البحث وتوجيه المسبار إلى موضوع البحث أو وضع العينة بالنسبة إلى مجال رؤية المجهر; مجهر بصري مقلوب (Olympus IX 71 كمعيار) لعرض موضوع البحث وتوجيه المسبار إلى موضوع البحث أو وضع العينة بالنسبة إلى مجال رؤية المجهر; الميكانيكية Z الحركة للعدسة; حركة بيزو أحادية المحور للعدسة المتجهة للحصول على دقة تركيز إضافية, التركيز التلقائي والطبقات واسعة المجال 3D الصور; جهاز تحديد المواقع عينة لاختيار منطقة على سطح أو في وحدة تخزين; وحدة تحكم واحدة على EG-3000 للتحكم في جميع أجزاء المجمع; برنامج NSpec.

مطياف البلازما المقترن بالحث يحتوي مطياف الانبعاث البصريЭРИДАН 500 مع مصدر إثارة البلازما المقترنة بالحث على مطياف فراغ مزدوج بمدى 170-930 نانومتر ونظام تسجيل كاشف اتفاقية مكافحة التصحر.

تم تصميم مطياف الانبعاث الثابت من فئة المختبرИскролайн 300 للتحليل الطيفي السريع والدقيق للمعادن والسبائك مع قواعد مختلفة (Fe, Al, Cu, Zn, Pb, Sn, Ni, Ti, Co, Mg). Искролайн 300هو الرائد بين سبارك مطياف المصنعة من قبل مجموعة «ИСКРОЛАЙН». هذا هو نهج لا هوادة فيه لجودة التصنيع ومعلمات الجهاز. إذا تمكنا من جعل إحدى العقد أفضل ، فقد تم تحسينها! لا وفورات على المكونات. إن التصنيع الأكثر دقة للميكانيكا والضبط الدقيق للمكونات البصرية واختبار الإجهاد المتكرر لجميع المكونات الإلكترونية يسمح لنا بضمان أعلى جودة لتصنيع الأجهزة.

وهي مصممة لإجراء دراسات شاملة لخصائص السطح باستخدام الفحص المجهري البصري والتحليل الطيفي والمسح المجهري للمسبار. انها تسمح للحصول على كامل تشتت رامان و / أو أطياف مضان ، ليزر متحد البؤر والصور الطيفية متحد البؤر (رسم الخرائط السطحية) ، صور СЗМ. تصميم مجمع Centaur I HR يسمح لك للعمل مع كل من تقنيات منفصلة (على سبيل المثال ، المجهر القوة الذرية) والجمع بين التقنيات (АСМ-Раман ، ليزر متحد البؤر و АСМ).

تم إنشاء مطياف وفقا لمخطط تشيرني تيرنر على أساس مقضب حيود مسطح ومحلل МАЭС مع خط واحد من أجهزة الكشف الضوئي. لقد زاد من الدقة الضوئية بسبب التبريد وتثبيت درجة الحرارة لنطاق الكاشف الضوئي ، وكذلك بسبب تصميمه الخالي من القشرة ، حيث لا يوجد إعادة انعكاس للإشعاع على زجاج الغطاء ومستوى الخلفية في الطيف المسجل ينخفض. تم تحسين المخطط البصري وتصميم مطياف الطيف للحصول على طيف عالي الجودة مع مستوى إشعاع خلفية منخفض في أي من المناطق الواقعة في النطاق الطيفي من 190-1100 نانومتر. يتم اختيار منطقة العمل عن طريق تغيير وتدوير شبكات الحيود. يتم تعبئة السكن مختومة من مطياف مع غاز خامل. يتم حقن الإشعاع في مطياف باستخدام مكثف الكوارتز أو كابل الألياف البصرية مع موصل SMA-905. يتم حماية المخطط البصري وتصميم مطياف بواسطة براءات الاختراع.

يجمع مطياف مضان الأشعة السينية SPECTROSCAN MAX-GF1(2)E-C بين طريقتين لعزل إشارة تحليلية: الحيود على البلورة (تشتت الموجة - WDX) وطريقة تشتيت الطاقة (EDX)، بالإضافة إلى تغذية العينات، المتكيفة مع تحليل الصور كبيرة الحجم Collimation إن الإشعاع الأولي لأنبوب الأشعة السينية والتصميم الخاص لتغذية العينة يجعل من الممكن تحليل عينة على مساحة 1 سم 2 بخطوة 1 مم، وبالتالي دراسة توزيع العناصر على المنطقة. تم تصميم مقياس الطيف لتحديد محتوى العناصر في النطاق من Ca إلى U في المواد الصلبة والمسحوقة والمذابة، وكذلك تطبيقه على الأسطح أو ترسيبه على المرشحات. باستخدام القنوات الثابتة المشتتة للطاقة، يمكنك تحديد أي عنصر أو عنصرين إضافيين في النطاق من المغنيسيوم (Mg) إلى الكالسيوم (Ca). وبمساعدة هذا التعديل للمطياف، يتم إجراء فحوصات الطب الشرعي والجمارك، وفحوصات الطب الشرعي والطب الشرعي، وكذلك الفحوصات الفنية.

و ИСКРОЛАЙН 250К كيلو هو سبارك البصرية مطياف الانبعاثات الذرية في تخطيط سطح المكتب (ويمكن أيضا أن تكون مجهزة مع انزلاق الجدول قابل للتعديل الارتفاع لتثبيت مطياف على ذلك). وهي مصنوعة في شكل قطعة واحدة مع المكونات في معدات فراغ والأجهزة الطرفية الكمبيوتر (رصد ، لوحة المفاتيح ، "مناور الماوس"). تم تصميم الجهاز للتحليل السريع للمعادن والسبائك (عينات موصلة صلبة) من أجل التحديد الكمي والنوعي لمختلف إضافات السبائك والشوائب (في قواعد مختلفة) أثناء عملية الصهر ، أثناء تحليل الشهادات ، وكذلك لتحديد الدرجة أثناء التحكم في الإدخال. في خط مطياف الإسكرولين ، يقع تعديل 250 كيلو بينИСКРОЛАЙН 100 وИСКРОЛАЙН 300. من حيث الأبعاد ، يعد هذا عمليا "نسجا": المساحة التي يشغلها النموذج 250 على الطاولة مطابقة لـ أنا 100 ، والفرق هو فقط في ارتفاع مقياس الطيف ، وهو أعلى بسبب مطياف إضافي للتشغيل في منطقة الطول الموجي الطويل من الطيف (وهو ما يسمى" الأحمر " في المصطلحات). جعل استخدام مطياف إضافي من الممكن تحسين الدقة الطيفية في النطاق الرئيسي ، حيث يوجد أكبر عدد من الخطوط الطيفية التحليلية لعناصر السبائك والشوائب الرئيسية. وهي: من 167 نانومتر إلى 350 نانومتر ، مما سمح بتشتت 0.98 نانومتر/مم لتحقيق دقة طيفية أقل من 20 نانومتر (0.017 نانومتر). في الوقت نفسه ، في الطيف الثاني (في النطاق من 350 نانومتر إلى 800 نانومتر) ، كان من الممكن تحقيق قراءات لنموذج أقدم – خط الإشعال 300 ، وهو أمر جدير جدا بهذا النطاق الطيفي وجهاز من هذه الأبعاد. هذه الخصائص البارزة تسمح ИСКРОЛАЙН 250К ن يشعر أكثر ثقة بكثير عند تحليل عينات معقدة عالية سبيكة ، حتى من دون استخدام نظام لحساب تأثير العناصر "الثالثة" (التي هي موجودة بالفعل في التكوين الأساسي في «PPM Pro»البرمجيات). يعمل مقياس الطيف أيضا بشكل أفضل عند تحليل العينات النقية مقارنة بالنموذج الأصغر منИСКРОЛАЙН 100. هيكليا ، الجهاز هو قطعة واحدة بنيت حول اثنين من الطيف مع نظام الإثارة الطيف على أساس سباركس لر مولد التفريغ مع ترايبود مفتوحة ، مع نظام تسجيل الطيف على 17 كاشفات كسد الخطية ، تحت سيطرة البرمجيات الاحتكارية «PPM Pro» وأنظمة: إمدادات الغاز ، كنس ، والإسكان.

المواصفات الفنية حجم غرفة العمل ، 50 لترا درجة الحرارة القصوى ، C 1250 أبعاد غرفة العمل (الطول x العرض x الارتفاع) ، مم x 500 x 400 x 250 القدرة المركبة ، كيلوواط 12.0 معلمات شبكة إمداد الطاقة 380 فولت / 50 هرتز / 3 مراحل تحميل عمودي الوزن ، كجم 260

لديها مصدر الإثارة لأطياف تفريغ القوس في الهواء ، أقطاب الكربون ، مطياف الهواء المزدوج مع مجموعة من 200-930 نانومتر والتسجيل على كاشفات كسد الخطية. التحليل الطيفي السريع لمواد المسحوق والعينات الموصلة.

صناديق القفازاتVBOX SS هي سلسلة من صناديق القفازات القياسية ، عالية الجودة ، مختومة مصنوعة من الفولاذ المقاوم للصدأ مصممة للاستخدام في البحوث والتصنيع. تم تصميم صناديق VBOX SS وتصنيعها في روسيا من قبل Вилитек. تصميم صناديق VBOX SS يأخذ في الاعتبار عددا من الميزات والتفاصيل التقنية التي تميزها بشكل إيجابي عن المنتجات من الشركات المصنعة الأخرى. يتم تمثيل مجموعة صندوق القفازات VILITEK من سلسلة VBOX SS من قبل 10 نماذج قياسية. جميع صناديق قفاز VBOX SS V لديها إمكانية كنس كل من قفل النقل والغرفة الرئيسية. ونتيجة لذلك ، يمكن تنظيف بيئة الغاز في الصندوق دون استخدام معدات تنقية الغاز باهظة الثمن ، ولكن عن طريق ملء الصندوق بغاز عالي النقاء من الأسطوانات. شركة Вилитек تنتج مجموعة كبيرة من صناديق القفازات مختومة وعوازل القفازات ، يمكنك عرض الصور من المعدات التي تنتجها شركتنا في قسم معرض صناديق القفازات Vilitek يتم تأكيد جودة صناديق القفازات المصنعة من قبل Вилитек من خلال شهادة الامتثال لغوست Р.

مطياف سبارك سطح المكتب Искролайн 100 هو محلل صريح حديث لتكوين المعادن والسبائك. يعتمد الجهاز على طريقة التحليل الطيفي للانبعاثات ، والتي تستخدم اعتماد شدة الخطوط الطيفية على محتوى العنصر في العينة. الغرض الرئيسي من الجهاز هو تحليل دقيق وسريع للعينات الموصلة مع قواعد مختلفة (Fe, Al, Cu, Zn, Pb, Sn, Ni, Ti, Co, Mg، الخ.). تم تصميم هذا المحلل الطيفي للتحليل الكمي لتكوين كل من المعادن غير الحديدية والمعادن الحديدية (الحديد الزهر ، السبائك المنخفضة ، السبائك المتوسطة ، العديد من الفولاذ عالي السبائك ، إلخ.) لمعظم عناصر السبائك المعروفة والشوائب ، بما في ذلك الكبريت والفوسفور والكربون. إИскролайн 100 هو مطياف الانبعاثات في الهواء الطلق الحديثة للتحليل الطيفي للمعادن والسبائك الجهاز قادر على حل معظم المهام التحليلية للصناعات الثقيلة. في هذا الصدد ، فإن نطاق تطبيق Искролайн100 واسع جدا: في المعادن الحديدية وغير الحديدية ، التحليل السريع للتركيب الكيميائي للسبائك للتحكم في الصهر ومراقبة إصدار الشهادات للمنتجات النهائية. في علم المعادن الثانوي ، هو نفسه ، وكذلك فرز وتفكيك الخردة الحديدية وغير الحديدية. في إنتاج المسبك - التحكم في المدخلات (تحديد وتأكيد درجة السبائك) ، التحكم في الذوبان والتحكم في إخراج المنتجات النهائية ، التحكم في الشهادات. في تشغيل المعادن ، الهندسة الميكانيكية ، إلخ. - التحكم في إدخال المعدن في الإنتاج وتحديد وتأكيد العلامة التجارية للمواد المشتراة. إيلاء الاهتمام لميزات التحليل الطيفي من الحديد الزهر يمكن أن يكون مطياف الشرارة هذا هو الوسيلة الوحيدة للاختبار غير المدمر لتكوين المعادن والسبائك في المؤسسات الصغيرة والمتوسطة الحجم ، والعمل كجزء من مجمعات الإنتاج والتحليل المعقدة في المختبرات وورش العمل للمؤسسات الكبيرة للمعادن الحديدية وغير الحديدية. تتوفر أي خطوط طيفية في حدود 167-460 نانومتر (بما في ذلك خطوط الفوسفور والكبريت والكربون) بدقة 0.02-0.03 نانومتر. Искролайн 100 هو نموذج اقتصادي من مطياف الانبعاثات سطح المكتب مع أفضل سيارة في فئتها نسبة السعر / القدرات التحليلية مع جودة التصنيع العالية والموثوقية. إذا كنت بحاجة إلى نسخة محمولة من مطياف للعمل في ساحة شحن أو ورشة عمل /مستودع للتحليل ، بما في ذلك الأجزاء كبيرة الحجم ، فإننا نوصي بالنظر في طراز مطياف المحمول إسكرولين 500 مع مسبار عن بعد. يمكنك التحقق من أسعار وميزات أجهزة قياس الطيف هذه في التكوين الذي تهتم به مع المتخصصين لدينا. يتم تضمين مطياف الانبعاثات إسكرولين 100 في سجل الدولة لأدوات القياس في روسيا وبيلاروسيا وكازاخستان ، إلخ. الجهاز يتوافق مع متطلبات السلامة من المعدات الكهربائية والتوافق الكهرومغناطيسي (ГОСТ Р 52319-2005, ГОСТ Р 51522.1-2011). يتكون إسكرولين 100 من نظام الإثارة الطيف على أساس مولد التفريغ СПАРКС LCR ، 1 1S2133 ، ونظام التسجيل على 9 كاشفات كسد الخطية ، والنظم: السيطرة ، وإمدادات الغاز ، كنس ، فضلا عن السكن.

الشوائب المراد إزالتها: * بخار الماء * الأكسجين * النيتروجين * أكاسيد الكربون * الهيدروجين * الهيدروكربونات المزايا: * عملية سهلة * درجة عالية من تنقية الغاز يتم استخدام المرشحات القائمة على أنبوب التيتانيوم وأكسيد النحاس والزيوليت.

مسح المجهر التحقيق (СЗМ) جنبا إلى جنب مع المجهر الضوئي المباشر من فئة البحوث. الغرض منه هو البحث عن طريق طرق الفحص المجهري للقوة البصرية والذرية. Certus XYZ СЗМ المسح رئيس ل أفم التصوير (التضاريس بشكل عام) و/أو تحديد المواقع من التحقيق بالنسبة إلى سطح العينة; جهاز تحديد المواقع والمسح الضوئي(XY(Z) بيزوستوليك) Ratis لتحديد المواقع العينة بالنسبة إلى مجال الرؤية من المجهر و/أو مسح العينة; مجهر بصري مباشر (Olympus BX 51 كمعيار) لعرض موضوع البحث وتوجيه المسبار إلى موضوع البحث أو وضع العينة بالنسبة إلى مجال رؤية المجهر; الميكانيكية Z الحركة للعدسة; حركة بيزو أحادية المحور للعدسة المتجهة للحصول على دقة تركيز إضافية, التركيز التلقائي والطبقات واسعة المجال 3d الصور; جهاز تحديد المواقع عينة لاختيار منطقة على سطح أو في وحدة تخزين; وحدة تحكم واحدة على سبيل EG-3000 للتحكم في جميع أجزاء المجمع; برنامج NSpec.

وهي مصممة للتحقيقات المعقدة للخصائص الفيزيائية للسطح بطرق الفحص المجهري البصري الكلاسيكي ، الفحص المجهري بالليزر متحد البؤر ، التحليل الطيفي متحد البؤر والمسح المجهري للمسبار (الفحص المجهري للقوة الذرية). فإنه يسمح الحصول على أطياف كاملة من رامان (رامان) تشتت و/أو مضان ، ليزر متحد البؤر والصور الطيفية متحد البؤر (رسم الخرائط السطحية) ، СЗМ (АСМ) الصور. تصميم مجمع Centaur I يسمح باستخدام كل من تقنيات منفصلة (على سبيل المثال ، المجهر متحد البؤر/التحليل الطيفي) والجمع بين التقنيات (بما في ذلك الجمع بين حقول المسح ، АСМ/Раман الدراسات ، الخ.).