طیف سنج 1S2133

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. . این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur Duos امکان استفاده از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و ترکیب تکنیک ها (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) را فراهم می کند.). میکروسکوپ ها). . این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur Duos امکان استفاده از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و ترکیب تکنیک ها (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) را فراهم می کند.).

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم کلاس تحقیق. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; حرکت مکانیکی Z برای لنز; حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم و معکوس کلاس تحقیقاتی. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; میکروسکوپ نوری معکوس (Olympus IX 71 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; حرکت مکانیکی Z برای لنز; حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

MD-10 یک طیف‌سنج اشعه ایکس است که روش غیر مخرب تجزیه و تحلیل دیفرانکشن اشعه ایکس مواد پلی کریستالی را فراهم می کند. این روش بر اساس پدیده پراش اشعه ایکس بر روی یک شبکه کریستالی است. با اندازه گیری زاویه ها و شدت قله های پراش ، می توان پارامترهای شبکه کریستالی را تعیین کرد ، ترکیب فاز کیفی و کمی یک ماده را انجام داد ، برای روشن کردن اصلاح (فاز) یک ترکیب خاص ، به عنوان مثال ، با استفاده از پایگاه داده JCPDS-ICDD.

میکروسکوپ سنج اسکن Certus Light V یک نسخه جمع و جور از SPM با حداقل عملکرد و هزینه است. تفاوت اصلی با نسخه اصلی Certus Light اسکن نمونه و سیستم تأمین دقیق تر است. این دستگاه شامل یک سر خواندن وضعیت کانتی لیور ، یک اسکنر مسطح چند منظوره ، یک سیستم تامین و نصب سر است. این دستگاه با حداقل پیکربندی یک واحد کنترل الکترونیکی که مستقیما در بدنه اصلی ساخته شده است کار می کند ، یعنی دستگاه یک بلوک است. امکان کنترل از راه دور دستگاه از طریق رایانه لوحی با استفاده از نرم افزار تخصصی برای سیستم عامل Android وجود دارد.

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur U اجازه می دهد تا از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال ، میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و تکنیک های ترکیبی (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) استفاده شود.).

طیف سنج برای اندازه گیری شدت خطوط تحلیلی عناصر شیمیایی طراحی شده است و با محاسبه مجدد آنها ، غلظت جرم عناصر از P(15) تا U(92) موجود در نمونه تجزیه و تحلیل شده (نمونه) را تعیین می کند. فرآیند تجزیه و تحلیل از مجموعه ای از داده ها و پردازش آنها تا به دست آوردن نتایج به شکل جدول غلظت عناصر قابل تشخیص خودکار و با استفاده از یک کامپیوتر شخصی انجام می شود. این طیف سنج می تواند در زمینه های مختلف علم و فناوری (اکولوژی ، زیست شناسی ، پزشکی ، کشاورزی ، صنایع غذایی ، زمین شناسی ، معدن ، ژئوفیزیک ، کنترل بهداشتی و اپیدمیولوژیک و غیره) مورد استفاده قرار گیرد.).

اسکن طیف سنج رامان کانفوکال با گزینه SPM ابعاد جمع و جور اتوماسیون کامل سیستم طرح اصلی طیف سنج دیافراگم بالا دستگاه با حداقل تلفات نوری. مدار کانفوکال با توجه به طرح اصلی ساخته شده است ، ابعاد جمع و جور و حداقل رانش عناصر نوری را فراهم می کند. میکروسکوپ نوری داخلی جستجوی مکان مناسب برای اندازه گیری را فراهم می کند. اجزای مکانیکی دقیق و اپتیک در طراحی استفاده می شود. هم در آزمایشگاه های صنعتی و هم در دانشگاه های تحقیقاتی قابل استفاده است.

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) مجهز به نگهدارنده های سنج تخصصی و تجهیزات نوری لازم برای انجام تحقیقات با استفاده از اثر نزدیک میدان. میکروسکوپ نوری نزدیک میدان بر اساس استفاده از خواص میدان نزدیک (evanescent) است که امکان غلبه بر حد پراش میکروسکوپ نوری کلاسیک را فراهم می کند. تمام میکروسکوپ های نزدیک میدان شامل چندین عنصر طراحی اساسی هستند: یک کاوشگر; سیستم حرکت سنج نسبت به سطح نمونه در امتداد مختصات 2 (X-Y) یا 3 (X-Y-Z) (سیستم اسکن); سامانه ثبت نام; سیستم نوری

میکروسکوپ سنج اسکن سطح ابتدایی (SPM) اسکن موازی هواپیما در امتداد محورهای X ، Y و Z به شما اجازه می دهد تا یک تصویر از سطح را بدست آورید و ویرایش تصویر بعدی را با حداقل تحریف و از دست دادن اطلاعات انجام دهید; طراحی باز سر اسکن امکان مشاهده سطح نمونه آزمایش را در زاویه 0-90 درجه ، نصب دستگاه ها و تجهیزات اضافی فراهم می کند; پیکربندی مدولار به شما امکان می دهد میکروسکوپ پروب اسکن نور Certus را بر روی میکروسکوپ های نوری سنتی (مستقیم یا معکوس) نصب کنید ، با دستگاه های نوری ترکیب کنید و این دستگاه را به تغییرات ارتقا دهید

ابعاد جمع و جور اتوماسیون کامل سیستم طرح اصلی طیف سنج دیافراگم بالا دستگاه با حداقل تلفات نوری. مدار کانفوکال با توجه به طرح اصلی ساخته شده است ، ابعاد جمع و جور و حداقل رانش عناصر نوری را فراهم می کند. میکروسکوپ نوری داخلی جستجوی مکان مناسب برای اندازه گیری را فراهم می کند. اجزای مکانیکی دقیق و اپتیک در طراحی استفاده می شود. هم در آزمایشگاه های صنعتی و هم در دانشگاه های تحقیقاتی قابل استفاده است.

مجموعه Certus Optical i برای کار با تکنیک های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در مطالعه اشیاء بیولوژیکی و فیلم های پلیمری طراحی شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری معکوس کلاسیک برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; دوربین فیلمبرداری دیجیتال برای تجسم تصویر مشاهده شده در کامپیوتر و گرفتن تصاویر; کنترل کننده SPM متحد به عنوان مثال-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur I اجازه می دهد تا از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال ، میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و تکنیک های ترکیبی (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) استفاده شود.).

یک پیزوستولیک اسکن موازی هواپیما. این دستگاه یک بدنه فلزی یکپارچه (ساخته شده از آلیاژ با کیفیت بالا ، معمولا آلومینیوم) است که در آن کانال هایی برای محرک های پیزو سرامیکی ، عناصر میز متحرک و غیره وجود دارد. با الکتروروژن و سایر روش های ماشینکاری دقیق تشکیل می شوند. این طراحی خطی و صاف بودن حرکت عالی را فراهم می کند ، برخلاف اسکنرهای کلاسیک مبتنی بر لوله پیزو ، که سطح اسکن آن یک کره است. علاوه بر این ، اسکنرهای موازی هواپیما در مقایسه با لوله های پیزو شکننده دارای مقاومت مکانیکی بالایی هستند.

این طراحی شده است برای انجام مطالعات جامع از خواص سطح با استفاده از میکروسکوپ نوری ، طیف سنجی و اسکن میکروسکوپ پروب. این اجازه می دهد تا به دست آوردن پراکندگی کامل رامان و/یا طیف های فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM. طراحی مجموعه منابع انسانی Centaur I به شما امکان می دهد با هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ نیروی اتمی) و ترکیب تکنیک ها (Afm-Raman ، لیزر کنفوکال و AFM) کار کنید.

پیکربندی اساسی میکروسکوپ سنج اسکن سرتوس ، طراحی شده برای حل طیف گسترده ای از وظایف تحقیقاتی و تحلیلی. اسکن موازی هواپیما در امتداد محورهای X ، Y و Z به شما اجازه می دهد تا یک تصویر از سطح را بدست آورید و ویرایش تصویر بعدی را با حداقل تحریف و از دست دادن اطلاعات انجام دهید; اسکن با هر دو پروب (یک اسکنر معمولی در داخل سر اسکن Certus) و یک اسکنر نمونه XYZ فوق سریع. اتصال هواپیما-موازی کاوشگر به نمونه مشکل اتصال دستی پر زحمت کاوشگر به نمونه را حل می کند. عرضه توسط سه تکیه گاه موتوری انجام می شود; طراحی باز سر اسکن امکان مشاهده سطح نمونه آزمایش را در زاویه 0-90 درجه ، نصب دستگاه ها و تجهیزات اضافی فراهم می کند; پیکربندی ماژولار اجازه می دهد تا میکروسکوپ سنج اسکن استاندارد Certus بر روی میکروسکوپ های نوری سنتی (مستقیم یا معکوس) نصب شود ، همراه با دستگاه های نوری و به تغییرات نوری Certus و Centaur ارتقا یابد.; تکنیک های اساسی SPM اجرا شده است. برای تغییر حالت عملکرد میکروسکوپ پروب اسکن (به عنوان مثال ، تغییر از عملیات در حالت میکروسکوپ نیروی اتمی به حالت میکروسکوپ تونل اسکن) ، کافی است نگهدارنده پروب را تغییر دهید.

NanoEducator II ، علیرغم فشرده سازی و سهولت کار ، از تمام تکنیک های اساسی نیروی اتمی و میکروسکوپ تونل اسکن پشتیبانی می کند ، بنابراین می توان از آن برای هر اندازه گیری و آزمایش معمول AFM و STM در تحقیقات علمی استفاده کرد. به عنوان مثال ، نتایج برخی از آزمایشات در کاربردهای مختلف علمی نشان داده شده است: تحقیق سازه های اتمی بررسی نانوساختارهای فلزی بررسی ساختارهای مغناطیسی تحقیق در مورد اجسام پلیمری تحقیق در مورد اجسام بیولوژیکی تحقیق در مورد نانومواد کربن