Поиск

3 тов.
Вид:
  • В поиск в реестре ПО
  • Выбрано: 0
    Тип ПО
  • Выбрано: 0
    Применение
    • Выбрано: 0
      Компания
    • Выбрано: 1
      Производство
    • Выбрано: 0
      Дополнительно
      Все фильтры
      • 3
        Тип ПО
      • 0
        Применение
        • 1
          Компания
        • Производство
        • 0
          Дополнительно
          Вид:
          3 тов.
          Программное обеспечение для электронной и световой Микроскопии ImageSP
          Программное обеспечение для электронной и световой Микроскопии ImageSP
          ImageSP – это мощная система, разрабатываемая SYSPROG совместно с TRS, для электронной и световой микроскопии. ImageSP представляет собой многофункциональную рабочую среду для получения, обработки, анализа и хранения изображений, а также генерации отчетов. Программа состоит из основного модуля и дополнительных модулей. Опциональными модулями ImageSP являются: коррекция дрейфа, панорамирование, EFTEM, анализ частиц, машина скриптов, а также анализ картин микродифракции.
          Произведено в: Беларусь, Минск
          Программное обеспечение для Спектроскопии SpectraSP
          Программное обеспечение для Спектроскопии SpectraSP
          SpectraSP – это мощная система для управления процессом спектроскопических измерений и обработки данных при работе со всеми спектральными приборами производства компании SOL instruments: монохроматорами, спектрометрами, спектрографами, и аналогичным оборудованием. Программа предоставляет комплексную рабочую среду для спектрального анализа и обработки временных рядов, используя весь потенциал контролируемого прибора, а также расширяя его множеством дополнительных функциональных возможностей, таких как калибровка по длинам волн, коррекция фона, сканирование панорамного спектра.
          Произведено в: Беларусь, Минск
          Программное обеспечение для конфокальной микроскопии NanoSP
          Программное обеспечение для конфокальной микроскопии NanoSP
          Система NanoSP обеспечивает: контроль всех автоматизированных узлов и модулей микроскопа; проведение спектральных измерений в выбранном месте образца; сканирование 1, 2 или 3-мерных карт образца, используя отраженный лазерный свет или Рамановский сигнал; а также анализ полученных данных.
          Произведено в: Беларусь, Минск