Поиск

Стереоскопический микроскоп МБС-17 предназначен для наблюдения стереоскопического изображения объектов в отражённом свете. Микроскоп комплектуется кольцевым светодиодным осветителем, обеспечивающим бестеневое освещение объекта. Питание кольцевого осветителя осуществляется от электрической сети переменного тока напряжением (220±10%) В, частотой 50 Гц.

Предназначен для получения изображения микрогеометрии поверхности объектов, в основе которого лежит метод двухлучевой интерференции света. Технические характеристики: Диапазон измерения параметров шероховатости Rmax, Rz и толщины пленок, мкм 0,1 – 0,8 Видимое увеличение микроскопа, крат 500 Визуальная насадка монокулярная Угол наклона окулярного тубуса, град 45 Видимое увеличение окуляр, крат 15 Линейное поле зрения в пространстве предмета, мм 0,3 Перемещение предметного столика, мм 0 - 10 в продольном и поперечном направлениях, вращение столика Цена деления шкал барабанов микрометрических винтов столика, мм 0,005 Цена деления шкалы барабана микрометрического винта фокусировочного механизма, мм 0,002 Освещение белым или монохроматическим светом Источник света светодиод белого свечения Винтовой окулярный микрометр, крат 16 ( МОВ-1-16) Фотоэлектрический окулярный микрометр ФОМ-2-16х* Источник питания сеть переменного тока напряжением 220В, частотой 50Гц через настольный блок питания Габаритные размеры, не более, мм 300х300х420 Масса, не более, кг 30

Предназначен для клинической лабораторной диагностики и обеспечивает наблюдение объектов в проходящем свете при освещении по методу светлого и темного поля. Технические характеристики: Видимое увеличение микроскопа, крат 40 – 1000, 1500* Визуальная насадка: бинокулярная, вращение на 360° в закрепленном положении Увеличение насадки, крат 1,0 Угол наклона бинокулярных тубусов, град 30 Регулируемое межзрачковое расстояние, мм 55-75 Окуляры: видимое увеличение, крат/поле, мм широкопольные 10/18 Револьверное устройство крепления объективов: четырехгнездное, повернуто к штативу, вращение в любом направлении Тип коррекции объективов: ахроматическая Объективы (увеличение), крат/ числовая апертура 4/0,1; 10/0,25; 40/0,65; 100/1,25 МИ Двухкоординатный предметный столик рукоятки коаксиальные, управление справа Диапазон перемещения препарата, мм 75х50 Фокусировочный механизм перемещения столика по высоте коаксиальные рукоятки грубой и точной фокусировки и регулировки тугости хода расположены слева, справа – рукоятка точной фокусировки Конденсор Аббе, числовая апертура А=0,9 (1,25 МИ), ирисовая диафрагма светофильтры: синий, зеленый, желтый Обеспечение темного поля с объективами от 4х до 40х наличие Штатив микроскопа: унифицированный (патент № 84195); оснащен системой менеджера света с 5-ти уровневыми точечными светодиодами по обеим сторонам основания штатива Узел коллектора с вентиляционными отверстиями, съёмный, выдвигается вперёд по направляющим салазкам обеспечивает: - оптимальный тепловой режим; - удобную безопасную замену источника света без изменения положения штатива; - установку узла с зеркалом на кронштейне (дополнительная опция) Источник света: светодиод «белого» свечения 5 Вт Источник питания: сеть переменного тока, 220 В 50 Гц, блок питания встроен в штатив, обеспечивает плавную регулировку яркости Габаритные размеры, мм 250х350х420 Габаритные размеры в упаковке, мм 280х400х530 Масса/ Масса в упаковке, не более, кг 7,0 / 8,0

Предназначен для наблюдения прозрачных препаратов в проходящем свете в светлом поле. Данный микроскоп широко применяется при изучении естественных наук в школах 11-111 ступени, специальных учебных заведениях. Также его используют больницах, поликлиниках, для различных исследований в лабораторной и врачебной практиках.

Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения панкратической системы. Технические характеристики: Параметры оптической головки МСП-1 вар. 22М и 23 Увеличение zоом объектива, крат 1,0 – 4,5 Видимое увеличение микроскопа с окуляром 10х (20х), крат с дополнительным объективом 2х* с дополнительным объективом 0,5х* 10 – 45 (20 – 90) 20 – 90 (40 – 180)* 5 – 22,5 (10 – 45)** Рабочее расстояние, мм с дополнительным объективом 2х, мм* с дополнительным объективом 0,5х, мм* 97 30* 180** Насадка тринокулярная включает бинокуляр и вертикальный тубус Наклон тубусов бинокуляра, град 45 Межзрачковое расстояние, мм 55 – 75 Увеличение адаптера для камеры (C-mount), крат 0,5х

Предназначен для совместной работы с компьютером и обеспечивает возможность наблюдения на дисплее компьютера прозрачных и непрозрачных малоразмерных объектов. Технические характеристики: Увеличение микроскопа, крат 10х – 100х (плавное изменение) Поле зрения, мм 20 (при 10х) – 2 (при 100х) Разрешаемый размер, мкм 8 Видеоматрица 1,4 CMOS VGA 640x480 Подсветка Светодиодная (верхняя и нижняя) 11 градаций яркости Функция измерения линейных размеров + Интерфейс USB 1.1 Программное обеспечение µSOFT View™ Системные требования для подключения к компьютеру Windows 98, 2000, XP, Vista и 7 Процессор Pentium IV, Celeron, AMD Athlon или выше RAM 128 Мб и более Свободное пространство на жестком диске не менее 20 Мб Привод CD ROM USB порт Источник питания сеть переменного тока напряжением (220±22) В, частотой 50 Гц Габаритные размеры, мм 120х170х250 Масса, не более, кг 0,5

Предназначен: для фотометрических исследований в проходящем, отраженном свете и в свете люминесценции, а также для исследований в поляризованном свете микрообъектов и микроучастков макрообъектов. Технические характеристики: Увеличение микроскопа, крат 50 – 1000 Спектральный диапазон регистрации, нм Зеркального отражения Диффузного отражения Пропускания (оптической плотности) Люминесценции 350 – 900 380 – 760 350 – 900 400 – 700 Минимальный размер фотометрируемого участка, мкм 1 Количество фотометрических диафрагм, шт. 6 Визуальная насадка бинокулярная Угол наклона окулярных тубусов, град 20 Увеличение насадки, крат 1 Регулируемое межзрачковое расстояние 55-75 Окуляры, крат 10 Освещение - проходящий свет - классическое по Келлеру, - сверху - свет, падающий через объектив, - от наклонного осветителя Тип коррекции объективов Микрофлюары, стигмахроматы Объективы (увеличение) 5/0,1 ∞/- 10/0,25Л∞/ - 20/0,45Л ∞/0,17 40/0,65Л ∞/0,17 100/1,30Л МИ ∞/0,17 (ирис) Револьверное устройство крепления объективов Четырехгнездное, вращение в любом направлении Предметный столик рукоятки коаксиальные, управление справа Диапазон перемещения предметного столика, мм 76х26 Конденсор числовая апертура 0,9 Источник света лампа галогенная 9 В 70 Вт, лампа ртутная HBO 100 Вт Источник питания сеть переменного тока, 220 В 50 Гц, блоки питания настольного типа, для галогенной лампы - регулировка яркости Габаритные размеры: микроскопа, мм 260х550х730 БУСМ-10 320х350х160 Блоков питания ртутной и галогенной лампы 242х125х71 Масса прибора, кг 30

Разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения. Конструкция комплекса Centaur U позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).

ИК микроскоп «МИКРАН» предназначен для работы с ИК фурье-спектрометрами «Инфралюм ФТ-801». Спектральный диапазон 6000 – 600 см-1 (с микроскопом и детектором МСТ, охлаждаемым жидким азотом). Разрешение 0.5, 1, 2, 4, 8 см-1 (определяется разрешением фурье-спектрометра)

Просмотр и измерение зерен и дефектов структуры материалов, разрешение до атомов (Нобелевская премия 1986г), замена метало-графических и электронных микроскопов: Увеличение: от х2 тысяч до х10 млн. Диапазон измерения: от 0.2 нм до 30 мкм Все базовые (СТМ, контактный и вибро-АСМ) режимы, и более 25 доп.режимов

Сканирующий конфокальный рамановский спектрометр с опцией СЗМ Компактные размеры Полная автоматизация системы Оригинальная конструкция спектрометра Высокая светосила прибора с минимальными оптическими потерями. Конфокальная схема выполнена по оригинальной схеме, обеспечивает компактные размеры и минимальные дрейфы оптических элементов. Встроенный оптический микроскоп обеспечивают удобный поиск места для измерений. В конструкции применены прецизионные механические комплектующие и оптика. Может быть использован как в условиях промышленных лабораторий, так и в исследовательских университетах.

Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов. достижения оптоэлектроники и 25-летний опыт компании в области спектрального и лазерного приборостроения. Техническая характеристика: Микроскоп: Прямой микроскоп Nikon Ni с турелью на 6 микрообъективов, с диодным осветителем для работы в режиме светлого поля в отраженном свете и цветной камерой видеонаблюдения*. Комплект объективов выбирается индивидуально исходя из типа измеряемых образцов. Узел отрезающих (режекторных) фильтров, диапазон измерения Рамановских спектров: Автоматически сменяемые Edge*** фильтры, обеспечивающие работы в следующих диапазонах: 532 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 633 нм: от 60 см-1 до 4500 см-1 785 нм: от 50 см-1 до 2900 см-1 Спектрометр: Высокоэффективный сканирующий спектрометр с оптикой рассчитанной на диапазон: 400-1100 нм.** Дифракционные решетки: До 4 решеток установленных в автоматизированной прецизионной турели: 2400 штр/мм, 1800 штр/мм, 1200 штр/мм, 600 штр/мм. Возможность использования Эшелле решетки. Детектор: Высокочувствительный BackThinned ПЗС детектор с термоэлектрическим охлаждением. Диапазон спектральной чувствительности: 200-1100 нм. Количество пикселей: 2048х122, размер пиксела: 12 мкм, охлаждение: до -40 °С или FI ПЗС детектор 1600х200 с охлаждением до -60 °С. Спектральное разрешение: 1.4 см-1 (0,7 см-1/пиксел) с решеткой 2400 штр/мм либо до 0,3 см-1 с Эшелле решеткой (для лазера 532 нм). Конфокальный пинхол: Автоматизированный узел сменных конфокальных диафрагм (пинхолов): 10 мкм, 30 мкм, 40 мкм, 50 мкм, 100 мкм, 1000 мкм. Лазеры: Могут быть установлены до трех лазеров с длинами волн 405, 488, 532, 633 и 785 нм с полностью автоматизированным переключением***. Сканирование образца: Прецизионный автоматизированный ХУ (XYZ) столик с диапазоном перемещений 100х75 мм и минимальный шагом 100 нм (XY) и 20 нм (Z) либо ХУ (XYZ) автоматизированный столик с диапазоном перемещений 115х75 мм с энкодерами. Автокалибровка и валидание: Встроенная Ne лампа для автоматической калибровки прибора. Стандартная гарантия: Гарантийный срок 24 месяца. Гарантированный срок службы лазеров: 10,000 часов.