Тестер микросхем FORMULA HF3
Тестеры на платформе FORMULA® HF3 представлены двумя базовыми моделями — FORMULA® HF3 и FORMULA® HF3–512 и предназначены для функционального и параметрического контроля быстродействующих СБИС широкой номенклатуры: микроконтроллеров, статической и динамической памяти (ЗУ), СБИС на БМК, ASICs, ПЛИС и др. с числом сигнальных выводов до 256/512 и частотой функционирования до 200 МГц.
В комплекте с адаптером PRIMA Тестеры позволяют измерять статические параметры микросхем АЦП и ЦАП до 14 разрядов.
НАЗНАЧЕНИЕ И ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ
Область применения Тестеров — испытания и контроль качества на всех стадиях жизненного цикла СБИС, включая:
Испытания и исследования вновь разработанных типов микросхем
Производственные и приемочные испытания серийной продукции: квалификационные, периодические, отбраковочные, приемо-сдаточные
Сертификационные испытания
Входной контроль
ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ
Наименование параметраДиапазоны и значения
Частота функционального контроля на канал12,5 кГц ... 200 МГц
Количество двунаправленных каналов64...256/512
Объем памяти векторов64 М
Объем памяти ошибок64 M
Диапазон напряжений задаваемых уровней−2...+7,5 В
Диапазон напряжений контролируемых уровней−2...+7,5 В
Основные измерительные источники питания - до 8/16 шт.0...6 В; ±250 мкА... ±4 А
Доп. измерительные источники питания – до 8/16 шт.−2...15 В; ±200 нА...±400 мА
Многоканальные измерители стат. параметров - до 8/16 шт.−2...8,5 В; ±200 нА...±150 мА
Поканальные измерительные источники – до 256/512 шт.−2...8,0 В; ±2 мкА... ±32 мА
Длительность фронта и среза импульса(0,7 ±0,15) нс
Минимальная длительность импульса(1,65 ±0,15) нс
Основная погрешность формирования входного перепада±200 / ±250 пс
Основная погрешность формирования выходного перепада±150/±250 пс
Основная погрешность формирования моментов времени от воздействия до контроля±200 пс
Общая временная погрешность (OTA)±350 пс
Разрешение по времени33 пс
Погрешность задания/измерения напряжения основными измерительными источниками0,05%±2,5 мВ
Погрешность задания/измерения тока основными измерительными источниками0,3%±0,5 мА
Погрешность задания/измерения напряжения дополнительными измерительными источниками0,1%±3 мВ
Погрешность задания/измерения тока дополнительными измерительными источниками0,3%±4 нА
Погрешность задания/измерения напряжения многоканальным измерителем статических параметров0,1%±500 мкВ
Погрешность задания/измерения тока многоканальным измерителем статических параметров0,3%±4 нА
Выходное сопротивление(50 ±5) Ом
Программируемая активная динамическая нагрузка35 мА на канал
Режим «мультисайт» для параллельных измерений ИМСЕсть
Алгоритмический генератор тестов (AГТ)8X, 8Y, 8DL, 8DH/ 32 канала
Операционная системаWindows 7
Интерактивная среда разработки и отладки программ контроля, выполнения измерений, документирования и анализа данных, метрологического и диагностического сервисаFormHF
Языки программированияC++, Pascal
Габариты измерительного блока (Ш×В×Г)/ масса1033×558×768 мм /130 кг
Потребляемая мощность, не более3 кВт/6 кВт
Система охлажденияВоздушное охлаждение
Произведено в: Москва