ابحث

الخصائص التقنية: مخطط بصري: مخطط بصري هيل معدل مع تعويض الاستجماتيزم ، قناتان طيفيتان مستقلتان إجمالي الفتح النسبي (عند المدخل): 1 / 4.2 البعد البؤري: 270 مم ضوء متناثر (20 نانومتر من الليزر): 2.5 س 10-5 التكبير الأفقي: 1.09 نانومتر ميزة: الأمثل للعمل مع أجهزة الكشف القائمة على اتفاقية مكافحة التصحر.

هو أفضل جهاز في فئته من حيث السعر والوظائف والجودة. يمكن الجهاز من جراء تحليل كمي ودقيق للمعادن في وقت قصير وتحديد درجة السبيكة. من الممكن بمساعدة الجهاز تحليل جميع عناصر تقريبا من الجدول الدوري لمندليف باستثناء C ، P و S.

المواصفات الفنية نطاق القياس الطيفي ، نانومتر 200-1100 صفر إشارة الانجراف ، لا أكثر 0.001 Б/ч في الساعة الحد الأقصى لانحراف خط الأساس من 0 في النطاق من 190 إلى 1100 نانومتر ، لا أكثر ± 0.002 وقت الإحماء (عند تشغيل مصباح الديوتيريوم) ، 20 دقيقة استنساخ إعداد الطول الموجي ، لا يزيد عن 0.2 نانومتر استهلاك الطاقة ، واط 200 الأبعاد الكلية ، مليمتر 225 * 476 * 362 الوزن ، كيلوغرام 11

المحاسبة الفنية: المجهر: مجهر مباشر مع برج لـ 6 عدسات دقيقة ، مع إضاءة ديود للتشغيل في وضع المجال الفاتح/المظلم في الضوء المنعكس وكاميرا فيديو ملونة. يتم اختيار مجموعة العدسات بشكل فردي بناء على نوع العينات التي يتم قياسها. مطياف: مطياف عالي الأداء بموضع شبكي ثابت. بناء على نوع العينات التي يتم قياسها ، يتم اقتراح نوعين مختلفين من صريف الحيود لضمان النطاق المسجل الأمثل والدقة الطيفية. كاشف: كاشف خطي حساس للغاية. يتراوح نطاق الحساسية الطيفية من 200 إلى 1100 نانومتر. عدد البكسل: 4096, حجم البكسل: 7 * 200 ميكرون. الليزر: الليزر دبس مع الطول الموجي من 532 0 0.1 نانومتر ، قوة 50 ميغاواط. اختياري: ليزر ديود بطول موجة 785 0 0.1 نانومتر ، قوة 130 ميجاوات مع عازل بصري. الحساسية: الكشف عن ذروة السيليكون من الدرجة الثالثة. القرار المكاني: الجانبي (س ص) < 1 µ م ؛ محوري (ض) < 2 µ م. كاميرا الفيديو: لون (5 ميجابكسل على الأقل) مع إمكانية حفظ الصور على الكمبيوتر. عينة المسح الضوئي: اختياري. الدقة الآلي هو الجدول مع مجموعة من الحركات من 100 * 75 ملم والحد الأدنى من الملعب من 100 نانومتر.

يعمل الجهاز في منطقة منتصف الأشعة تحت الحمراء من الطيف ، ويحتوي على منفذ بصري لإدخال الإشعاع من مصدر خارجي ، ومجهز بنظام تطهير غاز خامل. المواصفات الفنية: المدى الطيفي ، سم-1 370-7800 القرار الطيفي ، سم-1 0.1 نسبة الإشارة إلى الضوضاء (وقت القياس 1 دقيقة في حدود 2100-2200 سم-1 ودقة 4 سم-1) >60 ، 000 الحد الأدنى من الوقت للحصول على طيف كامل واحد أقل من 1 عدد قنوات القياس 2 كبر شعاع الخائن مع طلاء القائم على جنرال الكتريك مصدر الإشعاع هو ارتفاع درجة الحرارة المعدنية والسيراميك أو الخارجية DLATGS كاشف ، تبريد حساسية PbSe أبعاد مقصورة كوفيت ، مم 200 * 190 * 170 الأبعاد الكلية ، مم 540 * 490 * 250 الوزن ، كجم. 36

المواصفات الفنية: البعد البؤري: 200 مم الافتتاح النسبي: 1 / 3.6 الدقة الطيفية: 0.11 نانومتر (فو) ، 0.12 نانومتر (كاميرا رقمية (12 أوسم بكسل)) التشتت الخطي العكسي: 4.12 نانومتر / مم السمة المميزة لجهاز مطياف مس 200 أحادي اللون هي أفضل فتحة.

تم تصميم مطياف الفراغ للتحليل السريع للسبائك القائمة على الحديد والنحاس والألمنيوم والمعادن الأخرى في مختبرات المصانع والبحوث ، بما في ذلك تحديد العناصر التي لها خطوط تحليلية في مجال الأشعة فوق البنفسجية (ВУФ) (على سبيل المثال S, P و C في الفولاذ).

تم تصميم نظام التحليل الطيفي لزيت محرك الديزل "ЭКСПРЕСС_ОЙЛ" لتحليل زيوت المحركات وفقا ل غوست 20759 وتحديد تركيز عناصر التآكل من فرك أجزاء الديزل والملوثات والمواد المضافة في زيوت محركات الديزل أثناء الصيانة المجدولة وإصلاح الجر المتداول في مستودعات إصلاح قاطرة ، فضلا عن المحاسبة الإلكترونية وتحليل بيانات ديناميات محتوى عناصر التآكل في زيوت المحركات لكل قاطرة ، فضلا عن تحديد تكوين المعادن والسبائك وفقا ل غوست ، والشحوم (وفقا ل ЦТЧ-28/4 ، ЦТЧ-53) وغيرها من المواد.

تم تصميم مقياس الطيف لتحديد محتوى العناصر في النطاق من Na إلى U في المواد الصلبة والمسحوقة والمذابة، وكذلك تطبيقه على الأسطح أو ترسيبه على المرشحات. يعتمد مبدأ تشغيل مطياف الأشعة السينية على تشعيع عينة بالإشعاع الأولي لأنبوب الأشعة السينية، وقياس شدة إشعاع الفلورسنت الثانوي من العينة عند الأطوال الموجية المقابلة للعناصر التي يتم تحديدها، ثم الحساب اللاحق لـ الجزء الكتلي من هذه العناصر باستخدام خاصية المعايرة التي تم إنشاؤها مسبقًا، والتي تمثل اعتماد محتوى العنصر الذي يتم تحديده على الكثافة المقاسة. يتحلل إشعاع الفلورسنت الثانوي إلى طيف باستخدام بلورة محلل. وبفضل هذا، يتمتع مطياف الأشعة السينية بدقة عالية، وبالتالي القدرة على تحليل المواد المعقدة متعددة المكونات بدقة.

تم تصميم مقياس الطيف لقياس شدة الخطوط التحليلية للعناصر الكيميائية ، ومن خلال إعادة حسابها ، تحديد تركيز كتلة العناصر من P(15) إلى U (92) الواردة في العينة التي تم تحليلها (عينة). تتم عملية التحليل من مجموعة البيانات ومعالجتها إلى الحصول على النتائج في شكل جدول لتركيزات العناصر القابلة للكشف آليا ويتم تنفيذها باستخدام جهاز كمبيوتر شخصي. يمكن استخدام مطياف في مختلف مجالات العلوم والتكنولوجيا (علم البيئة ، علم الأحياء ، الطب ، الزراعة ، صناعة الأغذية ، الجيولوجيا ، التعدين ، الجيوفيزياء ، الرقابة الصحية والوبائية ، إلخ.).