ابحث

تم تصميم ميكرومتر MIKO-1 الصناعي لقياس المقاومة الكهربائية العابرة للتيار المباشر في حدود 1 0 0.02:: اتصالات مفاتيح الجهد العالي (بما في ذلك مع المحولات الحالية المدمجة) ؛ الموصلات، قطع الاتصال ، الموصلات ؛ وصلات مثبتة بمسامير وملحومة وملحومة لخطوط الأنابيب والإطارات الحالية ؛ وصلات السكك الحديدية ، أزواج العجلات من العربات ، إلخ

نطاق درجة حرارة التشغيل -20...+10 درجة مئوية. عدم الاستقرار في الحفاظ على درجة الحرارة المحددة ± 1 درجة مئوية. إجمالي حجم الغرفة 65 لترًا الأبعاد الكلية 760x700x850 ملم الوزن 70 كجم استهلاك الطاقة 500 واط

يوصى باستخدامه كجزء من معدات المراقبة الراديوية والقمع الإلكتروني. نطاق التردد هو 0.2-1 غيغاهرتز. الاستقطاب خطي. عامل الكسب (النحاس) هو dB 0 ديسيبل. الأبعاد الكلية د = 1120 مم ح = 585 مم.

يتم توزيع النويدات المشعة 133با داخل مصفوفة السيراميك وضعت في بطانة سبائك التنغستن (لمصادر زبا 3) أو الفولاذ المقاوم للصدأ (لمصادر غبا 3). يتم وضع الملحق مع المصفوفة في كبسولة معدنية مونيل مع نافذة البريليوم ، ملحومة باستخدام اللحام بالليزر.

كسفب + نماذج الإرسال والاستقبال والتعديلات

تم تصميم المشكل علامة ثانية متعددة القنوات لتوليد وإخراج إشارة النبض مع فترة تكرار النبض من 1 ج أكثر من عشر قنوات عند التشغيل كجزء من الأجهزة وحدات من الروبيديوم تش1-1011 تردد والوقت القياسية و تشك 7-1011 تردد المقارنة المصنعة من قبل روكنار تجسك. مدة النبض:......10-15 ميكروثانية مدة الحافة الأمامية من pulse:......no أكثر من 20 نانوثانية نبض amplitude:......at 3 فولت على الأقل عند حمولة 50 أوم

تم تصميم أداة قياس متخصصة لرصد VCHUانبعاثات الترددات اللاسلكية لاكتشاف الانبعاثات الكهرومغناطيسية الصادرة عن الأجهزة عالية التردد في نطاق الترددات من 9 كيلو هرتز إلى 1.8 جيجا هرتز وقياس خصائصها.

الإطار المعدني لطاولة الوزن قابل للتعديل في الارتفاع من 650 إلى 900 مم ويمكنه تحمل حمولة تصل إلى 300 كجم.

وهي مصممة للتحقيقات المعقدة للخصائص الفيزيائية للسطح بطرق الفحص المجهري البصري الكلاسيكي ، الفحص المجهري بالليزر متحد البؤر ، التحليل الطيفي متحد البؤر والمسح المجهري للمسبار (الفحص المجهري للقوة الذرية). فإنه يسمح الحصول على أطياف كاملة من رامان (رامان) تشتت و/أو مضان ، ليزر متحد البؤر والصور الطيفية متحد البؤر (رسم الخرائط السطحية) ، СЗМ (АСМ) الصور. تصميم مجمع Centaur I يسمح باستخدام كل من تقنيات منفصلة (على سبيل المثال ، المجهر متحد البؤر/التحليل الطيفي) والجمع بين التقنيات (بما في ذلك الجمع بين حقول المسح ، АСМ/Раман الدراسات ، الخ.).

تم تصميم نظام اختبار كفاءة المواد المرشحة التلقائي (АСТЭФМ) لتحديد سريع وعالي الجودة من خصائص تصفية المواد في نطاقات حجم الجسيمات نانو و سوبيكرون.