محلل اللباب والتعليق والحلول ذو الأشعة السينية تشتت موجة AR-35

تم تصميم محلل الكبريت تشتت موجة ASV-2 لقياس جزء كتلة الكبريت في البنزين (الخالي من الرصاص) ، وقود الديزل ، النفط ، الكيروسين ، بقايا النفط ، قواعد زيت التشحيم ، الزيوت الهيدروليكية ، وقود الطائرات ، النفط الخام وغيرها من المنتجات البترولية المقطرة. محلل تشتت الموجة من الكبريت يسمح لك لأداء وظائف الكشف عن الكبريت سواء في وضع فراغ من غرفة القياس وفي وضع تطهير الهيليوم. للقيام بذلك ، تم تجهيز الجهاز بمجموعة من الملحقات لتوصيل المحلل بمحطة الهيليوم.

يجمع مطياف مضان الأشعة السينية SPECTROSCAN MAX-GF1(2)E-C بين طريقتين لعزل إشارة تحليلية: الحيود على البلورة (تشتت الموجة - WDX) وطريقة تشتيت الطاقة (EDX)، بالإضافة إلى تغذية العينات، المتكيفة مع تحليل الصور كبيرة الحجم Collimation إن الإشعاع الأولي لأنبوب الأشعة السينية والتصميم الخاص لتغذية العينة يجعل من الممكن تحليل عينة على مساحة 1 سم 2 بخطوة 1 مم، وبالتالي دراسة توزيع العناصر على المنطقة. تم تصميم مقياس الطيف لتحديد محتوى العناصر في النطاق من Ca إلى U في المواد الصلبة والمسحوقة والمذابة، وكذلك تطبيقه على الأسطح أو ترسيبه على المرشحات. باستخدام القنوات الثابتة المشتتة للطاقة، يمكنك تحديد أي عنصر أو عنصرين إضافيين في النطاق من المغنيسيوم (Mg) إلى الكالسيوم (Ca). وبمساعدة هذا التعديل للمطياف، يتم إجراء فحوصات الطب الشرعي والجمارك، وفحوصات الطب الشرعي والطب الشرعي، وكذلك الفحوصات الفنية.

تم تصميم محلل مضان الأشعة السينية التشتت موجة المتخصصة ، التي بنيت وفقا لمخطط كوشي ، لتحديد كمية عالية الدقة U, Th, Mo, Au, W, Tl, As, Pb, وغيرها العناصر في الخامات والصخور وفي تطوير الودائع من صنع الإنسان. القدرة على تحديد مجموعات العناصر دون إعادة تكوين محلل الكريستال. دقة عالية بشكل استثنائي للمخطط البصري للأشعة السينية وفقا لكوشي مع محلل كريستال كوارتز 1011. دعم رياضي متقدم. يعتمد مبدأ تشغيل المحلل على إثارة الإشعاع الفلوري لذرات عينة مادة الاختبار عن طريق الإشعاع من أنبوب الأشعة السينية. يتحلل الإشعاع الفلوري إلى طيف بواسطة طريقة كوشي. يتم تمييز الإشعاع الفلوري للعنصر المكتشف الذي يركز عليه محلل الكريستال والخط القياسي في دائرة رولاند البؤرية. ثم يتم تسجيلها بدورها بواسطة كاشف الأشعة السينية. تتناسب شدة الإشعاع الفلوري المسجل بطول موجي معين بشكل مباشر مع الجزء الكتلي للعنصر الكيميائي في المادة قيد الدراسة.

تم تصميم مقياس الطيف لتحديد محتوى العناصر في النطاق من Ca إلى U في المواد الصلبة والمسحوقة والمذابة، وكذلك تطبيقه على الأسطح أو ترسيبه على المرشحات. يعتمد مبدأ تشغيل جهاز المطياف على تشعيع عينة بالإشعاع الأولي من أنبوب الأشعة السينية، وقياس شدة إشعاع الفلورسنت الثانوي من العينة عند الأطوال الموجية المقابلة للعناصر التي يتم تحديدها، ثم الحساب اللاحق للجزء الكتلي من هذه العناصر. عناصر تستخدم خاصية معايرة تم إنشاؤها مسبقًا، والتي تمثل اعتماد محتوى العنصر الذي يتم تحديده على الكثافة المقاسة. يتحلل إشعاع الفلورسنت الثانوي إلى طيف باستخدام بلورة محلل. وبفضل هذا، يتمتع مقياس الطيف بدقة عالية، وبالتالي القدرة على تحليل المواد المعقدة متعددة المكونات بدقة.

تم تصميم محلل الكبريت تشتت الطاقة AS-2 لقياس جزء كتلة الكبريت في البنزين الخالي من الرصاص ، وقود الديزل ، النفط الخام ، الكيروسين ، بقايا النفط ، قواعد زيوت التشحيم ، الزيوت الهيدروليكية ، وقود الطائرات وغيرها من المنتجات البترولية المقطرة. إن إشعاع الأشعة السينية لأنبوب الأشعة السينية منخفض الطاقة ، والذي يتم تحويله بواسطة مرشح إشعاع أولي ، يثير الإشعاع الفلوري لذرات العينة التي تم تحليلها. تدفقات (إشعاع الأشعة السينية الأولية المنتشرة على العينة والتألق الثانوي) من الإشعاع تقع على عداد الغاز النسبي ، في حين يتم فصل الإشعاع الفلورسنت من ذرات الكبريت ( ) من الإشعاع مع الطاقات الأخرى باستخدام مرشحات انتقائية. تتناسب شدة الانبعاث الفلوري لذرات الكبريت المسجلة بواسطة مقياس نسبي للغاز مع الكسر الكتلي للكبريت في العينة التي تم تحليلها.

SRM-35 على أساس الخبرة التشغيلية المعممة ومتطلبات المستهلك والمعرفة الحديثة والإنجازات التكنولوجية. الجيل الجديد من أجهزة قياس الطيف هو نظام مؤتمت بالكامل يوفر متطلبات تحليلية عالية من الدقة والحساسية والسرعة والموثوقية على مستوى عالمي. يتيح لك البرنامج متعدد الوظائف تحليل حالة الجهاز وتكوينها واختبارها بشكل ملائم وفعال.

يجمع مطياف مضان الأشعة السينية SPECTROSCAN MAX-GF1(2)E بين طريقتين لعزل الإشارة التحليلية: حيود البلورات (تشتت الموجة - WDX) وطريقة تشتت الطاقة (EDX). تم تصميم جهاز المطياف لتحديد محتوى العناصر في النطاق من Ca إلى U في المواد الصلبة والمسحوقة والمذابة وكذلك المطبقة على الأسطح أو المترسبة على المرشحات، وباستخدام القنوات الثابتة المشتتة للطاقة، يمكنك تحديد أي عنصر أو عنصرين إضافيين تتراوح من المغنيسيوم (Mg) إلى الكالسيوم (Ca). يعتمد مبدأ تشغيل جهاز المطياف على تشعيع عينة بالإشعاع الأولي من أنبوب الأشعة السينية، وقياس شدة إشعاع الفلورسنت الثانوي من العينة عند الأطوال الموجية المقابلة للعناصر التي يتم تحديدها، ثم الحساب اللاحق للجزء الكتلي من هذه العناصر. عناصر تستخدم خاصية معايرة تم إنشاؤها مسبقًا، والتي تمثل اعتماد محتوى العنصر الذي يتم تحديده على الكثافة المقاسة.

تم تصميم مقياس الطيف لتحديد محتوى العناصر في النطاق من Na إلى U في المواد الصلبة والمسحوقة والمذابة، وكذلك تطبيقه على الأسطح أو ترسيبه على المرشحات. يعتمد مبدأ تشغيل مطياف الأشعة السينية على تشعيع عينة بالإشعاع الأولي لأنبوب الأشعة السينية، وقياس شدة إشعاع الفلورسنت الثانوي من العينة عند الأطوال الموجية المقابلة للعناصر التي يتم تحديدها، ثم الحساب اللاحق لـ الجزء الكتلي من هذه العناصر باستخدام خاصية المعايرة التي تم إنشاؤها مسبقًا، والتي تمثل اعتماد محتوى العنصر الذي يتم تحديده على الكثافة المقاسة. يتحلل إشعاع الفلورسنت الثانوي إلى طيف باستخدام بلورة محلل. وبفضل هذا، يتمتع مطياف الأشعة السينية بدقة عالية، وبالتالي القدرة على تحليل المواد المعقدة متعددة المكونات بدقة.