ابحث

البحث والكشف عن مصادر أشعة غاما مع تحديد تكوين النويدات المشعة - قياس الجرعة المحيطة المكافئة لإشعاع جاما مزيج من الاكتناز والحساسية العالية القدرة على تحليل الطيف وتحديد النويدات المشعة دون استخدام جهاز كمبيوتر المدمج في وحدة GPS إنذارات الصوت والضوء والاهتزاز

مطياف الأشعة تحت الحمراء فورييه صغيرة الحجم مع فك التشفير المتكاملة واثنين من أجهزة الكشف ، بما في ذلك مست تبريد حساسة للغاية. أوضاع التشغيل: الإرسال والانعكاس ، والقضم ، والقياسات باستخدام مجسات الألياف الضوئية (الإصدارات التي تحتوي على زوج أو زوجين من الموصلات المدمجة ممكنة). من الممكن توصيل مجهر الأشعة تحت الحمراء والتلسكوب لتسجيل أطياف الإشعاع الخارجي. يمكن استخدام مقياس الطيف كجهاز محمول ، ويستخدم، من بين أمور أخرى ، للمراقبة السريعة للعمليات التكنولوجية ، ومراقبة جودة السوائل في الخزانات وخطوط الأنابيب ، أثناء التحليلات المباشرة للأجسام البيولوجية ، وتحليل الغاز عن بعد. تم تصميم التثبيت لإنشاء صور عالية الجودة على مواد مختلفة ويوفر إنتاج أختام وطوابع مطاطية مبتذلة بدقة لا تقل عن 1800 نقطة في البوصة. < ر> < ر> الوصف < ر > <ر> تم إنشاؤه على أساس منصة شتريك المبتكرة ، والتي تقوم على نظام التحكم فريدة من نوعها ، والأجهزة والبرمجيات التي تم تطويرها بالكامل من قبل المتخصصين من شركتنا. < ر> تم تصميم التثبيت لإنشاء صور عالية الجودة على مواد مثل المطاط والمعدن والبلاستيك ويوفر إنتاج أختام وطوابع مبتذلة بدقة لا تقل عن 1800 نقطة في البوصة. < ر> يضمن ليزر الألياف المستخدم في التركيب مع نظام الماسحات الضوئية الجلفانية نقشا عالي الجودة في الوضع الثابت ، ولا يتطلب تبريد المياه وصيانة خاصة. < ر> عند تجميع النظام ، يتم استخدام الأجزاء المختبرة والمعتمدة فقط ، مما يضمن عمر خدمة طويل بشكل خاص دون استثمارات إضافية. < ر > <ر> الميزات: < ر > <ر> نظام تحديد المواقع عينة عالية الدقة تنسيق اثنين ، الذي يتحرك الجدول الكائن على طول س ، ص المحاور. نتيجة لنظام تحديد المواقع والنقش المتسلسل لشظايا الصورة ، من الممكن معالجة قطع العمل عالية الدقة بأبعاد تصل إلى 200 3 300 مم في الوضع التلقائي وفقا لبرنامج المعالجة الذي حدده المشغل; < ر> خوارزمية النقش الطبقات التلقائي باستخدام آلية عالية الدقة لتحريك رأس المسح الضوئي على طول ض تنسيق يسمح لك لتشكيل مفصلة للغاية 3د الصور تصل إلى 5 ملم عميق في الفراغات المعدنية (الصلب والنحاس والألومنيوم والتيتانيوم ، الخ.); < ر> يتم توفير العملية الطويلة للنقش طبقة تلو الأخرى للصور العميقة 3 د (ربما عشرات الساعات) دون تدخل المشغل بفضل خوارزمية تلقائية; < ر> تم تجهيز جورينيه بنظام مدمج لإزالة منتجات الاحتراق من منطقة التعرض لإشعاع الليزر ، ونتيجة لذلك ، يتم ضمان حماية العدسة الخالية من الرائحة والمسح الضوئي من منتجات الإنتاج، وهو أمر مهم بشكل خاص عند نقش المطاط والبلاستيك; < ر> يغطي جسم التثبيت بالكامل مناطق المعالجة والانتشار لإشعاع الليزر ، ويتم إجراء النقش وفقا للبرنامج الذي حدده المشغل في الوضع التلقائي مع إغلاق أغطية التثبيت. يسمح تصميم التثبيت هذا بتصنيفه على أنه أجهزة ليزر من فئة الخطر 1.

المواصفات الفنية: البعد البؤري (الإخراج): 750 مم الافتتاح النسبي (عند المدخل): 1/8 ، 9 طيف الدقة هو 0.015 و 0.0008 (إيشيل) نانومتر في الطول. عرض: 1.02 و 0.055 (إيشيل) نانومتر / مم الفرق: دقة طيفية عالية ، محيط مثالي للخطوط الطيفية.

تم تصميم محلل مضان الأشعة السينية التشتت موجة المتخصصة ، التي بنيت وفقا لمخطط كوشي ، لتحديد كمية عالية الدقة U, Th, Mo, Au, W, Tl, As, Pb, وغيرها العناصر في الخامات والصخور وفي تطوير الودائع من صنع الإنسان. القدرة على تحديد مجموعات العناصر دون إعادة تكوين محلل الكريستال. دقة عالية بشكل استثنائي للمخطط البصري للأشعة السينية وفقا لكوشي مع محلل كريستال كوارتز 1011. دعم رياضي متقدم. يعتمد مبدأ تشغيل المحلل على إثارة الإشعاع الفلوري لذرات عينة مادة الاختبار عن طريق الإشعاع من أنبوب الأشعة السينية. يتحلل الإشعاع الفلوري إلى طيف بواسطة طريقة كوشي. يتم تمييز الإشعاع الفلوري للعنصر المكتشف الذي يركز عليه محلل الكريستال والخط القياسي في دائرة رولاند البؤرية. ثم يتم تسجيلها بدورها بواسطة كاشف الأشعة السينية. تتناسب شدة الإشعاع الفلوري المسجل بطول موجي معين بشكل مباشر مع الجزء الكتلي للعنصر الكيميائي في المادة قيد الدراسة.

تم إنشاء مطياف وفقا لمخطط تشيرني تيرنر على أساس مقضب حيود مسطح ومحلل МАЭС مع خط واحد من أجهزة الكشف الضوئي. لقد زاد من الدقة الضوئية بسبب التبريد وتثبيت درجة الحرارة لنطاق الكاشف الضوئي ، وكذلك بسبب تصميمه الخالي من القشرة ، حيث لا يوجد إعادة انعكاس للإشعاع على زجاج الغطاء ومستوى الخلفية في الطيف المسجل ينخفض. تم تحسين المخطط البصري وتصميم مطياف الطيف للحصول على طيف عالي الجودة مع مستوى إشعاع خلفية منخفض في أي من المناطق الواقعة في النطاق الطيفي من 190-1100 نانومتر. يتم اختيار منطقة العمل عن طريق تغيير وتدوير شبكات الحيود. يتم تعبئة السكن مختومة من مطياف مع غاز خامل. يتم حقن الإشعاع في مطياف باستخدام مكثف الكوارتز أو كابل الألياف البصرية مع موصل SMA-905. يتم حماية المخطط البصري وتصميم مطياف بواسطة براءات الاختراع.

المواصفات الفنية: الحساسية: الكشف عن ذروة السيليكون من الدرجة الثالثة القرار المكاني: الجانبي (س ص) < 1 أوشم محوري (ض ) < 2 µ م الحد الأدنى من خطوة المسح من جدول رسم الخرائط 2 د: 100 نانومتر كاميرا المراقبة بالفيديو: ملونة (5 ميجابكسل على الأقل) مع إمكانية حفظ الصور على الكمبيوتر

محلل AR-35 هو مجمع تحليلي مؤتمتة بالكامل مصممة لتحليل مضان الأشعة السينية المستمر للتركيب الكيميائي لللب والحلول في تيار. يحتوي الجهاز على رأس قياس يتم التحكم فيه بواسطة برنامج محمول مع أنبوب أشعة سينية وقنوات قياس طيفية ثابتة (حتى 8) ، يمكن ضبط كل منها على أي عنصر كيميائي (من Ca إلى U). أثناء التشغيل ، يتجاوز الرأس ما يصل إلى 15 كوفيت تدفق وفقا لبرنامج معين ، مع إجراء القياسات. متعدد القنوات (ما يصل إلى 15 منتجا تم تحليله). التوافق مع أنظمة التشغيل الآلي لأخذ العينات ، وتسليم العينات ، ومعالجة وعرض نتائج التحليل ، وتنظيم تخزين أرشيف بيانات التحليل. التواصل مع نظام التحكم الآلي في العمليات في المصنع التعبير العالي ، دقة التحليل ، حد الكشف المنخفض ، استنساخ التحليل. موثوقية عالية. يعتمد مبدأ تشغيل المحلل على إثارة الإشعاع الفلوري لذرات المادة قيد الدراسة عن طريق الإشعاع من أنبوب الأشعة السينية. يتم إطلاق الإشعاع الفلوري لعنصر كيميائي معين بواسطة بلورة محلل ، وبعد ذلك يتم تسجيل الإشعاع بطول موجي معين بواسطة كاشف الأشعة السينية. تتناسب شدة الإشعاع الفلوري المسجل بطول موجي معين بشكل مباشر مع الجزء الكتلي للعنصر الكيميائي في المادة قيد الدراسة.

تم تصميم مقياس الطيف لتحديد محتوى العناصر في النطاق من Ca إلى U في المواد الصلبة والمسحوقة والمذابة، وكذلك تطبيقه على الأسطح أو ترسيبه على المرشحات. يعتمد مبدأ تشغيل جهاز المطياف على تشعيع عينة بالإشعاع الأولي من أنبوب الأشعة السينية، وقياس شدة إشعاع الفلورسنت الثانوي من العينة عند الأطوال الموجية المقابلة للعناصر التي يتم تحديدها، ثم الحساب اللاحق للجزء الكتلي من هذه العناصر. عناصر تستخدم خاصية معايرة تم إنشاؤها مسبقًا، والتي تمثل اعتماد محتوى العنصر الذي يتم تحديده على الكثافة المقاسة. يتحلل إشعاع الفلورسنت الثانوي إلى طيف باستخدام بلورة محلل. وبفضل هذا، يتمتع مقياس الطيف بدقة عالية، وبالتالي القدرة على تحليل المواد المعقدة متعددة المكونات بدقة.

الخصائص التقنية: مخطط بصري: متماثل أفقيا مع عدستين التعويض عن الاستجماتيزم: نعم القنوات الطيفية المستقلة: 1 الافتتاح النسبي (عند المدخل): 1 / 3.3 البعد البؤري: 99.3 مللي متر ضوء متناثر (20 نانومتر من الليزر): 9 س 10-4 التكبير الأفقي: 1.2 نانومتر السمات المميزة للجهاز: البساطة والاكتناز والوزن المنخفض

المواصفات الفنية: مخطط بصري: عدسة مرآة الأصلي الافتتاح النسبي: 1 / 4.9 البعد البؤري: 40 مللي متر تشتت خطي معكوس (متوسط) : 34.9 نانومتر / مم (حيود مقضب 600 شارع / مم) ، 17.8 نانومتر / مم (حيود مقضب 1200 شارع / مم) القرار الطيفي: < 0.8 نانومتر (حيود مقضب 600 شارع / مم) ، < 0.45 نانومتر (حيود مقضب 1200 شارع / مم)