Поиск

Компактные размеры Полная автоматизация системы Оригинальная конструкция спектрометра Высокая светосила прибора с минимальными оптическими потерями. Конфокальная схема выполнена по оригинальной схеме, обеспечивает компактные размеры и минимальные дрейфы оптических элементов. Встроенный оптический микроскоп обеспечивают удобный поиск места для измерений. В конструкции применены прецизионные механические комплектующие и оптика. Может быть использован как в условиях промышленных лабораторий, так и в исследовательских университетах

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с прямым оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии. cканирующая XYZ СЗМ головка Certus для получения АСМ изображений (топографии в общем случае) и/или позиционировния зонда относительно поверхности образца; устройство позиционирования и сканирования (XY(Z) пьезостолик) Ratis для позиционирования образца относительно поля зрения микроскопа и/или проведения сканирования образцом; прямой оптический микроскоп (Olympus BX 51 в базовой комплектации) для отображения объекта исследований и наведения зонда на объект исследований или позиционирование образца относительно поля зрения микроскопа; механическая Z-подвижка для объектива; однокоординатная пьезо подвижка для объектива Vectus для дополнительной точности фокусировки, автоматической фокусировки и получения послойных широкопольных 3D изображений; устройство позиционирования образца для выбора участка на поверхности или в объеме; единый контроллер EG-3000 для управления всеми частями комплекса; программное обеспечение NSpec.

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) начального уровня Плоскопараллельное сканирование по осям X, Y,Z позволяет получать изображение поверхности и проводить последующее редактирование изображения с минимальными искажениями и потерями информации; открытый дизайн сканирующей головки позволяет производить наблюдение за поверхностью исследуемого образца под углом 0-90°, устанавливать дополнительные устройства и оборудование; модульная конфигурация позволяет устанавливать сканирующий зондовый микроскоп Certus Light на традиционные оптические микроскопы (прямые или инвертированные), совмещать с оптическими приборами и модернизировать этот прибор до модификаций.

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur I позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

Прибор предназначен для создания, поддержания и контроля заданных условий промораживания дисперсных грунтов с целью определения степени пучинистости в соответствии с ГОСТ 28622-2012.

Базовая конфигурация сканирующего зондового микроскопа Certus, предназначенная для решения широкого класса исследовательских и аналитических задач. плоскопараллельное сканирование по осям X, Y,Z позволяет получать изображение поверхности и проводить последующее редактирование изображения с минимальными искажениями и потерями информации; Сканирования как зондом (обычный сканер внутри сканирующей головки Certus), так и сверхбыстрым XYZ сканером образца. плоскопараллельный подвод зонда к образцу решает проблему трудоемкого ручного подвода зонда к образцу. Подвод осуществляется тремя моторизированными опорами; открытый дизайн сканирующей головки позволяет производить наблюдение за поверхностью исследуемого образца под углом 0-90°, устанавливать дополнительные устройства и оборудование; модульная конфигурация позволяет устанавливать сканирующий зондовый микроскоп Certus Standard на традиционные оптические микроскопы (прямые или инвертированные), совмещать с оптическими приборами и модернизировать этот прибор до модификаций Certus Optic и Centaur; реализованы основные СЗМ методики. Для изменения режима работы сканирующего зондового микроскопа (например, переход от работы в режиме атомно-силового микроскопа в режим сканирующего туннельного микроскопа) достаточно сменить держатель зондов.

Плоскопараллельный сканирующий пьезостолик. Устройство представляет собой монолитное металлическое тело (из высококачественного сплава, обычно из алюминиевого), в котором электроэрозией и другими методами прецизионной обработки сформированы каналы для пьезокерамических актюаторов, подвижные элементы столика и т.п. Такая конструкция обеспечивает отличную линейность и плоскостность перемещения, в отличие от классических сканеров на основе пьезотрубок, поверхностью сканирования в которых является сфера. Кроме того, плоскопараллельные сканеры обладают высокой механической прочностью по сравнению с хрупкими пьезотрубками.

Обозначение СНОЛ 11.47.4/2,5 П И2 Температура, оС 250 Мощность камеры, кВт 16 Длина оправки 1200...4600 Открывание крышки привод электрический.

NT-MDT S.I. представляет NTEGRA II, второе поколение самого популярного в мире АСМ. Благодаря дополнительным возможностям и расширенным функциям он обеспечивает беспрецедентный уровень модульности и гибкости, становясь настоящим партнером исследователя. Интеллектуальным, быстрым, надежным, точным и, несомненно, простым в использовании. Чтобы исключить влияние шумной среды, NTEGRA II поставляется в стандартном шкафу, обеспечивающем контроль температуры, акустическую и виброизоляцию. Такое сочетание раскрывает истинную природу NTEGRA II как самого стабильного АСМ в мире, обеспечивающего температурный дрейф на уровне менее 0,2 нм/мин.

14 высокоточных шаговых двигателей управляют всеми подвижными частями микроскопа, а интеллектуальное программное обеспечение стирает грань между оптическим и СЗМ изображением. НЕКСТ обеспечивает непрерывное увеличение от миллиметровых панорамных оптических изображений до атомарного разрешения, а такие промежуточные операции, как наведение лазера на кантилевер, позиционирование образца, «мягкий» подвод и конфигурация продвинутых СЗМ методик происходит автоматически.

● Диапазон увеличений: 50 - 800х ● Объективы сменные планахромат 5х/0,12, 10х/0,25, 20х/0,40, 40х/0,60 (по запросу), 50х/0,70, 80х/0,80 с увеличенным рабочим отрезком ● Окуляр 10х/18 мм ● Осветитель: Светодиодный осветитель со стабилизированным источником и встроенным аккумулятором. Регулировка освещения с линейным изменением интенсивности. Зарядное устройство в комплекте. ● Штатив микроскопа с регулировкой по высоте с ходом 35 мм. Возможность наклона штатива под углом ±20 градусов вперед и назад для съемки криволинейной поверхности без перемещения микроскопа с места крепления ● Перемещение объектива 30х30 мм по осям X-Y ● Рукоятки грубой и точной фокусировки ● Прочное магнитное крепление на 3-х точках с помощью шарнирных опор для крепления на стальных криволинейных выпуклых и вогнутых поверхностях, в том числе на гибах труб диаметром от 60 мм ● Противоскользящие насадки ● Крепление металлическое для немагнитных поверхностей с храповым механизмом ● Основание для закрепления микроскопа при стационарной работе ● Байонетное крепление для фотоаппарата ● Крепление c-mount для видеокамеры ● Заглушка транспортировочная для видеовыхода ● Кейс для переноски микроскопа с фотокамерой.

Обозначение СНОЛ 8.25.3/2,5 П И2 Температура, оС 250 Мощность камеры, кВт 12 Длина оправки 1500...2100 Открывание крышки ручное.