ابحث

محلل AR-35 هو مجمع تحليلي مؤتمتة بالكامل مصممة لتحليل مضان الأشعة السينية المستمر للتركيب الكيميائي لللب والحلول في تيار. يحتوي الجهاز على رأس قياس يتم التحكم فيه بواسطة برنامج محمول مع أنبوب أشعة سينية وقنوات قياس طيفية ثابتة (حتى 8) ، يمكن ضبط كل منها على أي عنصر كيميائي (من Ca إلى U). أثناء التشغيل ، يتجاوز الرأس ما يصل إلى 15 كوفيت تدفق وفقا لبرنامج معين ، مع إجراء القياسات. متعدد القنوات (ما يصل إلى 15 منتجا تم تحليله). التوافق مع أنظمة التشغيل الآلي لأخذ العينات ، وتسليم العينات ، ومعالجة وعرض نتائج التحليل ، وتنظيم تخزين أرشيف بيانات التحليل. التواصل مع نظام التحكم الآلي في العمليات في المصنع التعبير العالي ، دقة التحليل ، حد الكشف المنخفض ، استنساخ التحليل. موثوقية عالية. يعتمد مبدأ تشغيل المحلل على إثارة الإشعاع الفلوري لذرات المادة قيد الدراسة عن طريق الإشعاع من أنبوب الأشعة السينية. يتم إطلاق الإشعاع الفلوري لعنصر كيميائي معين بواسطة بلورة محلل ، وبعد ذلك يتم تسجيل الإشعاع بطول موجي معين بواسطة كاشف الأشعة السينية. تتناسب شدة الإشعاع الفلوري المسجل بطول موجي معين بشكل مباشر مع الجزء الكتلي للعنصر الكيميائي في المادة قيد الدراسة.

تم تصميم محلل الكبريت تشتت موجة ASV-2 لقياس جزء كتلة الكبريت في البنزين (الخالي من الرصاص) ، وقود الديزل ، النفط ، الكيروسين ، بقايا النفط ، قواعد زيت التشحيم ، الزيوت الهيدروليكية ، وقود الطائرات ، النفط الخام وغيرها من المنتجات البترولية المقطرة. محلل تشتت الموجة من الكبريت يسمح لك لأداء وظائف الكشف عن الكبريت سواء في وضع فراغ من غرفة القياس وفي وضع تطهير الهيليوم. للقيام بذلك ، تم تجهيز الجهاز بمجموعة من الملحقات لتوصيل المحلل بمحطة الهيليوم.

يجمع مطياف مضان الأشعة السينية SPECTROSCAN MAX-GF1(2)E بين طريقتين لعزل الإشارة التحليلية: حيود البلورات (تشتت الموجة - WDX) وطريقة تشتت الطاقة (EDX). تم تصميم جهاز المطياف لتحديد محتوى العناصر في النطاق من Ca إلى U في المواد الصلبة والمسحوقة والمذابة وكذلك المطبقة على الأسطح أو المترسبة على المرشحات، وباستخدام القنوات الثابتة المشتتة للطاقة، يمكنك تحديد أي عنصر أو عنصرين إضافيين تتراوح من المغنيسيوم (Mg) إلى الكالسيوم (Ca). يعتمد مبدأ تشغيل جهاز المطياف على تشعيع عينة بالإشعاع الأولي من أنبوب الأشعة السينية، وقياس شدة إشعاع الفلورسنت الثانوي من العينة عند الأطوال الموجية المقابلة للعناصر التي يتم تحديدها، ثم الحساب اللاحق للجزء الكتلي من هذه العناصر. عناصر تستخدم خاصية معايرة تم إنشاؤها مسبقًا، والتي تمثل اعتماد محتوى العنصر الذي يتم تحديده على الكثافة المقاسة.

المحاسبة الفنية: المجهر: مجهر مباشر مع برج لـ 6 عدسات دقيقة ، مع إضاءة ديود للتشغيل في وضع المجال الفاتح/المظلم في الضوء المنعكس وكاميرا فيديو ملونة. يتم اختيار مجموعة العدسات بشكل فردي بناء على نوع العينات التي يتم قياسها. مطياف: مطياف عالي الأداء بموضع شبكي ثابت. بناء على نوع العينات التي يتم قياسها ، يتم اقتراح نوعين مختلفين من صريف الحيود لضمان النطاق المسجل الأمثل والدقة الطيفية. كاشف: كاشف خطي حساس للغاية. يتراوح نطاق الحساسية الطيفية من 200 إلى 1100 نانومتر. عدد البكسل: 4096, حجم البكسل: 7 * 200 ميكرون. الليزر: الليزر دبس مع الطول الموجي من 532 0 0.1 نانومتر ، قوة 50 ميغاواط. اختياري: ليزر ديود بطول موجة 785 0 0.1 نانومتر ، قوة 130 ميجاوات مع عازل بصري. الحساسية: الكشف عن ذروة السيليكون من الدرجة الثالثة. القرار المكاني: الجانبي (س ص) < 1 µ م ؛ محوري (ض) < 2 µ م. كاميرا الفيديو: لون (5 ميجابكسل على الأقل) مع إمكانية حفظ الصور على الكمبيوتر. عينة المسح الضوئي: اختياري. الدقة الآلي هو الجدول مع مجموعة من الحركات من 100 * 75 ملم والحد الأدنى من الملعب من 100 نانومتر.

تم تصميم مقياس الطيف لتحديد محتوى العناصر في النطاق من Na إلى U في المواد الصلبة والمسحوقة والمذابة، وكذلك تطبيقه على الأسطح أو ترسيبه على المرشحات. يعتمد مبدأ تشغيل مطياف الأشعة السينية على تشعيع عينة بالإشعاع الأولي لأنبوب الأشعة السينية، وقياس شدة إشعاع الفلورسنت الثانوي من العينة عند الأطوال الموجية المقابلة للعناصر التي يتم تحديدها، ثم الحساب اللاحق لـ الجزء الكتلي من هذه العناصر باستخدام خاصية المعايرة التي تم إنشاؤها مسبقًا، والتي تمثل اعتماد محتوى العنصر الذي يتم تحديده على الكثافة المقاسة. يتحلل إشعاع الفلورسنت الثانوي إلى طيف باستخدام بلورة محلل. وبفضل هذا، يتمتع مطياف الأشعة السينية بدقة عالية، وبالتالي القدرة على تحليل المواد المعقدة متعددة المكونات بدقة.

تم تصميم مقياس الطيف الضوئي SF 256 UVI لقياس المعاملات الطيفية للانتقال الاتجاهي للمواد السائلة والصلبة الشفافة في النطاق الطيفي من 190 إلى 1100 نانومتر. يتم تشغيل مقياس الطيف الضوئي بواسطة كمبيوتر خارجي. يعتمد مبدأ تشغيل مقياس الطيف الضوئي على قياس نسبة تدفقتين ضوئيتين: تلك التي مرت عبر عينة الاختبار إلى تلك التي مرت عبر عينة المقارنة. ينقسم الإشعاع أحادي اللون الخارج من أحادي اللون إلى قناتين (قناة العينة وقناة المقارنة) باستخدام مغير مرآة ويتم إرساله إلى حجرة الكوفيت ، ثم يتم توجيه تدفقات الإشعاع من كلتا القناتين بالتناوب إلى مستقبل الإشعاع. يتم تحويل الإشارات المستلمة من مستقبل الإشعاع إلى رموز رقمية ومعالجتها باستخدام معالج دقيق أو كمبيوتر خارجي. يتم عرض نتائج القياس على الشاشة والطابعة.

المواصفات الفنية: مدة نبض التفريغ هي 150 ميكروثانية ... قوس ثابت. تردد 50...250 هرتز القطبية مباشرة ، عكسية ، ثنائية القطب نطاق التركيزات المقاسة 0.001 ٪ - عشرات % من العناصر في المواد خطأ نسبي (اعتمادا على 0.5٪. من التركيز) 0%

وحدة الكشف عن نوع الطيف الذكي АТ1320В: إمكانية المراقبة الإشعاعية للفطر والتوت في وعاء سعة 10 لترات في 20 ثانية :АТ1320С أثناء القياسات ، يتم إجراء تحليل أولي لتكوين النويدات المشعة للعينة.يتم حساب النشاط بناء على نتائج تحديد النويدات المشعة الموجودة في العينة الخاضعة للرقابة الدعم المنهجي للقياسات

المواصفات الفنية: الحساسية: الكشف عن ذروة السيليكون من الدرجة الثالثة القرار المكاني: الجانبي (س ص) < 1 أوشم محوري (ض ) < 2 µ م الحد الأدنى من خطوة المسح من جدول رسم الخرائط 2 د: 100 نانومتر كاميرا المراقبة بالفيديو: ملونة (5 ميجابكسل على الأقل) مع إمكانية حفظ الصور على الكمبيوتر

تم تصميم مطياف الفراغ للتحليل السريع للسبائك القائمة على الحديد والنحاس والألمنيوم والمعادن الأخرى في مختبرات المصانع والبحوث ، بما في ذلك تحديد العناصر التي لها خطوط تحليلية في مجال الأشعة فوق البنفسجية (ВУФ) (على سبيل المثال S, P و C في الفولاذ).

تم تصميم مطياف أشعة غاما MKSP-01 “RADEK (المشار إليها فيما يلي باسم مطياف) لقياس توزيع الطاقة من أشعة غاما (الطيف) وتحديد النويدات المشعة التي تنبعث منها غاما. يتم تخزين الأطياف تلقائيا في ذاكرة غير متطايرة ثم تقرأ على جهاز كمبيوتر باستخدام البرنامج المضمن. مجال تطبيق المطياف هو تحديد أنشطة محددة أو النسبة المئوية للنويدات المشعة في ظروف التواجد الطبيعي للصخور والخامات ومواد البناء وأنواع مختلفة من المواد الخام والمنتجات التكنولوجية الأخرى في طبقة مشبعة بإشعاع جاما في الأشكال الهندسية 2 or أو 4π. إذا كانت المعايرة المناسبة وتقنيات القياس المعتمدة متاحة ، يمكن استخدام مطياف لحل مختلف مهام رصد الإشعاع ، بما في ذلك تحديد النشاط الفعال المحدد للنويدات المشعة الطبيعية في مواد البناء والمواد الخام والمنتجات والنفايات الصناعية والصخور دون أخذ عينات أولية. من الممكن العمل في وضع مقياس الإشعاع. في هذا الوضع ، يتم تسجيل المسار تلقائيا. تحتوي نقاط المسار على معلومات حول شدة إشعاع جاما (عفريت / ثانية) في الإحداثيات الجغرافية الحالية.

المصابيح الطيفية ذات الكاثود المجوف مخصصة للاستخدام كمصادر إشعاعية على الخطوط التحليلية للعناصر الكيميائية المختلفة في مطياف الامتصاص الذري. تنتج مصابيح الكاثود المجوفة من النوع ЛТ-6М لـ 60 عنصرًا كيميائيًا، بما في ذلك العناصر شديدة التقلب. يمكن تصنيع نوافذ الإخراج للمصابيح إما من زجاج uviol أو زجاج الكوارتز. يتمتع زجاج الكوارتز بنفاذية أعلى في منطقة الأشعة فوق البنفسجية (عند أطوال موجية أقل من 250 نانومتر). توفر المصابيح الطيفية من النوع ЛТ-6М انتقائية عالية واستقرارًا لنتائج القياس. يمكن استخدامه في كلا الوضعين النبضي والتيار المباشر. لتصحيح الامتصاص غير الانتقائي (الخلفية)، يتم إنتاج مصابيح الديوتيريوم ذات الكاثود المجوف، والتي تستخدم كمصادر طيف مستمرة في حدود 190 - 400 نانومتر. تتوفر مصابيح الديوتيريوم مع نوافذ الكوارتز والأوفيول. وقت تشغيل الضمان لمدة عام بعد الشحن هو 500 ساعة على الأقل. يتم توفير المصابيح لـ: أجهزة الشركات Perkin Elmer، Varian، Hitachi، GBC، Shimadzu، Thermo-Jarrel Ash، Unicam، Saturn، Spiral 14، Spiral 17، بالإضافة إلى أجهزة قياس الطيف AAS-1N، AAS-3، AAS-6، AAS-30، S-112، S-115، S-115M1، S-302، إلخ."