NTEGRA NANO IR

NanoEducator II ، علیرغم فشرده سازی و سهولت کار ، از تمام تکنیک های اساسی نیروی اتمی و میکروسکوپ تونل اسکن پشتیبانی می کند ، بنابراین می توان از آن برای هر اندازه گیری و آزمایش معمول AFM و STM در تحقیقات علمی استفاده کرد. به عنوان مثال ، نتایج برخی از آزمایشات در کاربردهای مختلف علمی نشان داده شده است: تحقیق سازه های اتمی بررسی نانوساختارهای فلزی بررسی ساختارهای مغناطیسی تحقیق در مورد اجسام پلیمری تحقیق در مورد اجسام بیولوژیکی تحقیق در مورد نانومواد کربن

کیفیت نمایشگر نهایی با استفاده از جداسازی صوتی و ارتعاش داخلی ، تثبیت حرارتی ، بهترین حساسیت صنعت در سیستم ثبت نوری و طراحی منحصر به فرد سیستم اسکن پروب تضمین می شود که امکان دستیابی به وضوح اتمی در اندازه گیری های معمول را فراهم می کند. در پیکربندی اساسی ، 50+ تکنیک AFM در دسترس است ، از جمله روش هیبریدی ، که اجازه می دهد تا تمام مطالعات نانومکانیکی ، الکتریکی و مغناطیسی پیشرفته را انجام دهد. الگوریتم هوشمند Scantronictm برای بهینه سازی پارامترهای اسکن با یک کلیک ماوس ، اجازه می دهد تا اندازه گیری ارتفاع کامل با استفاده از روش مدولاسیون دامنه ، صرف نظر از تجربه اپراتور. بررسی خودکار چند نمونه با استفاده از یک رابط کاربری ساده برای ایجاد یک سناریوی اسکن نقطه به نقطه و یک پایگاه داده برای تصاویر ذخیره شده به دست آمده. کنترل نمونه ها با ابعاد تا 200×200 میلیمتر و ضخامت تا 40 میلیمتر در هر نقطه از سطح با دقت موقعیت 1 میکرون. گزینه های سفارشی سازی گسترده: نصب تجهیزات نوری اضافی ، توسعه دارندگان نمونه تخصصی ، ترکیب با سیستم حمل و نقل ، اتوماسیون اندازه گیری ها و تجزیه و تحلیل داده ها مطابق با نیازهای مشتری.

طیف سنج MS - 1104e با عملکرد بالا و دقت اندازه گیری های مسباور که از طریق استفاده از هندسه "فشرده" به دست آمده است ، و همچنین استفاده از واحدهای تشخیص درخشش رزونانس بسیار کارآمد و انتخابی ، که وضوح انرژی خطوط جذب رزونانس را تا 30 ٪ بهبود می بخشد ، مشخص می شود. تکنیک تثبیت نرم افزار و سخت افزار مسیر طیف سنجی توسعه یافته و مورد استفاده در طیف سنج اجازه می دهد تا اندازه گیری های طولانی مدت مسباور بدون تنظیم دستی انجام شود. روش مدولاسیون در محدوده های سرعت مشخص شده اجازه می دهد تا حساسیت و بیان اندازه گیری ها را به طور قابل توجهی افزایش دهد و زمان تعیین شدت اثرات جذب رزونانس را ده برابر در مطالعه انتقال فاز دما با غلظت کم عناصر رزونانس کاهش دهد. اجزای الکترونیکی طیف سنج بر اساس یک پایه عنصر مدرن با استفاده از آرایه های منطقی برنامه ریزی شده و میکروپروسسورها توسعه یافته است. مسیرهای طیف سنجی قابل تنظیم و منبع تغذیه ولتاژ بالا PMU در واحدهای تشخیص یکپارچه شده اند ، ماژول های درایور مدولاتور و ذخیره سازی چند کانال در استاندارد ISA ساخته شده اند و در واحد پردازنده رایانه قرار دارند. تنظیم و نظارت بر تمام پارامترهای طیف سنج و پردازش طیف های اندازه گیری شده از پنجره های عملیاتی برنامه های کنترل و پردازش انجام می شود. از سال 2000 ، بیش از ده طیف سنج از این نوع به سازمان های علمی پیشرو در روسیه و کشورهای همسایه عرضه شده است. لازم به ذکر است که یکی از معدود کاربردهای صنعتی طیف سنجی مسباور توسعه و عرضه به Npp Volgodonsk از روش های گواهی شده MS-1104em و طیف سنج برای نظارت بر فرآیندهای خوردگی در مدارهای تبادل گرما راکتور VVER-1000 است.

14 موتور پله ای با دقت بالا تمام قسمت های متحرک میکروسکوپ را کنترل می کنند و نرم افزار هوشمند خط بین تصاویر نوری و SPM را محو می کند. NEXT بزرگنمایی مداوم از تصاویر نوری پانورامیک میلیمتری تا وضوح اتمی را فراهم می کند و عملیات میانی مانند اشاره لیزر به کانتی لیور ، موقعیت نمونه ، تغذیه "نرم" و پیکربندی تکنیک های پیشرفته SPM به طور خودکار رخ می دهد.

Nt-MDT S. I. NTEGRA II را معرفی می کند ، نسل دوم محبوب ترین AFM جهان. با ویژگی های اضافی و توابع پیشرفته ، سطح بی سابقه ای از مدولاریت و انعطاف پذیری را فراهم می کند و به یک شریک واقعی محقق تبدیل می شود. هوشمند ، سریع ، قابل اعتماد ، دقیق و بدون شک آسان برای استفاده. برای از بین بردن تأثیر یک محیط پر سر و صدا ، NTEGRA II در یک کابینت استاندارد عرضه می شود که کنترل دما ، جداسازی صوتی و ارتعاش را فراهم می کند. این ترکیب ماهیت واقعی NTEGRA II را به عنوان پایدارترین AFM در جهان نشان می دهد و باعث کاهش دمای کمتر از 0.2 نانومتر در دقیقه می شود.

Ntegra Spectra II در حال حاضر نسل دوم یک سیستم اندازه گیری است که با موفقیت اتحاد دو جهان را نشان می دهد: طیف سنجی AFM و رامان. از نقشه برداری امداد گرفته تا تجزیه و تحلیل طیفی 2 بعدی ، از مطالعات خواص الکتریکی و مکانیکی گرفته تا اندازه گیری های نوری با وضوح زیر حد پراش. اکنون دانشمندان می توانند تجزیه و تحلیل فیزیکی و شیمیایی کامل خواص سطحی نمونه را در یک زمان انجام دهند. در نتیجه ، محققان فرصت های نامحدود برای توسعه تکنیک های آزمایشگاهی خود دارند.