نورپردازاندازه کوچک

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. . این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur Duos امکان استفاده از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و ترکیب تکنیک ها (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) را فراهم می کند.). میکروسکوپ ها). . این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur Duos امکان استفاده از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و ترکیب تکنیک ها (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) را فراهم می کند.).

ژنراتور نیتروژن غشا یک تجهیزات ویژه است که برای تولید نیتروژن گازی از هوای اتمسفر با جداسازی غشا طراحی شده است. فرآیند جداسازی گاز به دلیل میزان نفوذ متفاوت اجزای مخلوط گاز از طریق غشاهای پلیمری به دلیل فشار های جزئی دیفرانسیل در هر دو طرف ادامه می یابد. در طول جداسازی هوای فشرده ، نیتروژن غیر قابل نفوذ در طول کل طول ماژول غشاء عبور می کند و وارد مصرف کننده می شود و اکسیژن ، که نفوذ پذیری بهتری از طریق غشاء دارد ، به عنوان نفوذ به اتمسفر تخلیه می شود. در خروجی ، ما یک مخلوط گاز با محتوای نیتروژن تا 99.9 ٪ دریافت می کنیم. اجزای اصلی یک ژنراتور غشا عبارتند از: ماژول های غشا که در یک قاب پشتیبانی پایه همراه با اجزای کمکی (دریچه ها ، تنظیم کننده ها) قرار می گیرند ، که مطابق با آن به هم متصل می شوند. ژنراتور مجهز به یک سیستم کنترل خودکار برای کنترل پارامترهای فرآیند جداسازی مخلوط گاز است.

یک سیستم دوز دهی واکنش دهنده اتوماتیک سازگار با سیستم تصویربرداری فلورسانس و بیولومینسانس در نمونه های بیولوژیکی لوموتراس. همراه با LumoTrace ، به شما امکان می دهد فلورسانس و بیولومینسانس را در 96 صفحه چاه همزمان با فرآیند دوز خودکار ثبت کنید.

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم کلاس تحقیق. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; حرکت مکانیکی Z برای لنز; حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

آشکارساز نشت هلیوم TI1-50m یک دستگاه بسیار حساس جهانی است که برای آزمایش تنگی سیستم ها و اشیاء مختلف طراحی شده است که اجازه پمپاژ حفره داخلی را می دهد ، و همچنین آنهایی که با هلیوم یا مخلوط حاوی هلیوم پر شده اند ، و برای تشخیص (محلی سازی) مکان های تنگی نشت (نشت). مشخصات فنی محدوده اندازه گیری در ورودی آشکارساز نشت, Pa * m3 / s از 5•10-13 به 1•10-5 محدوده قرائت هنگام کار با روش پروب, Pa• m3/s از 1•10-9 به 1•10-5 زمان ورود به حالت آمادگی اندازه گیری ، بیش از 5 دقیقه ولتاژ تغذیه AC ، V ، هرتز 220±10 ٪ ، 50±1 مصرف برق ، V * A 1200 ابعاد کلی (WxHxD) ، نه بیشتر از ، میلی متر 480x470x390 وزن ، نه بیشتر از 40 کیلوگرم متوسط زمان کار قبل از خرابی اندازه گیری ، h 15000

Nt-Mdt Spectrum Instruments یک میکروسکوپ نوری نزدیک میدان (r‑SBOM) است که برای محدوده طیف مادون قرمز طراحی شده است. پروب AFM در فوکوس یک سیستم نوری قرار دارد که تابش لیزر IR را به نمونه هدایت می کند و پاسخ نوری را جمع آوری می کند. تابش جمع آوری شده برای تجزیه و تحلیل نوری به تداخل سنج میشلسون ارسال می شود. جزء دور میدان سیگنال جمع آوری شده با تشخیص همزمان سرکوب می شود. سیستم INTEGRA Nano IR امکان تشخیص دامنه و فاز سیگنال نزدیک میدان را فراهم می کند. وضوح فضایی کنتراست های انعکاس و جذب حاصل تقریبا 10 نانومتر است و فقط با اندازه نوک کاوشگر تعیین می شود.

میکروسکوپ سنج اسکن (SPM) همراه با میکروسکوپ نوری مستقیم و معکوس کلاس تحقیقاتی. این برای تحقیقات با روش های میکروسکوپی نیروی نوری و اتمی در نظر گرفته شده است. سر اسکن Certus XYZ SPM برای تصویربرداری AFM (توپوگرافی به طور کلی) و / یا موقعیت سنج نسبت به سطح نمونه; یک دستگاه موقعیت یابی و اسکن (XY ((Z) Piezostolic) Ratis برای موقعیت نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ و / یا اسکن نمونه; میکروسکوپ نوری مستقیم (Olympus BX 51 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; میکروسکوپ نوری معکوس (Olympus IX 71 به عنوان استاندارد) برای نمایش شیء تحقیق و نشان دادن پروب به شیء تحقیق یا قرار دادن نمونه نسبت به میدان دید میکروسکوپ; حرکت مکانیکی Z برای لنز; حرکت پیزو تک محور برای لنز Vectus برای دقت فوکوس اضافی ، فوکوس خودکار و تصاویر 3D لایه ای گسترده; یک دستگاه موقعیت یابی نمونه برای انتخاب یک منطقه روی یک سطح یا در یک حجم; یک کنترل کننده eg-3000 برای کنترل تمام قسمت های مجموعه; نرم افزار NSpec.

ایستگاه نیتروژن مجموعه ای از تجهیزات برای تولید و تامین گاز فشار بالا است که از هوای اتمسفر با جذب غیر گرمایش کوتاه مدت به دست می آید. برخلاف کارخانه جذب ، ایستگاه علاوه بر این مجهز به کمپرسور تقویت کننده است که فشار لازم را ایجاد می کند. فشار را روی کمپرسور قرار دهید. ایستگاه های نیتروژن جذب فشار بالا تولید گاز با هر خلوص با فشار تا 500 بار و همچنین پر کردن گاز در سیلندرها را تولید می کنند. عملکرد تجهیزات با توجه به نیازهای مشتری تعیین می شود. متخصصان Provit به شما در انتخاب تجهیزات و محاسبه قیمت کمک می کنند. گارانتی استاندارد 12 ماه از تاریخ راه اندازی است. ترکیب ایستگاه نیتروژن: کمپرسور هوا دستگاه رطوبت زدایی بلوک فیلتر اصلی گیرنده هوا ژنراتور جذب گیرنده کمپرسور تقویت کننده فشار بالا فشار را روی

مشخصات فنی: قدرت رتبه بندی شده ، W 20 ابعاد کلی روشن کننده در پوشش ، میلی متر ، نه بیشتر 90x120x210 ابعاد کلی منبع تغذیه لامپ هالوژن ، میلی متر ، نه بیشتر 260x170x70 وزن روشن کننده در پوشش ، کیلوگرم ، بیش از 1.3 واحد منبع تغذیه وزن ، کیلوگرم ، نه بیشتر از 0.65

میکروسکوپ گسترده ir سری MIKRAN که به طیف سنج های فوریه Ft-801 و Infralum ft-801 متصل است ، برای مطالعه نمونه هایی از 10 میکرون در اندازه ، از جمله آنهایی که دارای ترکیب ناهمگن هستند ، طراحی شده است. هنگام کار بر روی میکروسکوپ IR ، اپراتور این فرصت را دارد که جسم مورد مطالعه را با افزایش بیش از 200x مشاهده کند هم با استفاده از دوربین دوچشمی و هم روی مانیتور با استفاده از دوربین ویدئویی دیجیتال ، در طول فوتومتری ، با کمک دیافراگم ها ، یک منطقه محلی با شکل دلخواه را انتخاب کنید و همچنین سطح نمونه را "اسکن" کنید و طیف به دست آمده در زمان واقعی را مشاهده کنید.

میکروسکوپ رامان M532® ترکیبی از قابلیت های اکسپرس آنالیزور رامان پرتابل Inspectre R532® و میکروسکوپ U300M است که آن را برای هر دو اندازه گیری انتقال و بازتاب سازگار می کند. عملکرد گسترده میکروسکوپ M532 امکان یافتن و تجزیه و تحلیل ذرات فردی با اندازه 2-3 μm را در میان بسیاری از ذرات مشابه با خواص فیزیکی و شیمیایی مشابه فراهم می کند که فرصت های تحقیقاتی جدیدی را در چارچوب یک سیستم رامان واحد باز می کند. وضوح فضایی 1 μm و وضوح طیفی 4-6 سانتی متر-1 دقت اندازه گیری عالی و قابلیت تکرار نتایج را تضمین می کند. طراحی جمع و جور و قابلیت حمل این ابزار امکان تجزیه و تحلیل با کیفیت بالا و فوری مواد بدون آماده سازی نمونه را فراهم می کند که میکروسکوپ M532 را به ابزاری ضروری برای طیف گسترده ای از مطالعات تبدیل می کند. مجهز به اسلاید موتوری (اختیاری) در افزایش 0.36 μm ، میکروسکوپ M532 سطح نمونه را اسکن می کند ، مواد موجود در مخلوط های ناهمگن چند جزء را تشخیص می دهد و تصویری گرافیکی از شدت خطوط مشخصه رامان در نقاط مختلف سطح ایجاد می کند (نقشه برداری 2D) ، که میکروسکوپ M532 را به سودآورترین میکروسکوپ اسکن با کیفیت قیمت رامان در بازار جهانی تبدیل می کند.

MD-10 یک طیف‌سنج اشعه ایکس است که روش غیر مخرب تجزیه و تحلیل دیفرانکشن اشعه ایکس مواد پلی کریستالی را فراهم می کند. این روش بر اساس پدیده پراش اشعه ایکس بر روی یک شبکه کریستالی است. با اندازه گیری زاویه ها و شدت قله های پراش ، می توان پارامترهای شبکه کریستالی را تعیین کرد ، ترکیب فاز کیفی و کمی یک ماده را انجام داد ، برای روشن کردن اصلاح (فاز) یک ترکیب خاص ، به عنوان مثال ، با استفاده از پایگاه داده JCPDS-ICDD.

میکروسکوپ سنج اسکن Certus Light V یک نسخه جمع و جور از SPM با حداقل عملکرد و هزینه است. تفاوت اصلی با نسخه اصلی Certus Light اسکن نمونه و سیستم تأمین دقیق تر است. این دستگاه شامل یک سر خواندن وضعیت کانتی لیور ، یک اسکنر مسطح چند منظوره ، یک سیستم تامین و نصب سر است. این دستگاه با حداقل پیکربندی یک واحد کنترل الکترونیکی که مستقیما در بدنه اصلی ساخته شده است کار می کند ، یعنی دستگاه یک بلوک است. امکان کنترل از راه دور دستگاه از طریق رایانه لوحی با استفاده از نرم افزار تخصصی برای سیستم عامل Android وجود دارد.

طراحی شده برای کاهش سنگ های زمین شناسی و سنگ معدن در آماده سازی آنها برای مطالعات تحلیلی ویژگی های فنی DPTS-100A اندازه خوراک اولیه ، میلی متر ، بیش از 20 حجم کل تمام نمونه گیرها ، dm3 100 درجه کاهش 1/2 است..1/12 قدرت درایو ، kW 0.18 ابعاد کلی ، میلی متر طول 590 عرض 590 ارتفاع 910 وزن ، کیلوگرم 60

این روشن کننده در محدوده 190-3500 نانومتر کار می کند و شامل یک لامپ دوتریوم از Hamamatsu l2d2 (یا DDS-30) و یک Osram هالوژن 12v ، 20w است تا طیف مداوم در محدوده 190-3500 نانومتر را بدست آورد. لامپ ها با استفاده از یک آینه چرخشی که توسط یک سوئیچ خارجی یا از برنامه مونوکروماتور MDR-204 (MDR-206) کنترل می شود ، تغییر می کنند. راحتی این روشن کننده این است که کندانسور آینه موجود در آن یک تصویر بزرگ شده از بدن درخشان منبع تابش را بر روی شکاف ورودی تک رنگ کننده نمایش می دهد. این بدان معنی است که این روشن کننده نیازی به یک سیستم نوری اضافی برای تمرکز تابش بر روی شکاف ندارد. منابع تغذیه عملکرد پایدار طولانی مدت لامپ ها را تضمین می کند. در صورت درخواست ، این روشن کننده را می توان تنها با یکی از لامپ ها مجهز کرد: دوتریوم یا هالوژن.

ویژگی ها وضوح فضایی 1 μm اندازه گیری انتقال / بازتاب لیزر 532 نانومتر و 785 نانومتر در یک میکروسکوپ نرم افزار حرفه ای تشخیص خودکار مواد محدوده طیف گسترده اجازه تجزیه و تحلیل همزمان تابش رامان و نوردهی را می دهد که اطلاعات مهم تری در مورد شی مورد مطالعه ارائه می دهد

این برای بررسی های پیچیده خواص فیزیکی سطح با روش های میکروسکوپ نوری کلاسیک ، میکروسکوپ لیزر کنفوکال ، طیف سنجی کنفوکال و میکروسکوپ سنج اسکن (میکروسکوپ نیروی اتمی) طراحی شده است. این اجازه می دهد تا طیف کامل از رامان (رامان یا رامان) پراکندگی و/یا فلورسنت ، لیزر کنفوکال و تصاویر طیف کنفوکال (نقشه برداری سطح) ، تصاویر SPM (AFM) را بدست آورد. طراحی مجموعه Centaur U اجازه می دهد تا از هر دو تکنیک جداگانه (به عنوان مثال ، میکروسکوپ/طیف سنجی کنفوکال) و تکنیک های ترکیبی (از جمله ترکیب زمینه های اسکن ، مطالعات AFM/Raman و غیره) استفاده شود.).