نتگرا دوم

Nt-Mdt Spectrum Instruments یک میکروسکوپ نوری نزدیک میدان (r‑SBOM) است که برای محدوده طیف مادون قرمز طراحی شده است. پروب AFM در فوکوس یک سیستم نوری قرار دارد که تابش لیزر IR را به نمونه هدایت می کند و پاسخ نوری را جمع آوری می کند. تابش جمع آوری شده برای تجزیه و تحلیل نوری به تداخل سنج میشلسون ارسال می شود. جزء دور میدان سیگنال جمع آوری شده با تشخیص همزمان سرکوب می شود. سیستم INTEGRA Nano IR امکان تشخیص دامنه و فاز سیگنال نزدیک میدان را فراهم می کند. وضوح فضایی کنتراست های انعکاس و جذب حاصل تقریبا 10 نانومتر است و فقط با اندازه نوک کاوشگر تعیین می شود.

طیف سنج MS - 1104e با عملکرد بالا و دقت اندازه گیری های مسباور که از طریق استفاده از هندسه "فشرده" به دست آمده است ، و همچنین استفاده از واحدهای تشخیص درخشش رزونانس بسیار کارآمد و انتخابی ، که وضوح انرژی خطوط جذب رزونانس را تا 30 ٪ بهبود می بخشد ، مشخص می شود. تکنیک تثبیت نرم افزار و سخت افزار مسیر طیف سنجی توسعه یافته و مورد استفاده در طیف سنج اجازه می دهد تا اندازه گیری های طولانی مدت مسباور بدون تنظیم دستی انجام شود. روش مدولاسیون در محدوده های سرعت مشخص شده اجازه می دهد تا حساسیت و بیان اندازه گیری ها را به طور قابل توجهی افزایش دهد و زمان تعیین شدت اثرات جذب رزونانس را ده برابر در مطالعه انتقال فاز دما با غلظت کم عناصر رزونانس کاهش دهد. اجزای الکترونیکی طیف سنج بر اساس یک پایه عنصر مدرن با استفاده از آرایه های منطقی برنامه ریزی شده و میکروپروسسورها توسعه یافته است. مسیرهای طیف سنجی قابل تنظیم و منبع تغذیه ولتاژ بالا PMU در واحدهای تشخیص یکپارچه شده اند ، ماژول های درایور مدولاتور و ذخیره سازی چند کانال در استاندارد ISA ساخته شده اند و در واحد پردازنده رایانه قرار دارند. تنظیم و نظارت بر تمام پارامترهای طیف سنج و پردازش طیف های اندازه گیری شده از پنجره های عملیاتی برنامه های کنترل و پردازش انجام می شود. از سال 2000 ، بیش از ده طیف سنج از این نوع به سازمان های علمی پیشرو در روسیه و کشورهای همسایه عرضه شده است. لازم به ذکر است که یکی از معدود کاربردهای صنعتی طیف سنجی مسباور توسعه و عرضه به Npp Volgodonsk از روش های گواهی شده MS-1104em و طیف سنج برای نظارت بر فرآیندهای خوردگی در مدارهای تبادل گرما راکتور VVER-1000 است.

Ntegra Spectra II در حال حاضر نسل دوم یک سیستم اندازه گیری است که با موفقیت اتحاد دو جهان را نشان می دهد: طیف سنجی AFM و رامان. از نقشه برداری امداد گرفته تا تجزیه و تحلیل طیفی 2 بعدی ، از مطالعات خواص الکتریکی و مکانیکی گرفته تا اندازه گیری های نوری با وضوح زیر حد پراش. اکنون دانشمندان می توانند تجزیه و تحلیل فیزیکی و شیمیایی کامل خواص سطحی نمونه را در یک زمان انجام دهند. در نتیجه ، محققان فرصت های نامحدود برای توسعه تکنیک های آزمایشگاهی خود دارند.

کیفیت نمایشگر نهایی با استفاده از جداسازی صوتی و ارتعاش داخلی ، تثبیت حرارتی ، بهترین حساسیت صنعت در سیستم ثبت نوری و طراحی منحصر به فرد سیستم اسکن پروب تضمین می شود که امکان دستیابی به وضوح اتمی در اندازه گیری های معمول را فراهم می کند. در پیکربندی اساسی ، 50+ تکنیک AFM در دسترس است ، از جمله روش هیبریدی ، که اجازه می دهد تا تمام مطالعات نانومکانیکی ، الکتریکی و مغناطیسی پیشرفته را انجام دهد. الگوریتم هوشمند Scantronictm برای بهینه سازی پارامترهای اسکن با یک کلیک ماوس ، اجازه می دهد تا اندازه گیری ارتفاع کامل با استفاده از روش مدولاسیون دامنه ، صرف نظر از تجربه اپراتور. بررسی خودکار چند نمونه با استفاده از یک رابط کاربری ساده برای ایجاد یک سناریوی اسکن نقطه به نقطه و یک پایگاه داده برای تصاویر ذخیره شده به دست آمده. کنترل نمونه ها با ابعاد تا 200×200 میلیمتر و ضخامت تا 40 میلیمتر در هر نقطه از سطح با دقت موقعیت 1 میکرون. گزینه های سفارشی سازی گسترده: نصب تجهیزات نوری اضافی ، توسعه دارندگان نمونه تخصصی ، ترکیب با سیستم حمل و نقل ، اتوماسیون اندازه گیری ها و تجزیه و تحلیل داده ها مطابق با نیازهای مشتری.

14 موتور پله ای با دقت بالا تمام قسمت های متحرک میکروسکوپ را کنترل می کنند و نرم افزار هوشمند خط بین تصاویر نوری و SPM را محو می کند. NEXT بزرگنمایی مداوم از تصاویر نوری پانورامیک میلیمتری تا وضوح اتمی را فراهم می کند و عملیات میانی مانند اشاره لیزر به کانتی لیور ، موقعیت نمونه ، تغذیه "نرم" و پیکربندی تکنیک های پیشرفته SPM به طور خودکار رخ می دهد.

مزیت سیستم با استفاده از یک واحد خنک کننده هلیوم چرخه بسته از شرکت فناوری هلیکس (ایالات متحده) توانایی ارائه دمای اندازه گیری پایین (تا 10 K) بدون از دست دادن مواد مصرفی (هلیوم) با یک ترتیب جمع و جور تجهیزات است. جداسازی جذب کننده مورد مطالعه از لرزش مرتبط با عملکرد کمپرسور با اطمینان از تبادل گرما جذب کننده با سر خنک کننده واحد از طریق یک لایه متوسط هلیوم گازی و به دلیل جداسازی دقیق لرزش سیستم های طیف سنج Mossbauer ، به حداقل رساندن گسترش اضافی خطوط طیف در طول عملیات واحد خنک کننده تضمین می شود. تمام حالت ها و ویژگی های مشخصه طیف سنج مسباور MS-1104em در همان زمان حفظ می شوند.

NanoEducator II ، علیرغم فشرده سازی و سهولت کار ، از تمام تکنیک های اساسی نیروی اتمی و میکروسکوپ تونل اسکن پشتیبانی می کند ، بنابراین می توان از آن برای هر اندازه گیری و آزمایش معمول AFM و STM در تحقیقات علمی استفاده کرد. به عنوان مثال ، نتایج برخی از آزمایشات در کاربردهای مختلف علمی نشان داده شده است: تحقیق سازه های اتمی بررسی نانوساختارهای فلزی بررسی ساختارهای مغناطیسی تحقیق در مورد اجسام پلیمری تحقیق در مورد اجسام بیولوژیکی تحقیق در مورد نانومواد کربن