ابحث

تم تصميم كوفيت للكشف عن الشوائب في الغازات مع عتبة < 1٪. وضع التدفق أو تعبئة الغاز بعد التنظيف بالمكنسة الكهربائية. الجسم مصنوع من الفولاذ غير الصدأ ، واثنين من صمامات الخوار. طول المسار البصري هو 100 ملم. نوافذ - 40 مم ، مادة KBr مع طلاء مقاوم للرطوبة أو Ca F2.

يجمع مطياف مضان الأشعة السينية SPECTROSCAN MAX-GF1(2)E بين طريقتين لعزل الإشارة التحليلية: حيود البلورات (تشتت الموجة - WDX) وطريقة تشتت الطاقة (EDX). تم تصميم جهاز المطياف لتحديد محتوى العناصر في النطاق من Ca إلى U في المواد الصلبة والمسحوقة والمذابة وكذلك المطبقة على الأسطح أو المترسبة على المرشحات، وباستخدام القنوات الثابتة المشتتة للطاقة، يمكنك تحديد أي عنصر أو عنصرين إضافيين تتراوح من المغنيسيوم (Mg) إلى الكالسيوم (Ca). يعتمد مبدأ تشغيل جهاز المطياف على تشعيع عينة بالإشعاع الأولي من أنبوب الأشعة السينية، وقياس شدة إشعاع الفلورسنت الثانوي من العينة عند الأطوال الموجية المقابلة للعناصر التي يتم تحديدها، ثم الحساب اللاحق للجزء الكتلي من هذه العناصر. عناصر تستخدم خاصية معايرة تم إنشاؤها مسبقًا، والتي تمثل اعتماد محتوى العنصر الذي يتم تحديده على الكثافة المقاسة.

المحاسبة الفنية: المجهر: مجهر مباشر مع برج لـ 6 عدسات دقيقة ، مع إضاءة ديود للتشغيل في وضع المجال الفاتح/المظلم في الضوء المنعكس وكاميرا فيديو ملونة. يتم اختيار مجموعة العدسات بشكل فردي بناء على نوع العينات التي يتم قياسها. مطياف: مطياف عالي الأداء بموضع شبكي ثابت. بناء على نوع العينات التي يتم قياسها ، يتم اقتراح نوعين مختلفين من صريف الحيود لضمان النطاق المسجل الأمثل والدقة الطيفية. كاشف: كاشف خطي حساس للغاية. يتراوح نطاق الحساسية الطيفية من 200 إلى 1100 نانومتر. عدد البكسل: 4096, حجم البكسل: 7 * 200 ميكرون. الليزر: الليزر دبس مع الطول الموجي من 532 0 0.1 نانومتر ، قوة 50 ميغاواط. اختياري: ليزر ديود بطول موجة 785 0 0.1 نانومتر ، قوة 130 ميجاوات مع عازل بصري. الحساسية: الكشف عن ذروة السيليكون من الدرجة الثالثة. القرار المكاني: الجانبي (س ص) < 1 µ م ؛ محوري (ض) < 2 µ م. كاميرا الفيديو: لون (5 ميجابكسل على الأقل) مع إمكانية حفظ الصور على الكمبيوتر. عينة المسح الضوئي: اختياري. الدقة الآلي هو الجدول مع مجموعة من الحركات من 100 * 75 ملم والحد الأدنى من الملعب من 100 نانومتر.

تم تصميم مقياس الطيف لتحديد محتوى العناصر في النطاق من Na إلى U في المواد الصلبة والمسحوقة والمذابة، وكذلك تطبيقه على الأسطح أو ترسيبه على المرشحات. يعتمد مبدأ تشغيل مطياف الأشعة السينية على تشعيع عينة بالإشعاع الأولي لأنبوب الأشعة السينية، وقياس شدة إشعاع الفلورسنت الثانوي من العينة عند الأطوال الموجية المقابلة للعناصر التي يتم تحديدها، ثم الحساب اللاحق لـ الجزء الكتلي من هذه العناصر باستخدام خاصية المعايرة التي تم إنشاؤها مسبقًا، والتي تمثل اعتماد محتوى العنصر الذي يتم تحديده على الكثافة المقاسة. يتحلل إشعاع الفلورسنت الثانوي إلى طيف باستخدام بلورة محلل. وبفضل هذا، يتمتع مطياف الأشعة السينية بدقة عالية، وبالتالي القدرة على تحليل المواد المعقدة متعددة المكونات بدقة.

توفر آلة УЗС-6М شحذ عينات الكربون من الشكل المطلوب مع استنساخ عالية ، وهو شرط مهم للحصول على نتائج موثوقة. المواصفات الفنية: شكل شحذ القطب المضاد كروي ، مخروط مع منصة. شكل شحذ القطب الناقل العينة هو قناة أسطوانية. لا يزيد اختلال الجزء الأرضي من محور القطب عن 0.2 مم. فئة نقاء السطح المعالج ليست أقل من 5. سرعة المحرك 2620 دورة في الدقيقة. سعة الماكينة 120 وحدة / ساعة. الأبعاد الكلية هي 230 * 195* 145مم. الوزن 2.5 كجم. استهلاك الطاقة هو 40 فولت أمبير. مصدر الطاقة من تيار متردد أحادي الطور 220 فولت ، 50 هرتز.

أثناء التشغيل ، يوفر مولد البخار للعينات المعدنية "Аспект" : التحكم في جميع أجهزة مجمع التحليل الطيفي للانبعاثات الذرية-محلل МАЭС ، ومولد "Шаровая Молния" وإدراج الأجهزة الخارجية; يتم إثارة تفريغ شرارة أحادي القطب بين قطب التنغستن المضاد وسطح العينات المدروسة-سبائك المعادن الثمينة أو عينات معدنية أخرى; يتم تنظيم شدة تآكل سطح العينة عن طريق تغيير تردد التكرار وقوة نبضات الشرارة الناتجة عن مولد شرارة أشباه الموصلات الذي يتم التحكم فيه بواسطة الكمبيوتر; يتم مراقبة استقرار وجودة البحث باستخدام مطياف متكامل عبر الألياف الضوئية; يمر تدفق قابل للتعديل من الأرجون عالي النقاء عبر منطقة تفريغ الشرارة في غرفة تفريغ محكمة الغلق ، ويلتقط جزيئات العينة التي تم الحصول عليها عن طريق تآكل السطح بالشرارة وينقلها على شكل رذاذ إلى منطقة الخلاط/البخاخ لشعلة البلازما المقترنة بالحث لمطياف الانبعاث البصري; يتم توفير تدفق الأرجون عالي النقاء والتحكم فيه وتنظيمه باستخدام منظم تدفق الكتلة الذي يتحكم فيه المعالج الدقيق في النطاق من 0.5 إلى 3 لتر/دقيقة. استقرار التدفق هو 0.01 لتر / دقيقة.

يحتوي الكوفيت ذو النوافذ المتصلة بإحكام على طول مسار بصري ثابت وسكن قابل للطي. تم تصميم كوفيت للتحليل النوعي والكمي للسوائل المتطايرة والسوائل ذات اللزوجة المنخفضة.

تم تصميم مقياس الطيف الضوئي SF 256 UVI لقياس المعاملات الطيفية للانتقال الاتجاهي للمواد السائلة والصلبة الشفافة في النطاق الطيفي من 190 إلى 1100 نانومتر. يتم تشغيل مقياس الطيف الضوئي بواسطة كمبيوتر خارجي. يعتمد مبدأ تشغيل مقياس الطيف الضوئي على قياس نسبة تدفقتين ضوئيتين: تلك التي مرت عبر عينة الاختبار إلى تلك التي مرت عبر عينة المقارنة. ينقسم الإشعاع أحادي اللون الخارج من أحادي اللون إلى قناتين (قناة العينة وقناة المقارنة) باستخدام مغير مرآة ويتم إرساله إلى حجرة الكوفيت ، ثم يتم توجيه تدفقات الإشعاع من كلتا القناتين بالتناوب إلى مستقبل الإشعاع. يتم تحويل الإشارات المستلمة من مستقبل الإشعاع إلى رموز رقمية ومعالجتها باستخدام معالج دقيق أو كمبيوتر خارجي. يتم عرض نتائج القياس على الشاشة والطابعة.

يمكن تجهيز جهاز كاشف ضوئي مزود بأنبوب مضاعف ضوئي FPU FEU بـ 1P28 FEU (photomultiplier tube) للتشغيل في النطاق من 185 إلى 600 نانومتر، أو R928 FEU للتشغيل في النطاق من 185 إلى 900 نانومتر، أو R5108 FEU للنطاق من 400 إلى 1200 نانومتر حسب رغبة العميل. يتم إنتاج جميع المضاعفات الضوئية المدرجة بواسطة شركة هاماماتسو. يحتوي الجهاز أيضًا على لوحة مصابيح نشطة بما في ذلك مصدر طاقة عالي الجهد منظم ومقسم جهد نشط ومحول من الضرائب إلى الرقمية

المواصفات الفنية: مدة نبض التفريغ هي 150 ميكروثانية ... قوس ثابت. تردد 50...250 هرتز القطبية مباشرة ، عكسية ، ثنائية القطب نطاق التركيزات المقاسة 0.001 ٪ - عشرات % من العناصر في المواد خطأ نسبي (اعتمادا على 0.5٪. من التركيز) 0%

المواصفات الفنية: الحساسية: الكشف عن ذروة السيليكون من الدرجة الثالثة القرار المكاني: الجانبي (س ص) < 1 أوشم محوري (ض ) < 2 µ م الحد الأدنى من خطوة المسح من جدول رسم الخرائط 2 د: 100 نانومتر كاميرا المراقبة بالفيديو: ملونة (5 ميجابكسل على الأقل) مع إمكانية حفظ الصور على الكمبيوتر

تم تصميم مطياف الفراغ للتحليل السريع للسبائك القائمة على الحديد والنحاس والألمنيوم والمعادن الأخرى في مختبرات المصانع والبحوث ، بما في ذلك تحديد العناصر التي لها خطوط تحليلية في مجال الأشعة فوق البنفسجية (ВУФ) (على سبيل المثال S, P و C في الفولاذ).