جستجو کردن

ویژگی های فنی: میکروسکوپ: میکروسکوپ مستقیم نیکون ni با برج برای 6 لنز میکرو ، با یک روشن کننده دیود برای کار در حالت میدان نور در نور منعکس شده و یک دوربین نظارت تصویری رنگی*. مجموعه لنز بر اساس نوع نمونه های اندازه گیری شده به صورت جداگانه انتخاب می شود. گره فیلترهای برش (برش) ، محدوده اندازه گیری طیف های رامان: فیلترهای لبه قابل تعویض خودکار*** که عملکرد را در محدوده های زیر فراهم می کنند: 532 نانومتر: از 60 سانتی متر - 1 تا 4500 سانتی متر-1 633 نانومتر: از 60 سانتی متر - 1 تا 4500 سانتی متر-1 785 نانومتر: از 50 سانتی متر - 1 تا 2900 سانتی متر-1 طیف سنج: طیف سنج اسکن بسیار کارآمد با اپتیک طراحی شده برای محدوده: 400-1100 نانومتر.** شبکه های دیفرانکشن: تا 4 شبکه نصب شده در یک برج دقیق خودکار: 2400 shtr/mm ، 1800 shtr/mm ، 1200 shtr/mm ، 600 shtr/mm. امکان استفاده از شبکه Echelle. آشکارساز: آشکارساز Ccd بسیار حساس با خنک کننده ترمو الکتریکی. محدوده حساسیت طیف: 200-1100 نانومتر. تعداد پیکسل: 2048x122 ، اندازه پیکسل: 12 میکرون ، خنک کننده: تا -40 °C یا fi آشکارساز CCD 1600x200 با خنک کننده تا -60 °C. وضوح طیف: 1.4 cm-1 (0.7 cm-1/pixel) با شبکه 2400 str/mm یا تا 0.3 cm-1 با شبکه Echelle (برای لیزر 532 نانومتر). سوراخ سوزن کانفوکال: مجموعه ای خودکار از دیافراگم های کانفوکال قابل تعویض (سوراخ سوزن): 10 میکرون ، 30 میکرون ، 40 میکرون ، 50 میکرون ، 100 میکرون ، 1000 میکرون. لیزر: تا سه لیزر با طول موج 405 ، 488 ، 532 ، 633 و 785 نانومتر را می توان با سوئیچینگ کاملا خودکار نصب کرد. اسکن نمونه: جدول دقیق خودکار XY (XYZ) با طیف وسیعی از حرکات 100x75 میلی متر و حداقل ارتفاع 100 نانومتر (XY) و 20 نانومتر (Z) یا XY (XYZ) جدول خودکار با طیف وسیعی از حرکات 115x75 میلی متر با رمزگذار. کالیبراسیون و اعتبارسنجی خودکار: لامپ Ne داخلی برای کالیبراسیون خودکار دستگاه. گارانتی استاندارد: مدت گارانتی 24 ماه می باشد. عمر لیزر تضمین شده: 10000 ساعت دستاوردهای اپتو الکترونیک و 25 سال تجربه شرکت در زمینه ابزار طیف و لیزر. ویژگی های فنی: میکروسکوپ: میکروسکوپ مستقیم نیکون ni با برج برای 6 لنز میکرو ، با یک روشن کننده دیود برای کار در حالت میدان نور در نور منعکس شده و یک دوربین نظارت تصویری رنگی*. مجموعه لنز بر اساس نوع نمونه های اندازه گیری شده به صورت جداگانه انتخاب می شود. گره فیلترهای برش (برش) ، محدوده اندازه گیری طیف های رامان: فیلترهای لبه قابل تعویض خودکار*** که عملکرد را در محدوده های زیر فراهم می کنند: 532 نانومتر: از 60 سانتی متر - 1 تا 4500 سانتی متر-1 633 نانومتر: از 60 سانتی متر - 1 تا 4500 سانتی متر-1 785 نانومتر: از 50 سانتی متر - 1 تا 2900 سانتی متر-1 طیف سنج: طیف سنج اسکن بسیار کارآمد با اپتیک طراحی شده برای محدوده: 400-1100 نانومتر.** شبکه های دیفرانکشن: تا 4 شبکه نصب شده در یک برج دقیق خودکار: 2400 shtr/mm ، 1800 shtr/mm ، 1200 shtr/mm ، 600 shtr/mm. امکان استفاده از شبکه Echelle. آشکارساز: آشکارساز Ccd بسیار حساس با خنک کننده ترمو الکتریکی. محدوده حساسیت طیف: 200-1100 نانومتر. تعداد پیکسل: 2048x122 ، اندازه پیکسل: 12 میکرون ، خنک کننده: تا -40 °C یا fi آشکارساز CCD 1600x200 با خنک کننده تا -60 °C. وضوح طیف: 1.4 cm-1 (0.7 cm-1/pixel) با شبکه 2400 str/mm یا تا 0.3 cm-1 با شبکه Echelle (برای لیزر 532 نانومتر). سوراخ سوزن کانفوکال: مجموعه ای خودکار از دیافراگم های کانفوکال قابل تعویض (سوراخ سوزن): 10 میکرون ، 30 میکرون ، 40 میکرون ، 50 میکرون ، 100 میکرون ، 1000 میکرون. لیزر: تا سه لیزر با طول موج 405 ، 488 ، 532 ، 633 و 785 نانومتر را می توان با سوئیچینگ کاملا خودکار نصب کرد. اسکن نمونه: جدول دقیق خودکار XY (XYZ) با طیف وسیعی از حرکات 100x75 میلی متر و حداقل ارتفاع 100 نانومتر (XY) و 20 نانومتر (Z) یا XY (XYZ) جدول خودکار با طیف وسیعی از حرکات 115x75 میلی متر با رمزگذار. کالیبراسیون و اعتبارسنجی خودکار: لامپ Ne داخلی برای کالیبراسیون خودکار دستگاه. گارانتی استاندارد: مدت گارانتی 24 ماه می باشد. عمر لیزر تضمین شده: 10000 ساعت

یک دستگاه ترکیبی برای اندازه گیری چسبندگی با روش برش های موازی یا شبکه ای (ISO 2409 ، GOST 15140-78 ، GOST 31149-2014 ، ASTM D3359) و همچنین با روش برش های X شکل (GOST 32702.2-2014 ، ISO 16276-2 و ASTM d 3359). تعیین چسبندگی با روش برش (موازی یا شبکه) برای پوشش های تا ضخامت 250 میکرون امکان پذیر است. می توان از آن در سطوح صاف و خمیده استفاده کرد. تعیین چسبندگی با برش X شکل برای پوشش های هر ضخامت امکان پذیر است.

زمینه های کاربرد: - آزمایشات با نیاز به ارتعاش بالا بر روی نمونه; - تحقیق در مورد نقاط کوانتومی; - فوتولومینسانس و میکروفوتولومینسانس (Micro-pl); - آزمایشات الکترو و مغناطیسی نوری; - طیف سنجی رامان (طیف سنجی رامان); - اثر مغناطیسی-نوری Kerr.

محدوده فرکانس 0.5-12.4 گیگاهرتز است. نوع شاخ ، دو شانه. قطبی شدن خطی است. افزایش از 0.5 تا 12.4 دسی بل است. ابعاد کلی 266 × 244 × 162 میلیمتر است. وزن 2.1 کیلوگرم

اتاق کار از فولاد ورق گالوانیزه ساخته شده است ، پوشش با مواد نسوز ساخته شده است. گرمایش توسط عناصر گرمایشی عنصر گرمایش انجام می شود. فن نصب شده در بالای محفظه گردش هوای اجباری ایجاد می کند و گرمایش یکنواخت محصولات را در دمای بیش از +250 درجه سانتیگراد تضمین می کند. این دستگاه مجهز به یک واحد کنترل ، مجهز به صفحه نمایش دیجیتال است. از شکستگی ترموکوپل محافظت می کند. مشخصات فنی Tmax ، °C 250 فضای کاری W×D×H ، mm 1100×2060×2680 ابعاد W×D×H ، mm 2750×2380×3320 قدرت / ولتاژ ، kW / V 40/380 m ، کیلوگرم 1400

فرستنده های نوری در جعبه های پلاستیکی 9 پین با ورودی/خروجی نوری ترکیبی برای کانکتورهای نوع SC در دسترس هستند.

UltraX یک ماده مهندسی ترکیبی است که بر اساس PA-6 و فیبر کربن (تا 30٪) است.

این روشن کننده در محدوده 190-3500 نانومتر کار می کند و شامل یک لامپ دوتریوم از Hamamatsu l2d2 (یا DDS-30) و یک Osram هالوژن 12v ، 20w است تا طیف مداوم در محدوده 190-3500 نانومتر را بدست آورد. لامپ ها با استفاده از یک آینه چرخشی که توسط یک سوئیچ خارجی یا از برنامه مونوکروماتور MDR-204 (MDR-206) کنترل می شود ، تغییر می کنند. راحتی این روشن کننده این است که کندانسور آینه موجود در آن یک تصویر بزرگ شده از بدن درخشان منبع تابش را بر روی شکاف ورودی تک رنگ کننده نمایش می دهد. این بدان معنی است که این روشن کننده نیازی به یک سیستم نوری اضافی برای تمرکز تابش بر روی شکاف ندارد. منابع تغذیه عملکرد پایدار طولانی مدت لامپ ها را تضمین می کند. در صورت درخواست ، این روشن کننده را می توان تنها با یکی از لامپ ها مجهز کرد: دوتریوم یا هالوژن.

مبدل ها برای اندازه گیری و تبدیل به یک سیگنال جریان واحد فشار گازهای غیر تهاجمی یا خلاء هنگام کار در سیستم های کنترل خودکار و خودکار ، تنظیم و کنترل فرآیندهای تکنولوژیکی در صنایع شیمیایی ، پتروشیمی ، گاز ، پالپ و کاغذ و سایر صنایع طراحی شده اند.

شبیه ساز آسمان پر ستاره پویا برای شبیه سازی قطعات آسمان پر ستاره در زمان واقعی طراحی شده است. نرم افزار ویژه توسعه یافته "شبیه ساز آسمان پر ستاره" به شما امکان می دهد یک تصویر ستاره دار و یک سناریو برای مدل سازی عملیات مختلف ایجاد کنید. شبیه ساز آسمان ستاره ای برای آزمایش زمینی سنسورهای جهت گیری ستاره ضروری است. استفاده از شبیه ساز به شما امکان می دهد حالت های مختلف عملکرد سنسورها را بررسی کنید ، مشکلات در عملکرد آنها را از بین ببرید. برنامه "شبیه ساز آسمان ستاره ای" با بازتولید انرژی و ویژگی های هندسی ستاره ها و صورت های فلکی تک ، شبیه سازی تابش از مناطق کره آسمانی را فراهم می کند. با استفاده از این برنامه ، تصویری از بخشی از آسمان پر ستاره با در نظر گرفتن اندازه زاویه ای ستاره ها و موقعیت نسبی آنها که توسط کاتالوگ های ستاره ای تعیین می شود و همچنین روشنایی ستاره ها ، روی یک میکرودیسپلی شبیه سازی می شود. هنگام استفاده از شبیه سازهای نجومی ، درجه بالایی از قابلیت اطمینان مدل سازی عوامل خارجی موثر بر ابزار فضایی مورد نیاز است. بنابراین ، برنامه "شبیه ساز آسمان پر ستاره" امکان مدل سازی عوامل تداخل محیط خارجی مانند پروتون های فضای بیرونی و روشنایی ناهموار میدان دید را فراهم می کند.

اسکنر MECO-met-موتور جستجو از ترکیب MECOS-C3 تصاویر دیجیتال (PSC) از آماده سازی های سیتولوژیک را به شکل گالری های تصویر صفحات متافاز تولید می کند. استفاده از MEKOS-C3-MECO-MET حساسیت روش تجزیه و تحلیل و بهره وری نیروی کار را افزایش می دهد ، شرایطی را برای افزایش حجم تحقیقات ، برای نگهداری جمعی محلی و از راه دور جریان تجزیه و تحلیل ، برای کنترل کیفیت و آموزش کارکنان ایجاد می کند. تعمیر و نگهداری MEKOS-C3-MECO-MET در آزمایشگاه می تواند توسط کارکنان جوان انجام شود. یک سیتوپاتولوژیست فقط می تواند با یک PSC روی مانیتور از ترکیب MEKOS-C3 یا از راه دور کار کند. گالری صفحه متافاز می تواند به طور خودکار به منبع ابر ترکیب برای مشاوره از راه دور ارسال شود.