NTEGRA SPECTRASPM和共聚焦显微镜/拉曼散射光谱仪

带有SPM功能的扫描共聚焦拉曼光谱仪 尺寸小 全自动化系统 光谱仪原创设计 仪器保持高亮度的同时，保证最小光学的损失 共焦电路根据原始方案制成，超小体积和光学元件的最小漂移。 内置的光学显微镜提供了易于搜索的测量点. 设计中使用了精密的机械部件和光学元件. 它既可用于工业实验室，也可用于研究型大学。

它的设计用于通过光学显微镜，光谱学和扫描探针显微镜对表面性质的复杂研究。 它能够获得完整的拉曼散射和/或荧光光谱、共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图）以及SPM图像。 Centaur I HR的设计既允许使用单独技术（如原子力显微镜），也允许组合技术（AFM-拉曼、共焦激光和AFM）。

入门级扫描探针显微镜(SPM) 沿X、Y、Z轴进行平面平行扫描，可以获得表面的图像，并以最小的失真和信息损失进行后续的图像编辑; 扫描头的开放式设计允许以0-90°的角度观察测试样品的表面，安装额外的装置和设备; 模块化配置可以将Certus Light扫描探针显微镜安装在传统的光学显微镜上（直立式或倒置式），并与光学仪器相结合，升级为Certus标准版、Certus光学版和Centaur版本

紧凑的尺寸 全自动化系统 原创光谱仪设计 装置具有最小光学损失的高亮度 共焦电路根据原始设计图制成，提供了紧凑的尺寸和光学元件的最小漂移 内置的光学显微镜提供寻找测量点的简单方法 设计中使用了精密的机械部件和光学元件. 它既可用于工业实验室，也可用于研究型大学。

NTEGRA Spectra II已经是第二代测量系统，成功地展示了两个世界的统一：原子力显微镜和拉曼光谱。 从浮雕映射到二维光谱分析，从电气和机械性能的研究到分辨率低于衍射极限的光学测量。 现在科学家可以一次对样品的表面性质进行完整的物理化学分析。 因此，研究人员获得了发展实验室技术的无限机会。

平面平行扫描压电片。 该装置是一个整体的金属体（由优质合金制成，通常是铝），其中压电陶瓷致动器、可移动工作台元件等的通道是通过电蚀和其他精密加工方法形成的。这种设计提供了出色的线性和运动的平面性，不同于传统的压电扫描仪，后者的扫描面是一个球体。此外，与脆弱的压电管相比，平面平行扫描器在机械上很坚固。

扫描探针显微镜（SPM）与直接和倒置研究级的光学显微镜相结合。 专设计用于光学和原子力显微镜研究。 Certus 是XYZ三维扫描探针显微镜头，用于获取AFM图像（一般为地形）和/或将探针可以定位在样品表面; Ratis是定位和扫描装置(XY(Z)piezostolic) 显微镜视野追踪样品定位和/或扫描样品; 正置光学显微镜（Olympus BX51为标准配置），用于显示研究对象并将探针指向研究对象或追踪样品定位在显微镜视野中; 倒置光学显微镜（Olympus IX71为标准配置），用于显示研究对象并将探针指向研究对象或追踪样品定位在显微镜视野中; 镜头机械Z字行运动; 用于Vectus镜头的单轴压电运动，可实现更高的聚焦精度、自动聚焦和获得分层宽场3d图像; 样品定位装置，用于选择表面上或在体积中的某个区域; EG-3000单个控制器，控制该系统的所有部分; NSpec软件。

"Inspector" MixSplitter® 是一种高性能 CR（拉曼）工具，用于对粉末混合物、悬浮液和浆液进行自动扫描和元素识别，精确度可达 1%。扫描结果可为用户提供有关混合物成分及其百分比的信息。 "Inspectr "MixSplitter 是在奥林巴斯 CX21 显微镜和 "Inspectr "R532 便携式拉曼快速分析仪的基础上开发的。系统配有电动滑块，可对样品进行三轴扫描。专业软件可在逐步扫描样品的过程中同步进行自动光谱测量，还可识别未知物质并输出统计数据分析结果。 复杂的色谱/色谱-质谱法只能在实验室条件下对混合物进行分析，需要大量的时间和资源，而 "Inspector "MixSplitter 只需 30 分钟就能在用户方便的地方完成 1500 步扫描。

特点: 空间分辨率为 1 μm 透射/反射测量 集 532 nm 和 785 nm 激光于一体的显微镜 用于自动识别物质的专业软件 扩展光谱范围，可同时分析拉曼和发光，提供有关被测物体的更多重要信息

NanoEducator II，尽管其紧凑和易于操作，支持原子力和扫描隧道显微镜的所有基本技术，因此它可以用于任何常规原子力显微镜和扫描隧道显微镜测量和科学研究中的实验。 例如，显示了各种科学应用中的一些实验的结果: 原子结构研究 金属纳米结构的研究 磁性结构的研究 聚合物物体的研究 生物对象的研究 碳纳米材料的研究

NT-MDT光谱仪器是为红外光谱范围设计的INTEGRA纳米红外散射扫描近场光学显微镜（r–扫描进场显光学显微镜）。 原子力显微镜探针位于光学系统的焦点中，该光学系统将IR激光辐射引导到样品并收集光学响应。 收集到的辐射被送到迈克尔逊干涉仪进行光学分析。 通过同步检测抑制采集信号的远场分量。 INTEGRA Nano IR系统允许检测近场信号的幅度和相位。 产生的反射和吸收对比的空间分辨率约为10nm，仅由探针尖端的大小决定。

设计用于通过经典光学显微镜，共焦激光显微镜，共焦光谱学和扫描探针显微镜（原子力显微镜）的方法对物质表面的特征进行复杂的研究。 它可以获得完整的拉曼（Raman或Raman CR）散射和/或荧光光谱、共焦激光和共焦光谱图像（表面绘图）和SPM（AFM）图像。 Centaur u的设计可以使用单独的技术（例如，共焦显微镜/光谱学）和技术的组合（包括联合扫描场，AFM/拉曼研究等）。

扫描探针显微镜（SPM），配备专用的探针支架和必要的光学设备，用于近场研究。 近场光学显微镜是基于利用近场（蒸发场）的特性，来克服经典光学显微镜的衍射限制。 所有近场显微镜都包含几个基本设计元素: 探针; 沿着二维(X-Y)或三维(X-Y-Z)在样品表面移动探针的系统(扫描系统); 注册系统; 光学系统。

Rotator R1是一款旋转混合器，不仅可以在室温下混合悬浮液，还可以在冷冻温度（例如-20°C）下混合悬浮液。 为了提高可靠性和易用性，在转子内部安装了滑动离合器。

扫描探针显微镜标配版Certus，旨在解决广泛的研究和任务分析。 沿X、Y、Z轴进行平面平行扫描，可以获得图像表面，并以最小的失真和信息损失进行后续的图像编辑; 使用探针（传统扫描仪捏的探头Certus）和三维平面扫描仪对样品进行扫描。 探针保证平行扫描到样品的平面，不需要手动移动探头到试样上。 探针向样品的平面平行供给，解决了人工向样品供给探针费力的问题。 保障由三个机动支架进行; 扫描头的开放式设计使得能够以0-90°的角度观察测试样品的表面，安装额外的装置和设备; 标准化配置允许Certus标准扫描探针显微镜安装在传统光学显微镜（直接或倒置）上，与光学设备结合并升级为Certus Optic和Centaur改装。 扫描探针显微镜的基本技术已经实现。 要改变扫描探针显微镜的操作模式（例如，从原子力显微镜模式中的操作切换到扫描隧道显微镜模式），改变探针架就足够了。

过使用内置的声学和振动隔离、热稳定、业界最佳灵敏度的光学配准系统以及探头扫描系统的独特设计，确保了最终的显示质量，从而在常规测量中实现原子分辨率。 在基本配置中，有 50 多种原子力显微镜技术可供使用，包括 HybriD 方法，它允许您进行所有尖端的纳米机械、电学和磁学研究。 ScanTronic™ 智能算法一键优化扫描参数，允许使用振幅调制方法进行完美的浮雕测量，而不考虑操作员的经验。 使用简单的用户界面自动检查多个样本，以创建逐点扫描脚本和存储采集图像的数据库。 以 1 微米 的定位精度在表面任意点控制尺寸最大为 200×200 mm、厚度最大为 40 mm 的样品。 广泛的定制选项：安装额外的光学设备、开发专用样品架、结合传输系统、根据客户要求进行测量和数据分析的自动化。