مثخن 55СГ

المواصفات الفنية: البعد البؤري (الإخراج): 750 مم الافتتاح النسبي (عند المدخل): 1/8 ، 9 طيف الدقة هو 0.015 و 0.0008 (إيشيل) نانومتر في الطول. عرض: 1.02 و 0.055 (إيشيل) نانومتر / مم الفرق: دقة طيفية عالية ، محيط مثالي للخطوط الطيفية.

تم تصميم محلل حجم الجسيمات Микросайзер 201 لقياس توزيعات في حجم الجسيمات في البيئة السائلة. يتراوح حجم الجسيمات: لنموذج 201А -من 0.2 إلى 300 ميكرون لطراز 201С -من 0.2 إلى 600 ميكرون المواصفات: كاشف-مصوفة الثنائي الضوئي عدد قنوات التسجيل 38 وحدة إعداد العينة SP-306:  حجم الغرفة هو 100 مل  جهاز تغذية العينة-مضخة الطرد المركزي  تردد الإشعاع بالموجات فوق الصوتية هو 50 كيلو هرتز  قوة الموجات فوق الصوتية-تصل إلى 200 واط (قابل للتعديل) إدارة-كمبيوتر شخصي الأبعاد (الطول -العرض - العلو) ، الوزن:  وحدة بصرية: للطراز 201А -670 * 335 * 200 مم ، 21 كجم   لطراز 201С -670 * 335 * 200 مم ، 23 كجم  وحدة تحضير العينات: SP -306-420 * 335 * 395 مم ، 20 كجم

الخصائص التقنية: مخطط بصري: مخطط بصري هيل معدل مع تعويض الاستجماتيزم ، قناتان طيفيتان مستقلتان إجمالي الفتح النسبي (عند المدخل): 1 / 4.2 البعد البؤري: 270 مم ضوء متناثر (20 نانومتر من الليزر): 2.5 س 10-5 التكبير الأفقي: 1.09 نانومتر ميزة: الأمثل للعمل مع أجهزة الكشف القائمة على اتفاقية مكافحة التصحر.

مسح المجهر التحقيق (СЗМ) جنبا إلى جنب مع المجهر الضوئي المباشر والمقلوب من فئة البحوث. الغرض منه هو البحث عن طريق طرق الفحص المجهري للقوة البصرية والذرية. Certus XYZ СЗМ المسح رئيس ل أفم التصوير (التضاريس بشكل عام) و/أو تحديد المواقع من التحقيق بالنسبة إلى سطح العينة; جهاز تحديد المواقع والمسح الضوئي(XY(Z) بيزوستوليك) راتيس لتحديد المواقع العينة بالنسبة إلى مجال الرؤية من المجهر و/أو مسح العينة; مجهر بصري مباشر (Olympus BX 51 كمعيار) لعرض موضوع البحث وتوجيه المسبار إلى موضوع البحث أو وضع العينة بالنسبة إلى مجال رؤية المجهر; مجهر بصري مقلوب (Olympus IX 71 كمعيار) لعرض موضوع البحث وتوجيه المسبار إلى موضوع البحث أو وضع العينة بالنسبة إلى مجال رؤية المجهر; الميكانيكية Z الحركة للعدسة; حركة بيزو أحادية المحور للعدسة المتجهة للحصول على دقة تركيز إضافية, التركيز التلقائي والطبقات واسعة المجال 3D الصور; جهاز تحديد المواقع عينة لاختيار منطقة على سطح أو في وحدة تخزين; وحدة تحكم واحدة على EG-3000 للتحكم في جميع أجزاء المجمع; برنامج NSpec.

وهي مصممة لإجراء دراسات شاملة لخصائص السطح باستخدام الفحص المجهري البصري والتحليل الطيفي والمسح المجهري للمسبار. انها تسمح للحصول على كامل تشتت رامان و / أو أطياف مضان ، ليزر متحد البؤر والصور الطيفية متحد البؤر (رسم الخرائط السطحية) ، صور СЗМ. تصميم مجمع Centaur I HR يسمح لك للعمل مع كل من تقنيات منفصلة (على سبيل المثال ، المجهر القوة الذرية) والجمع بين التقنيات (АСМ-Раман ، ليزر متحد البؤر و АСМ).

يسيطر 14 محركات السائر عالية الدقة على جميع الأجزاء المتحركة من المجهر ، والبرمجيات الذكية تطمس الخط الفاصل بين الصورة البصرية و صورة التحقيق والمسح الضوئي . يوفر NEXT التكبير المستمر بدأ من الصور البصرية بانورامية 1 ملليمتر إلى القرار الذري ، والعمليات المتوسطة مثل تصويب الليزر لافتا إلى ناتئ ، وتحديد المواقع عينة ، "لينة" التغذية وتكوين تقنيات التحقيق والمسح الضوئي المتقدمة تحدث تلقائيا.

مسح المجهر التحقيق (СЗМ) جنبا إلى جنب مع المجهر الضوئي المباشر من فئة البحوث. الغرض منه هو البحث عن طريق طرق الفحص المجهري للقوة البصرية والذرية. Certus XYZ СЗМ المسح رئيس ل أفم التصوير (التضاريس بشكل عام) و/أو تحديد المواقع من التحقيق بالنسبة إلى سطح العينة; جهاز تحديد المواقع والمسح الضوئي(XY(Z) بيزوستوليك) Ratis لتحديد المواقع العينة بالنسبة إلى مجال الرؤية من المجهر و/أو مسح العينة; مجهر بصري مباشر (Olympus BX 51 كمعيار) لعرض موضوع البحث وتوجيه المسبار إلى موضوع البحث أو وضع العينة بالنسبة إلى مجال رؤية المجهر; الميكانيكية Z الحركة للعدسة; حركة بيزو أحادية المحور للعدسة المتجهة للحصول على دقة تركيز إضافية, التركيز التلقائي والطبقات واسعة المجال 3d الصور; جهاز تحديد المواقع عينة لاختيار منطقة على سطح أو في وحدة تخزين; وحدة تحكم واحدة على سبيل EG-3000 للتحكم في جميع أجزاء المجمع; برنامج NSpec.

تم تصميم التكسير المحزز لتقسيم (تقليل) عينات المواد السائبة إلى جزأين متساويين في الوزن وما يعادله في محتوى المكونات المكونة. الخصائص التقنية من СЖ 5-32 عرض الأخاديد ، مم 5 عدد الأخاديد ، جهاز كمبيوتر شخصى 32 حجم القسمة ، ل 0.6 الأبعاد الكلية ، مم ، ماكس: الطول / العرض / الارتفاع 225/126/150 الوزن ، كجم 4,8

NTEGRA Spectra II هو بالفعل الجيل الثاني من نظام القياس الذي يوضح توحيد عالمين بنجاح: التحيل الطيفي لرومانف و مجهر القوة الذرية. من رسم الخرائط الإغاثة إلى التحليل الطيفي من دراسات الخواص الكهربائية والميكانيكية للقياسات البصرية مع قرار أقل من حد الحيود. الآن يمكن للعلماء إجراء تحليل فيزيائي كيميائي كامل للخصائص السطحية للعينة في وقت واحد. نتيجة لذلك ، يتمتع الباحثون بفرص غير محدودة لتطوير تقنياتهم المختبرية.

NTEGRA Prima تنفذ عدة طرق المسح الضوئي: عينة المسح الضوئي ، التحقيق المسح الضوئي والمسح المزدوج. في هذا الصدد ، يعد النظام مثاليا لفحص العينات الصغيرة ذات الدقة العالية جدا ، وكذلك العينات الكبيرة في نطاقات المسح حتى 100 * 100 * 10 ميكرون. يسمح الوضع الفريد *DualScan * بالقياسات في الحقول الكبيرة (200-200 ميكرون في المستوى الأفقي و 22 ميكرون في الاتجاه الرأسي) ، والتي يمكن أن تكون مفيدة في دراسة الخلايا الحية ومكونات الأنظمة الكهروميكانيكية الدقيقة. تقوم مستشعرات التحكم في التغذية المرتدة السعوية المدمجة بثلاثة محاور بتتبع الإزاحة الحقيقية للماسح الضوئي وتعويض العيوب الحتمية للسيراميك ، مثل اللاخطية والزحف والتباطؤ. للتلاعب وأنماط الطباعة الحجرية ، والتنسيق الدقيق من ناتئ في حقول صغيرة تصل إلى 10 1 10 نانومتر مطلوب ، والتي يتم توفيرها من قبل أجهزة الاستشعار المثبتة في АСМ NTEGRA Primaمع نسبة إشارة إلى الضوضاء عالية. NTEGRA Prima لديه المدمج في نظام بصري مع قرار من 1 أوكتم ، والتي من الممكن لمراقبة عملية المسح في الوقت الحقيقي

وهي مصممة للتحقيقات المعقدة للخصائص الفيزيائية للسطح بطرق الفحص المجهري البصري الكلاسيكي ، الفحص المجهري بالليزر متحد البؤر ، التحليل الطيفي متحد البؤر والمسح المجهري للمسبار (الفحص المجهري للقوة الذرية). فإنه يسمح الحصول على أطياف كاملة من رامان (رامان) تشتت و/أو مضان ، ليزر متحد البؤر والصور الطيفية متحد البؤر (رسم الخرائط السطحية) ، СЗМ (АСМ) الصور. تصميم مجمع Centaur I يسمح باستخدام كل من تقنيات منفصلة (على سبيل المثال ، المجهر متحد البؤر/التحليل الطيفي) والجمع بين التقنيات (بما في ذلك الجمع بين حقول المسح ، АСМ/Раман الدراسات ، الخ.).

الخصائص التقنية: مخطط بصري: زوج من أحادي اللون تشيرني تيرنر مع طرح التشتت نطاق الطول الموجي: 185 نانومتر - 60 ميكرون الافتتاح النسبي (عند المدخل): 1 / 3.8 البعد البؤري: 300 مم و 350 مم ضوء متناثر (20 نانومتر من الليزر): 5 س 10-7 الدقة الطيفية: 0.07 نانومتر

المواصفات الفنية: مخطط بصري: أصلي مع طرح التباين نطاق الطول الموجي التشغيلي (كفاءة صريف > 40٪): 190-560 نانومتر الافتتاح النسبي (عند المدخل): 1 / 3.6 البعد البؤري (الإخراج): 160 مم ضوء متناثر (20 نانومتر من الليزر): 10-7 الدقة الطيفية (عرض الإدخال والشق المتوسط 0.22 مم) : 1.3 نانومتر

يتميز مطياف МС-1104 Е بالأداء العالي ودقة قياسات موسباور التي تحققت من خلال استخدام الهندسة "المضغوطة" ، فضلا عن استخدام وحدات الكشف عن التلألؤ الرنانة عالية الكفاءة والانتقائية ، والتي تعمل على تحسين دقة الطاقة لخطوط امتصاص الرنين بنسبة تصل إلى 30٪. تسمح تقنية تثبيت البرامج والأجهزة للمسار الطيفي الذي تم تطويره واستخدامه في مقياس الطيف بقياسات موسباور طويلة المدى دون تعديل يدوي. تسمح طريقة التعديل في نطاقات السرعة المحددة بزيادة حساسية القياسات وتعبيرها بشكل كبير وتقليل الوقت لتحديد حجم تأثيرات امتصاص الرنين عشرة أضعاف في دراسة انتقالات طور درجة الحرارة بتركيز منخفض لعناصر الرنين. يتم تطوير المكونات الإلكترونية لمقياس الطيف على أساس قاعدة عناصر حديثة باستخدام صفائف منطقية ومعالجات دقيقة قابلة للبرمجة. يتم دمج مسارات الطيف قابل للتعديل وإمدادات الطاقة عالية الجهد من المضاعف الكهروضوئي في وحدات الكشف ، وحدات سائق المغير والتخزين متعدد القنوات مصنوعة في معيار ISA وتقع في وحدة المعالج من الكمبيوتر. يتم إعداد ومراقبة جميع معلمات مطياف ومعالجة الأطياف المقاسة من نوافذ التشغيل لبرامج التحكم والمعالجة. منذ عام 2000 ، تم توفير أكثر من عشرة مطياف من هذا النوع للمنظمات العلمية الرائدة في روسيا والدول المجاورة. وتجدر الإشارة إلى أن واحدة من التطبيقات الصناعية القليلة من موسباور الطيفي هو تطوير وتوريد إلى فولغودونسك نب من МС-1104 М أساليب مصدقة ومطياف لرصد عمليات التآكل في دوائر التبادل الحراري للمفاعل مفاعل طاقة من الماء إلى الماء.(ВВЭР)-1000.

المحاسبة الفنية: المجهر: مجهر مباشر مع برج لـ 6 عدسات دقيقة ، مع إضاءة ديود للتشغيل في وضع المجال الفاتح/المظلم في الضوء المنعكس وكاميرا فيديو ملونة. يتم اختيار مجموعة العدسات بشكل فردي بناء على نوع العينات التي يتم قياسها. مطياف: مطياف عالي الأداء بموضع شبكي ثابت. بناء على نوع العينات التي يتم قياسها ، يتم اقتراح نوعين مختلفين من صريف الحيود لضمان النطاق المسجل الأمثل والدقة الطيفية. كاشف: كاشف خطي حساس للغاية. يتراوح نطاق الحساسية الطيفية من 200 إلى 1100 نانومتر. عدد البكسل: 4096, حجم البكسل: 7 * 200 ميكرون. الليزر: الليزر دبس مع الطول الموجي من 532 0 0.1 نانومتر ، قوة 50 ميغاواط. اختياري: ليزر ديود بطول موجة 785 0 0.1 نانومتر ، قوة 130 ميجاوات مع عازل بصري. الحساسية: الكشف عن ذروة السيليكون من الدرجة الثالثة. القرار المكاني: الجانبي (س ص) < 1 µ م ؛ محوري (ض) < 2 µ م. كاميرا الفيديو: لون (5 ميجابكسل على الأقل) مع إمكانية حفظ الصور على الكمبيوتر. عينة المسح الضوئي: اختياري. الدقة الآلي هو الجدول مع مجموعة من الحركات من 100 * 75 ملم والحد الأدنى من الملعب من 100 نانومتر.