سرتوس NSOM یک میکروسکوپ نوری اسکن نزدیک میدان است

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. . این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur Duos امکان استفاده از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و ترکیب تکنیک ها (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) را فراهم می کند.). میکروسکوپ ها). . این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur Duos امکان استفاده از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و ترکیب تکنیک ها (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) را فراهم می کند.).

میکروسکوپ سنج اسکن سطح ابتدایی (SPM) اسکن موازی هواپیما در امتداد محورهای X ، Y و Z به شما اجازه می دهد تا یک تصویر از سطح را بدست آورید و ویرایش تصویر بعدی را با حداقل تحریف و از دست دادن اطلاعات انجام دهید; طراحی باز سر اسکن امکان مشاهده سطح نمونه آزمایش را در زاویه 0-90 درجه ، نصب دستگاه ها و تجهیزات اضافی فراهم می کند; پیکربندی مدولار به شما امکان می دهد میکروسکوپ پروب اسکن نور Certus را بر روی میکروسکوپ های نوری سنتی (مستقیم یا معکوس) نصب کنید ، با دستگاه های نوری ترکیب کنید و این دستگاه را به تغییرات ارتقا دهید

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur I اجازه می دهد تا از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال ، میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و تکنیک های ترکیبی (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) استفاده شود.).

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur U اجازه می دهد تا از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال ، میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و تکنیک های ترکیبی (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) استفاده شود.).

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم کلاس تحقیق. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; حرکت مکانیکی Z برای لنز; حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

پیکربندی اساسی میکروسکوپ سنج اسکن سرتوس ، طراحی شده برای حل طیف گسترده ای از وظایف تحقیقاتی و تحلیلی. اسکن موازی هواپیما در امتداد محورهای X ، Y و Z به شما اجازه می دهد تا یک تصویر از سطح را بدست آورید و ویرایش تصویر بعدی را با حداقل تحریف و از دست دادن اطلاعات انجام دهید; اسکن با هر دو پروب (یک اسکنر معمولی در داخل سر اسکن Certus) و یک اسکنر نمونه XYZ فوق سریع. اتصال هواپیما-موازی کاوشگر به نمونه مشکل اتصال دستی پر زحمت کاوشگر به نمونه را حل می کند. عرضه توسط سه تکیه گاه موتوری انجام می شود; طراحی باز سر اسکن امکان مشاهده سطح نمونه آزمایش را در زاویه 0-90 درجه ، نصب دستگاه ها و تجهیزات اضافی فراهم می کند; پیکربندی ماژولار اجازه می دهد تا میکروسکوپ سنج اسکن استاندارد Certus بر روی میکروسکوپ های نوری سنتی (مستقیم یا معکوس) نصب شود ، همراه با دستگاه های نوری و به تغییرات نوری Certus و Centaur ارتقا یابد.; تکنیک های اساسی SPM اجرا شده است. برای تغییر حالت عملکرد میکروسکوپ پروب اسکن (به عنوان مثال ، تغییر از عملیات در حالت میکروسکوپ نیروی اتمی به حالت میکروسکوپ تونل اسکن) ، کافی است نگهدارنده پروب را تغییر دهید.

مجموعه Certus Optical i برای کار با تکنیک های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در مطالعه اشیاء بیولوژیکی و فیلم های پلیمری طراحی شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری معکوس کلاسیک برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; دوربین فیلمبرداری دیجیتال برای تجسم تصویر مشاهده شده در کامپیوتر و گرفتن تصاویر; کنترل کننده SPM متحد به عنوان مثال-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

این طراحی شده است برای انجام مطالعات جامع از خواص سطح با استفاده از میکروسکوپ نوری ، طیف سنجی و اسکن میکروسکوپ پروب. این اجازه می دهد تا به دست آوردن پراکندگی کامل رامان و/یا طیف های فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM. طراحی مجموعه منابع انسانی Centaur I به شما امکان می دهد با هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ نیروی اتمی) و ترکیب تکنیک ها (Afm-Raman ، لیزر کنفوکال و AFM) کار کنید.

اسکن طیف سنج رامان کانفوکال با گزینه SPM ابعاد جمع و جور اتوماسیون کامل سیستم طرح اصلی طیف سنج دیافراگم بالا دستگاه با حداقل تلفات نوری. مدار کانفوکال با توجه به طرح اصلی ساخته شده است ، ابعاد جمع و جور و حداقل رانش عناصر نوری را فراهم می کند. میکروسکوپ نوری داخلی جستجوی مکان مناسب برای اندازه گیری را فراهم می کند. اجزای مکانیکی دقیق و اپتیک در طراحی استفاده می شود. هم در آزمایشگاه های صنعتی و هم در دانشگاه های تحقیقاتی قابل استفاده است.

مشاهده و اندازه گیری دانه ها و نقص در ساختار مواد ، وضوح به اتم ها (جایزه نوبل در سال 1986) ، جایگزینی میکروسکوپ های فلزی-گرافیکی و الکترونی افزایش: از x2 هزار به x10 میلیون. محدوده اندازه گیری: 0.2 نانومتر تا 30 میکرون تمام حالت های اساسی (STM ، تماس و vibro-AFM) و بیش از 25 حالت اضافی.حالت ها

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم و معکوس کلاس تحقیقاتی. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; میکروسکوپ نوری معکوس (Olympus IX 71 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; حرکت مکانیکی Z برای لنز; حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

میکروسکوپ سنج اسکن Certus Light V یک نسخه جمع و جور از SPM با حداقل عملکرد و هزینه است. تفاوت اصلی با نسخه اصلی Certus Light اسکن نمونه و سیستم تأمین دقیق تر است. این دستگاه شامل یک سر خواندن وضعیت کانتی لیور ، یک اسکنر مسطح چند منظوره ، یک سیستم تامین و نصب سر است. این دستگاه با حداقل پیکربندی یک واحد کنترل الکترونیکی که مستقیما در بدنه اصلی ساخته شده است کار می کند ، یعنی دستگاه یک بلوک است. امکان کنترل از راه دور دستگاه از طریق رایانه لوحی با استفاده از نرم افزار تخصصی برای سیستم عامل Android وجود دارد.

ابعاد جمع و جور اتوماسیون کامل سیستم طرح اصلی طیف سنج دیافراگم بالا دستگاه با حداقل تلفات نوری. مدار کانفوکال با توجه به طرح اصلی ساخته شده است ، ابعاد جمع و جور و حداقل رانش عناصر نوری را فراهم می کند. میکروسکوپ نوری داخلی جستجوی مکان مناسب برای اندازه گیری را فراهم می کند. اجزای مکانیکی دقیق و اپتیک در طراحی استفاده می شود. هم در آزمایشگاه های صنعتی و هم در دانشگاه های تحقیقاتی قابل استفاده است.