ابحث

مسح مطياف رامان متحد البؤر مع خيار СЗМ الأبعاد المدمجة أتمتة كاملة للنظام التصميم الأصلي من مطياف فتحة عالية للجهاز مع الحد الأدنى من الخسائر البصرية. يتم تصنيع الدائرة متحد البؤر وفقا للمخطط الأصلي ، وتوفر أبعادا مدمجة وأقل انجرافات للعناصر البصرية. يوفر المجهر الضوئي المدمج البحث عن موقع مناسب للقياسات. تستخدم المكونات الميكانيكية الدقيقة والبصريات في التصميم. يمكن استخدامه في كل من المختبرات الصناعية والجامعات البحثية.

NTEGRA Spectra II هو بالفعل الجيل الثاني من نظام القياس الذي يوضح توحيد عالمين بنجاح: التحيل الطيفي لرومانف و مجهر القوة الذرية. من رسم الخرائط الإغاثة إلى التحليل الطيفي من دراسات الخواص الكهربائية والميكانيكية للقياسات البصرية مع قرار أقل من حد الحيود. الآن يمكن للعلماء إجراء تحليل فيزيائي كيميائي كامل للخصائص السطحية للعينة في وقت واحد. نتيجة لذلك ، يتمتع الباحثون بفرص غير محدودة لتطوير تقنياتهم المختبرية.

NT-MDT Spectrum Instruments هو NTEGRA Nano IR (الأشعة تحت الحمراء)مجهر النثر المسح بالقرب من المجال الضوئي (s-SNOM) مصممة لمجموعة الطيف الأشعة تحت الحمراء. يقع مسبار مجهر القوة الذرية في بؤرة نظام بصري يوجه أشعة الليزر IR (الأشعة تحت الحمراء) إلى العينة ويجمع الاستجابة البصرية. يتم إرسال الإشعاع الذي تم جمعه إلى مقياس تداخل ميكلسون للتحليل البصري. يتم قمع مكون المجال البعيد للإشارة المجمعة عن طريق الكشف المتزامن. يسمح NTEGRA Nano IR باكتشاف اتساع وطور إشارة المجال القريب. تبلغ الدقة المكانية للانعكاس الناتج وتناقضات الامتصاص حوالي 10 نانومتر ويتم تحديدها فقط من خلال حجم طرف المسبار.

وهي مصممة لإجراء دراسات شاملة لخصائص السطح باستخدام الفحص المجهري البصري والتحليل الطيفي والمسح المجهري للمسبار. انها تسمح للحصول على كامل تشتت رامان و / أو أطياف مضان ، ليزر متحد البؤر والصور الطيفية متحد البؤر (رسم الخرائط السطحية) ، صور СЗМ. تصميم مجمع Centaur I HR يسمح لك للعمل مع كل من تقنيات منفصلة (على سبيل المثال ، المجهر القوة الذرية) والجمع بين التقنيات (АСМ-Раман ، ليزر متحد البؤر و АСМ).

دخول مستوى المسح المجهر التحقيق (СЗМ) مسح الطائرة موازية على طول X, Y,Z ض محاور يسمح لك للحصول على صورة من السطح وتنفيذ تحرير الصور اللاحقة مع الحد الأدنى من التشويه وفقدان المعلومات; يجعل التصميم المفتوح لرأس المسح من الممكن مراقبة سطح عينة الاختبار بزاوية 0-90° ، وتثبيت أجهزة ومعدات إضافية; يسمح لك التكوين المعياري بتثبيت مجهر مسبار المسح Certus Light على المجاهر الضوئية التقليدية (المباشرة أو المقلوبة) ، والجمع بين الأجهزة البصرية وترقية هذا الجهاز إلى التعديلات

مجهر مسبار المسح Certus Light V هو نسخة مدمجة من СЗМ مع الحد الأدنى من الوظائف والتكلفة. والفرق الرئيسي من الإصدار الرئيسي من Certus Light هو عينة المسح ونظام العرض أكثر دقة. يتكون الجهاز من رأس يقرأ حالة الكابول ، وماسح ضوئي مسطح متعدد الوظائف ، ونظام إمداد وتركيب رأس. يعمل الجهاز مع الحد الأدنى من التكوين لوحدة التحكم الإلكترونية المدمجة مباشرة في الجسم الرئيسي ، أي أن الجهاز عبارة عن قطعة واحدة. من الممكن التحكم في الجهاز عن بعد عبر جهاز كمبيوتر لوحي باستخدام برنامج متخصص لنظام التشغيل أندرويد.

التكوين الأساسي لمجهر مسبار المسح Certus ، المصمم لحل مجموعة واسعة من المهام البحثية والتحليلية. مسح الطائرة موازية على طول X, Y,Z محاور يسمح لك للحصول على صورة من السطح وتنفيذ تحرير الصور اللاحقة مع الحد الأدنى من التشويه وفقدان المعلومات; المسح الضوئي مع كل من التحقيق (الماسح الضوئي التقليدي داخل رأس المسح Certus) والماسح الضوئي عينة شيز فائق السرعة. يحل الاتصال المتوازي للمستوى للمسبار بالعينة مشكلة التوصيل اليدوي الشاق للمسبار بالعينة. يتم التوريد بواسطة ثلاثة دعامات آلية; يجعل التصميم المفتوح لرأس المسح من الممكن مراقبة سطح عينة الاختبار بزاوية 0-90° ، وتثبيت أجهزة ومعدات إضافية; يسمح التكوين المعياري بتثبيت مجهر مسبار المسح القياسي في Certus Standard على المجاهر الضوئية التقليدية (المباشرة أو المقلوبة) ، جنبا إلى جنب مع الأجهزة البصرية وترقيتها إلى تعديلات Certus Optic и Centaur.; وقد نفذت التقنيات الأساسية لإدارة السياسات الخاصة. لتغيير وضع تشغيل مجهر مسبار المسح (على سبيل المثال ، التبديل من التشغيل في وضع مجهر القوة الذرية إلى وضع مجهر المسح النفقي) ، يكفي تغيير حامل المسبار.

يتم ضمان جودة العرض النهائية من خلال استخدام العزل الصوتي والاهتزاز المدمج ، والاستقرار الحراري ، وأفضل حساسية في الصناعة لنظام التسجيل البصري والتصميم الفريد لنظام المسح الضوئي ، والذي يسمح بتحقيق الدقة الذرية في القياسات الروتينية. في التكوين الأساسي ، تتوفر 50 + تقنيات AFM ، بما في ذلك طريقة HybriD ، والذي يسمح لجميع الدراسات الميكانيكية النانوية والكهربائية والمغناطيسية المتطورة. خوارزمية الذكية ScanTronic™ لتحسين معلمات المسح بنقرة واحدة بالماوس ، مما يسمح بقياسات ارتفاع مثالية باستخدام طريقة تعديل السعة ، بغض النظر عن تجربة المشغل. الفحص الآلي لعينات متعددة باستخدام واجهة مستخدم بسيطة لإنشاء سيناريو مسح نقطة بنقطة وقاعدة بيانات للصور المخزنة المكتسبة. التحكم في العينات بأبعاد تصل إلى 200 * 200 مليمتر وسمك يصل إلى 40 مليمتر في أي نقطة من السطح بدقة تحديد المواقع 1 ميكرو متر. خيارات التخصيص الواسعة: تركيب معدات بصرية إضافية ، وتطوير حاملي العينات المتخصصين ، والجمع مع نظام النقل ، وأتمتة القياسات وتحليل البيانات وفقا لمتطلبات العملاء.

يقدم NT-VDT S.I. NTEGRA II الجيل الثاني لمسح القوة والذرية أكثر شعبية في العالم بفضل ميزات إضافية ووظائف متقدمة ، فإنه يوفر مستوى غير مسبوق من النمطية والمرونة ، ليصبح شريكا حقيقيا للباحث. ذكي وسريع وموثوق ودقيق وسهل الاستخدام بلا شك. للقضاء على تأثير بيئة صاخبة ، يتم توفير NTEGRA II في الخزانة القياسية التي توفر التحكم في درجة الحرارة ، الصوتية والاهتزاز العزلة. هذا المزيج يكشف عن الطبيعة الحقيقية NTEGRA II كأكثر استقرارا مجهر القوة الذرية (AFM) في العالم ، الذي يوفر انجراف درجة الحرارة على مستوى أقل من 0.2 نانومتر/دقيقة.

NTEGRA Prima تنفذ عدة طرق المسح الضوئي: عينة المسح الضوئي ، التحقيق المسح الضوئي والمسح المزدوج. في هذا الصدد ، يعد النظام مثاليا لفحص العينات الصغيرة ذات الدقة العالية جدا ، وكذلك العينات الكبيرة في نطاقات المسح حتى 100 * 100 * 10 ميكرون. يسمح الوضع الفريد *DualScan * بالقياسات في الحقول الكبيرة (200-200 ميكرون في المستوى الأفقي و 22 ميكرون في الاتجاه الرأسي) ، والتي يمكن أن تكون مفيدة في دراسة الخلايا الحية ومكونات الأنظمة الكهروميكانيكية الدقيقة. تقوم مستشعرات التحكم في التغذية المرتدة السعوية المدمجة بثلاثة محاور بتتبع الإزاحة الحقيقية للماسح الضوئي وتعويض العيوب الحتمية للسيراميك ، مثل اللاخطية والزحف والتباطؤ. للتلاعب وأنماط الطباعة الحجرية ، والتنسيق الدقيق من ناتئ في حقول صغيرة تصل إلى 10 1 10 نانومتر مطلوب ، والتي يتم توفيرها من قبل أجهزة الاستشعار المثبتة في АСМ NTEGRA Primaمع نسبة إشارة إلى الضوضاء عالية. NTEGRA Prima لديه المدمج في نظام بصري مع قرار من 1 أوكتم ، والتي من الممكن لمراقبة عملية المسح في الوقت الحقيقي

على الرغم من الاكتناز وسهولة التشغيل ويدعم جميع المنهجية الأساسية لمجهر القوة الذرية ومجهر المسح والنفق ، وبالتالي فإنه يمكن استخدامها لأي مجهر القوة الذرية الروتينية و مجهر المسح النفقي والتجارب في البحث العلمي. على سبيل المثال ، يتم عرض نتائج بعض التجارب في مختلف التطبيقات العلمية: التحقيق في الهياكل الذرية التحقيق في الهياكل النانوية المعدنية التحقيق في الهياكل المغناطيسية البحث عن كائنات البوليمر البحث عن الأشياء البيولوجية البحث في المواد النانوية الكربونية