NANOEDUCATOR II

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur I اجازه می دهد تا از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال ، میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و تکنیک های ترکیبی (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) استفاده شود.).

این طراحی شده است برای انجام مطالعات جامع از خواص سطح با استفاده از میکروسکوپ نوری ، طیف سنجی و اسکن میکروسکوپ پروب. این اجازه می دهد تا به دست آوردن پراکندگی کامل رامان و/یا طیف های فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM. طراحی مجموعه منابع انسانی Centaur I به شما امکان می دهد با هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ نیروی اتمی) و ترکیب تکنیک ها (Afm-Raman ، لیزر کنفوکال و AFM) کار کنید.

اسکن طیف سنج رامان کانفوکال با گزینه SPM ابعاد جمع و جور اتوماسیون کامل سیستم طرح اصلی طیف سنج دیافراگم بالا دستگاه با حداقل تلفات نوری. مدار کانفوکال با توجه به طرح اصلی ساخته شده است ، ابعاد جمع و جور و حداقل رانش عناصر نوری را فراهم می کند. میکروسکوپ نوری داخلی جستجوی مکان مناسب برای اندازه گیری را فراهم می کند. اجزای مکانیکی دقیق و اپتیک در طراحی استفاده می شود. هم در آزمایشگاه های صنعتی و هم در دانشگاه های تحقیقاتی قابل استفاده است.

Nt-MDT S. I. NTEGRA II را معرفی می کند ، نسل دوم محبوب ترین AFM جهان. با ویژگی های اضافی و توابع پیشرفته ، سطح بی سابقه ای از مدولاریت و انعطاف پذیری را فراهم می کند و به یک شریک واقعی محقق تبدیل می شود. هوشمند ، سریع ، قابل اعتماد ، دقیق و بدون شک آسان برای استفاده. برای از بین بردن تأثیر یک محیط پر سر و صدا ، NTEGRA II در یک کابینت استاندارد عرضه می شود که کنترل دما ، جداسازی صوتی و ارتعاش را فراهم می کند. این ترکیب ماهیت واقعی NTEGRA II را به عنوان پایدارترین AFM در جهان نشان می دهد و باعث کاهش دمای کمتر از 0.2 نانومتر در دقیقه می شود.

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur U اجازه می دهد تا از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال ، میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و تکنیک های ترکیبی (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) استفاده شود.).

Nt-Mdt Spectrum Instruments یک میکروسکوپ نوری نزدیک میدان (r‑SBOM) است که برای محدوده طیف مادون قرمز طراحی شده است. پروب AFM در فوکوس یک سیستم نوری قرار دارد که تابش لیزر IR را به نمونه هدایت می کند و پاسخ نوری را جمع آوری می کند. تابش جمع آوری شده برای تجزیه و تحلیل نوری به تداخل سنج میشلسون ارسال می شود. جزء دور میدان سیگنال جمع آوری شده با تشخیص همزمان سرکوب می شود. سیستم INTEGRA Nano IR امکان تشخیص دامنه و فاز سیگنال نزدیک میدان را فراهم می کند. وضوح فضایی کنتراست های انعکاس و جذب حاصل تقریبا 10 نانومتر است و فقط با اندازه نوک کاوشگر تعیین می شود.

14 موتور پله ای با دقت بالا تمام قسمت های متحرک میکروسکوپ را کنترل می کنند و نرم افزار هوشمند خط بین تصاویر نوری و SPM را محو می کند. NEXT بزرگنمایی مداوم از تصاویر نوری پانورامیک میلیمتری تا وضوح اتمی را فراهم می کند و عملیات میانی مانند اشاره لیزر به کانتی لیور ، موقعیت نمونه ، تغذیه "نرم" و پیکربندی تکنیک های پیشرفته SPM به طور خودکار رخ می دهد.

Ntegra Spectra II در حال حاضر نسل دوم یک سیستم اندازه گیری است که با موفقیت اتحاد دو جهان را نشان می دهد: طیف سنجی AFM و رامان. از نقشه برداری امداد گرفته تا تجزیه و تحلیل طیفی 2 بعدی ، از مطالعات خواص الکتریکی و مکانیکی گرفته تا اندازه گیری های نوری با وضوح زیر حد پراش. اکنون دانشمندان می توانند تجزیه و تحلیل فیزیکی و شیمیایی کامل خواص سطحی نمونه را در یک زمان انجام دهند. در نتیجه ، محققان فرصت های نامحدود برای توسعه تکنیک های آزمایشگاهی خود دارند.

کیفیت نمایشگر نهایی با استفاده از جداسازی صوتی و ارتعاش داخلی ، تثبیت حرارتی ، بهترین حساسیت صنعت در سیستم ثبت نوری و طراحی منحصر به فرد سیستم اسکن پروب تضمین می شود که امکان دستیابی به وضوح اتمی در اندازه گیری های معمول را فراهم می کند. در پیکربندی اساسی ، 50+ تکنیک AFM در دسترس است ، از جمله روش هیبریدی ، که اجازه می دهد تا تمام مطالعات نانومکانیکی ، الکتریکی و مغناطیسی پیشرفته را انجام دهد. الگوریتم هوشمند Scantronictm برای بهینه سازی پارامترهای اسکن با یک کلیک ماوس ، اجازه می دهد تا اندازه گیری ارتفاع کامل با استفاده از روش مدولاسیون دامنه ، صرف نظر از تجربه اپراتور. بررسی خودکار چند نمونه با استفاده از یک رابط کاربری ساده برای ایجاد یک سناریوی اسکن نقطه به نقطه و یک پایگاه داده برای تصاویر ذخیره شده به دست آمده. کنترل نمونه ها با ابعاد تا 200×200 میلیمتر و ضخامت تا 40 میلیمتر در هر نقطه از سطح با دقت موقعیت 1 میکرون. گزینه های سفارشی سازی گسترده: نصب تجهیزات نوری اضافی ، توسعه دارندگان نمونه تخصصی ، ترکیب با سیستم حمل و نقل ، اتوماسیون اندازه گیری ها و تجزیه و تحلیل داده ها مطابق با نیازهای مشتری.

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. . این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur Duos امکان استفاده از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و ترکیب تکنیک ها (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) را فراهم می کند.). میکروسکوپ ها). . این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur Duos امکان استفاده از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و ترکیب تکنیک ها (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) را فراهم می کند.).