طیف‌سنج کوچک Md-10 با توجه به طرح Debye-Scherer با یک آشکارساز حساس به موقعیت

طیف‌سنج اشعه ایکس دو کریستالی DSO-1 (DSO-1) برای اندازه گیری خودکار تعدادی از ویژگی های ساختاری ویفرهای نیمه هادی طراحی شده است: کمال ساختاری نمونه ها با توجه به منحنی های نوسان ، پارامترهای شبکه ، مشخصات تغییر شکل ساختار نزدیک به سطح و غیره. همچنین به شما امکان می دهد جهت کریستال ها را تعیین کنید.

طیف‌سنج اشعه ایکس سه دایره ای اتوماتیک DSO-2v2 (DSO-2V2) (شکل.1) طراحی شده است تا به طور خودکار جهت گیری کریستال های تک و صفحات انبوه را نسبت به سطح کریستال ، از جمله تعیین جهت برش پایه ، اصلاح کند. روش اندازه گیری بر اساس تجزیه و تحلیل الگوی پراش حاصل از چرخش منبع اشعه ایکس در اطراف محور براگ در سطح سطح نمونه است.

یکی از ویژگی های ویژه مدار دیفرانکتومتر اشعه ایکس POWDIX 600 مدار نوری عمودی براگ-برنتانو با موقعیت افقی ثابت نمونه است که کار با مواد پودری ، ژل ها و غیره را امکان پذیر می کند. مواد با قوام چسبناک عملی تر و راحت تر هستند. وضوح بالا آشکارساز و موقعیت دقیق گونیومتر دیفرانکتومتر اشعه ایکس POWDIX 600 امکان دستیابی به دقت بهتر از + / -0.02° (2aa) در کل محدوده زاویه ای را فراهم می کند. در دیفرانکتومتر POWDIX 600 ، لوله اشعه ایکس با استفاده از یک سیستم یکپارچه که یک مدار آب بسته را نشان می دهد ، خنک می شود ، که نگهداری آن می تواند توسط هر کارمند آزمایشگاه انجام شود. انواع مختلفی از نگهدارنده های نمونه (نگهدارنده برای نمونه های عظیم ، نگهدارنده با چرخش ، کوفت های بدون تلفن) عملکرد دیفرانکتومتر POWDIX 600 را گسترش می دهد و دستگاه را به ابزاری ارزشمند در تحقیقات علمی در زمینه فیزیک حالت جامد ، علوم مواد ، شیمی ، زمین شناسی و سایر زمینه های علمی تبدیل می کند. دیفرانکتومتر در فهرست ابزارهای اندازه گیری فدراسیون روسیه گنجانده شده است.

طیف‌سنج اشعه ایکس سه دایره ای دو کریستالی اتوماتیک DSO-2P (DSO-2P) (شکل.1) طراحی شده است تا به طور خودکار جهت گیری صفحات کریستال تک نسبت به سطح کریستال را اصلاح کند ، از جمله روشن کردن جهت برش پایه. روش اندازه گیری بر اساس تجزیه و تحلیل الگوی پراش حاصل از چرخش منبع اشعه ایکس در اطراف محور براگ در سطح سطح نمونه است.

طیف‌سنج اشعه ایکس dso-2g (شکل.1) برای پالایش خودکار جهت گیری کریستال های تک سیلیکونی نسبت به سطح کریستال ، برای پالایش نیمه اتوماتیک جهت گیری نادرست محورهای هندسی و کریستالوگرافی و همچنین برای تعیین دستی و پالایش خودکار جهت گیری بخش پایه طراحی شده است. روش اندازه گیری بر اساس تجزیه و تحلیل بازتاب های پراش حاصل از چرخش یک منبع اشعه ایکس کم قدرت در نزدیکی سطح تجزیه و تحلیل شده یک کریستال تک ثابت است. در این حالت ، موقعیت مکانی سطح تجزیه و تحلیل شده با استفاده از سنسور فاصله لیزر تعیین می شود.

روش اندازه گیری بر اساس تجزیه و تحلیل الگوی پراش حاصل از چرخش منبع اشعه ایکس در اطراف محور براگ در سطح سطح نمونه است.

دیفرانکتومتر اشعه ایکس DRON-8T مدل پرچمدار خط دیفرانکتومترهای ثابت اشعه ایکس Jsc IC Burevestnik است. این دستگاه مجهز به گونیومتر عمودی زاویه وسیع با دقت بالا با قابلیت بازتولید زاویه ای 0.0001 درجه است و عمدتا برای مطالعه اجسام کریستالی بسیار کامل (کریستال های تک ، فیلم های اپیتاکسیال) در هندسه با وضوح بالا طراحی شده است.

این دستگاه برای تجزیه و تحلیل ترکیب فاز و وضعیت ساختاری اشیاء پلی کریستالی با منشأ مختلف طراحی شده است.

دیفرانکتومتر چند منظوره اشعه ایکس DRON-8 (8H) با یک گونیومتر عمودی theta-theta و موقعیت افقی نمونه اجازه می دهد تا تجزیه و تحلیل دیفرانکشن اشعه ایکس از ترکیب فاز ، وضعیت ساختاری و جهت گیری طیف گسترده ای از اشیاء با اشکال و اندازه های مختلف را انجام دهد.