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Dispositif de préparation d'électrodes en graphite Crater-2
Dispositif de préparation d'électrodes en graphite Crater-2
Machine pour la préparation des électrodes en graphite cratère-2. Dans la machine, deux types de coupeurs peuvent être installés simultanément, par exemple sur un cratère et un cône.
Produit en: Novossibirsk
Spectromètre d'émission optique mobile pour l'analyse des métaux DFS-100M
Spectromètre d'émission optique mobile pour l'analyse des métaux DFS-100M
Caractéristiques techniques: Gamme de concentrations mesurées 0,005% - dizaines % Gamme spectrale 178-410 nm Récepteurs d'émission de 4 détecteurs multiéléments Erreur relative (en fonction de la concentration) 1%...20% Temps d'analyse 10...40 s Exigences d'argon 99,998% Alimentation Secteur 2208 50 Hz, batterie Consommation électrique en mode analyse dot kW Poids de la console TG Poids du module optique 2.5 kg
OKB Spectre
Saint-Pétersbourg
Produit en: Saint-Pétersbourg
Microscope à sonde à balayage Certus Light V
Microscope à sonde à balayage Certus Light V
Microscope à sonde à balayage Certus Light V est une version compacte du SPM avec une fonctionnalité et un coût minimes. La principale différence par rapport à la version principale de Certus Light est la numérisation de l'échantillon et un système d'alimentation plus précis. L'instrument se compose d'une tête de lecture en porte-à-faux, d'un scanner plat multifonctionnel, d'un système d'alimentation et d'une installation de la tête. L'appareil fonctionne avec une configuration minimale de l'unité de commande électronique intégrée directement dans le corps principal, c'est-à-dire l'appareil est un monobloc. Il est possible de contrôler à distance l'appareil via une tablette avec l'utilisation d'un LOGICIEL spécialisé pour le système d'exploitation Android.
Produit en: Dolgoprudny, Région de Moscou
Complexe d'émission atomique de Grand Globula
Complexe d'émission atomique de Grand Globula
Le complexe d'émission atomique "Grand-Globula" comprend un spectromètre "Grand", un générateur spectroanalytique "Lightningball" et un trépied "Globula". Vous permet d'analyser diverses substances et matériaux dans les décharges d'arc et d'étincelles dans l'air, par exemple selon GOST 17818.15-90 "Graphite. Méthode d'analyse spectrale", GOST 9717.1-82 "Cuivre. Méthode d'analyse spectrale utilisant des échantillons métalliques standards avec photoélectrique enregistrement du spectre" et autres MVI.
Produit en: Novossibirsk
Machine-outil BEAVERMILL MINI
Machine-outil BEAVERMILL MINI
La BEAVERMILL Mini n'occupe que 1m2 et les zones de service à gauche, à droite et à l'arrière ne sont pas nécessaires. La machine peut être placée près du mur, dans des niches entre les murs, ainsi que près d'autres équipements. En raison de son poids léger et de sa compacité, le BEAVERMILL Mini peut être transporté dans un ascenseur de fret, déplacé dans des couloirs étroits et à travers de petites ouvertures de portes de bureau. L'installation et l'utilisation de la machine sont possibles dans les laboratoires de recherche, les bureaux et d'autres sites de type non-production.
Produit en: Moscou
Analyseur Maes pour scintillation
Analyseur Maes pour scintillation
Les analyseurs AME pour l'enregistrement des spectres d'émission atomique avec une résolution temporelle de 1 MS sont basés sur des photodiodes très sensibles et une carte de commutation spéciale pour la lecture simultanée de plusieurs sections de spectres. L'assemblage des règles est installé sur le spectromètre "grand" . Pour exciter les spectres d'émission atomique des échantillons de poudre, on utilise une installation "Flow" ou un plasmatron à arc à double jet. Le logiciel ATOM enregistre les raies spectrales sélectionnées et assure leur traitement selon des algorithmes donnés en tenant compte du nombre et de la luminosité des éclairs (c'est-à-dire de la grosseur des particules). L'enregistrement des spectres d'échantillons en poudre avec une résolution temporelle élevée permet d'évaluer le nombre et la taille des particules individuelles, d'identifier leur composition et de déterminer les concentrations d'éléments dans chaque particule, d'évaluer rapidement l'homogénéité de la distribution de certains éléments à déterminer et d'améliorer les capacités d'analyse spectrale sans modifier sensiblement la préparation des échantillons. Principaux domaines d'application: analyse de masse d'échantillons géologiques en poudre par scintillation pour déterminer l'or, l'argent, les métaux du groupe du platine, l'Iridium, le rhodium, etc. avec des limites de détection allant jusqu'à 0,01 g / t; détermination qualitative de la composition des inclusions et des particules de minéraux.
Produit en: Novossibirsk
Certus Standard-microscope à sonde à balayage (SPM), configuration de base
Certus Standard-microscope à sonde à balayage (SPM), configuration de base
La configuration de base du microscope à sonde à balayage Certus est conçue pour répondre à une large gamme de tâches de recherche et d'analyse. la numérisation parallèle à Plat sur les axes x, Y et Z permet d'obtenir une image de surface et d'effectuer une modification ultérieure de l'image avec un minimum de distorsion et de perte d'informations; Balayage à la fois par une sonde (un scanner ordinaire à l'intérieur de la tête de balayage Certus) et par un scanner d'échantillon XYZ ultra-rapide. l'introduction parallèle de la sonde à l'échantillon résout le problème de l'introduction manuelle laborieuse de la sonde à l'échantillon. L'alimentation est assurée par trois supports motorisés; la conception ouverte de la tête de balayage permet d'observer la surface de l'échantillon sous un angle de 0 à 90°, d'installer des appareils et des équipements supplémentaires; la configuration modulaire permet d'installer le microscope à sonde à balayage Certus Standard sur des microscopes optiques traditionnels (droits ou inversés), de les combiner avec des instruments optiques et de les mettre à niveau vers les versions Certus Optic et Centaur; mise en œuvre des principales techniques SPM. Pour changer le mode de fonctionnement du microscope à sonde à balayage (par exemple, passer d'un mode de microscope à force atomique à un mode de microscope à tunnel à balayage), il suffit de changer le support de sonde.
Produit en: Dolgoprudny, Région de Moscou