Поиск

Двухблочное исполнение: пульт управления, ИК-датчик, соединительный кабель 3м, выход RS 232, токовый выход, установка коэффициента излучения, установка порога, контакты реле для правления исполнительными устройствами.

Технические характеристики: Время измерения, сек.80 Стандартный объём пробы в кювете, мл 50 Спектральный диапазон, см-1 от 8700 до 13200 Спектральное разрешение, см-1, не более 10 Предел допускаемого значения абсолютной погрешности шкалы волновых чисел, см-1 ±0,5 Время прогрева анализатора, мин, не более 30 Время непрерывной работы анализатора, ч, не менее 8 Габаритные размеры, мм, не более 530х450х380 Масса, кг, не более 32 Питание анализаторов от сети переменного тока: напряжение питания переменного тока, В частота, Гц (220 ±22) (50 ±1) Потребляемая мощность, В×А, не более 110 Средняя наработка на отказ, ч, не менее 2500

Уникальное для компактного прибора оптическое р азрешение для измерения температуры объектов 2- 5 см на 5-10 метрах. Сконструирован для надежной работы в условиях индустрии РФ ( металлический корпус IP65 с амортизирующими накладками). Лазерный целеуказатель, установка излучательной способности, установка порога сигнализации, фиксация последнего измерения, память на 1000 измерений, подключение к ПК, автоотключение.

Двухблочное исполнение: пульт управления, ИК-датчик, соединительный кабель 3м, выход RS 232, токовый выход, установка коэффициента излучения, установка порога, контакты реле для управления исполнительными устройствами.

Двухблочное исполнение: пульт управления, ИК-датчик, соединительный кабель 3м, выход RS 232, токовый выход, установка коэффициента излучения, установка порога, контакты реле для управления исполнительными устройствами.

Лазерные модули серии KLM-A980-5-5 являются оптимальными источниками когерентного излучения для построения систем контроля и автоматики, юстировочных и разметочных устройств, для научных и медицинских целей.

Кварцевые кюветы предназначены для исследования жидких образцов, имеют фиксированную длину оптического пути. Используются, в частности, для определения массовой концентрации нефтепродуктов в воде и масла в жидком аммиаке по ИК-спектру поглощения (область контроля — 2925 см-1). Кюветы типа СФ изготавливаются из оптического кварцевого стекла марки КВ. Поставляются с крышкой из фторопласта. Длина оптического пути 1, 5, 10, 20, 30, 40 мм.

Двухблочное исполнение: пульт управления, ИК-датчик, соединительный кабель 3м, выход RS 232, токовый выход, установка коэффициента излучения, установка порога, контакты реле для управления исполнительными устройствами.

Двухблочное исполнение: пульт управления, ИК-датчик, соединительный кабель 3м, выход RS 232, токовый выход, установка коэффициента излучения, установка порога, контакты реле для управления исполнительными устройствами.

Кювета предназначена для определения примесей в газах с порогом < 1%. Проточный режим или заполнение газом после вакуумирования. Корпус из не ржавеющей стали, два сильфонных вентиля. Длина оптического пути — 100 мм. Окна Ø 40 мм, материал KBr с влагозащитным покрытием или Ca F2.

Предназначена для измерения методом нарушенного полного внутреннего отражения с одновременной визуализацией микрообъекта на встроенном и внешнем мониторе, а также методом зеркально-диффузного отражения с углом падения 45о при верхнем расположении образца. Приставка в режиме однократного НПВО используется для регистрации спектров поглощения: жидкостей любой степени вязкости (растворов, суспензий, масел и т.д.), в том числе, обладающих высокой химической активностью; цельных объектов произвольной формы, включая образцы с очень высокой твердостью (любые полимеры, фрагменты лакокрасочных покрытий и т.д.); порошкообразных веществ, включая порошки с очень высокой твердостью (наркотики, фармпрепараты, взрывчатые вещества, неорганические соединения); образцов в виде тонких пленок; образцов в виде волокон. Максимальная твердость и химическая стойкость алмаза существенно расширяют возможности метода; отсутствует необходимость в периодической замене кристалла. Приставка позволяет регистрировать спектры без трудоемкой пробоподготовки, а наличие системы визуального контроля исследуемой поверхности с качественной видеокамерой и встроенным мини-монитором высокой четкости повышает эффективность при работе с малоразмерными образцами – фрагментами тонких волокон, микрочастицами и т.п. Встроенный монитор имеет функции цифрового 10Х увеличения (ZOOM), инвертирования и пр. Изображение может быть одновременно выведено на экран компьютера (используется USB-интерфейс) с последующим сохранением в виде файла. Съемный фланец обеспечивает быструю и удобную смену образцов и очистку поверхности кристалла. Конструкция с выступающим над базовой плоскостью алмазным элементом НПВО позволяет исследовать образцы с достаточно большими габаритными размерами. Высокое качество и повторяемость результатов достигается благодаря отсутствию влияния толщины слоя вещества на форму спектра и интенсивность полос поглощения. Образец сохраняет исходные физико-химические свойства и, при необходимости, может быть в дальнейшем исследован другими методами. Универсальный прижим приставки оснащен прецизионным рычажным механизмом для быстрого опускания наконечника и микрометрическим винтом, позволяющим предварительно устанавливать оптимальную степень давления – это обеспечивает быстроту смены проб и повторяемость результатов при измерениях. Для удобства при работе с жидкими и пастообразными образцами, а также в режиме ЗДО, предусмотрена возможность поворота консоли прижима на 180о. Приставка укомплектована двумя сменными наконечниками – со сферической рабочей частью и с плоской шарнирной головкой. Высокая твердость алмаза позволяет использовать большие усилия прижима, что является определяющим фактором для получения качественных спектров. Для регистрации спектров зеркального и диффузного отражения (ЗДО) применяется сменный столик. Образец располагается на предметной плоскости исследуемой поверхностью вниз. Метод используется для определения спектральных характеристик оптических деталей, тонких пленок на поверхности, кристаллов, прочих крупных цельных объектов произвольной формы и размера.

Применяется для регистрации спектров пропускания твердых образцов среднего размера и произвольной формы – полимерных пленок различной толщины, оптических деталей, полупроводниковых пластин, крупных кристаллов и т.п. • Благодаря быстросъемным гайкам обеспечивает удобное закрепление образцов