Поиск

Рентгеновский дифрактометр ДСО-2Г (рис.1) предназначен для автоматического уточнения ориентации монокристаллов кремния относительно поверхности кристалла, для полуавтоматического уточнения разориентации геометрической и кристаллографической осей, а также для ручного определения и автоматического уточнения ориентации базового среза. Метод измерения основан на анализе дифракционных отражений, получаемых при вращении маломощного источника рентгеновского излучения около анализируемой поверхности неподвижного монокристалла. При этом пространственное положение анализируемой поверхности определяется с помощью лазерного датчика расстояния.

Двухкристальный автоматический трехкружный рентгеновский дифрактометр ДСО-2П (DSO-2P) (рис.1) предназначен для автоматического уточнения ориентации монокристаллических пластин относительно поверхности кристалла, включая уточнение направления базового среза. Метод измерения основан на анализе дифракционной картины, получаемой при вращении источника рентгеновского излучения вокруг брэгговской оси, лежащей в плоскости поверхности образца.

Приставка ПДП-1 с пятью степенями свободы к рентгеновскому дифрактометру ДРОН-3(4, 6, УМ1) предназначена для автоматического картирования монокристаллических пластин и эпитаксиальных структур по дифракционным характеристикам двухкристальных кривых качания. Приставка ПДП-1 включает в себя модернизацию гониометра ГУР-8 или ГУР-9 (два шаговых двигателя, два угловых датчика и новый редуктор), новую стойку рентгеновской трубки, новую стойку коллиматора (монохроматора), оригинальный сцинтилляционный детектор на новом кронштейне, специализированный компактный блок управления и оригинальное программное обеспечение.

МД-10 - рентгеновский дифрактометр, обеспечивающий неразрушающий метод рентгеноструктурного анализа поликристаллических веществ. Метод основан на явлении дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решетке. Измеряя углы и интенсивности дифракционных пиков можно определить параметры кристаллической решетки, провести качественный и количественный фазовый состав вещества, уточнить модификацию (фазу) конкретного соединения, например по базе данных типа JCPDS-ICDD.

Принцип работы Photocor Compact основан на методе динамического рассеяния света. Прибор соответствует международному стандарту измерения размеров частиц ISO 22412:2008. Измерение размеров частиц проводится под углом 90 градусов. В качестве опции доступен модуль обратного рассеяния для измерений под углом 160 градусов. Данный опция позволяет проводить измерения размеров частиц в концентрированных и непрозрачных системах. Благодаря встроенному в программное обеспечение макроязыку есть возможность автоматизировать процесс измерений. Конструкция кюветного отделения и большой выбор адаптеров позволяют использовать различные цилиндрические и квадратные кюветы.

Важной особенностью модели Photocor Compact-Z является возможность измерения дзета-потенциала. Это значительно расширяет область применения прибора. Информация о величине дзета-потенциала важна во многих производственных и исследовательских задачах. Для измерения дзета-потенциала используется метод электрофоретического рассеяния света.

Прибор позволяет проводить измерения методами статического и динамического рассеяния света в широком диапазоне углов рассеяния. Прибор эффективен для традиционных для рассеяния света физико-химических исследований, а также для применения в нанотехнологии, биохимии и биофизике.

Lumas SOLID – Специализированная система, предназначенная для прямого анализа твердофазных материалов методом масс-спектрометрии. Система позволяет проводить элементный и изотопный анализ образцов, в том числе профилирование по глубине (послойный анализ). Lumas SOLID – универсальный инструмент для решения задач современного материаловедения. ОСОБЕННОСТИ: Прямой анализ твердофазных образцов без растворения; Монолитные и порошковые пробы; Определение любых химических элементов (в т.ч. F, O, N, Cl, U, Th, РЗЭ); Одновременное определение микропримесей и основных компонентов; Элементный и изотопный анализ; Профилирование по глубине; Низкие пределы обнаружения; Отсутствие перегрева пробы. Технические характеристики: Способ ионизации - Плазма импульсного тлеющего разряда; Разрядный газ - Аргон, расход менее 1 л/час; Масс-анализатор Времяпролетный с бессеточным ионным зеркалом; Разрешающая способность 4000; Количество одновременно определяемых компонентов Не ограничено; Диапазон массовых чисел 1-2000 а.е.м.; Разрешение (m/Δm на полувысоте пика) до 6000; Пределы обнаружения при твердофазном анализе 1–100 ppb; Послойное разрешение До 5 нм; Глубина анализа До 30 мкм; Время на один анализ твердого образца 30 минут; Вакуумная система - 1 Форнасос и 2 ТМН; Габаритные размеры, 1450×800×1550 мм.

Подключаемый к ИК фурье-спектрометрам «ФТ-801» и «Инфралюм ФТ-801» широкодиапазонный ИК микроскоп серии “МИКРАН” предназначен для исследования образцов размером от 10 микрон, в том числе, неоднородных по составу. При работе на ИК микроскопе у оператора есть возможность наблюдать исследуемый объект с увеличением свыше 200Х как с помощью бинокуляра, так и на мониторе с использованием цифровой видеокамеры, при фотометрировании выделять с помощью диафрагм интересующий локальный участок произвольной формы, а также “сканировать” поверхность образца, наблюдая в режиме реального времени получаемый спектр.

Предназначена для контроля процессов в реакторах, вакуумных камерах, газовых магистралях и т.п.

Прибор более высокого уровня с предельной чувствительностью и дополнительным набором функций, позволяющих расширить возможности при проведении спектральных исследований: · револьверный механизм с 4 сменными объективами – зеркальный ИК 15Х, НПВО, линзовый 4Х, линзовый 10Х; · регистрация спектров в режимах зеркального и диффузного отражения, пропускания и НПВО; · повышенная чувствительность, позволяющая регистрировать спектры микрообъектов с размерами от 5 мкм; · встроенная панель управления с расширенными функциями; · система автоматизированного картирования; · прямоугольная щелевая диафрагма выполнена из специального стекла – после выделения фрагмента пользователю доступно для просмотра и остальное поле зрения, что значительно упрощает фотометрирование протяженных поверхностей с локальными неоднородностями; · специализированное программное обеспечение для управления микроскопом и обработки результатов. Для работы с ИК микроскопом требуется жидкий азот.