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用于光学测量的可调磁性系统

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用于光学测量的可调磁性系统
公司:
AMT&C
原产地:
莫斯科
此外:
这种类型的磁性系统的设计也是基于Halbach偶极子结构的原理,但是由于磁性元件的特殊装置及其运动机制,存在光学访问所研究的样品的可能性,并且在几个方向上具有相当大的光圈。

原始设计提供了独特的参数组合:
用于安装样品的轴:Ø42mm
现场调节范围:-0.7至0.7Tl
工作区域场的均匀性:~1 %
在现场调整期间工作区的几何形状不变:是
在磁场方向和磁场方向上进行光学观察的可能性:是的

可以为源提供连接到PC的内置现场测量系统。 现场调整由PC控制,或使用内置控制器控制。
可以根据客户的技术规格(工作区域尺寸,现场尺寸)制造这种类型的现场源。