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设计用于安装在通用IR傅里叶光谱仪FSM中，用于分析汽油，包括

该支架允许在FSM光谱仪中使用Specord型比色皿，并具有适当的连接尺寸。

Prefix旨在与IR傅里叶光谱仪FSM一起测量光谱中近红外区域的散射表面和分散样品的漫反射光谱。

设计用于研究液体介质、精细非研磨性粉末和聚合物薄膜的化学成分。 多次扰动全内反射的方法使得可以显着简化样品的制备，并可用于实施产品质量控制的快速方法。

Cuvette PC50-75的支架专为安装而设计: 石英比色皿SF型支架DC10-10; 石英比色皿型KFK在支架DC KFK; 可折叠比色皿KR1, 可折叠比色皿KR20, 电影 支架，平板电脑 夹持器、固体样品夹持器。

它旨在测量固体样品的反射率，并通过入射角接近法线的反射来分析涂层。 借助该前缀，可以确定光学元件、抗反射涂层等的反射率。

为了在FSM光谱仪中安装CFK类型的石英比色皿，使用DC CFK支架，其具有标准的50x75mm连接杆，用该连接杆将其插入红外傅里叶光谱仪FSM的PK50-75比色皿的

前缀被设计用于测量样品在光谱的近红外区域的吸收光谱在范围内4 000 — 12 500 sm-1连同IR傅里叶光谱仪FSM1211。 利用近红外区域，能够对医药、化工、高分子、纺织、食品、农业等行业进行鉴定和定量分析。 BIC分析法允许您研究粉末，粉碎和纤维材料等。

它用于测量厚度在纳米范围内的非常薄的涂层，并研究单分子层。

控制台设计用于在透射或反射模式下控制直径达200mm的半导体晶片的参数。 板材的参数通过高度敏感的非接触式方法在操作员指定的点进行控制。

为了在FSM光谱仪中安装SF型石英比色皿，使用DC10-10支架，其具有标准的50x75mm连接杆，用它插入fsm红外傅里叶光谱仪的PK50-75比色皿的支架中。

PRIZ前缀的主要优点是在镜面抛光金属板上赋予微物体薄层形状后，可以获得明确定义的微物体光谱（在所谓的双通道模式下，当辐射两次穿透物质层时，从镜面基板反射）。 具有内置视频摄像机的视觉控制系统的存在显着增加了设置时的信息内容以及获得的结果的可靠性。 在前缀的帮助下，还可以以原生形式注册散装样品和任意几何形状的固体物体的反射光谱，包括片剂，粉末和颗粒形式的药物，聚合物碎片，LCP，沉积在表面 技术规格 在频谱的工作范围内传输，输入信号的%至少为40 配准光谱时推荐的扫描次数为25 25次扫描时的频谱配准时间（分辨率4cm-1），sec30 固体样品的最小初始尺寸，mm0.2×0.2 固体样品的最大面积，mm20X20X10 可变对焦范围，mm10 焦点的直径，mm3 Zdo45o模式下辐射（中心光束）在样品上的入射角 4x视觉通道的微镜头放大/总放大 光学系统的视场，mm2X2.5 数字摄像机的分辨率为640x480 外形尺寸,mm140×105×160 重量,kg1.16