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红外光谱仪SPECTRAN-219

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红外光谱仪SPECTRAN-219
原产地:
圣彼得堡
SPEKTRAN-219分析仪的工作原理是基于在光谱的近IR区域测量研磨晶粒样品的漫反射系数。 根据测得的成分含量已知的谷物样品的反射数据,对分析仪进行校准,即计算出各成分的校准系数。 计算值存储在分析仪的内存中,然后用于产品分析。

技术规格
光谱范围,nm1400-2400
光谱测量误差
漫反射系数+/-5%
波长设定误差,nm+/-2.0
光谱测量的收敛性
漫反射系数为0.03%
外形尺寸,mm520x250x260
重量,公斤12