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Microscope à sonde à balayage SMM-2000

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Microscope à sonde à balayage SMM-2000

Visualisation et mesure des grains et des défauts de la structure des matériaux, résolution des atomes (prix Nobel 1986), remplacement des microscopes métallographiques et électroniques

Augmentation: de X2 mille à X10 millions.
Plage de mesure: 0.2 nm à 30 µm
Tous les modes de base (STM, contact et vibro-AFM), et plus de 25 modes supplémentaires.